プラント監視システム及びプラント監視方法
【課題】膨大なプロセス信号が入力処理される実プラントに配備されたプラント制御システムについて、人為的エラーを防止し、小人員で信頼性の高い自動試験が実施可能なプラント監視システム及びその方法を提供する。
【解決手段】プラント監視システムは、自動試験用プラント表示装置、模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置を備え、前記自動試験用プラント表示装置からの指令に基づき模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置がプロセス信号入力処理装置の入力端に模擬信号を印加し、前記プロセス信号入力制御装置は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示装置に伝送し、前記自動試験用プラント表示装置は、少なくともプロセス信号入力処理装置に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理する。
【解決手段】プラント監視システムは、自動試験用プラント表示装置、模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置を備え、前記自動試験用プラント表示装置からの指令に基づき模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置がプロセス信号入力処理装置の入力端に模擬信号を印加し、前記プロセス信号入力制御装置は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示装置に伝送し、前記自動試験用プラント表示装置は、少なくともプロセス信号入力処理装置に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発電所などのプラントにおいて、温度、圧力、流量などのパラメータ値や機器の状態などを表す、プラントの状態を監視制御するためのプロセス信号が入力処理されるプラント制御システムの妥当性を確認試験するためのプラント監視システム及びその方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
発電所などのプラントにおいて、プラントの状態を監視制御するためのプロセス信号が入力処理される従来のプラント制御システムの妥当性を確認試験するためのプラント監視システムを図１２乃至１４を用いて説明する。
【０００３】
プラント制御システムは、主に、プロセス信号入力制御装置２、プロセス入力処理装置３及びプラント表示装置５から構成されるが、従来のプラント監視システムは、プロセス入力処理装置３の端子台に模擬信号を印加し、プラント表示装置５で工学値（例えば、流量等の単位付き値）を表示／記録／判定していた。
【０００４】
図１２において、このプラント監視システム１のプロセス信号の入力処理の妥当性確認は、プロセス信号入力処理装置３の入力端をプラントセンサ６との接続から模擬信号発生装置７に切替え、模擬信号を印加するなどにより、プロセス信号入力制御装置２を経てプラント表示装置５で表示される工学値を参照していた。
【０００５】
図１３において、模擬信号発生装置７からプロセス信号入力処理装置３の入力端に印加された模擬信号は、プロセス信号入力処理装置３のＡ／Ｄ変換処理部３１によりカウント値に変換される。このカウント値は、プロセス信号入力制御装置２の工学値変換処理部２１により工学値変換情報部２１１参照して工学値に変換される。さらに、この工学値は伝送出力処理部２２により伝送出力情報部２２１を参照して伝送バス４を介して伝送データとして図１４のプラント表示装置５に送信される。
【０００６】
図１４において、プラント表示装置５は、プロセス信号入力制御装置２から伝送された伝送データを、伝送入力処理部５１が伝送入力情報部５１１に書込む。一方、試験員はプロセス信号入力処理装置３に印加した模擬信号に対応するプラント表示装置５での工学値を確認するために、プラント表示装置５に入力点符号などを入力し、その入力点符合の工学値の表示を要求する。この要求は、入力点表示処理部５３から入力点情報処理部５２に伝わり、入力点情報処理部５２は入力点情報部５２１と伝送入力情報部５１１を参照し、プラント表示装置５に入力点符号と入力点名称、現在の工学値、工学単位などを表示部５４に表示する。試験員は、プロセス信号入力処理装置３の入力端に印加した模擬信号から算出されるべき工学値と、プラント表示装置５に表示された工学値が判定基準内であることを確認／評価する。
【０００７】
上記従来のプラント監視システムは、プロセス信号入力装置の入力端がプラント表示装置の近傍に無い場合が多く、電気信号を印加する人とプラント表示装置で工学単位値を確認する人は、電話などの通信手段によって連絡をとりながら複数の人員で試験を実施しなければならないといった課題があった。
【０００８】
また、プラント監視システムのプロセス信号入力処理の妥当性確認は、各入力種別毎に判定基準が定められているが、試験出力の値が判定基準を満たしているかの確認は、プラント表示装置で工学値を確認する試験員によって行われる。しかし、プラント監視システムの入力は膨大であり、間違った判定をすることがあった。
【０００９】
さらに、従来の装置においては、予め定められた期間を超えない時間間隔で試験を実施する必要があるが、試験計画作成や試験準備等は試験員が行っており、試験漏れなどの課題があったほか、プラント監視システムの入力妥当性確認試験における試験結果の記録は、手書きやデータの手入力で行われていたため、誤記や入力ミス等の人為的エラーが生じる可能性があった。
【００１０】
一方、先行技術文献である特許文献１に開示のプラント制御システムの自動試験装置は、例えば原子力プラントで用いられる大規模なデジタル制御システムの性能を工場出荷時に確認試験するための発明であって、模擬信号発生装置から出力された模擬信号を、プロセス信号入出力装置を経由してデジタル制御システムに出力し、その応答信号を基準値と比較することにより、前記デジタル制御システムの試験をおこなうものである。この従来例は、膨大なプロセス信号が入力されるデジタル制御システムを小人数で自動的に試験することが可能であるが、あくまでも、工場出荷時の試験装置であって、単に、模擬信号発生装置と応答信号処理装置を備えたものにすぎず、高信頼性が要求される実プラントに配備されたプラント制御システムの監視システムに適用できるものではなかった。
【特許文献１】特開平８−９５８１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
上述したように、従来のプラント監視システムは、確認試験のために多数の人員を必要としたり、人為的ミスが発生しやすいシステムとなっているとともに、実プラントに配備されたプラント制御システムについて信頼性の高い確認試験をシステマチックにかつ定期的に行うことはできないという課題があった。
【００１２】
