スティック供給装置
【課題】 収容部等に収納された多数のスティックから、割れ、欠けのない良品スティックだけを所定の姿勢で１本ずつ供給し、ハンドラの歩留まり、稼動率の低下を防止可能なスティック供給装置を提供する。
【解決手段】 スティック２を１本ずつ切り出す分離手段１２と、切り出されたスティック２を転動させて、所定の姿勢に修正する姿勢修正手段１４と、姿勢修正手段１４によって転動するスティック２の外観を検査する画像処理手段５２、５３とを備えるスティック供給装置。分離手段１２は、傾斜ベルトコンベアに、スティック１本分の間隔で突出部２２を立設し、スティック２を１本ずつ突出部２２に引っ掛けて搬送する。姿勢修正手段１４は、互いにＶ字を形成する方向に配置された２組のベルトコンベア３１ａ、３１ｂで構成され、両ベルトコンベア３１が動作し、両者間に位置するスティック２が転動する。
【解決手段】 スティック２を１本ずつ切り出す分離手段１２と、切り出されたスティック２を転動させて、所定の姿勢に修正する姿勢修正手段１４と、姿勢修正手段１４によって転動するスティック２の外観を検査する画像処理手段５２、５３とを備えるスティック供給装置。分離手段１２は、傾斜ベルトコンベアに、スティック１本分の間隔で突出部２２を立設し、スティック２を１本ずつ突出部２２に引っ掛けて搬送する。姿勢修正手段１４は、互いにＶ字を形成する方向に配置された２組のベルトコンベア３１ａ、３１ｂで構成され、両ベルトコンベア３１が動作し、両者間に位置するスティック２が転動する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スティック供給装置に関し、特に、半導体装置等の電子部品の検査装置であるハンドラに、電子部品を充満したスティック、又は電子部品を収納する前の空スティックを自動的に供給するスティック供給装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図５に示すような電子部品１を充満したスティック２などを取り扱う装置の一例として、特許文献１に記載の姿勢修正装置は、図６に示すように、ベルトコンベア６１で搬送されたスティック２の長手方向の一側に押込み機構６２が、他側に回転機構６３が配設されている。この押込み機構６２は、往復動するエアーシリンダー等の駆動機構によってガイド棒６６に沿って前後に移動し、押込み機構６２が前進することにより、押込みブロック６７を介してスティック２を回転機構６３に押し付ける。押込みブロック６７のスティック押し付け面は、半球状の窪んだ面となっている。
【０００３】
一方、他側の回転機構６３は、支持ブロックにベアリングを介して回転可能に取り付けられた回転体６５を有する。この回転体６５は、モータ６４により回転し、端面にはスティック２を受け入れるためのテーパ状の窪みからなるガイド孔６８と、ガイド孔６８に続く細長の受け孔６９とを備える。
【０００４】
上記構成により、押込みブロック６７によって押されて移動してきたスティック２の前進端がガイド孔６８のテーパ面を徐々に登り、最終的に受け孔６９内に入る。次に、スティック２の姿勢検出機構から検出される検出情報に基づいてモータ６４を回動し、回転体６５を回転させてスティック２を所定の姿勢に修正する。
【０００５】
また、特許文献２に記載のＩＣ試験装置は、電子部品が収納されたスティックから電子部品を取り出して測定部に供給し、この電子部品の供給によって空になったスティックを投下し、再度、測定を完了した電子部品をスティックに収納する装置である。この装置では、電子部品の収納時に投下されたスティックの姿勢を所定の姿勢に修正する必要があり、そのため、スティックの姿勢を検出する手段と、検出結果によりスティックの姿勢を修正する機構を設けている。
【０００６】
この姿勢修正機構は、特許文献１に記載の姿勢修正装置と同様、スティックの開口方向の一側に押込み機構が、他側に回転機構が配設されている。回転機構には、スティックの端部をフィンガーで挟み込んで回転させる機構が採用されている。
【０００７】
さらに、特許文献３に記載のＩＣスティック供給装置は、スティックの姿勢を判定する手段と、スティックを所定の姿勢に修正する手段とを有し、姿勢を修正する手段として、スティックを板状のチャックで挟み込んで回転させる機構が採用されている。
