格納媒体上の欠陥の位置を判断する方法および装置
ディスクドライブの格納媒体の上の欠陥を検知する。格納媒体の上のデータの最小アドレス可能な単位内で、欠陥の位置が判断される。位置を示す情報をメモリに格納する。格納媒体の上に格納されているデータに対するディスクドライブのセンサの位置を監視する。ディスクドライブの欠陥検知器、ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および、ディスクドライブのサーボコントローラのうち少なくとも１つの応答を、格納媒体の上に格納されているデータに対するセンサの位置、および、欠陥の位置の格納されている情報に基づいて、変更する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、２００９年１月１４日に提出された、「欠陥境界コントローラ」なる名称の米国仮出願第６１／１４４，６０２号明細書の恩恵を請求しており、この全体をここに参照として組み込む。
【０００２】
本開示は概してディスク格納デバイスに係り、より詳しくはディスク上の欠陥の位置を検知する技術に係る。
【背景技術】
【０００３】
ここに提供する背景技術の記載は、概して開示のコンテキストを示す目的を持つ。現在の発明者の、さもなくば出願時に先行技術とはならないであろうこの背景技術に記載されている範囲および記載の側面は、いずれも、本開示に対して自認した先行技術であることを明示もしくは示唆するものではないことを理解されたい。
【０００４】
レーザを利用して光格納媒体のポリカーボネート基板上部に極小の窪みまたはピットのパターンを形成することにより、データを光格納媒体に書き込む方法がある。ピット間の領域はランドとして知られており、ピットおよびランドをあわせて、光格納媒体へ書き込まれたデータである。光ピックアップユニット（ＯＰＵ）は、レーザよび光センサを含んでよく、データの読み取りに利用される。例えばＯＰＵのレーザを、データを読み取ろうとしている光格納媒体の上のトラックに方向付けることができる。ランドに対するピットの窪みによって、ピットとランドとからはそれぞれ異なるように光が反射される。光格納媒体は、読み取り処理中にスピンドル／供給モータ（ＦＭ）ドライバにより回転されることで、光センサがピットおよびランドから読み取りを行うことができる。光センサは、ピットとランドとからの反射がそれぞれ異なることを検知して、ピットおよびランドが表すデータを読み取る。
【０００５】
光格納媒体からデータを正確に読み取るには反射の差異を正確に検知することが必要となり、ピットは極小の窪みであるので、光格納媒体に書き込まれるデータの整合性は、引っかきまたは指紋によって欠陥を有しやすくなる。このような欠陥は、ランドおよびピットのパターンに干渉して、光格納媒体の反射特性を脅かす場合があり、これによりデータを正確に読み取れなくなったり、全く読み取れなくなったりする場合すらある。例えば、光格納媒体のユーザが音声またはビデオを再生する際に「スキップ」または「ブリップ」が生じたり、処理データを読み取ることが難しくなったりすることがある。
【０００６】
図１は、光格納媒体１０４の欠陥開始領域１１２から始まる、引っかきまたは指紋といった欠陥１０８を有するＤＶＤ媒体等の光格納媒体１０４を示している。欠陥開始領域１１２は、図１の欠陥開始領域１１２の拡大図に示すように複数のトラック１１６を含んでよい。これら複数のトラック１１６の各々にはデータが書き込まれている。データは後に、複数のトラック１１６から読み出され、さらなる処理、光格納媒体１０４のユーザへの表示、ユーザへの音声またはビデオ再生等に利用されてよい。
【０００７】
光格納媒体上の欠陥は、光格納媒体にわたり放射状に広がるので、時としてそのサイズが成長することがある。図１に示す欠陥１０８は、欠陥開始領域１１２内で複数のトラック１１６にわたり放射上に広がって、そのサイズが増加する。欠陥１０８により、特に欠陥１０８のサイズが増加するときに、複数のトラック１１６にデータが書き込まれている光格納媒体１０４上のデータ層の劣化が生じ、これにより、例えばＤＶＤプレーヤの読み出しチャネル等の読み出しチャネルの、欠陥１０８が広がる各トラックからデータを読み出す能力に悪影響を及ぼす。
【０００８】
図２は、光格納デバイスからの出力信号２００を示す。出力信号２００は例えば、光格納媒体（例えば光格納媒体１０４）からデータを読み出すことで生成される信号に対応する読み出しチャネル信号であってよい。出力信号２００は、指紋により生じた劣化を有する劣化領域２０４を含む。劣化領域２０４は、低信号レベルおよび指紋の稜線に対応する稜線２０８により特徴付けられる。図３は、光格納デバイスからの別の出力信号３００を示す。出力信号３００は、引っかきにより生じる深刻な劣化を有する劣化領域３０４を含む。劣化領域３０４は、略完全に劣化した信号レベルおよびその結果の総データ損失により特徴付けられる。
【０００９】
光格納媒体１０４に書き込まれるデータは、リード−ソロモン符号化スキーム等の誤り訂正符号化（ＥＣＣ）スキームに従って符号化されてよい。場合によっては、ＥＣＣを利用することで、読み出しチャネルは、欠陥１０８が存在していても、光格納媒体１０４の、欠陥１０８等の欠陥の位置に書き込まれているデータを決定できる。しかし欠陥１０８が深刻すぎたり大きすぎたりする場合には、ＥＣＣであっても、データの損失を補うことができない場合がある。さらに、ＥＣＣがデータの損失を補うことができる場合であっても、欠陥１０８がさらなる問題を生じる場合もある。つまり、読み出しチャネルは、様々な制御ループを活用して、データを光格納媒体１０４から読み出すタイミング、利得量、および読み出し信号に適用されるｄｃオフセット等のパラメータを継続的に監視して調節する。例えばデータは、光格納媒体１０４のチャネルクロックに従って読み出される。光データ取得システムは、例えば光格納媒体１０４の回転速度に基づき期待チャネルクロックを決定する。しかし、様々な要素によって期待チャネルクロックが不正確になる場合がある。例えば光格納媒体１０４の偏心または楕円回転、光格納媒体１０４の回転速度の変化、および、読み出されるトラックの曲率中心と光格納媒体１０４の回転軸との間の差異の全てがタイミングエラーを引き起こす原因となりうる。従って読み出し処理中に適切な信号タイミングを確実に得るためには、タイミング制御ループを利用して、実際のチャネルクロックを回復している。同様に、利得およびｄｃオフセット制御ループを利用して、ＯＰＵからの読み出し信号の増幅を制御して、タイミング制御の問題を生じた要素のうちの１以上を含む要素の結果読み出し信号に付加されうるｄｃオフセットを補う。
【００１０】
しかし欠陥１０８が存在する場合には、光格納媒体１０４のデータの劣化によって、タイミング、利得、ｄｃオフセット制御ループに対して好ましくない入力が生じ、この結果、信号タイミング、利得、およびｄｃオフセット補償について望ましくない不正確な制御が行われる場合がある。この結果、欠陥１０８が含まれる光格納媒体１０４の領域を過ぎた後であっても、十分な量の信頼できるデータに基づいて制御ループが更新されることで再度適切な出力が生成されるまでは、欠陥１０８に悪影響（つまりスキップ、ブリップ等）が継続して生じる場合がある。
【００１１】
同様の問題が、光格納媒体１０４からデータを読み出すＯＰＵの位置を制御することに関して欠陥１０８が存在する場合にも生じうる。ＯＰＵの位置は、例えばタイミング制御に関して上述したものを含む要素によって変化してしまって不都合な場合がある。このため、タイミング、利得、およびｄｃオフセット同様に、ＯＰＵの位置も監視対象として、さらなる制御ループにより更新するとよい。しかしタイミング、利得、およびｄｃオフセット制御ループ同様に、ＯＰＵを位置させる制御ループも、欠陥１０８が存在すると不正確なデータに基づいて更新されることがあり、これによりＯＰＵの位置の調節が不正確になって、これが、ＯＰＵが欠陥１０８の最後を通過した後であっても継続する場合がある。
【００１２】
１つの公知のシステムに、欠陥１０８等の欠陥を検知して、例えば読み取りチャネルが利用するループに対する一定の変更を行うものがある。例えばタイミングループは、欠陥１０８から生じる不正確なデータでタイミングループの更新を行うことを最小限に抑えるべく、ディセーブルすることができる。システムはさらに、欠陥１０８が内部で検知されたＥＣＣブロックの光格納媒体１０４上のアドレスを決定することができる。ＥＣＣブロックの再読み取りの試みを後で行うようにすると、欠陥１０８を事前に検知する確率を高めるために、ＥＣＣブロックの開始からシステムの欠陥に対する検知感度が増して、これによってタイミングループが先にディセーブルされて、不正確なデータで更新されることがさらに少なくなる。
【発明の概要】
【００１３】
一実施形態の方法は、ディスクドライブの格納媒体の上の欠陥を検知する。格納媒体の上のデータの最小アドレス可能な単位内で、欠陥の位置を判断する段階をさらに含む。加えて、方法は、位置を示す情報をメモリに格納する段階を含む。方法はさらに、格納媒体の上に格納されているデータに対するディスクドライブのセンサの位置を監視する段階を含む。方法はまた、ディスクドライブの欠陥検知器、ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および、ディスクドライブのサーボコントローラのうち少なくとも１つの応答を、格納媒体の上に格納されているデータに対するセンサの位置、および、欠陥の位置の格納されている情報に基づいて、変更する段階を含む。
【００１４】
別の実施形態では、読み取りチャネルコントローラの欠陥に対する応答を変更する段階は、読み取り信号に適用される利得を増加させる段階を有する。一実施形態では、利得を増加させる段階は、格納媒体の、欠陥の位置に格納されているデータの振幅が閾値を超えると判断することに呼応して、利得を増加させる段階を含む。
【００１５】
さらなる実施形態では、装置は、ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられたカウントをそれぞれ生成するカウンタを含む。装置はさらに、格納媒体の上の欠陥を検知する欠陥検知器を含む。装置はさらに欠陥境界コントローラを含む。欠陥境界コントローラは、欠陥の位置に対応するカウンタのカウントを判断する。欠陥境界コントローラは、欠陥検知器、ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および、ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、カウントとカウンタとに基づき変更する。
