国際特許分類[H01L21/31]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 半導体装置またはその部品の製造または処理 (125,986) | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置 (97,574) | 不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置 (83,040) | 21/20〜21/26に分類されない方法または装置を用いる半導体本体の処理 (43,387) | 半導体本体上への絶縁層の形成,例.マスキング用またはフォトリソグラフィック技術の使用によるもの;これらの層の後処理;これらの層のための材料の選択 (16,787)
国際特許分類[H01L21/31]の下位に属する分類
後処理
有機物層,例.フォトレジスト (1,275)
無機物層, (4,431)
マスクを用いるもの (1)
絶縁層へ非絶縁層,例.導電層または抵抗層,の付着;これらの層の後処理 (7,286)
国際特許分類[H01L21/31]に分類される特許
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基板処理装置及び半導体装置の製造方法
【課題】反応容器内の温度をより早く調整できるようにする。
【解決手段】基板処理装置1は、ウェハ305を処理する反応容器309と、この反応容器309を囲繞するインナシェル50と、インナシェル50の内側に設けられた発熱体20と、インナシェル50内のガスを排気する排気ダクト80と、インナシェル50内において排気ダクト80と反応容器309との間に設けられ、発熱体20から発した熱線を反射する複数の反射体92、93と、複数の反射体92、93のうち少なくとも1つを移動し、複数の反射体92、93間の隙間95を広げたり狭めたりする駆動装置100と、を備える。
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金属酸化物膜の形成方法及び成膜装置
【課題】 セルフリミットを発生させるような金属酸化物であっても、その膜厚を制御することが可能となる金属酸化物膜の形成方法を提供すること。
【解決手段】 下地の温度が金属酸化物膜の成膜温度に達する前に、金属原料ガスを下地の表面に供給する工程(1)と、下地の温度を成膜温度以上とし、下地の表面に供給された金属原料ガスと下地の表面の残留水分とを反応させて、下地上に金属酸化物膜を形成する工程(2)と、を具備する。
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液処理装置及び液処理方法
【課題】基板上に処理液が存在するか否かについて、簡易な構造で検出し、製品の歩留まりの悪化を抑えること。
【解決手段】スピンチャック2に静電センサ54A〜54Cを埋設する。静電センサ54の静電容量は、基板であるウエハW上に処理液が存在すると、存在しない場合に比べて大きくなる。従って静電センサ54A〜54Cにより、スピンチャック2上のウエハW上に処理液が存在するか否かについて検出することができる。従って所定のタイミングでウエハW上に処理液が存在するか否かについて検出することによって、処理液ノズル4からの処理液の吐出や、基板上における処理液の拡散の異常を速やかに検出できるため、これらの異常に直ちに対処でき、製品の歩留まりの悪化を抑えることができる。
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真空処理装置
【課題】吸着面に付着した不純物に起因して吸着力が低下した静電チャックを、簡単な構成により不純物を除去して吸着力を再生することができ、安定して真空処理を行うことが可能な真空処理装置を提供する。
【解決手段】本発明の真空処理装置1は、真空チャンバ3と、前記真空チャンバの内部に配され、基板Sを静電気によって吸着する静電チャック用の電極、及び該基板を加熱する加熱機構を有する基板保持手段4と、前記基板保持手段の吸着面に対してUV光を照射し、該吸着面に付着した不純物を除去するUV照射手段90と、を少なくとも備えたことを特徴とする。
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原子層成長法を用いた成膜方法及びその成膜装置
【課題】酸化剤である水を噴射弁により直接噴射する際の不具合を解消した成膜方法及びその成膜装置を提供する。
【解決手段】基板Wを内部に保持し、ポンプ71により減圧されている成膜室2内に、有機金属化合物を含む液体原料を噴射弁41により直接噴射して減圧沸騰現象により前記液体原料を気化させて、基板表面に有機金属化合物を吸着させる吸着工程と、成膜室2内に、酸化剤である水と水よりも気化潜熱の小さい有機溶媒との混合溶液を噴射弁51により直接噴射して減圧沸騰現象により前記混合溶液を気化させて、基板表面上に吸着した有機金属化合物を酸化する酸化工程と、を具備する。