【０００８】
【特許文献１】特開昭６０−２４２１１９号公報
【特許文献２】実開昭６０−０６８６４５号公報
【特許文献３】特開昭６０−２１８２２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、図６に示した上記特許文献１に記載の姿勢修正装置は、スティック２の両端を半球状の窪み及びテーパ状の孔の開いた部品に挿入してスティック２を保持し、回転させてスティック２の姿勢を修正するため、スティック２を把持する動作が必要であり、電子部品の挿入口である先端部の割れ、欠けなどをカメラで観察することができないという問題があった。
【００１０】
また、特許文献２に記載のＩＣ試験装置の姿勢修正機構も、スティックを把持する動作が必要であり、回動を利用してスティックの全周外観検査機能を追加する場合には、フィンガーがスティック先端部の視野を妨げるため、電子部品の挿入口であるスティック先端部の割れ、欠けなどのスティックの外観不良を検出することができないという問題があった。
【００１１】
さらに、特許文献３に記載のＩＣスティック供給装置の姿勢修正機構も、スティックを把持する動作が必要であり、同文献には、スティックの長手方向のチャック位置について明確な記載はないが、チャック部分については、スティックの割れ、欠けなどの外観不良をカメラで観察することができないという問題があった。
【００１２】
以上のように、従来の技術では、スティックを直接把持しているチャック部分は、カメラ視野を妨げ、その部分の外観検査ができないため、電子部品を収納するスティックに割れ、欠けなどが存在する不良品がそのまま使用され、電子部品の収納ミスが発生し、ハンドラの歩留まり、稼動率を低下させるという問題があった。
【００１３】
そこで、本発明は、上記従来の技術における問題点に鑑みてなされたものであって、収容部等に無造作に収納された多数のスティックから、割れ、欠けのない良品スティックだけを所定の姿勢で１本ずつ供給することができ、ハンドラの歩留まり、稼動率の低下を防止することのできるスティック供給装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するため、本発明は、スティック供給装置であって、スティックを１本ずつ切り出す分離手段と、該分離手段によって切り出されたスティックを転動させて、所定の姿勢に修正する姿勢修正手段と、該姿勢修正手段によって転動するスティックの外観検査を行う画像処理手段とを備えることを特徴とする。
【００１５】
そして、本発明によれば、スティックを直接把持して回転させるのではなく、姿勢修正手段によってスティックを転動させて所定の姿勢に修正し、転動している間に姿勢の修正と、該姿勢修正手段によって転動するスティックの外観検査を画像処理手段によって行うため、従来のように、外観検査時に把持部品によって視野が妨げられることがなく、多数のスティックから、割れ、欠けのない良品スティックだけを所定の姿勢で１本ずつ供給することが可能となる。これにより、スティックの電子部品導入開口部の割れ、欠けに起因する電子部品の収納ミスがなくなり、ハンドラの歩留まり、稼動率を向上させることができる。また、このスティック供給装置は、装置全体を開放的に構成することができるため、スティックの流れ状態を常時観察することができ、作業性が向上する。
【００１６】
前記スティック供給装置において、前記分離手段によって切り出されるスティックを、種々の姿勢を有する複数のスティックが収容された収容部から切り出すようにすることができる。
【００１７】
また、前記スティック供給装置において、前記分離手段を、傾斜して配置されたベルトコンベアに、前記スティック１本分の間隔で突出部を立設し、前記スティックを１本ずつ該突出部に引っ掛けることにより前記スティックを搬送するように構成することができる。
【００１８】
また、前記姿勢修正手段を、互いにＶ字を形成する方向に配置された２組のベルトコンベアで構成し、該２組のベルトコンベアが動作することで、該２組のベルトコンベアの間に位置する前記スティックが転動するように構成することができる。