本発明は上述した課題を解決するためになされたものであり、膨大なプロセス信号が入力処理される実プラントに配備されたプラント制御システムについて、人為的エラーを防止し、小人員で信頼性の高い自動試験が実施可能なプラント監視システム及びその方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、プラント監視システムについての発明であって、プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理装置と前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御装置と、前記工学値を表示処理するプラント表示装置とからなるプラント監視システムにおいて、自動試験用プラント表示装置、模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置を有し、前記自動試験用プラント表示装置からの指令に基づき模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置がプロセス信号入力処理装置の入力端に模擬信号を印加し、前記プロセス信号入力制御装置は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示装置に伝送し、前記自動試験用プラント表示装置は、少なくともプロセス信号入力処理装置に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明は、プラント監視方法についての発明であって、プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理手段と、前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御手段と、前記工学値を表示処理するプラント表示手段と、自動試験用プラント表示手段と、模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段とを有し、前記自動試験用プラント表示手段からの指令に基づき模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段がプロセス信号入力処理手段の入力端に模擬信号を印加し、前記プロセス信号入力制御手段は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示手段に伝送し、前記自動試験用プラント表示手段は、少なくともプロセス信号入力処理手段に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、実プラントに配備されたプラント制御システムを確認試験する際に、膨大なプロセス信号が入力処理されるプラント制御システムの自動試験を行うことが可能となるとともに、小人員で確認試験を行うことができ、かつ、人為的なエラーを防止することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下に本発明の第１乃至第４の実施の形態について説明する。
（第１の実施の形態）
図１に示されるように、自動試験用プラント表示装置９からの試験要求を模擬信号制御装置８が処理し、模擬信号発生装置７がプロセス信号入力処理装置３の入力端に印加される。プロセス信号入力処理装置３は通常のプロセス信号入力処理と同様に模擬信号をＡ／Ｄ変換し、その変換出力をプロセス信号入力制御装置２が伝送バス４を介して自動試験用プラント表示装置９に伝送する。模擬信号発生装置７は、プロセス信号入力処理装置３の入力端に印加された模擬信号の読み値を、模擬信号制御装置８を経由して伝送バス４を介して自動試験用プラント表示装置９に伝送する。プロセス信号処理装置３において、温度、圧力、流量等のプロセス信号は電気信号に変更処理される。自動試験用プラント表示装置９は、プロセス信号入力制御装置２からの工学値と、模擬信号発生装置７が印加した模擬信号の値を表示することで、プラント監視システム１の自動試験が可能な構成としている。
【００１７】
図２において、自動試験用プラント表示装置９は、試験員の対話要求を処理する試験対話処理部９１とプロセス信号入力制御装置２及びプロセス信号入力処理装置３のプロセス信号入力情報を有する試験情報部９１１、試験対話処理部９１の試験要求を処理する試験対話処理部９２、プロセス信号入力制御装置２の伝送入力を処理する伝送入力処理部５１を備えるとともに、前記伝送入力処理部５１は、入力点の現在値を記録した伝送入力情報部５１１、試験対話処理部９１からの入力点情報要求を処理する入力点情報処理部５２とプロセス信号入力の入力符号や名称、工学単位など記録した入力点情報部５２１を備えている。
【００１８】
次に図３を用いて、プロセス信号入力処理装置３、模擬信号制御装置８及び模擬信号発生装置７について説明する。
【００１９】
プロセス信号入力処理装置３は、入力端に印加された模擬信号をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換処理部３１を備えている。プロセス信号入力制御装置２は、プロセス信号入力処理装置３から伝送されるデジタル値を工学値に変換する工学値変換処理部２１と入力点毎の工学値変換情報を記録した工学値変換情報部２１１、工学値変換処理部２１が変換した工学値を自動試験用プラント表示装置９に伝送する伝送出力処理部２２、及び伝送出力の並び情報を記録した伝送出力情報部２２１を備える。
【００２０】
模擬信号制御装置８は、自動試験用プラント表示装置９からの試験要求を処理する伝送入力処理部８１と自動試験用プラント表示装置９との試験要求などの伝送入出力を記録した模擬信号伝送入出力情報部８１１、模擬信号発生装置７に模擬信号を要求する模擬信号処理部８２、模擬信号発生装置７が印加した模擬信号の値を処理する入力値伝送処理部８３、及び模擬信号発生装置７が印加した模擬信号の値を自動試験用プラント表示装置９に伝送する入力値伝送出力処理部８４を備える。
【００２１】
模擬信号発生装置７は、模擬信号制御装置８からの模擬信号要求に基づきプロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号を印加する模擬信号出力処理部７１、及び印加した電気信号の値を検出し模擬信号制御装置８に伝送する入力値読み取り処理部７２を備える。
【００２２】
本発明の第１の実施の態様においてプラント制御システムの自動試験は以下の態様で行われる。
【００２３】
図１のプラント監視システム１において、入力の妥当性を確認する入力点のプロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号発生装置７を接続し、自動試験用プラント表示装置９から、妥当性を確認する入力点と模擬信号値を指定することで、試験対話処理部９１が試験情報部９１１から模擬信号印加箇所ａ1の情報と模擬信号値ｂ1を算出し、模擬信号制御装置８に模擬信号印加箇所ａ1と模擬信号値ｂ1が出力される。模擬信号制御装置８が自動試験機能を備えたプラント表示装置９からの模擬信号印加箇所ａ1と模擬信号値ｂ1に従い、模擬信号発生装置７に模擬信号の発生を要求すると、模擬信号発生装置７は、プロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号を印加するとともに、模擬信号発生装置７の出力端でプロセス信号入力処理装置２の入力端に印加した模擬信号を検出し、その値ｃ1を模擬信号制御装置８に送信する。模擬信号制御装置８は、値ｃ1を自動試験用プラント表示装置９に送信する。自動試験機能用表示装置９は妥当性を確認する入力点ａ1の工学値ｄ1を読み取り、模擬信号発生装置７への模擬値ｂ1と模擬信号発生装置７が出力端でプロセス信号入力処理装置３の入力端に印加した信号の読み値ｃ1、工学値ｄ1及び工学単位ｅ1を図５の様に表示部５４に表示する。