【００１６】
一実施形態では、装置はさらに、カウンタを１以上のカウンタリセット位置でリセットするカウンタリセットモジュールを含む。欠陥境界コントローラは、さらに、欠陥に対応する特定のカウンタリセット位置を判断する。加えて、欠陥境界コントローラは、欠陥検知器、読み取りチャネルコントローラ、および、サーボコントローラのうち少なくとも１つの応答を、さらに欠陥に対応するカウンタリセット位置に基づき変更する。
【００１７】
別の実施形態では、カウントは、欠陥に対応するカウンタリセット位置と欠陥の位置との間の格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す。
【００１８】
また別の実施形態では、欠陥境界コントローラは、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが、欠陥の位置に対応する調節されたカウントに達したときに、読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる。
【００１９】
また別の実施形態では、欠陥境界コントローラは、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが、欠陥の近くを示しているときに、欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する。
【００２０】
また別の実施形態では、欠陥の位置は、格納媒体の第１のトラックの上である。欠陥境界コントローラは、欠陥の位置に基づき補償値を計算する。欠陥境界コントローラは、さらに、欠陥の位置に対応するカウントに補償値を追加して、格納媒体の第２のトラックの上の欠陥の第２の位置を予測する。
【００２１】
さらなる実施形態では、方法は、カウンタを動作させる。カウンタのカウントはそれぞれ、ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられている。方法はさらに、欠陥検知器を利用して格納媒体の上の欠陥を検知する段階を含む。加えて、方法は、欠陥の位置に対応するカウンタのカウントを判断する段階を含む。方法はさらに、欠陥検知器、ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、およびディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、カウントとカウンタとに基づき変更する段階を含む。
【００２２】
別の実施形態では、方法はさらに、１以上のカウンタリセット位置でカウンタをリセットする段階と、欠陥に対応するカウンタリセット位置を判断する段階とをさらに備える。加えて、欠陥検知器、読み取りチャネルコントローラ、およびサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を変更する段階は、欠陥に対応するカウンタリセット位置にさらに基づいて行われる。
【００２３】
また別の実施形態では、カウントは、欠陥に対応するカウンタリセット位置と欠陥位置との間の格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す。
【００２４】
また別の実施形態では、欠陥に対応するカウンタリセット位置は、格納媒体の上の誤り訂正符号化ブロックの境界である。
【００２５】
また別の実施形態では、欠陥に対応するカウンタリセット位置は、格納媒体の上のデータセクタの境界である。
【００２６】
また別の実施形態では、欠陥に対応するカウンタリセット位置は、格納媒体の上の所定の角度位置である。
【００２７】
また別の実施形態では、欠陥検知器の応答を変更する段階は、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが欠陥の近くを示すときに、欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する段階を変更する段階を有する。
【００２８】
また別の実施形態では、読み取りチャネルコントローラの応答を変更する段階は、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが欠陥の位置に対応する調節されたカウントに達したときに、読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる段階を有する。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】欠陥を有する光格納媒体を示す。
【００３０】
【図２】指紋による劣化を含む光格納媒体からの出力信号を示す。
【００３１】
【図３】引っかきによる深刻な劣化を含む光格納媒体からの出力信号を示す。
【００３２】
【図４】一実施形態におけるディスクドライブシステムのブロック図である。
【００３３】
【図５】別の実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体の欠陥を管理する方法のフローチャートである。
【００３４】
【図６】別の実施形態における欠陥管理モジュールの実装を含むディスクドライブシステムのブロック図である。
【００３５】
【図６Ａ】また別の実施形態における欠陥管理モジュールの欠陥境界コントローラの詳細図である。
【００３６】
【図７】また別の実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体上の欠陥の位置を決定する方法のフローチャートである。
【００３７】
【図８】また別の実施形態における光格納媒体のトラックを示す２つの図である。
【００３８】
【図９】別の実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体上の欠陥に対する応答を変更する方法のフローチャートである。
【００３９】
【図１０】別の実施形態における欠陥管理モジュールの別の実装を含む代替的なディスクドライブシステムのブロック図である。
【００４０】
【図１１】また別の実施形態における光格納媒体の第３のトラック上の欠陥の位置を予測する方法のフローチャートである。
【００４１】
【図１２】また別の実施形態における複数のトラックを有する光格納媒体を示す。
【００４２】
【図１３】別の実施形態における光格納媒体の２つのトラック上のカウンタリセット位置および欠陥検知位置を示す。
【発明を実施するための形態】
【００４３】
ここで記載する欠陥検知および応答技術は、１以上のＤＶＤフォーマット仕様（例えばＤＶＤ読み取り専用メモリ（ＤＶＤ−ＲＯＭ）、記録可能フォーマットＤＶＤ−ＲおよびＤＶＤ＋Ｒ、書き込み可能フォーマットＤＶＤ−ＲＷおよびＤＶＤ＋ＲＷ、およびＤＶＤランダムアクセスメモリ（ＤＶＤ−ＲＡＭ））を利用する光ディスクドライブシステムで利用されるものとして記載されるが、これら技術は、様々な他の種類の光ディスクドライブシステムで利用可能であり、これら光ディスクドライブシステムには、Ｂｌｕ−ＲａＹ Ｄｉｓｃ（ＢＤ）フォーマット仕様およびコンパクトディスク（ＣＤ）フォーマット仕様が含まれてよいが、ＤＶＤフォーマット仕様に準拠したものに限定されるわけではない。またさらに、ここで記載する技術は、他のデータ格納デバイスおよびドライブシステム（例えば磁気ディスクドライブシステム）に利用することもできる。
【００４４】
図４は、一実施形態におけるディスクドライブシステム４００のブロック図である。ディスクドライブシステム４００は、例えば、Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｃプレーヤ、ＤＶＤプレーヤ、パーソナルコンピュータまたはラップトップコンピュータ等に見られるようなＢｌｕ−Ｒａｙディスクドライブシステム、ＤＶＤディスクドライブシステム等、または、光ドライブを利用しうる複数のデバイスおよび機器のいずれかであってよい。ディスクドライブシステム４００は、光格納媒体１０４、ＯＰＵ４０８が取り付けられた移動アーム４０４、サーボ４１２、サーボコントローラ４１６、読み取りチャネル４２０、メモリ４２４、読み取りチャネルコントローラ４３２、欠陥管理モジュール４３６、ディスクコントローラ４４０、およびインタフェース４４４を含む。読み取りチャネルコントローラ４３２は、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａおよびタイミングコントローラ４３２ｂを含む。別の実施形態では、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａは、２つの別個のコントローラ（つまり、１つがｄｃオフセットコントローラ（不図示）であり、１つが利得コントローラ（不図示）である）として実装される。また別の実施形態では、以下に詳述するように、電圧制御発振器（ＶＣＯ）（図４には不図示）を、タイミングコントローラ４３２ａに集積してよく、あるいは、タイミングコントローラ４３２ｂに通信可能なように連結させることができる。
【００４５】
図５をさらに参照して、ディスクドライブシステム４００の処理を以下に詳述する。図５は、一実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体の欠陥を管理する方法５００のフローチャートである。方法５００は、説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム４００を参照して説明する。しかし、方法５００はディスクドライブシステム４００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【００４６】