【００１９】
さらに、前記スティック供給装置において、前記画像処理手段によって良品であるか不良品であるかを判定されたスティックを、次の工程への供給位置又は不良品排出位置に搬送する搬送手段を備えるように構成することができる。
【発明の効果】
【００２０】
以上のように、本発明によれば、収容部等に無造作に収納された多数のスティックから、割れ、欠けのない良品スティックだけを所定の姿勢で１本ずつ供給し、ハンドラの歩留まり、稼動率の低下を防止可能なスティック供給装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
図１は、本発明にかかるスティック供給装置の一実施の形態を示し、このスティック供給装置は、大別して、収容部１１に無造作に収納されたスティック２を１本ずつ切り出す分離機構１２と、切り出されたスティック２の姿勢を判定して修正する姿勢修正機構１４と、姿勢修正機構１４のスティック転動機能を利用してスティック２の外観検査を行う画像処理装置５３と、所定の姿勢に調整されたスティック２を、次工程への供給位置１７又は不良品排出位置１８に搬送する搬送機構１３等とで構成される。以下、各機構について詳しく説明する。
【００２２】
分離機構１２は、図１に示すように、下端部が収容部１１に設けられ、上端部が搬送機構１３に位置付けられ、斜めに配置されたベルトコンベアである。ベルト２１上には、スティック１本分幅の間隔で突出部２２が立設され、スティック２を１本ずつ突出部２２に引っ掛けることで、無造作に収納されたスティック２から１つのスティック２が分離して上部の搬送機構１３に受け渡される。
【００２３】
搬送機構１３は、図１及び図２に示すように、２本のタイミングベルト４１を使用したベルトコンベアであり、水平に配置されている。タイミングベルト４１上には、スティック２を１本ずつ仕切るための突出部４２が等間隔で取り付けられている。搬送機構１３には、分離機構１２からスティック２を受け取る受取位置１５と、スティック２の外観検査等を行うため、スティック２を所定の姿勢に修正する姿勢修正位置１６と、外観検査で良品と判定され、所定の姿勢になったスティック２をハンドラに供給する供給位置１７と、外観検査で不良と判定されたスティック２を排出する不良品排出位置１８の４つの位置がある。姿勢修正機構１４は、姿勢修正位置１６の下方で、２本のタイミングベルト４１の間に設置されている。
【００２４】
姿勢修正機構１４は、図２及び図３に示すように、水平方向に配置されたコンベア３１ａと、垂直よりやや傾斜した方向に配置されたコンベア３１ｂからなるＶ字型ベルトコンベア３１を備え、コンベア３１ｂは、コンベア３１ａとの角度３４が直角より広がる方向に傾いている。このようにＶ字型に配置された２つのコンベア３１ａ、３１ｂを２組使用し、所定の間隔でスティック２が確実にコンベア３１ａに上に載置されるように構成される。各々のコンベア３１ａ、３１ｂは同一の駆動軸３５に固定され、かつ、両コンベア３１ａ、３１ｂのプーリ径は同一である。
【００２５】
この駆動軸３５をモータ３２により回転させると、コンベア３１ａとコンベア３１ｂは同速で動き出す。図３では、モータ３２と駆動軸３５は、ベルト３６にて伝動する方式を記載している。モータ３２の回転方向は、コンベア３１ａ上のスティック２がコンベア３１ｂ側に寄るように回転させる。搬送機構１３のタイミングベルト４１上に位置するスティック２を持ち上げ、スティック２がスムーズに回転できるように２組のＶ字型コンベア機構を上下に動作させる上下機構３３が設けられる。
【００２６】
また、持ち上げられたスティック２の開口部を撮像するスティック姿勢検出カメラ５１が設置され、スティック２の寸法、形状に基づきスティック２の倒れ、裏返しの姿勢状態を画像処理装置５３にて判定する。姿勢修正機構１４の上方には、スティック欠陥検出用カメラ５２が設置され、姿勢修正機構１４によるスティック２の転動動作を利用してスティック２の全周を撮像し、画像処理装置５３にてスティック２の外観不良を検査する。
【００２７】
次に、上記構成を有するスティック供給装置の全体の動作について、図１乃至図４を参照しながら説明する。