【００２４】
図２を用いて、自動試験用プラント表示装置９の処理態様を説明する。試験員が自動試験用プラント表示装置９の図４に示す試験対象選択対話画面で、図３に示す模擬信号発生装置７を接続したプロセス信号入力処理装置３が接続されているプロセス信号入力制御装置２を選択する。この選択要求を受けた試験対話処理部９１は、試験情報部９１１からプロセス信号入力制御装置２が接続しているプロセス信号入力処理装置３の一覧情報を参照する。試験対話処理部９１は、この情報を試験対象選択対話画面に表示する。さらに試験員は、自動試験用プラント表示装置９の試験対話で模擬信号発生装置７を接続したプロセス信号入力処理装置３を選択する。この選択要求を受けた試験対話処理部９１は、試験情報部９１１からプロセス信号入力処理装置３の入力基板の一覧を試験対象選択対話画面に表示する。さらに、試験員は、自動試験用プラント表示装置９の試験対象選択対話画面で試験対象の基板を選択し、実施する試験での測定点の数を入力し実行要求する。
【００２５】
実行要求を受けた試験対話処理部９１は、試験情報部９１１から選択された基板で処理される入出点の一覧情報を取得する。さらに試験対話処理部９１は入力点情報処理部５２に対し、選択された基板で処理される入力点情報の入力レンジとその単位、出力工学値の単位の一覧情報の取得を要求する。入力点情報処理部５２は、入力点情報部５２１を参照し、試験対話処理部９１に、この情報を打ち返す。試験対話処理部９１は、これらの情報をもとに図５に示す試験実施対話を表示する。図５の例において、試験対話処理部９１は、入力レンジと試験測定点数の情報から、模擬値を算出して試験実施対話画面に表示する。
【００２６】
そして、試験員は自動試験用プラント表示装置９の試験実施対話画面の試験対象入力点の入力値の行を選択し、実行を要求するか又はキーボードの特定のキーを押すことで、模擬箇所に模擬信号が印加要求される。模擬要求を受けた試験対話処理部９１は、試験処理部９２に対し模擬箇所と模擬値の指令を出力する。試験対話処理部９２は、伝送バス４経由で図３に示す模擬信号制御装置８に模擬箇所と模擬値の情報を伝送する。
【００２７】
図３に示す模擬信号制御装置８に伝送された模擬箇所と模擬値の指令は、伝送入力処理部８１で処理される。伝送入力処理部８１は模擬信号伝送入出力情報部８１１を参照し、模擬信号処理部８２に通知する。模擬信号処理部８２は、模擬信号発生装置７に対し模擬箇所と模擬値を出力する。模擬信号発生装置７において、模擬信号出力処理部７１が模擬信号処理部８２からの指令に基づき、プロセス信号入力処理装置３の入力端の模擬箇所に模擬値相当の電気信号を印加する。この時、入力値読取処理部７２は、模擬信号発生装置７の出力端で模擬信号出力処理部７１が出力する電気信号を検出し、これを模擬信号制御装置８に通知する。模擬信号制御装置８で模擬信号発生装置７の入力値読取処理部７２から通知された模擬信号出力処理部７１が出力した模擬信号の値を、入力値伝送処理部８３が入力値伝送出力処理部８４に通知する。入力値伝送出力処理部８４は、模擬信号伝送入出力情報部８１１を参照し、伝送バス４を経由して図２に示す自動試験用プラント表示装置９に通知する。
【００２８】
一方、図３に示すプロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号発生装置７によって印加された電気信号は、Ａ／Ｄ変換処理部３１によってデジタル値に変換され、プロセス信号入力制御装置２に伝送される。プロセス信号入力制御装置２において、プロセス信号入力処理装置３から伝送されたデジタル値は、工学値変換処理部２１により、工学値変換情報２１１に基づき工学値に変換され、伝送出力処理部２２に通知される。伝送出力処理部２２は、伝送出力情報２２１に基づき、伝送バス４を介して自動試験用プラント表示装置９に通知される。
【００２９】
図２に示す自動試験機能を備えたプラント表示装置９において、図３に示す信号模擬発生装置７が接続されたプロセス信号入力処理装置３でＡ／Ｄ変換処理され、プロセス信号入力制御装置２で工学値変換されて伝送された試験対象入力の工学値は、他の入力点の伝送データ同様に、伝送入力処理部５１により、伝送入力情報部５１１に書込まれる。試験対話処理部９１は入力点情報処理部５２に試験対象入力点の工学値を要求し、入力点情報処理部５２は伝送入力情報部５１１を参照し、要求された入力点の工学値を試験対話処理部９１に通知する。試験対話処理部９１は、試験処理部９２から通知される模擬発生装置７の模擬信号の値と入力点情報処理部５２から伝送される試験対象入力の工学値を図５に示す試験実施対話画面に表示する。
【００３０】
この時、試験員は試験実施対話画面を確認し、実行を要求するか又はキーボードの特定のキーを押すことで、試験対話処理部９１が試験対象入力点に対する模擬値／入力値／読み値を試験情報部９１１に書込み、次の模擬値または試験対象入力の行が選択され、さらに実行を要求するか又はキーボードの特定のキーを押すことで継続して試験を実施することができる。
【００３１】
なお、第１の実施の形態はアナログ入力の試験について記載したが、接点入力、パルス入力などについても同様である。
【００３２】
上記第１の実施の態様によれば、プラント制御システムの確認試験は、小人員、例えば一人でかつ自動で確認試験を実施することができる。すなわち、多くの場合、プラント監視システムの構成装置は、同じ部屋または隣接する部屋に設置されるため、一人で試験を実施することが可能である。
【００３３】
ただし、プロセス信号入力処理装置３が他のプラント監視システムの構成装置と離れた部屋に設置される場合も考えられるが、この場合では、可搬型の模擬信号発生装置７をプロセス信号入力処理装置３の近傍に設置、接続し、試験対象のプロセス信号入力制御装置２とプロセス信号入力処理装置３の予備ケーブルなどで模擬信号制御装置８と模擬信号発生装置７を接続することで、同様に試験を実施することができる。
【００３４】
（第２の実施の形態）
第２の実施の形態が、第１の実施の形態と異なる点は、図６に示す試験対象選択対話画面において、試験を実施するプロセス信号入力制御装置２及びプロセス信号入力処理装置３と入力基板の選択、測定点の入力の他に、判定基準値とその単位を入力することにより、試験対話処理部９１が図７の様に試験実施対話画面に判定基準をあわせて表示し、自動判定するようにした点である。判定結果は、判定基準に満たない試験項目行を色変え表示すること等により、試験員に通知する。
【００３５】
第２の実施の形態によれば、プラント制御システムの妥当性試験及び判定を小人員、例えば一人でかつ迅速に実施することができる。
【００３６】
（第３の実施の形態）