５０４で、データを光格納媒体１０４から検知する。一実施形態では、ディスクドライブシステム４００を含みうるような上述したコンピューティングデバイスのうちの１つにおけるマイクロプロセッサ（不図示）が、読み取りデータ要求をインタフェース４４４に提供して、読み取るべきデータ（データをそこから読み取る光格納媒体１０４の第１のトラックを示す情報）を示すことができる。インタフェース４４４は、読み取るべきデータを示す情報をディスクコントローラ４４０に送信して、ディスクコントローラ４４０が、例えばデータをそこから読み取る第１のトラックを示す信号をサーボコントローラ４１６に送信する。ディスクコントローラ４４０からの信号に呼応して、サーボコントローラ４１６は、サーボ４１２の、移動アーム４０４およびＯＰＵ４０８を第１のトラック上に位置させる処理を制御する。ここではＯＰＵ４０８を第１のトラック上に位置させることに関して説明するが、サーボコントローラ４１６およびサーボ４１２は、ＯＰＵ４０８を、データ読み取り要求が示す光格納媒体１０４の任意の適切な位置（例えば第１のトラックの上の特定のデータセクタ等）の上に位置させるために利用することができる。ＯＰＵ４０８は、レーザおよび光センサを含んで、第１のトラックのランドおよびピットから異なる反射を検知することで、光格納媒体１０４上に格納されているデータを読み取ることができる。
【００４７】
５０４の参照を続けると、光格納媒体１０４上に格納されるデータの検知は、一実施形態では、さらに以下のように行われてよい。読み取りチャネル４２０は、ＯＰＵ４０８からアナログの読み取り信号を受信して、アナログ読み取り信号に基づいてデジタル信号を生成して、デジタル信号が表すデータを検知する。一実施形態では、検知されたデータをメモリ４２４に書き込んでよく、メモリ４２４にはＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリ、および／または、任意の他の適切な電子データ格納媒体に書き込んで、ディスクドライブシステム４００を配置するコンピューティングデバイスによる利用に備えさせる。別の実施形態では、検知されたデータは、ディスクコントローラ４４０に提供されてよく、ディスクコントローラ４４０からインタフェース４４４に提供されてよい。次いでインタフェース４４４はさらに、検知されたデータを上述したマイクロプロセッサに提供することができる。読み取りチャネル４２０は、さらに、光格納媒体１０４から読み取った位置情報に基づいて位置信号を生成して、これらの位置信号をサーボコントローラ４１６に提供してよい。従って、サーボコントローラ４１６はさらに、読み取りチャネル４２０からの位置信号に呼応して、サーボ４１２の処理を制御することができる。
【００４８】
次に５０８で、ディスクドライブシステム４００内のコントローラを、読み取りチャネル４２０に提供された様々なパラメータを調節するべく更新する。これらパラメータは例えば、読み取り処理中に適切なタイミング、増幅、およびｄｃオフセット補償を確かに行うために利用される信号タイミング、利得、およびｄｃオフセットパラメータを含んでよい。ディスクドライブシステム４００では、デジタル信号および検知されたデータの一方または両方が、読み取りチャネルコントローラ４３２内のコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの更新に利用される。コントローラ４３２ａおよび４３２ｂは、デジタル信号および／または検知されたデータからの更新に呼応して、読み取りチャネル４２０に提供された上述したパラメータを調節する。これらパラメータは、例えば、光格納媒体１０４の偏心または楕円回転が生じる変動、光格納媒体１０４の回転速度の変動、光格納媒体１０４の回転軸と、第１のトラックまたは任意の他の読み取りトラックの曲率中心との間の差異等に呼応して調節することができる。加えて、デジタル信号および検知されたデータの一方または両方を、例えばサーボ４１２の正確に制御するべく、１以上の上述した要素に呼応して、サーボコントローラ４１６の更新に利用することができる。
【００４９】
次に５１２で、検知の第１のエッジ（例えば図１を参照して記載した欠陥１０８の開始点）が光格納媒体１０４上で検知されたかを判断する。検知１０８の第１のエッジは、ディスクドライブシステム４００内で様々な方法のいずれかで検知することができる。例えば、読み取りチャネル４２０からのデジタル信号および検知されたデータの一方または両方を欠陥管理モジュール４３６に提供することができる。さらに一実施形態では、タイミングコントローラ４３２ｂは、欠陥管理モジュール４３６のタイミング制御を行うことができる。またさらに、ディスクコントローラ４４０は、欠陥管理モジュール４３６に欠陥検知設定を提供してよく、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥検知設定を利用して欠陥１０８の第１のエッジを検知することができる。ディスクコントローラ４４０は、例えば、機械読み取り可能な命令を実行するコントローラであってよい。機械読み取り可能命令は、ファームウェア、ソフトウェア等として格納可能である。欠陥検知設定は、例えば、欠陥を示すデジタル信号の劣化量を示してよい。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、例えば、光格納媒体１０４の特定の位置のデジタル信号の包絡線の振幅が、ディスクコントローラ４４０が設定する閾値を下回るという判断に基づいて、欠陥１０８の第１のエッジを検知する。別の実施形態では、欠陥１０８の第１のエッジは、サーボコントローラ４１６を利用してサーボ４１２から受信する信号の振幅に基づいて欠陥を検知することにより、ディスクドライブシステム４００内で検知することができる。
【００５０】
５１２で欠陥１０８の第１のエッジが検知されたと判断されると、フローは５１６に進む。欠陥１０８の第１のエッジが検知されなかった場合には、フローは５０４に戻り、方法は記載するように続いていく。
【００５１】
５１６で、ディスクドライブシステム４００は、欠陥１０８の第１のエッジに呼応する。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上に不正確な更新を行うことを回避するべく、欠陥１０８の第１のエッジを検知するとコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上をディセーブルすることにより、欠陥１０８の第１のエッジに呼応してよい。別の実施形態では、サーボコントローラ４１６も、読み取りチャネル４２０から検知されたデータに基づいて、または、サーボ４１２から受信した信号の振幅に基づいて、欠陥管理モジュール４３６が欠陥１０８によってＯＰＵ４０８の処理に半径トラックの問題が生じていると判断する場合には、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれに加えて、欠陥１０８の第１のエッジの検知に呼応して、同様にディセーブルされる。コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上に関して、および、サーボコントローラ４１６に関して利用される「ディセーブル」と言う用語は、ここでは、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の出力のさらなる更新を回避して、信号タイミング、利得、ｄｃオフセット等のさらなる調節を回避することを言う。
【００５２】
次に５２０で、欠陥１０８の第１のエッジを検知した場所を判断する。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、光格納媒体１０４に格納されているデータの最小アドレス可能な単位内で、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置を判断する。欠陥管理モジュール４３６は、必須ではないが、欠陥１０８の第１のエッジが検知されたデータの最小アドレス可能な単位を判断または特定することができる。例えば、ＤＶＤ媒体では、データの最小アドレス可能な単位は、８から１４変調（ＥＦＭ）フレームであり、これには１，４８８ビットが含まれる。従って、例えば、欠陥管理モジュール４３６は、さらに以下で詳述するような技術を利用して、ＥＦＭフレーム内の位置またはビット数を決定することができるが、必ずしも第１のトラック上で検知された欠陥１０８の第１のエッジにおける特に特定されたＥＦＭフレームではなくてもよい。
【００５３】
次に５２４で、欠陥１０８の第２のエッジまたは終端を検知したかを判断する。検知１０８の第２のエッジは、ディスクドライブシステム４００内で様々な方法のいずれかで検知することができる。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、上述したようにディスクコントローラ４４０が提供する欠陥検知設定を利用して、欠陥１０８の第２のエッジを検知することができる。より具体的には、一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、５１２で読み取りチャネル４２０が提供するデジタル信号の包絡線の振幅が欠陥１０８の第１のエッジを検知するのに利用される閾値以上であるという判断に基づいて、欠陥１０８の第２のエッジを検知する。別の実施形態では、サーボコントローラ４１６は、例えば、ＯＰＵが、欠陥１０８が検知された位置にあるとき、サーボ４１２から受信する信号の振幅と比してサーボ４１２から受信する信号の振幅が増加していることに基づいて、欠陥１０８の第２のエッジを検知することができる。５２４で欠陥１０８の第２のエッジが検知されたと判断されると、フローは５２８に進む。欠陥１０８の第２のエッジが検知されない場合には、フローは、第２のエッジが検知されるまで５２４に留まる。
【００５４】
５２８で、ディスクドライブシステム４００は、欠陥１０８の第２のエッジに呼応する。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、５１６でディセーブルされたコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上を再度イネーブルすることにより、欠陥の第２のエッジに呼応することができる。コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上に関して利用される「再度イネーブルする」または「再度イネーブルされた」という用語は、ここでは、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上のディセーブルに続いてコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上の出力のさらなる更新を可能とすることを言う。別の実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、同様に、欠陥管理モジュール４３６が、読み取りチャネル４２０から検知されたデータに基づいて、または、サーボ４１２から受信した信号の振幅に基づいて、欠陥管理モジュール４３６が、欠陥１０８がＯＰＵ４０８の処理に半径トラックの問題が生じなくなったと判断すると、欠陥１０８の第２のエッジの検知に呼応してサーボコントローラ４１６を再度イネーブルする。