【００２８】
分離機構１２は、収容部１１に無造作に収納されたスティック２を１本ずつ突出部２２に引っ掛けて、上方に位置する搬送機構１３に送る。
【００２９】
搬送機構１３は、分離機構１２から受け渡されたスティック２を、受取位置１５から姿勢修正位置１６に搬送する。スティック２が姿勢修正位置１６に送られると、Ｖ字型ベルトコンベア３１が上昇し、持ち上げられたスティック２の開口部をスティック姿勢検出カメラ５１で撮像する。スティック２の寸法、形状に基づき、スティック２の倒れ、裏返しの姿勢状態を画像処理装置５３にて判定し、所定の姿勢になるまでＶ字型のコンベア３１をモータ３２で駆動し、スティック２を転動させる。
【００３０】
次に、スティック２を一回転させ、スティック２の全周を外観検査する。外観検査終了後、Ｖ字型ベルトコンベア３１が下降し、搬送機構１３のベルトコンベア上にスティック２を戻す。次に、外観検査の結果に基づき、良品スティックは供給位置１７に送り、不良品は不良品排出位置１８に送る。
【００３１】
次に、スティック２の姿勢修正動作について、図４を参照しながら説明する。搬送機構１３から持ち上げられたスティック２は、Ｖ字型コンベア３１の水平に配置されたコンベア３１ａの任意の位置にある（図４（ａ））。Ｖ字型コンベア３１を駆動させると、スティック２は、垂直よりやや傾いたコンベア３１ｂに寄り接触する（図４（ｂ））。コンベア３１ｂに接触したスティック２は、コンベア３１ｂにより上方に持ち上げられ、かつコンベア３１ａによりコンベア３１ｂに寄せられる（図４（ｃ）〜（ｈ））。これの動作によりスティック２がＶ字型コンベア３１上を転動する。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明にかかるスティック供給装置の一実施の形態を示す概略図である。
【図２】図１のスティック供給装置のＡ−Ａ線矢視図である。
【図３】本発明にかかる姿勢修正機構を示す模式図である。
【図４】本発明にかかる姿勢修正機構によるスティックの姿勢修正動作の説明図である。
【図５】電子部品を収納したスティックを示す斜視図である。
【図６】従来のスティック供給装置の一例を示す概略図である。
【符号の説明】
【００３３】
１ 電子部品（半導体装置）
２ スティック
１１ 収容部
１２ 分離機構
１３ 搬送機構
１４ 姿勢修正機構
１５ 受取位置
１６ 姿勢修正位置
１７ 供給位置
１８ 不良品排出位置
２１ ベルト
２２ 突出部
３１（３１ａ、３１ｂ） Ｖ字型ベルトコンベア
３２ モータ
３３ 上下機構
３４ 角度
３５ 駆動軸
３６ ベルト
４１ タイミングベルト
４２ 突出部
５１ スティック姿勢検出用カメラ
５２ スティック欠陥検出用カメラ
５３ 画像処理装置
５４ モニター
５５ 操作スイッチ
６１ ベルトコンベア
６２ 押し込み機構
６３ 回転機構
６４ モータ
６５ 回転体
６６ ガイド棒
６７ 押込みブロック
６８ ガイド孔
６９ 受け孔
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スティック供給装置に関し、特に、半導体装置等の電子部品の検査装置であるハンドラに、電子部品を充満したスティック、又は電子部品を収納する前の空スティックを自動的に供給するスティック供給装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図５に示すような電子部品１を充満したスティック２などを取り扱う装置の一例として、特許文献１に記載の姿勢修正装置は、図６に示すように、ベルトコンベア６１で搬送されたスティック２の長手方向の一側に押込み機構６２が、他側に回転機構６３が配設されている。この押込み機構６２は、往復動するエアーシリンダー等の駆動機構によってガイド棒６６に沿って前後に移動し、押込み機構６２が前進することにより、押込みブロック６７を介してスティック２を回転機構６３に押し付ける。押込みブロック６７のスティック押し付け面は、半球状の窪んだ面となっている。
【０００３】