第３の実施の形態が第２の実施の形態と異なる点は、図２の試験情報部９１１に試験実施履歴情報を記録しておき、試験対話処理部９１は、例えば前回実施した試験年月日が予め定められた推奨試験実施期間から１年を引いた期間より前、即ち次回の年次点検前に推奨試験実施期間を迎える基板を図８の試験対象選択対話画面の入力基板の一覧表示で試験実施選択とは異なる色で色替表示することで、試験実施のための選択を促すようにした点である。
【００３７】
また、試験対象選択対話画面で履歴を要求することにより、図９に示す様な試験履歴一覧を表示する。試験履歴一覧では、基板とその基板の最近の試験実施日の一覧が表示される。この一覧でも同様に前回実施した試験年月日が予め定められた推奨試験実施期間から１年を引いた期間より前、即ち次回の年次点検前に推奨試験実施期間を迎える基板を色替え表示することで、試験実施のための選択を促す。
【００３８】
第３の実施の形態によれば、プラント監視システムの入力の妥当性試験を計画的に実施することができる。
【００３９】
（第４の実施の形態）
第４の実施の形態について図１０を用いて説明する。
第４の実施の形態の特徴は、自動試験機能を備えたプラント表示装置９が、試験員の対話要求を処理する試験対話処理部９１とプロセス信号入力制御装置２、プロセス信号入力処理装置３及びプロセス信号入力の情報を有する試験情報部９１１、試験対話処理部９１の試験要求を処理する試験対話処理部９２、プロセス信号入力制御装置２の伝送入力を処理する伝送入力処理部５１と伝送入力処理部５１が、入力点の現在値を記録した伝送入力情報部５１１、試験対話処理部９１からの入力点情報要求を処理する入力点情報処理部５２とプロセス信号入力の入力符号や名称、工学単位など記録した入力点情報５２１に加え、試験成績出力要求を処理する試験成績出力対話処理部９３、試験成績出力対話処理部９３からの試験成績出力要求を処理する試験成績出力処理部９４、試験成績出力処理部９４からの印刷要求を処理する印刷処理部９５を備えていることにある。
【００４０】
第４の実施の形態において、図１１に示す試験成績出力対話画面で試験成績の出力要求をすると、図１０において、試験成績出力対話処理部９２が試験情報部９１１の試験履歴データと試験成績書の様式を参照して試験成績の印刷要求のあった試験データと試験成績書の様式データを試験成績出力処理部９４に通知する。試験成績出力処理部９４は、試験データを試験成績書の様式に組込み、印刷処理部９５に印刷データを出力する。印刷処理部９５は、このデータをプリンタに出力要求すること、プリンタＡから、出力要求のあった試験成績書のデータシートが出力される。
【００４１】
第４の実施の形態によれば、試験データの転記や入力による誤記，誤入力、改竄なしに、すなわち、人為的なエラーをシステム的に発生させることなく、プラント制御システムの確認試験の成績書データシートを出力することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】第１〜４の実施形態のプラント監視システムの構成図。
【図２】第１の実施形態の自動試験用プラント表示装置のブロック図。
【図３】第１の実施形態の模擬信号制御装置及び模擬信号処理装置のブロック図。
【図４】第１の実施形態のプロセス信号入力試験の試験対象選択対話画面。
【図５】第１の実施形態のプロセス信号入力試験の試験実施対話画面。
【図６】第２の実施形態のプロセス信号入力試験の試験対象選択対話画面。
【図７】第２の実施形態のプロセス信号入力試験の試験実施対話画面。
【図８】第３の実施形態のプロセス信号入力試験の試験対象選択対話画面。
【図９】第３の実施形態のプロセス信号入力試験の試験履歴一覧画面。
【図１０】第４の実施形態の自動試験用プラント表示装置のブロック図。
【図１１】第４の実施形態のプロセス信号入力試験の試験成績出力対話画面。
【図１２】従来のプラント監視システムの構成図。
【図１３】従来のプロセス信号入力制御装置及びプロセス信号入力処理装置のブロック図。
【図１４】従来のプラント表示装置のブロック図。
【符号の説明】
【００４３】
１…プラント監視システム、２…プロセス信号入力制御装置、２１…工学値変換処理部、２１１…工学値変換情報部、２２…伝送出力処理部、２２１…伝送出力情報部、３…プロセス信号入力処理装置、３１…Ａ／Ｄ変換処理部、４…移送バス、５…プラント表示装置、５１…伝送入力処理部、５１１…伝送入力情報部、５２…入力点情報処理部、５２１…入力点情報部、５４…表示部、６…プラントセンサ、７…模擬信号発生装置、７１…模擬信出力処理部、７２…入力値読取処理部、８…模擬信号制御装置、８１…伝送入力処理部、８１１…模擬信号伝送入出力情報部、８２…模擬信号処理部、８３…入力値伝送処理部、８４…入力値伝送出力処理部、９…自動試験用表示装置、９１…試験対話処理部、９１１…試験情報、９２…試験処理部、９３…成績出力対話処理部、９４…試験成績出力処理部、９５…印刷処理部、１０…プリンタ。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発電所などのプラントにおいて、温度、圧力、流量などのパラメータ値や機器の状態などを表す、プラントの状態を監視制御するためのプロセス信号が入力処理されるプラント制御システムの妥当性を確認試験するためのプラント監視システム及びその方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
発電所などのプラントにおいて、プラントの状態を監視制御するためのプロセス信号が入力処理される従来のプラント制御システムの妥当性を確認試験するためのプラント監視システムを図１２乃至１４を用いて説明する。
【０００３】
プラント制御システムは、主に、プロセス信号入力制御装置２、プロセス入力処理装置３及びプラント表示装置５から構成されるが、従来のプラント監視システムは、プロセス入力処理装置３の端子台に模擬信号を印加し、プラント表示装置５で工学値（例えば、流量等の単位付き値）を表示／記録／判定していた。
【０００４】
図１２において、このプラント監視システム１のプロセス信号の入力処理の妥当性確認は、プロセス信号入力処理装置３の入力端をプラントセンサ６との接続から模擬信号発生装置７に切替え、模擬信号を印加するなどにより、プロセス信号入力制御装置２を経てプラント表示装置５で表示される工学値を参照していた。
【０００５】
図１３において、模擬信号発生装置７からプロセス信号入力処理装置３の入力端に印加された模擬信号は、プロセス信号入力処理装置３のＡ／Ｄ変換処理部３１によりカウント値に変換される。このカウント値は、プロセス信号入力制御装置２の工学値変換処理部２１により工学値変換情報部２１１参照して工学値に変換される。さらに、この工学値は伝送出力処理部２２により伝送出力情報部２２１を参照して伝送バス４を介して伝送データとして図１４のプラント表示装置５に送信される。
【０００６】
図１４において、プラント表示装置５は、プロセス信号入力制御装置２から伝送された伝送データを、伝送入力処理部５１が伝送入力情報部５１１に書込む。一方、試験員はプロセス信号入力処理装置３に印加した模擬信号に対応するプラント表示装置５での工学値を確認するために、プラント表示装置５に入力点符号などを入力し、その入力点符合の工学値の表示を要求する。この要求は、入力点表示処理部５３から入力点情報処理部５２に伝わり、入力点情報処理部５２は入力点情報部５２１と伝送入力情報部５１１を参照し、プラント表示装置５に入力点符号と入力点名称、現在の工学値、工学単位などを表示部５４に表示する。試験員は、プロセス信号入力処理装置３の入力端に印加した模擬信号から算出されるべき工学値と、プラント表示装置５に表示された工学値が判定基準内であることを確認／評価する。