【００５５】
次に５３２で、欠陥１０８の第２のエッジを検知した場所を判断する。５２０で、欠陥管理モジュール４３６は、光格納媒体１０４に格納するデータの最小アドレス可能な単位内で、以下に記載するように、欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置を判断する。欠陥管理モジュール４３６は、必須ではないが、欠陥１０８の第２のエッジが位置するデータの特定の最小アドレス可能な単位を判断または特定することができる。
【００５６】
次に５３６で、欠陥１０８の実際の位置を予測する。読み取りチャネル４２０は、欠陥管理モジュール４３６が欠陥１０８の第１のエッジを検知するように、光格納媒体１０４から読み取られたデータを処理する必要がある。従って、欠陥管理モジュール４３６は、概して、欠陥１０８が実際に始まってから少し経つまでは、欠陥１０８の第１のエッジを検知しない。同様に、この処理遅延のために、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８が実際に終了してから少し経つまでは、概して、欠陥１０８の第２のエッジを検知しない。従って、欠陥管理モジュール４３６は、光格納媒体１０４上に格納されているデータの最小アドレス可能な単位の範囲で、欠陥１０８の実際の位置を予測してよい。例えば欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置および欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置を予測してよい。欠陥管理モジュール４３６は、以下に示すように後の利用に備えて予測された位置を示す情報を格納しておくことができる。欠陥管理モジュール４３６は、この予測を、以下に詳述する技術に従って行うことができる。
【００５７】
次に５４０で、ディスクドライブシステム４００は、後続する、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み取る試みの間に、欠陥１０８に対する応答を変更する。より具体的には、一実施形態では、ディスクドライブシステム４００は、格納媒体に格納されているデータに対するＯＰＵ４０８の位置および欠陥１０８の位置を示す格納情報に基づく後続する試みの間に、欠陥１０８に対する応答を変更することができる。以下に詳述するように、ディスクドライブシステム４００は、例えばＯＰＵ４０８が、５３６に関して説明したような欠陥１０８の予測位置にあるとき、または、ＯＰＵ４０８が予測位置の近くの光格納媒体１０４の位置にあるときに、自身の応答を変更することができる。
【００５８】
一実施形態では、継続して５４０を参照して、欠陥１０８の位置に格納されているデータが、誤り訂正符号（ＥＣＣ）スキームを利用しても読み出すことができない場合、読み取りチャネルコントローラ４３２が、再読み取り信号をサーボコントローラ４１６に提供して、サーボ４１２の処理を制御して、ＯＰＵ４０８に、欠陥１０８による影響を受けているデータの再読み取りを試みさせることができる。従って、再読み取りの試み中に、欠陥管理モジュール４３６は、以下で後述するように、光格納媒体１０４に格納されているデータに対するＯＰＵ４０８の位置を監視することができる。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８について予測された位置にあるとき、または、ＯＰＵ４０８が予測された位置の近くの光格納媒体１０４の位置にあるときに、再読み取りの試み中に、欠陥１０８に対する自身の応答を変更する。別の実施形態では、欠陥１０８に対する自身の応答を変更させるのに加えて、またはその代わりに、欠陥管理モジュール４３６が、読み取りチャネルコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の一方または両方の応答を変更する。
【００５９】
５４０の参照を続けると、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８に対する自身の応答、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を様々な方法で変化させることができる。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、再読み取りの試み中に、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジについて予測された位置にあるときに、欠陥検知信号を生成することができる。さらに一実施形態では、欠陥検知信号は、読み取りチャネルコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の一方または両方を欠陥モードにする。欠陥モードは、最初のデータ読み取り中に欠陥１０８の第１のエッジに呼応するのに利用する、読み取りチャネルコントローラ４３２の処理と同じモード、または、サーボコントローラ４１６の処理の同じモードであっても異なるモードであってもよい。例えば、欠陥検知信号に呼応して、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上をディセーブルすることができる。別の実施形態では、サーボコントローラ４１６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれらに加えてディセーブルされてよい。この結果、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６に対する不正確な更新を最小限に抑え、読み取りチャネル４２０が再読み取りの試み中に欠陥１０８による影響を受けるデータを正確に検知する可能性を高めることができる。加えて、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６に対する不正確な更新を最小限に抑えることができるので、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６を、欠陥１０８の終端の後でより迅速に正確に更新することができる。
【００６０】
別の実施形態では、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上が、欠陥管理モジュール４３６からの強制された更新を受信することができる。また別の実施形態では、サーボコントローラ４１６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれらに加えて、欠陥管理モジュール４３６からの強制された更新を受信することができる。これらの更新は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６に対する適切な入力となって、欠陥１０８の位置のデータを再度読み取る試みの後で、例えば読み取りチャネル４２０の性能、および／または、サーボコントローラ４１６およびサーボ４１２の性能を最適化することができる。
【００６１】
５４０に関する説明を続けると、読み取りチャネルコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の、例えば上述したようなモード等の様々な欠陥モードが、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂ、および／または、サーボコントローラ４１６の設定（１または複数）により有効にされ、これら設定は、例えばディスクコントローラ４４０によってコントローラ４３２ａおよび４３２ｂ、および／または、サーボコントローラ４１６へ提供されてよい。欠陥検出信号を適切に生成することにより、欠陥管理モジュール４３６は、利用する設定（１または複数）を選択することができる。
【００６２】
５４０に関する別の実施形態では、光格納媒体１０４からのデータの音声またはビデオ再生を継続させる要求によって、再読み取り処理を行わないようにする場合に、欠陥管理モジュール４３６が、適切な期間の間、または無限期間の間、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置を格納することができ、後の、欠陥１０８が影響を与えるデータの再読み取りの試みの間の、ＯＰＵ４０８が、例えば欠陥１０８の第１のエッジの予測位置にあるときに、欠陥検知信号を生成する。
【００６３】
５４０に関するまた別の実施形態では、以下の詳述するように、欠陥管理モジュール４３６は、自身の欠陥１０８に対する応答を、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に位置しているとき、または欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置しているときに、自身の欠陥検知感度を変更することにより、変更することができる。例えば、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置とは、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置から１０または１００ビットのオーダ分、離れた位置のことであってよい。一実施形態では、近くの位置とは、経験的に決定されてよい。このようにして、利用される光格納媒体１０４の種類について一定の共通の欠陥の種類について性能を最適化させることができる。別の実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８が影響を与えるデータの読み取りの試みの間に、異なる近くの位置を試みることができる。例えば、欠陥１０８が生じるエラーの数は、状況によっては、誤り訂正符号が処理可能なレベルを超える場合がある。近くの位置を再読み取りの戦略の一部として調節することにより、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８についてよく機能する近くの位置を見つける試みにおいて、様々な近くの位置を試みることができる。これは、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置と近くの位置との間のビットのデフォルト数が、一部の欠陥には機能するが、欠陥１０８等の他の欠陥にはよく機能しない場合に助けとなるだろう。