一方、他側の回転機構６３は、支持ブロックにベアリングを介して回転可能に取り付けられた回転体６５を有する。この回転体６５は、モータ６４により回転し、端面にはスティック２を受け入れるためのテーパ状の窪みからなるガイド孔６８と、ガイド孔６８に続く細長の受け孔６９とを備える。
【０００４】
上記構成により、押込みブロック６７によって押されて移動してきたスティック２の前進端がガイド孔６８のテーパ面を徐々に登り、最終的に受け孔６９内に入る。次に、スティック２の姿勢検出機構から検出される検出情報に基づいてモータ６４を回動し、回転体６５を回転させてスティック２を所定の姿勢に修正する。
【０００５】
また、特許文献２に記載のＩＣ試験装置は、電子部品が収納されたスティックから電子部品を取り出して測定部に供給し、この電子部品の供給によって空になったスティックを投下し、再度、測定を完了した電子部品をスティックに収納する装置である。この装置では、電子部品の収納時に投下されたスティックの姿勢を所定の姿勢に修正する必要があり、そのため、スティックの姿勢を検出する手段と、検出結果によりスティックの姿勢を修正する機構を設けている。
【０００６】
この姿勢修正機構は、特許文献１に記載の姿勢修正装置と同様、スティックの開口方向の一側に押込み機構が、他側に回転機構が配設されている。回転機構には、スティックの端部をフィンガーで挟み込んで回転させる機構が採用されている。
【０００７】
さらに、特許文献３に記載のＩＣスティック供給装置は、スティックの姿勢を判定する手段と、スティックを所定の姿勢に修正する手段とを有し、姿勢を修正する手段として、スティックを板状のチャックで挟み込んで回転させる機構が採用されている。
【０００８】
【特許文献１】特開昭６０−２４２１１９号公報
【特許文献２】実開昭６０−０６８６４５号公報
【特許文献３】特開昭６０−２１８２２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、図６に示した上記特許文献１に記載の姿勢修正装置は、スティック２の両端を半球状の窪み及びテーパ状の孔の開いた部品に挿入してスティック２を保持し、回転させてスティック２の姿勢を修正するため、スティック２を把持する動作が必要であり、電子部品の挿入口である先端部の割れ、欠けなどをカメラで観察することができないという問題があった。
【００１０】
また、特許文献２に記載のＩＣ試験装置の姿勢修正機構も、スティックを把持する動作が必要であり、回動を利用してスティックの全周外観検査機能を追加する場合には、フィンガーがスティック先端部の視野を妨げるため、電子部品の挿入口であるスティック先端部の割れ、欠けなどのスティックの外観不良を検出することができないという問題があった。
【００１１】
さらに、特許文献３に記載のＩＣスティック供給装置の姿勢修正機構も、スティックを把持する動作が必要であり、同文献には、スティックの長手方向のチャック位置について明確な記載はないが、チャック部分については、スティックの割れ、欠けなどの外観不良をカメラで観察することができないという問題があった。
【００１２】
以上のように、従来の技術では、スティックを直接把持しているチャック部分は、カメラ視野を妨げ、その部分の外観検査ができないため、電子部品を収納するスティックに割れ、欠けなどが存在する不良品がそのまま使用され、電子部品の収納ミスが発生し、ハンドラの歩留まり、稼動率を低下させるという問題があった。
【００１３】
そこで、本発明は、上記従来の技術における問題点に鑑みてなされたものであって、収容部等に無造作に収納された多数のスティックから、割れ、欠けのない良品スティックだけを所定の姿勢で１本ずつ供給することができ、ハンドラの歩留まり、稼動率の低下を防止することのできるスティック供給装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するため、本発明は、スティック供給装置であって、スティックを１本ずつ切り出す分離手段と、該分離手段によって切り出されたスティックを転動させて、所定の姿勢に修正する姿勢修正手段と、該姿勢修正手段によって転動するスティックの外観検査を行う画像処理手段とを備えることを特徴とする。
【００１５】