【０００７】
上記従来のプラント監視システムは、プロセス信号入力装置の入力端がプラント表示装置の近傍に無い場合が多く、電気信号を印加する人とプラント表示装置で工学単位値を確認する人は、電話などの通信手段によって連絡をとりながら複数の人員で試験を実施しなければならないといった課題があった。
【０００８】
また、プラント監視システムのプロセス信号入力処理の妥当性確認は、各入力種別毎に判定基準が定められているが、試験出力の値が判定基準を満たしているかの確認は、プラント表示装置で工学値を確認する試験員によって行われる。しかし、プラント監視システムの入力は膨大であり、間違った判定をすることがあった。
【０００９】
さらに、従来の装置においては、予め定められた期間を超えない時間間隔で試験を実施する必要があるが、試験計画作成や試験準備等は試験員が行っており、試験漏れなどの課題があったほか、プラント監視システムの入力妥当性確認試験における試験結果の記録は、手書きやデータの手入力で行われていたため、誤記や入力ミス等の人為的エラーが生じる可能性があった。
【００１０】
一方、先行技術文献である特許文献１に開示のプラント制御システムの自動試験装置は、例えば原子力プラントで用いられる大規模なデジタル制御システムの性能を工場出荷時に確認試験するための発明であって、模擬信号発生装置から出力された模擬信号を、プロセス信号入出力装置を経由してデジタル制御システムに出力し、その応答信号を基準値と比較することにより、前記デジタル制御システムの試験をおこなうものである。この従来例は、膨大なプロセス信号が入力されるデジタル制御システムを小人数で自動的に試験することが可能であるが、あくまでも、工場出荷時の試験装置であって、単に、模擬信号発生装置と応答信号処理装置を備えたものにすぎず、高信頼性が要求される実プラントに配備されたプラント制御システムの監視システムに適用できるものではなかった。
【特許文献１】特開平８−９５８１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
上述したように、従来のプラント監視システムは、確認試験のために多数の人員を必要としたり、人為的ミスが発生しやすいシステムとなっているとともに、実プラントに配備されたプラント制御システムについて信頼性の高い確認試験をシステマチックにかつ定期的に行うことはできないという課題があった。
【００１２】
本発明は上述した課題を解決するためになされたものであり、膨大なプロセス信号が入力処理される実プラントに配備されたプラント制御システムについて、人為的エラーを防止し、小人員で信頼性の高い自動試験が実施可能なプラント監視システム及びその方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、プラント監視システムについての発明であって、プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理装置と前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御装置と、前記工学値を表示処理するプラント表示装置とからなるプラント監視システムにおいて、自動試験用プラント表示装置、模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置を有し、前記自動試験用プラント表示装置からの指令に基づき模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置がプロセス信号入力処理装置の入力端に模擬信号を印加し、前記プロセス信号入力制御装置は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示装置に伝送し、前記自動試験用プラント表示装置は、少なくともプロセス信号入力処理装置に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明は、プラント監視方法についての発明であって、プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理手段と、前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御手段と、前記工学値を表示処理するプラント表示手段と、自動試験用プラント表示手段と、模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段とを有し、前記自動試験用プラント表示手段からの指令に基づき模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段がプロセス信号入力処理手段の入力端に模擬信号を印加し、前記プロセス信号入力制御手段は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示手段に伝送し、前記自動試験用プラント表示手段は、少なくともプロセス信号入力処理手段に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、実プラントに配備されたプラント制御システムを確認試験する際に、膨大なプロセス信号が入力処理されるプラント制御システムの自動試験を行うことが可能となるとともに、小人員で確認試験を行うことができ、かつ、人為的なエラーを防止することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下に本発明の第１乃至第４の実施の形態について説明する。
（第１の実施の形態）
図１に示されるように、自動試験用プラント表示装置９からの試験要求を模擬信号制御装置８が処理し、模擬信号発生装置７がプロセス信号入力処理装置３の入力端に印加される。プロセス信号入力処理装置３は通常のプロセス信号入力処理と同様に模擬信号をＡ／Ｄ変換し、その変換出力をプロセス信号入力制御装置２が伝送バス４を介して自動試験用プラント表示装置９に伝送する。模擬信号発生装置７は、プロセス信号入力処理装置３の入力端に印加された模擬信号の読み値を、模擬信号制御装置８を経由して伝送バス４を介して自動試験用プラント表示装置９に伝送する。プロセス信号処理装置３において、温度、圧力、流量等のプロセス信号は電気信号に変更処理される。自動試験用プラント表示装置９は、プロセス信号入力制御装置２からの工学値と、模擬信号発生装置７が印加した模擬信号の値を表示することで、プラント監視システム１の自動試験が可能な構成としている。
【００１７】
図２において、自動試験用プラント表示装置９は、試験員の対話要求を処理する試験対話処理部９１とプロセス信号入力制御装置２及びプロセス信号入力処理装置３のプロセス信号入力情報を有する試験情報部９１１、試験対話処理部９１の試験要求を処理する試験対話処理部９２、プロセス信号入力制御装置２の伝送入力を処理する伝送入力処理部５１を備えるとともに、前記伝送入力処理部５１は、入力点の現在値を記録した伝送入力情報部５１１、試験対話処理部９１からの入力点情報要求を処理する入力点情報処理部５２とプロセス信号入力の入力符号や名称、工学単位など記録した入力点情報部５２１を備えている。