【００６４】
一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、例えばディスクコントローラ４４０により、それに提供される設定に従って、欠陥を示すデジタル信号内の低下した劣化量を特定することにより、欠陥検知感度を変更することができる。このようにして、欠陥１０８の影響を受けているデータの再読み取りの試み中に、欠陥管理モジュール４３６は、通常の応答条件における場合よりも、欠陥管理モジュール４３６よりも欠陥１０８が実際に始まる位置により近い位置で、欠陥１０８の第１のエッジを検知する可能性が高まる。さらに、例えば欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置により近いコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上をディセーブルしてよい。別の実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれらに加えて、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置に近いサーボコントローラ４１６をディセーブルしてよい。こうすることで、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂおよび/または４１６に対する不正確な更新を最小限に抑えることができるようになり、このような不正確な更新の好ましくない結果を回避することができるようになる。
【００６５】
５４０に関するまた別の実施形態では、さらに以下に詳述するように、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の深刻度が比較的最小であること（例えば、指紋により生じたもの）、欠陥１０８による影響を受けるデータが、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの設定を調節または維持することで、および／または、サーボコントローラ４１６の設定を調節または維持することで、再読み取りできる可能性が高いこと、等の判断に基づいて、欠陥１０８に対する自身の応答、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を変更することができる。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に位置しているときに、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置しているときに、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａの設定をイネーブルして、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが読み取り信号に与える利得を増加させてよい。例えば、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置は、欠陥の第１のエッジの予測位置から１０または１００ビットのオーダ分、離れた位置のことであってよく、欠陥管理モジュール４３６が自身の欠陥検知感度を変更させることができる実施形態に関して上述した方法と同様の方法により決定されてよい。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置におけるデジタル信号の包絡線の振幅が、ディスクコントローラ４４０が設定する閾値を上回る場合には、比較的最小限の深刻度であると判断してよい。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、依然として、タイミングコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の一方または両方をディセーブルさせつつ、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが利用する利得を増加させる。別の実施形態においては、サーボコントローラ４１６およびタイミングコントローラ４３２ｂの一方または両方が、欠陥１０８の深刻度が比較的最小限であることに鑑みて、ディセーブルされない。加えて、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが２つの離散したコントローラ（１つがｄｃオフセットコントローラおよび１つが利得コントローラである）として実装される実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、ｄｃオフセットコントローラをディセーブルして、しかも利得コントローラが利用する利得は増加させる。
【００６６】
５４０に関するまた別の実施形態では、図１１から図１３を参照して以下で詳述するように、欠陥管理モジュール４３６は、自身の欠陥１０８に対する応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を、第２のトラック等の光格納媒体１０４の他のデータトラックに関して変更させてよい。例えば、上述したように、欠陥管理モジュール４３６は、第１のトラックの上で欠陥１０８の第１のエッジが検知されたＥＦＭフレーム内の位置またはビット数、および、第１のトラックの上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された同じＥＦＭフレームまたは別のＥＦＭフレーム内の位置またはビット数を判断する。好適には、第１のトラック上で検知した欠陥１０８の位置に関する情報を利用して、第２のトラック上の欠陥の第２の位置等の、光格納媒体１０４の別のトラック上の欠陥の別の位置を正確に予測することができる。つまり、欠陥管理モジュール４３６は、第１のトラック上で検知される欠陥１０８の第１のエッジおよび第２のエッジの位置を利用することで、第２のトラック上の欠陥１０８の第２の位置を予測することができる。欠陥１０８の別のトラック（例えば第２のトラック）上の欠陥１０８の位置の予測方法については特に以下で詳述する。ほんの１例としては、欠陥１０８の第２のトラック上の第２の位置は、欠陥１０８が、欠陥１０８の第１のトラック上で検知された位置から、光格納媒体１０４で放射状に伝播するという仮定のもとに予測することができる。欠陥１０８が伝播すると仮定される光格納媒体１０４上の半径は、例えば図６および図７に関して後述する１以上の実施形態に従って、第１のトラック上の欠陥１０８の検知を、光格納媒体１０４の回転角度の追跡とあわせて行うことで、決定することができる。
【００６７】
さらに５４０に関して、欠陥の第２のトラック上の第２の位置を予測した後で、欠陥管理モジュール４３６は、上述した方法のいずれかまたは任意の適切な方法によって、第２のトラック上の欠陥１０８に呼応することができる。例えば、第２のトラック上で、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第２の予測位置にあるときに、欠陥検知信号を生成して、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂ、および／または、サーボコントローラ４１６をディセーブルすることができる。または、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が第２の予測位置に、またはその近くに位置しているときの欠陥検知感度を増加させてよく、ＯＰＵ４０８が第２の予測位置に、またはその近くに位置しているときのオフセットおよび利得コントローラ４３２ａが利用する利得を増加させてよい。以下の教示に則った欠陥１０８の第２のトラック上の第２の位置の正確な予測によって、上述したような第２のトラックからデータを読み取りときに利点を生じることができる。例えば図１を参照して記載したように、欠陥１０８はしばしば、複数のトラック１１６にわたり放射状に広がって、そのサイズが大きくなる場合がある。従って欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８が第１のトラックの安定処理に対してあまり脅威でない間に、欠陥１０８が始まる場所を判断することができ、光格納媒体１０４の第２の後続するトラックが読み取られて欠陥１０８のサイズが大きくなることで問題が生じると、欠陥１０８に対する応答を変更することができる。
【００６８】
図６を参照すると、一実施形態における欠陥管理モジュール４３６の実装を含むディスクドライブシステム６００が示されている。図６に示されているように、ディスクドライブシステム６００は、光格納媒体１０４、移動アーム４０４、ＯＰＵ４０８、サーボ４１２、サーボコントローラ４１６、読み取りチャネル４２０、読み取りチャネルコントローラ４３２、欠陥管理モジュール４３６、およびディスクコントローラ４４０を含む。メモリ４２４およびインタフェース４４４は、簡潔性を期す目的から図６には示さないが、ディスクドライブシステム６００は、さらに、ディスクドライブシステム４００に関して記載したのと同様に、メモリ４２４およびインタフェースの一方または両方を含んでよい点を理解されたい。ディスクドライブシステム６００では、読み取りチャネル４２０が、アナログフロントエンド（ＡＦＥ）６０４、アナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）６０８、およびデータ検知器６１２を含む。読み取りチャネルコントローラ４３２は、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、タイミングコントローラ４３２ｂ、および、電圧制御発振器（ＶＣＯ）６２０を含む。加えて、ディスクドライブシステム６００では、検知管理モジュール４３６が、検知応答モジュール６２８および検知境界コントローラ６３２を含む。検知応答モジュール６２８はさらに、検知マネージャ６３６、カウンタ６４０、およびカウンタリセットモジュール６４４を含む。