そして、本発明によれば、スティックを直接把持して回転させるのではなく、姿勢修正手段によってスティックを転動させて所定の姿勢に修正し、転動している間に姿勢の修正と、該姿勢修正手段によって転動するスティックの外観検査を画像処理手段によって行うため、従来のように、外観検査時に把持部品によって視野が妨げられることがなく、多数のスティックから、割れ、欠けのない良品スティックだけを所定の姿勢で１本ずつ供給することが可能となる。これにより、スティックの電子部品導入開口部の割れ、欠けに起因する電子部品の収納ミスがなくなり、ハンドラの歩留まり、稼動率を向上させることができる。また、このスティック供給装置は、装置全体を開放的に構成することができるため、スティックの流れ状態を常時観察することができ、作業性が向上する。
【００１６】
前記スティック供給装置において、前記分離手段によって切り出されるスティックを、種々の姿勢を有する複数のスティックが収容された収容部から切り出すようにすることができる。
【００１７】
また、前記スティック供給装置において、前記分離手段を、傾斜して配置されたベルトコンベアに、前記スティック１本分の間隔で突出部を立設し、前記スティックを１本ずつ該突出部に引っ掛けることにより前記スティックを搬送するように構成することができる。
【００１８】
また、前記姿勢修正手段を、互いにＶ字を形成する方向に配置された２組のベルトコンベアで構成し、該２組のベルトコンベアが動作することで、該２組のベルトコンベアの間に位置する前記スティックが転動するように構成することができる。
【００１９】
さらに、前記スティック供給装置において、前記画像処理手段によって良品であるか不良品であるかを判定されたスティックを、次の工程への供給位置又は不良品排出位置に搬送する搬送手段を備えるように構成することができる。
【発明の効果】
【００２０】
以上のように、本発明によれば、収容部等に無造作に収納された多数のスティックから、割れ、欠けのない良品スティックだけを所定の姿勢で１本ずつ供給し、ハンドラの歩留まり、稼動率の低下を防止可能なスティック供給装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
図１は、本発明にかかるスティック供給装置の一実施の形態を示し、このスティック供給装置は、大別して、収容部１１に無造作に収納されたスティック２を１本ずつ切り出す分離機構１２と、切り出されたスティック２の姿勢を判定して修正する姿勢修正機構１４と、姿勢修正機構１４のスティック転動機能を利用してスティック２の外観検査を行う画像処理装置５３と、所定の姿勢に調整されたスティック２を、次工程への供給位置１７又は不良品排出位置１８に搬送する搬送機構１３等とで構成される。以下、各機構について詳しく説明する。
【００２２】
分離機構１２は、図１に示すように、下端部が収容部１１に設けられ、上端部が搬送機構１３に位置付けられ、斜めに配置されたベルトコンベアである。ベルト２１上には、スティック１本分幅の間隔で突出部２２が立設され、スティック２を１本ずつ突出部２２に引っ掛けることで、無造作に収納されたスティック２から１つのスティック２が分離して上部の搬送機構１３に受け渡される。
【００２３】
搬送機構１３は、図１及び図２に示すように、２本のタイミングベルト４１を使用したベルトコンベアであり、水平に配置されている。タイミングベルト４１上には、スティック２を１本ずつ仕切るための突出部４２が等間隔で取り付けられている。搬送機構１３には、分離機構１２からスティック２を受け取る受取位置１５と、スティック２の外観検査等を行うため、スティック２を所定の姿勢に修正する姿勢修正位置１６と、外観検査で良品と判定され、所定の姿勢になったスティック２をハンドラに供給する供給位置１７と、外観検査で不良と判定されたスティック２を排出する不良品排出位置１８の４つの位置がある。姿勢修正機構１４は、姿勢修正位置１６の下方で、２本のタイミングベルト４１の間に設置されている。
【００２４】