【００１８】
次に図３を用いて、プロセス信号入力処理装置３、模擬信号制御装置８及び模擬信号発生装置７について説明する。
【００１９】
プロセス信号入力処理装置３は、入力端に印加された模擬信号をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換処理部３１を備えている。プロセス信号入力制御装置２は、プロセス信号入力処理装置３から伝送されるデジタル値を工学値に変換する工学値変換処理部２１と入力点毎の工学値変換情報を記録した工学値変換情報部２１１、工学値変換処理部２１が変換した工学値を自動試験用プラント表示装置９に伝送する伝送出力処理部２２、及び伝送出力の並び情報を記録した伝送出力情報部２２１を備える。
【００２０】
模擬信号制御装置８は、自動試験用プラント表示装置９からの試験要求を処理する伝送入力処理部８１と自動試験用プラント表示装置９との試験要求などの伝送入出力を記録した模擬信号伝送入出力情報部８１１、模擬信号発生装置７に模擬信号を要求する模擬信号処理部８２、模擬信号発生装置７が印加した模擬信号の値を処理する入力値伝送処理部８３、及び模擬信号発生装置７が印加した模擬信号の値を自動試験用プラント表示装置９に伝送する入力値伝送出力処理部８４を備える。
【００２１】
模擬信号発生装置７は、模擬信号制御装置８からの模擬信号要求に基づきプロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号を印加する模擬信号出力処理部７１、及び印加した電気信号の値を検出し模擬信号制御装置８に伝送する入力値読み取り処理部７２を備える。
【００２２】
本発明の第１の実施の態様においてプラント制御システムの自動試験は以下の態様で行われる。
【００２３】
図１のプラント監視システム１において、入力の妥当性を確認する入力点のプロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号発生装置７を接続し、自動試験用プラント表示装置９から、妥当性を確認する入力点と模擬信号値を指定することで、試験対話処理部９１が試験情報部９１１から模擬信号印加箇所ａ1の情報と模擬信号値ｂ1を算出し、模擬信号制御装置８に模擬信号印加箇所ａ1と模擬信号値ｂ1が出力される。模擬信号制御装置８が自動試験機能を備えたプラント表示装置９からの模擬信号印加箇所ａ1と模擬信号値ｂ1に従い、模擬信号発生装置７に模擬信号の発生を要求すると、模擬信号発生装置７は、プロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号を印加するとともに、模擬信号発生装置７の出力端でプロセス信号入力処理装置２の入力端に印加した模擬信号を検出し、その値ｃ1を模擬信号制御装置８に送信する。模擬信号制御装置８は、値ｃ1を自動試験用プラント表示装置９に送信する。自動試験機能用表示装置９は妥当性を確認する入力点ａ1の工学値ｄ1を読み取り、模擬信号発生装置７への模擬値ｂ1と模擬信号発生装置７が出力端でプロセス信号入力処理装置３の入力端に印加した信号の読み値ｃ1、工学値ｄ1及び工学単位ｅ1を図５の様に表示部５４に表示する。
【００２４】
図２を用いて、自動試験用プラント表示装置９の処理態様を説明する。試験員が自動試験用プラント表示装置９の図４に示す試験対象選択対話画面で、図３に示す模擬信号発生装置７を接続したプロセス信号入力処理装置３が接続されているプロセス信号入力制御装置２を選択する。この選択要求を受けた試験対話処理部９１は、試験情報部９１１からプロセス信号入力制御装置２が接続しているプロセス信号入力処理装置３の一覧情報を参照する。試験対話処理部９１は、この情報を試験対象選択対話画面に表示する。さらに試験員は、自動試験用プラント表示装置９の試験対話で模擬信号発生装置７を接続したプロセス信号入力処理装置３を選択する。この選択要求を受けた試験対話処理部９１は、試験情報部９１１からプロセス信号入力処理装置３の入力基板の一覧を試験対象選択対話画面に表示する。さらに、試験員は、自動試験用プラント表示装置９の試験対象選択対話画面で試験対象の基板を選択し、実施する試験での測定点の数を入力し実行要求する。
【００２５】
実行要求を受けた試験対話処理部９１は、試験情報部９１１から選択された基板で処理される入出点の一覧情報を取得する。さらに試験対話処理部９１は入力点情報処理部５２に対し、選択された基板で処理される入力点情報の入力レンジとその単位、出力工学値の単位の一覧情報の取得を要求する。入力点情報処理部５２は、入力点情報部５２１を参照し、試験対話処理部９１に、この情報を打ち返す。試験対話処理部９１は、これらの情報をもとに図５に示す試験実施対話を表示する。図５の例において、試験対話処理部９１は、入力レンジと試験測定点数の情報から、模擬値を算出して試験実施対話画面に表示する。
【００２６】
そして、試験員は自動試験用プラント表示装置９の試験実施対話画面の試験対象入力点の入力値の行を選択し、実行を要求するか又はキーボードの特定のキーを押すことで、模擬箇所に模擬信号が印加要求される。模擬要求を受けた試験対話処理部９１は、試験処理部９２に対し模擬箇所と模擬値の指令を出力する。試験対話処理部９２は、伝送バス４経由で図３に示す模擬信号制御装置８に模擬箇所と模擬値の情報を伝送する。
【００２７】
図３に示す模擬信号制御装置８に伝送された模擬箇所と模擬値の指令は、伝送入力処理部８１で処理される。伝送入力処理部８１は模擬信号伝送入出力情報部８１１を参照し、模擬信号処理部８２に通知する。模擬信号処理部８２は、模擬信号発生装置７に対し模擬箇所と模擬値を出力する。模擬信号発生装置７において、模擬信号出力処理部７１が模擬信号処理部８２からの指令に基づき、プロセス信号入力処理装置３の入力端の模擬箇所に模擬値相当の電気信号を印加する。この時、入力値読取処理部７２は、模擬信号発生装置７の出力端で模擬信号出力処理部７１が出力する電気信号を検出し、これを模擬信号制御装置８に通知する。模擬信号制御装置８で模擬信号発生装置７の入力値読取処理部７２から通知された模擬信号出力処理部７１が出力した模擬信号の値を、入力値伝送処理部８３が入力値伝送出力処理部８４に通知する。入力値伝送出力処理部８４は、模擬信号伝送入出力情報部８１１を参照し、伝送バス４を経由して図２に示す自動試験用プラント表示装置９に通知する。
【００２８】
一方、図３に示すプロセス信号入力処理装置３の入力端に模擬信号発生装置７によって印加された電気信号は、Ａ／Ｄ変換処理部３１によってデジタル値に変換され、プロセス信号入力制御装置２に伝送される。プロセス信号入力制御装置２において、プロセス信号入力処理装置３から伝送されたデジタル値は、工学値変換処理部２１により、工学値変換情報２１１に基づき工学値に変換され、伝送出力処理部２２に通知される。伝送出力処理部２２は、伝送出力情報２２１に基づき、伝送バス４を介して自動試験用プラント表示装置９に通知される。
【００２９】