【００６９】
５０４の参照に戻り、読み取りチャネル４２０の処理を詳述する。図４を参照して上述したように、光格納媒体１０４からデータを読み取るとき、アナログ読み取り信号がＯＰＵ４０８から受信される。より詳しくは、ディスクドライブシステム６００では、アナログ読み取り信号がＡＦＥ６０４で受信される。オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが、ＡＦＥ６０４に通信可能に連結されて、アナログ読み取り信号の振幅を、読み取りチャネル４２０の残りによる処理に適したレベルに調節して、例えばＯＰＵ４０８のトラックにおける偏心位置によりアナログ読み取り信号に導入されたｄｃオフセットを除去する。ＡＦＥ６０４のアナログ出力は、ＡＤＣ６０８で受信されて、チャネルクロックに従ってアナログ出力がサンプルされる。チャネルクロックは、光格納媒体１０４に書き込まれたビットの間隔に基づいて生成されるので、光格納媒体１０４から読み取られるデータのタイミングに対応する。例えば図６に示す実施形態では、ＶＣＯ６２０が、ＡＤＣ６０８に提供されるチャネルクロックを生成する。本実施形態では、タイミングコントローラ４３２ｂは、光格納媒体１０４上のビットの間隔の変動に呼応して、ＶＣＯ６２０の発振周波数を変化させるように、ＶＣＯ６２０の入力に適切な電圧を加えることができる。一実施形態では、ＶＣＯ６２０は、サーボコントローラ４１６にクロックを提供しない。その代わりに、サーボコントローラ４１６は、固定クロック（不図示）により制御される別個のＡＤＣ（不図示）を含むことができる。
【００７０】
５０４の説明を続けると、ＡＤＣ６０８は、ＡＦＥ６０４のアナログ出力をサンプルして、図４を参照して説明したデジタル信号を生成する。デジタル信号は、光格納媒体１０４から読み取ったデータを表しており、データ検知器６１２に提供される。データ検知器６１２は、デジタル信号を復調して、光格納媒体１０４に元々書き込まれていたデータビットを検知する。
【００７１】
５０８の参照に戻ると、デジタル信号および検知したデータの一方または両方が、サーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、およびタイミングコントローラ４３２ｂの１以上を更新するために利用される。図６のディスクドライブシステム６００では、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号を利用して、サーボコントローラ４１６、および、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａを更新する。サーボコントローラ４１６は、デジタル信号の振幅を監視して、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａは、デジタル信号の振幅およびｄｃオフセットを監視して、サーボ４１２およびＡＦＥ６０４にそれぞれ入力するために適切な信号を判断して、適切な追跡および適切な振幅およびｄｃオフセット補償が、光格納媒体１０４の後続する読み取り中に確実に行われるようにする。加えて、図６に示す実施形態では、検知されたデータをデータ検知器６１２からタイミングコントローラ４３２ｂに入力する。タイミングコントローラ４３２ｂは、データ検知器６１２が適切にＡＤＣ６０８のデジタル出力を復調できるように、適切な時間に、検知されたデータに基づいて、ＡＤＣ６０８がＡＦＥ６０４のアナログ出力を確実にサンプルするのに必要となるタイミング調節を判断する。必要となるタイミング調節を判断した後で、タイミングコントローラ４３２ｂは、ＶＣＯ６２０への電圧入力を調節することで、ＶＣＯ６２０からＡＤＣ６０８に提供されるチャネルクロックを調節する。
【００７２】
５０８の説明を続けると、ディスクドライブシステム６００は、サーボコントローラ４１６およびオフセットおよび利得コントローラ４３２ａを調節するために利用されるＡＤＣ６０８からのデジタル信号、および、タイミングコントローラ４３２ｂを調節するために利用されるデータ検知器６１２からの検知されたデータを有するものとして開示されているが、本開示および教示を読んだ当業者であれば適切な変形例を想到するであろう。例えば、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号の品質をタイミングコントローラ４３２ｂにより評価して、必要なタイミング調節を判断することもできる（調節を、データ検知器６１２からの検知されたデータに基づいて判断する代わりに）。
【００７３】
図６Ａ、図７、および図８をさらに参照して、ディスクドライブシステム６００の処理を以下に詳述する。図７は、一実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体上の欠陥の位置を決定する方法７００のフローチャートである。説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム６００を参照して方法７００を説明する。しかし、方法７００はディスクドライブシステム７００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【００７４】
７０４で、欠陥の第１のエッジ（欠陥１０８の開始点等）が光格納媒体１０４上に検知されたかを判断する。一実施形態では、ディスクドライブシステム６００において、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号およびデータ検知器６１２からの検知されたデータを、欠陥マネージャ６３６に入力する。検知マネージャ６３６は、デジタル信号および検知されたデータの両方を検査して欠陥を検知する。より具体的には、検知マネージャ６３６は、ディスクコントローラ４４０が提供する設定を利用して欠陥を検知するディスク検知器（不図示）を含んでよく、これに関しては図４および図５を参照して詳述する。ディスクコントローラ４４０が提供する設定を利用して、欠陥マネージャ６３６は、欠陥の第１のエッジを検知することができる。または、欠陥マネージャ６３６は、デジタル信号または検知されたデータのいずれか（両方ではなくて）を検査して欠陥を検知してもよい。また別の実施形態では、欠陥１０８の第１のエッジは、サーボコントローラ４１６を利用してサーボ４１２から受信する信号の振幅に基づいて欠陥を検知することにより、ディスクドライブシステム６００内で検知することができる。７０４で欠陥１０８の第１のエッジが検知されたと判断されると、フローは７０８に進む。欠陥１０８の第1のエッジが検知されていない場合には、フローは、欠陥１０８の第１のエッジが検知されるまで７０４に留まる。
【００７５】
７０８で、欠陥マネージャ６３６は、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａおよびタイミングコントローラ４３２ｂの一方または両方を、および、一実施形態では、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一方または両方に代えて、またはこれらに加えて、サーボコントローラ４１６を、ディセーブルすることにより、欠陥１０８の第１のエッジに呼応することができる。
【００７６】
次に７１２で、カウンタ６４０の第１のカウンタ、および、第１のカウンタリセット位置を判断する。第１のカウントは、欠陥１０８の第１のエッジが検知された光格納媒体１０４の位置に対応する。より具体的には、カウンタ６４０は、光格納媒体１０４の異なる位置に関するカウントを生成することができる。特に、以下に詳述するように、カウンタ６４０の各カウントは、光格納媒体１０４のチャネルクロックの所定の周期数に対応していてよい。
【００７７】
７１２の参照を続けると、第１のカウンタリセット位置は、図８によく示されているように、カウンタリセットモジュール６４４により決定されてよい。図８は、光格納媒体１０４（不図示）のトラック８００の２つの図面を示す。第２の、または底部の図面の重要性を以下で説明する。第１の図面では、図８は、トラック８００上の位置８０４、８０８、８１２、８１６、および８２０を示す。一実施形態では、位置８０４は、第１のカウンタリセット位置であり、位置８０８および８１２は、さらなるカウンタリセット位置である。より具体的には、カウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２の各々は、光格納媒体１０４上の認識可能なデータ境界の位置であってよい。例えばＤＶＤ媒体上で、データは、それぞれ１，４８８ビット長のフレームに配置される。フレームは、それぞれ２６個のフレームを含むセクターに配置され、セクターはさらに、それぞれ１６セクターを含むＥＣＣブロックに配置される。光格納媒体１０４から検知され、データ検知器６１２が提供するデータビットを監視することにより、カウンタリセットモジュール６４４は、これらデータのグループの境界が生じるときを判断し、これにより、対応するカウンタリセット位置でカウンタ６４０をリセットして、カウンタ６４０のカウントをゼロに戻す。さらに、これら境界の検知は、フレーム、セクター、およびＥＣＣブロックの境界の検知に限られず、ＤＶＤ媒体の境界の検知にも限られないことを理解されたい。または、本発明の一以上の実施形態では、ＤＶＤ−ＲＡＭ媒体上のヘッダの境界、Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｃ媒体の上のＥＣＣクラスタの境界、または、任意の適切なデータ格納媒体の上の任意の適切な境界等の任意の認識可能なデータ境界の検知が含まれる。
【００７８】
図８のトラック８００上の位置８１６および８２０は、それぞれ欠陥１０８の第１のエッジおよび第２のエッジが検知された位置である。図８に示すように、第１のカウンタリセット位置８０４は、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置８１６の前に位置している（の前に読み取られている）。図８のカウンタ６４０の様々な図面の重要性を以下で説明する。
【００７９】