姿勢修正機構１４は、図２及び図３に示すように、水平方向に配置されたコンベア３１ａと、垂直よりやや傾斜した方向に配置されたコンベア３１ｂからなるＶ字型ベルトコンベア３１を備え、コンベア３１ｂは、コンベア３１ａとの角度３４が直角より広がる方向に傾いている。このようにＶ字型に配置された２つのコンベア３１ａ、３１ｂを２組使用し、所定の間隔でスティック２が確実にコンベア３１ａに上に載置されるように構成される。各々のコンベア３１ａ、３１ｂは同一の駆動軸３５に固定され、かつ、両コンベア３１ａ、３１ｂのプーリ径は同一である。
【００２５】
この駆動軸３５をモータ３２により回転させると、コンベア３１ａとコンベア３１ｂは同速で動き出す。図３では、モータ３２と駆動軸３５は、ベルト３６にて伝動する方式を記載している。モータ３２の回転方向は、コンベア３１ａ上のスティック２がコンベア３１ｂ側に寄るように回転させる。搬送機構１３のタイミングベルト４１上に位置するスティック２を持ち上げ、スティック２がスムーズに回転できるように２組のＶ字型コンベア機構を上下に動作させる上下機構３３が設けられる。
【００２６】
また、持ち上げられたスティック２の開口部を撮像するスティック姿勢検出カメラ５１が設置され、スティック２の寸法、形状に基づきスティック２の倒れ、裏返しの姿勢状態を画像処理装置５３にて判定する。姿勢修正機構１４の上方には、スティック欠陥検出用カメラ５２が設置され、姿勢修正機構１４によるスティック２の転動動作を利用してスティック２の全周を撮像し、画像処理装置５３にてスティック２の外観不良を検査する。
【００２７】
次に、上記構成を有するスティック供給装置の全体の動作について、図１乃至図４を参照しながら説明する。
【００２８】
分離機構１２は、収容部１１に無造作に収納されたスティック２を１本ずつ突出部２２に引っ掛けて、上方に位置する搬送機構１３に送る。
【００２９】
搬送機構１３は、分離機構１２から受け渡されたスティック２を、受取位置１５から姿勢修正位置１６に搬送する。スティック２が姿勢修正位置１６に送られると、Ｖ字型ベルトコンベア３１が上昇し、持ち上げられたスティック２の開口部をスティック姿勢検出カメラ５１で撮像する。スティック２の寸法、形状に基づき、スティック２の倒れ、裏返しの姿勢状態を画像処理装置５３にて判定し、所定の姿勢になるまでＶ字型のコンベア３１をモータ３２で駆動し、スティック２を転動させる。
【００３０】
次に、スティック２を一回転させ、スティック２の全周を外観検査する。外観検査終了後、Ｖ字型ベルトコンベア３１が下降し、搬送機構１３のベルトコンベア上にスティック２を戻す。次に、外観検査の結果に基づき、良品スティックは供給位置１７に送り、不良品は不良品排出位置１８に送る。
【００３１】
次に、スティック２の姿勢修正動作について、図４を参照しながら説明する。搬送機構１３から持ち上げられたスティック２は、Ｖ字型コンベア３１の水平に配置されたコンベア３１ａの任意の位置にある（図４（ａ））。Ｖ字型コンベア３１を駆動させると、スティック２は、垂直よりやや傾いたコンベア３１ｂに寄り接触する（図４（ｂ））。コンベア３１ｂに接触したスティック２は、コンベア３１ｂにより上方に持ち上げられ、かつコンベア３１ａによりコンベア３１ｂに寄せられる（図４（ｃ）〜（ｈ））。これの動作によりスティック２がＶ字型コンベア３１上を転動する。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明にかかるスティック供給装置の一実施の形態を示す概略図である。
【図２】図１のスティック供給装置のＡ−Ａ線矢視図である。
【図３】本発明にかかる姿勢修正機構を示す模式図である。
【図４】本発明にかかる姿勢修正機構によるスティックの姿勢修正動作の説明図である。
【図５】電子部品を収納したスティックを示す斜視図である。
【図６】従来のスティック供給装置の一例を示す概略図である。
【符号の説明】
【００３３】
１ 電子部品（半導体装置）
２ スティック
１１ 収容部
１２ 分離機構
１３ 搬送機構
１４ 姿勢修正機構
１５ 受取位置
１６ 姿勢修正位置
１７ 供給位置
１８ 不良品排出位置
２１ ベルト
２２ 突出部
３１（３１ａ、３１ｂ） Ｖ字型ベルトコンベア
３２ モータ
３３ 上下機構
３４ 角度
３５ 駆動軸
３６ ベルト
４１ タイミングベルト
４２ 突出部
５１ スティック姿勢検出用カメラ