図２に示す自動試験機能を備えたプラント表示装置９において、図３に示す信号模擬発生装置７が接続されたプロセス信号入力処理装置３でＡ／Ｄ変換処理され、プロセス信号入力制御装置２で工学値変換されて伝送された試験対象入力の工学値は、他の入力点の伝送データ同様に、伝送入力処理部５１により、伝送入力情報部５１１に書込まれる。試験対話処理部９１は入力点情報処理部５２に試験対象入力点の工学値を要求し、入力点情報処理部５２は伝送入力情報部５１１を参照し、要求された入力点の工学値を試験対話処理部９１に通知する。試験対話処理部９１は、試験処理部９２から通知される模擬発生装置７の模擬信号の値と入力点情報処理部５２から伝送される試験対象入力の工学値を図５に示す試験実施対話画面に表示する。
【００３０】
この時、試験員は試験実施対話画面を確認し、実行を要求するか又はキーボードの特定のキーを押すことで、試験対話処理部９１が試験対象入力点に対する模擬値／入力値／読み値を試験情報部９１１に書込み、次の模擬値または試験対象入力の行が選択され、さらに実行を要求するか又はキーボードの特定のキーを押すことで継続して試験を実施することができる。
【００３１】
なお、第１の実施の形態はアナログ入力の試験について記載したが、接点入力、パルス入力などについても同様である。
【００３２】
上記第１の実施の態様によれば、プラント制御システムの確認試験は、小人員、例えば一人でかつ自動で確認試験を実施することができる。すなわち、多くの場合、プラント監視システムの構成装置は、同じ部屋または隣接する部屋に設置されるため、一人で試験を実施することが可能である。
【００３３】
ただし、プロセス信号入力処理装置３が他のプラント監視システムの構成装置と離れた部屋に設置される場合も考えられるが、この場合では、可搬型の模擬信号発生装置７をプロセス信号入力処理装置３の近傍に設置、接続し、試験対象のプロセス信号入力制御装置２とプロセス信号入力処理装置３の予備ケーブルなどで模擬信号制御装置８と模擬信号発生装置７を接続することで、同様に試験を実施することができる。
【００３４】
（第２の実施の形態）
第２の実施の形態が、第１の実施の形態と異なる点は、図６に示す試験対象選択対話画面において、試験を実施するプロセス信号入力制御装置２及びプロセス信号入力処理装置３と入力基板の選択、測定点の入力の他に、判定基準値とその単位を入力することにより、試験対話処理部９１が図７の様に試験実施対話画面に判定基準をあわせて表示し、自動判定するようにした点である。判定結果は、判定基準に満たない試験項目行を色変え表示すること等により、試験員に通知する。
【００３５】
第２の実施の形態によれば、プラント制御システムの妥当性試験及び判定を小人員、例えば一人でかつ迅速に実施することができる。
【００３６】
（第３の実施の形態）
第３の実施の形態が第２の実施の形態と異なる点は、図２の試験情報部９１１に試験実施履歴情報を記録しておき、試験対話処理部９１は、例えば前回実施した試験年月日が予め定められた推奨試験実施期間から１年を引いた期間より前、即ち次回の年次点検前に推奨試験実施期間を迎える基板を図８の試験対象選択対話画面の入力基板の一覧表示で試験実施選択とは異なる色で色替表示することで、試験実施のための選択を促すようにした点である。
【００３７】
また、試験対象選択対話画面で履歴を要求することにより、図９に示す様な試験履歴一覧を表示する。試験履歴一覧では、基板とその基板の最近の試験実施日の一覧が表示される。この一覧でも同様に前回実施した試験年月日が予め定められた推奨試験実施期間から１年を引いた期間より前、即ち次回の年次点検前に推奨試験実施期間を迎える基板を色替え表示することで、試験実施のための選択を促す。
【００３８】
第３の実施の形態によれば、プラント監視システムの入力の妥当性試験を計画的に実施することができる。
【００３９】
（第４の実施の形態）
第４の実施の形態について図１０を用いて説明する。
第４の実施の形態の特徴は、自動試験機能を備えたプラント表示装置９が、試験員の対話要求を処理する試験対話処理部９１とプロセス信号入力制御装置２、プロセス信号入力処理装置３及びプロセス信号入力の情報を有する試験情報部９１１、試験対話処理部９１の試験要求を処理する試験対話処理部９２、プロセス信号入力制御装置２の伝送入力を処理する伝送入力処理部５１と伝送入力処理部５１が、入力点の現在値を記録した伝送入力情報部５１１、試験対話処理部９１からの入力点情報要求を処理する入力点情報処理部５２とプロセス信号入力の入力符号や名称、工学単位など記録した入力点情報５２１に加え、試験成績出力要求を処理する試験成績出力対話処理部９３、試験成績出力対話処理部９３からの試験成績出力要求を処理する試験成績出力処理部９４、試験成績出力処理部９４からの印刷要求を処理する印刷処理部９５を備えていることにある。
【００４０】
第４の実施の形態において、図１１に示す試験成績出力対話画面で試験成績の出力要求をすると、図１０において、試験成績出力対話処理部９２が試験情報部９１１の試験履歴データと試験成績書の様式を参照して試験成績の印刷要求のあった試験データと試験成績書の様式データを試験成績出力処理部９４に通知する。試験成績出力処理部９４は、試験データを試験成績書の様式に組込み、印刷処理部９５に印刷データを出力する。印刷処理部９５は、このデータをプリンタに出力要求すること、プリンタＡから、出力要求のあった試験成績書のデータシートが出力される。
【００４１】
第４の実施の形態によれば、試験データの転記や入力による誤記，誤入力、改竄なしに、すなわち、人為的なエラーをシステム的に発生させることなく、プラント制御システムの確認試験の成績書データシートを出力することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】第１〜４の実施形態のプラント監視システムの構成図。
【図２】第１の実施形態の自動試験用プラント表示装置のブロック図。
【図３】第１の実施形態の模擬信号制御装置及び模擬信号処理装置のブロック図。
【図４】第１の実施形態のプロセス信号入力試験の試験対象選択対話画面。
【図５】第１の実施形態のプロセス信号入力試験の試験実施対話画面。
【図６】第２の実施形態のプロセス信号入力試験の試験対象選択対話画面。
【図７】第２の実施形態のプロセス信号入力試験の試験実施対話画面。
【図８】第３の実施形態のプロセス信号入力試験の試験対象選択対話画面。
【図９】第３の実施形態のプロセス信号入力試験の試験履歴一覧画面。
【図１０】第４の実施形態の自動試験用プラント表示装置のブロック図。
【図１１】第４の実施形態のプロセス信号入力試験の試験成績出力対話画面。
【図１２】従来のプラント監視システムの構成図。
【図１３】従来のプロセス信号入力制御装置及びプロセス信号入力処理装置のブロック図。
【図１４】従来のプラント表示装置のブロック図。
【符号の説明】
【００４３】