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半導体処理チャンバのガス分配器
【課題】直径の大きい基板のためのチャンバ内で、処理ガスを均一に散布するガス分配器を備えた処理チャンバを得る。
【解決手段】半導体基板を処理する処理チャンバ(25)は、基板(50)を支持する支持装置を含む。処理ガスをチャンバ(25)に導入するガス分配器(90)は、基板(50)平面に対して所定の傾斜角度で処理ガスをチャンバ(25)に噴射するガスノズルを有する。隋的に、ガス流制御装置(100)は、処理ガスの流れを1つ又はそれ以上のガスノズル(140)を通して制御してパルス化する。排気装置はチャンバ(25)からの処理ガスを排出するのに用いられる。
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基板処理装置および半導体デバイスの製造方法
【課題】プラズマによって生成される活性種量を増大することができる基板処理装置および半導体デバイスの製造方法を提供する
【解決手段】処理容器203と、処理容器203内へ所望の処理ガスを供給するガス供給部232a、232bと、処理容器203から余剰の処理ガスを排出するガス排出部246と、処理容器203内にて複数の基板200を積層した状態で載置する基板載置部材217と、処理ガスを励起するためのプラズマを生成する、高周波電力が印加される電極301とを有し、電極301は、平行に配置された2本の細長い直線部302、303と、直線部302、303のそれぞれの一端を電気的に短絡させた短絡部304と、を備え、直線部302、303が基板200の側方に、基板200の主面に対し垂直な方向にわたって延在して配置される。
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基板処理装置および半導体装置の製造方法
【課題】ボートの個体差によるウエハ移載ミスの発生を防止する。
【解決手段】第一ボート21Aと第二ボートが使用されるCVD装置において、ボートが載置された状態でウエハ移載装置によるウエハのボートへの移載作業が実施される待機台33の上面にはボート識別手段のボート検出装置72の有無検出部73と識別用検出部74とが設置され、第一ボート21Aには有無検出部73と識別用検出部74とに対応した被検出子79、79が突設され、第二ボートには有無検出部73に対応した被検出子79だけが突設される。ボート検出装置72が両被検出子79、79を検出した時は第一ボート21Aと、一方の被検出子79だけを検出した時は第二ボートと判断される。第一ボート21Aか第二ボートかを識別することで、個体差に対応した条件でウエハ移載装置を制御できるため、ウエハ移載ミスの発生を防止できる。
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加熱装置
【課題】発熱回路の断線故障が生じてもチャンバ等の温度を維持して稼働を継続することのできる基板処理装置用の加熱装置を提供する。
【解決手段】加熱ユニット101は、インナーシェル111とアウターシェル121との間に、第1の面状発熱体131及び第2の面状発熱体132の2つの面状発熱体を保持する。第1の面状発熱体131及び第2の面状発熱体132には、第1の面状発熱体用リード線141及び第2の面状発熱体用リード線142を介して個別に電力が供給され、発熱が制御される。いずれか一方の面状発熱体が故障しても、他方の面状発熱体により発熱を維持し、加熱を継続することができる。
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真空処理システムのための搬送チャンバ
【課題】従来の比較可能なサイズの搬送チャンバの平坦な底部より薄く形成することができ、費用と重量を低減する。
【解決手段】基板処理ツール201の搬送チャンバ203は、少なくとも一の処理チャンバ17と少なくとも一のロードロックチャンバ15に連結される側壁部215を有する本体部207を有している。本体部は、少なくとも一の処理チャンバと少なくとも一のロードロックチャンバの間で基板を搬送するために用いられるロボット205の少なくとも一部を収容している。蓋部227は、搬送チャンバの本体の上部に連結されてこれを封止している。搬送チャンバは、搬送チャンバの本体の底部に連結されてこれを封止するために用いられるドーム型底部233を有している。
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