図８の７１２をさらに参照すると、本発明の別の実施形態では、カウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２が、光格納媒体１０４の第１のトラック上の所定の角度位置にあってよい。例えば、読み取り処理中に光格納媒体１０４を回転させるスピンドル／供給モータ（ＦＭ）ドライバを駆動するのに利用されるスピンドルモータは、周期的なパルスを生成することができる。カウンタリセットモジュール６４４は、スピンドル／ＦＭドライバに電気的に連結されて、パルスを検知および処理して、光格納媒体１０４の回転角度を追跡して、光格納媒体１０４の第１のトラックの上の所定の角度位置でカウンタ６４０をリセットする。一実施形態では、カウンタ６４０は、パルスに呼応して、９０度回転するごとにリセットされてよいので、カウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２は、図８には示されていないが、互いに対して９０度の角度である第１のトラックの上の位置に対応していてよい。別の実施形態では、光格納媒体１０４の回転角度は、カウンタ６４０を利用して、カウンタのカウントを、光格納媒体１０４の特定の回転角度で生じる光格納媒体１０４の既知のチャネルクロック数と比較することにより、追跡することもできる。
【００８０】
図８の７１２の参照を続けると、カウンタ６４０が第１のカウンタリセット位置８０４でリセットされた後で、カウンタのカウントがゼロとなることは、第１のカウンタリセット位置８０４の下の図８のカウンタ６４０の図示に示唆されている通りである。カウンタ６４０は、第１のカウンタリセット位置８０４からカウントを始める。上述したように、カウンタ６４０の各カウントは、光格納媒体１０４のチャネルクロックの所定の周期数に対応する。例えば、カウンタ６４０は、ＶＣＯ６２０の出力からチャネルクロックを受信することができる。本実施形態では、カウンタ６４０の各カウントは、チャネルクロックの１周期の発生を示す。または、カウンタ６４０は、カウンタ６４０へのチャネルクロック入力を２、４、８、１６等によって分割することができるカウンタ６４０内のクロック分周器を含むことによって、より小さく、結果としてより安価なカウンタとして実装することができる。本実施形態では、カウンタ６４０の各カウントは、それぞれチャネルクロックの２、４、８、１６等の周期を示してよい。しかし好適には、第１のカウンタリセット位置８０４が、光格納媒体１０４の回転角度を追跡することにより決定される、光格納媒体１０４の第１のトラックの所定の角度位置にある場合、カウンタ６４０はクロック分周器を含まない。クロック分周器は、本実施形態では省くこともできる。例えば光格納媒体１０４の回転角度を追跡する上述した技術の１以上は、カウンタ６４０の精度の低減を調節することができる程度の高い解像度でこの追跡を行うことができなくてもよい。
【００８１】
図８の７１２の説明を続けると、欠陥マネージャ６３６が欠陥１０８の第１のエッジを検知したときのカウンタ６４０のカウントは、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置８１６に対応する第１のカウントであると判断される。より具体的には、第１のカウントは、カウンタリセットモジュール６４４が第１のカウンタリセット位置８０４でカウンタ６４０をリセットしたときからの光格納媒体１０４のチャネルクロックの周期数に対応するので、第１のカウントは、光格納媒体１０４の、第１のカウンタリセット位置８０４と、欠陥１０８の第１のエッジが検出された位置８１６との間に格納されているデータビットの数等のデータ量を示すことが理解されるであろう。従って、カウンタ６４０の第１のカウントは、欠陥１０８の第１のエッジが検知された、光格納媒体１０４に格納されている最小アドレス可能なデータの単位内の位置に対応する。例えば、図８の実施形態では、カウンタの第１のカウントは、十進法で４００，０００であることが、位置８１６の下の図８のカウンタ６４０の図により分かるので、これは、４００，０００データビットが、光格納媒体１０４の、第１のカウンタリセット位置８０４と位置８１６との間に格納されていることを示している。
【００８２】
図６Ａを参照するとよく分かるように、第１のカウンタリセット位置８０４とカウンタ６４０の第１のカウントとがメモリに格納されてよい。図６Ａは、一実施形態における欠陥境界コントローラ６３２の詳細図を示す。図６Ａに示すように、欠陥境界コントローラ６３２は、プロセッサ６４８とメモリ６５２とを含む。メモリ６５２は、第１のレジスタ（「レジスタ１」）６５６と、第２のレジスタ（「レジスタ２」）６６０とを含む。動作においては、欠陥マネージャ６３６が欠陥１０８の第１のエッジを検知するとき、欠陥マネージャ６３６は、例えば欠陥境界コントローラ６３２のプロセッサ６４８に欠陥検知信号を提供してよい。欠陥検知信号は、欠陥マネージャ６３６に含まれうる上述した欠陥検知器（不図示）により生成されてよい。プロセッサ６４８は、欠陥マネージャ６３６から欠陥検知信号を受信して、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に、カウンタ６４０から受信した第１のカウントを記録する。
【００８３】
さらに図６Ａに関しては、カウンタ６４０をリセットして、結果生じるゼロのカウントをプロセッサ６４８に提供するたびに、プロセッサ６４８は、第２のレジスタ６６０等のメモリ６５２に、対応するカウンタリセット位置を示す情報を格納してよい。一実施形態では、プロセッサ６４８は、対応するカウンタリセット位置を判断するために、データが読み出されているトラックの長さに関する既知の情報とあわせて、カウンタ６４０のリセットに関する情報を処理する。この、カウンタ６４０の各リセットに対応するカウンタリセット位置を示す情報の格納は、一時的であっても無限であってもよい。しかし一実施形態では、プロセッサ６４８が欠陥マネージャ６３６から欠陥検知信号を受信すると、プロセッサ６４８は、最近のカウンタ６４０のリセットに対応するカウンタリセット位置を示す情報を無限に格納する。本開示および教示を読んだ当業者であれば、このカウンタリセット位置が、第１のカウンタリセット位置８０４であることを理解する。
【００８４】
７１２の後、７１６で、欠陥の第２のエッジ（欠陥１０８の終端等）が光格納媒体１０４で検知されたと判断される。この判断は、例えば、ディスクコントローラ４４０が欠陥マネージャ６３６または自身の含む欠陥検知器（不図示）に提供する設定を利用して、または、７０４に関して上述したサーボコントローラ４１６を利用して、行うことができる。７１６で欠陥１０８の第２のエッジが検知されたと判断されると、フローは７２０に進む。欠陥１０８の第２のエッジが検知されない場合には、フローは、欠陥１０８の第２のエッジが検知されるまで７１６に留まる。
【００８５】
７２０で、欠陥マネージャ６３６は、欠陥１０８の第２のエッジに対して、７０８でディセーブルされたコントローラ４３２ａおよび４３２ｂ一方または両方、および／または、サーボコントローラ４１６を再度イネーブルすることで、応答してよい。
【００８６】
次に７２４で、カウンタ６４０の第２のカウントおよび第２のカウンタリセット位置を決定する。第１のカウンタリセット位置８０４および第２のカウンタリセット位置は、欠陥１０８の位置および欠陥１０８の幅に応じて、同じであっても異なっていてもよい。例としては、第１のカウンタリセット位置８０４がデータ境界に対応する１以上の実施形態では、欠陥１０８による影響を受ける光格納媒体１０４の領域内（つまり、欠陥１０８の第１のエッジと第２のエッジとがそれぞれ検知された位置８１６と８２０との間）に存在している場合がある。この場合には、欠陥検知位置に対応するカウンタ６４０の第１のカウントが決定された後で、カウンタリセットモジュール６４４が第２のデータ境界を検知して、欠陥１０８の第２のエッジが検知されてカウンタ６４０の第２のカウントが決定される前にカウンタ６４０をリセットする。位置８１６と位置８２０との間に位置しているデータ境界またはその他のカウンタリセット位置がない場合には、第１のカウンタリセット位置８０４と第２のカウンタリセット位置とは同じである。一実施形態では、上述したように第２のカウンタリセット位置が第１のカウンタリセット位置８０４と異なっている場合、欠陥境界コントローラ６３２は、第２のカウンタリセット位置も、第２のレジスタ６６０等のメモリ６５２に記録してよい。
【００８７】
カウンタ６４０の第２のカウントは、光格納媒体１０４の、第２のカウンタリセット位置と、欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置との間の、データビット数等のデータ量を示す。カウンタ６４０の第２のカウントも、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に記録することができる。
【００８８】
次に７２８で、第１の調節されたカウントを、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み出す試みで後で利用されるものとして決定する。より具体的には、第１の調節されたカウントは、図８のトラック８００の第２の図面の８２４で示す欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に対応している。位置８２４の下のカウンタ６４０の図に示すように、第１の調節されたカウントは第１のカウントより僅かに小さい。図８に示すように、第１の調節されたカウントは、十進法の３９９，９８５であり、図８の第１のカウントは４００，０００である。従って第１の調節されたカウントを、後続する試みで欠陥マネージャ６３６からの応答を変更するときを決定するために利用することができる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、先ず、欠陥１０８の第１のエッジを検知した位置に対応するカウンタ６４０の第１のカウントに追加するべき第１のカウント調節値を決定することにより、第１の調節されたカウントを決定することができる。第１のカウント調節値と第１のカウントとの合計値が、第１の調節された値である。第１のカウント調節値は、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置と、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置との間のチャネルクロックまたはビットの推定数を表す。例えば第１のカウント調節値は１０ビットまたは１００ビットのオーダであってよく、利用される光格納媒体１０４の種類に応じて変化してよい。第１のカウント調節値は、例えば、その性能が、利用される光格納媒体１０４の種類について一定の共有した種類の結果について最適化されるように経験的に決定されてよい。別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８が影響を与えるデータの読み取りの試み中に異なるカウント調節値を試すことができてよい。例えば、欠陥１０８が生じるエラーの数は、状況によっては、誤り訂正符号が処理可能なレベルを超える場合がある。カウント調節値を再読み取りの戦略の一部として調節することにより、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８についてよく機能する第１のカウント調節値を見つける試みにおいて、異なるカウント調節値を試みることができる。これは、デフォルトのカウント調節値が、一部の欠陥には機能するが、欠陥１０８等の他の欠陥にはよく機能しない場合に助けとなるだろう。さらに、第１のカウント調節値は負であっても正であってもよい。一実施形態では、第１のカウント調節値を負として、第１の調節されたカウントをカウンタ６４０の第１のカウントより低くする。