１…プラント監視システム、２…プロセス信号入力制御装置、２１…工学値変換処理部、２１１…工学値変換情報部、２２…伝送出力処理部、２２１…伝送出力情報部、３…プロセス信号入力処理装置、３１…Ａ／Ｄ変換処理部、４…移送バス、５…プラント表示装置、５１…伝送入力処理部、５１１…伝送入力情報部、５２…入力点情報処理部、５２１…入力点情報部、５４…表示部、６…プラントセンサ、７…模擬信号発生装置、７１…模擬信出力処理部、７２…入力値読取処理部、８…模擬信号制御装置、８１…伝送入力処理部、８１１…模擬信号伝送入出力情報部、８２…模擬信号処理部、８３…入力値伝送処理部、８４…入力値伝送出力処理部、９…自動試験用表示装置、９１…試験対話処理部、９１１…試験情報、９２…試験処理部、９３…成績出力対話処理部、９４…試験成績出力処理部、９５…印刷処理部、１０…プリンタ。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理装置と前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御装置と、前記工学値を表示処理するプラント表示装置とからなるプラント監視システムにおいて、
自動試験用プラント表示装置、模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置を有し、
前記自動試験用プラント表示装置からの指令に基づき模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置がプロセス信号入力処理装置の入力端に模擬信号を印加し、
前記プロセス信号入力制御装置は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示装置に伝送し、
前記自動試験用プラント表示装置は、少なくともプロセス信号入力処理装置に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とするプラント監視システム。
【請求項２】
前記プラント入力処理装置の入力端に印加された模擬信号値から算出された工学値とプラント表示装置で変換処理された工学値とを比較し、あらかじめ設定された判定基準に基づいてプロセス入力処理の妥当性を自動判定することを特徴とする請求項１記載のプラント監視システム
【請求項３】
前記自動試験用プラント表示装置は、プロセス信号入力処理の妥当性の自動判定結果を実施履歴として記録し、その実施履歴にもとづいて、プロセス信号入力の試験間隔を自動的に算出し、試験実施時期を自動試験用プラント表示装置に表示することを特徴とする請求項２記載のプラント監視システム
【請求項４】
前記自動試験用プラント表示装置は、出力要求のあった試験成績書を印刷処理部に出力することができる試験成績出力対話画面を有することを特徴とする請求項３記載のプラント監視システム。
【請求項５】
プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理手段と、前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御手段と、前記工学値を表示処理するプラント表示手段と、自動試験用プラント表示手段と、模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段とを有し、
前記自動試験用プラント表示手段からの指令に基づき模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段がプロセス信号入力処理手段の入力端に模擬信号を印加し、
前記プロセス信号入力制御手段は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示手段に伝送し、
前記自動試験用プラント表示手段は、少なくともプロセス信号入力処理手段に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とするプラント監視方法。
【請求項１】
プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理装置と前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御装置と、前記工学値を表示処理するプラント表示装置とからなるプラント監視システムにおいて、
自動試験用プラント表示装置、模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置を有し、
前記自動試験用プラント表示装置からの指令に基づき模擬信号制御装置及び模擬信号発生装置がプロセス信号入力処理装置の入力端に模擬信号を印加し、
前記プロセス信号入力制御装置は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示装置に伝送し、
前記自動試験用プラント表示装置は、少なくともプロセス信号入力処理装置に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とするプラント監視システム。
【請求項２】
前記プラント入力処理装置の入力端に印加された模擬信号値から算出された工学値とプラント表示装置で変換処理された工学値とを比較し、あらかじめ設定された判定基準に基づいてプロセス入力処理の妥当性を自動判定することを特徴とする請求項１記載のプラント監視システム
【請求項３】
前記自動試験用プラント表示装置は、プロセス信号入力処理の妥当性の自動判定結果を実施履歴として記録し、その実施履歴にもとづいて、プロセス信号入力の試験間隔を自動的に算出し、試験実施時期を自動試験用プラント表示装置に表示することを特徴とする請求項２記載のプラント監視システム
【請求項４】
前記自動試験用プラント表示装置は、出力要求のあった試験成績書を印刷処理部に出力することができる試験成績出力対話画面を有することを特徴とする請求項３記載のプラント監視システム。
【請求項５】
プラントの状態を監視制御するためにプロセス信号を電気信号へ変換処理するプロセス信号入力処理手段と、前記電気信号を工学値に変換処理するプロセス信号入力制御手段と、前記工学値を表示処理するプラント表示手段と、自動試験用プラント表示手段と、模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段とを有し、
前記自動試験用プラント表示手段からの指令に基づき模擬信号制御手段及び模擬信号発生手段がプロセス信号入力処理手段の入力端に模擬信号を印加し、
前記プロセス信号入力制御手段は、前記模擬信号を工学値に変換処理して前記自動試験用プラント表示手段に伝送し、
前記自動試験用プラント表示手段は、少なくともプロセス信号入力処理手段に印加した前記模擬信号値及び変換処理された前記模擬信号の前記工学値を表示処理することを特徴とするプラント監視方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【公開番号】特開２００８−１４０２３５（Ｐ２００８−１４０２３５Ａ）
【公開日】平成２０年６月１９日（２００８．６．１９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−３２６９１４（Ｐ２００６−３２６９１４）
【出願日】平成１８年１２月４日（２００６．１２．４）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年６月１９日（２００８．６．１９）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１２月４日（２００６．１２．４）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]