５２ スティック欠陥検出用カメラ
５３ 画像処理装置
５４ モニター
５５ 操作スイッチ
６１ ベルトコンベア
６２ 押し込み機構
６３ 回転機構
６４ モータ
６５ 回転体
６６ ガイド棒
６７ 押込みブロック
６８ ガイド孔
６９ 受け孔
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スティックを１本ずつ切り出す分離手段と、
該分離手段によって切り出されたスティックを転動させて、所定の姿勢に修正する姿勢修正手段と、
該姿勢修正手段によって転動するスティックの外観検査を行う画像処理手段とを備えることを特徴とするスティック供給装置。
【請求項２】
前記分離手段によって切り出されるスティックは、種々の姿勢を有する複数のスティックが収容された収容部から切り出されることを特徴とする請求項１に記載のスティック供給装置。
【請求項３】
前記分離手段は、傾斜して配置されたベルトコンベアに、前記スティック１本分の間隔で突出部が立設され、前記スティックを１本ずつ該突出部に引っ掛けることにより前記スティックを搬送することを特徴とする請求項１又は２に記載のスティック供給装置。
【請求項４】
前記姿勢修正手段は、互いにＶ字を形成する方向に配置された２組のベルトコンベアで構成され、該２組のベルトコンベアが動作することで、該２組のベルトコンベアの間に位置する前記スティックが転動することを特徴とする請求項１、２又は３に記載のスティック供給装置。
【請求項５】
前記画像処理手段によって良品であるか不良品であるかを判定されたスティックを、次の工程への供給位置又は不良品排出位置に搬送する搬送手段を備えることを特徴とする請求項１乃至４に記載のスティック供給装置。
【請求項１】
スティックを１本ずつ切り出す分離手段と、
該分離手段によって切り出されたスティックを転動させて、所定の姿勢に修正する姿勢修正手段と、
該姿勢修正手段によって転動するスティックの外観検査を行う画像処理手段とを備えることを特徴とするスティック供給装置。
【請求項２】
前記分離手段によって切り出されるスティックは、種々の姿勢を有する複数のスティックが収容された収容部から切り出されることを特徴とする請求項１に記載のスティック供給装置。
【請求項３】
前記分離手段は、傾斜して配置されたベルトコンベアに、前記スティック１本分の間隔で突出部が立設され、前記スティックを１本ずつ該突出部に引っ掛けることにより前記スティックを搬送することを特徴とする請求項１又は２に記載のスティック供給装置。
【請求項４】
前記姿勢修正手段は、互いにＶ字を形成する方向に配置された２組のベルトコンベアで構成され、該２組のベルトコンベアが動作することで、該２組のベルトコンベアの間に位置する前記スティックが転動することを特徴とする請求項１、２又は３に記載のスティック供給装置。
【請求項５】
前記画像処理手段によって良品であるか不良品であるかを判定されたスティックを、次の工程への供給位置又は不良品排出位置に搬送する搬送手段を備えることを特徴とする請求項１乃至４に記載のスティック供給装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２００７−６２９１６（Ｐ２００７−６２９１６Ａ）
【公開日】平成１９年３月１５日（２００７．３．１５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−２５０４３８（Ｐ２００５−２５０４３８）
【出願日】平成１７年８月３１日（２００５．８．３１）
【出願人】（３０３０１３７６３）ＮＥＣエンジニアリング株式会社 (651)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年３月１５日（２００７．３．１５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年８月３１日（２００５．８．３１）
【出願人】（３０３０１３７６３）ＮＥＣエンジニアリング株式会社 (651)
【Ｆターム（参考）】
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