【００８９】
７２８の参照を続けると、第１の調節されたカウントを欠陥境界コントローラ６３２の、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に格納してよい。
【００９０】
次に７３２で、第２の調節されたカウントを、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み取ろうとする、後の試みに利用されるものとして決定する。より具体的には、第２の調節されたカウントは、図８のトラック８００の第２の図面の８２８で示す欠陥１０８の第２のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置の近くの位置に対応している。位置８２８の下のカウンタ６４０の図に示すように、第２の調節されたカウントは第２のカウントより僅かに小さい。図８に示すように、第２の調節されたカウントは、十進法の４４９，９８７であり、図８の第２のカウントは４５０，０００である。従って第２の調節されたカウントを、後続する試みで欠陥マネージャ６３６からの応答を変更するときを決定するために利用することができる。７２８として説明した第１の調節されたカウントの決定同様に、欠陥境界コントローラ６３２は、第２の調節されたカウントを、先ず、欠陥１０８の第２のエッジを検知した位置に対応するカウンタ６４０の第１のカウントに追加するべき第２のカウント調節値を決定することにより、決定することができる。第２のカウント調節値と第２のカウントとの合計値が、第２の調節された値である。第２のカウント調節値は、欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置と、欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置との間のチャネルクロックまたはビットの推定数を表す。７２８として説明した第１のカウント調節値同様に、７２８として説明した方法同様に決定された第２のカウント調節値は１０ビットまたは１００ビットのオーダであってよく、利用される光格納媒体１０４の種類に応じて変化してよい。加えて、第２のカウント調節値を負であっても正であってもよい。一実施形態では、第２のカウント調節値は負であり、第２の調節されたカウントがカウンタ６４０の第２のカウントより小さくなるようになっている。
【００９１】
７３２の参照を続けると、第２の調節されたカウントを欠陥境界コントローラ６３２の、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に格納してよい。
【００９２】
図９を参照して、ディスクドライブシステム６００の処理を以下に詳述する。図９は、一実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体の欠陥の検知の応答を変更する方法９００のフローチャートである。方法９００は、説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム６００を参照して説明する。しかし、方法９００はディスクドライブシステム６００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【００９３】
９０４で、欠陥１０８が検知されたデータ読み取り処理に後続する光格納媒体１０４からのデータ読み取り処理中に、光格納媒体１０４が第１のカウンタリセット位置８０４に達したかを判断する。例を挙げると、図６Ａの参照に戻り、欠陥境界コントローラ６３２のプロセッサ６４８は、カウンタ６４０のカウントを受信して、カウンタ６４０がリセットされたときを判断することができる。図６Ａを参照して詳述するように、第１のカウンタリセット位置８０４を示す情報を、欠陥境界コントローラ６３２のメモリ６５２に格納することができる。格納された第１のカウンタリセット位置を利用して、データが再読み取りされるトラックの長さに関する既知の情報とともにカウンタのカウントを監視することにより、プロセッサ６４８は、第１のカウンタリセット位置８０４に達したかを判断することができる。第１のカウンタリセット位置８０４に達したと判断すると、フローは９０８に進む。第１のカウンタリセット位置８０４に達していない場合には、フローは、第１のカウンタリセット位置８０４に達するまで９０４に留まる。
【００９４】
９０８で、カウンタ６４０のカウントが上述したように第１の調節されたカウントに達したかを判断する。例えばプロセッサ６４８は、カウンタ６４０のカウントを受信して、これによりカウンタ６４０のカウントが第１の調節されたカウントに達したかを判断することができる。上述したように、第１の調節されたカウントは、欠陥境界コントローラのメモリ６５２に格納されてよく、プロセッサ６４８が受信したカウンタ６４０のカウントと、プロセッサ６４８により比較されてよい。本開示および教示を読んだ当業者であれば、カウンタ６４０が第１の調節されたカウントに達したら、ＯＰＵ４０８が、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置することに気づくであろう。カウンタ６４０のカウントが第１の調節されたカウントに達したと判断すると、フローは９１２に進む。カウンタ６４０のカウントが第１のカウントに達していない場合には、フローは、カウンタ６４０のカウントが第１の調節されたカウントに達するまで９０８に留まる。
【００９５】
９１２で、欠陥１０８に対する欠陥管理モジュール４３６の応答を、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に位置していること、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置していることに基づいて変更する。従って図６の実施形態では、図４および図５を参照して説明したように、欠陥境界コントローラ６３２が、欠陥マネージャ６３６に、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からのデータを読み取ろうとする後で行われる試み中に、自身の欠陥１０８に対する応答を変更させる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、自身の応答の変更の代わりに、またはこれに加えて、読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６の一方または両方の応答を変更させてよい。本開示または教示を読んだ当業者であれば、欠陥境界コントローラ６３２がこのようにして、カウンタ６４０の第１のカウントに基づいて、および、カウンタ６４０自身に基づいて（つまり、欠陥１０８が影響を与えるデータを読み取ろうとする後続する試み中に生成されたカウンタ６４０のカウントに基づいて）、欠陥マネージャ６３６および／または読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６の応答を変更させるときを判断することを理解するであろう。
【００９６】
９１２を引き続き参照して説明を続けると、ディスクドライブシステム６００は、ここに含まれている欠陥マネージャ６３６および／または欠陥検知器（不図示）、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６に、様々な方法のいずれかにより（図４および図５に関して説明したような方法を含む）欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み出そうとする後続する試み中に、欠陥１０８に対する応答を変更させる。
【００９７】
９１２の参照を続けると、一実施形態では、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の欠陥検知信号を生成させることができる。より具体的には、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、欠陥検知信号を生成させることができる。欠陥マネージャ６３６は、サーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、およびタイミングコントローラ４３２ｂの一以上を、それらに対する不正確なデータの導入を最小限に抑えるべく動作させるために利用される、図４および図５を参照して記載したようなディスクコントローラ４４０が提供する欠陥検知信号を適切に生成することができる。このようにして、欠陥マネージャ６３６の感度を増加させる必要なく、誤った欠陥を検知してしまう危険性を低減させることができる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、さらに、欠陥マネージャ６３６に、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａおよびタイミングコントローラ４３２ｂのものとは異なるサーボコントローラ４１６の処理を変更させるために、欠陥境界コントローラ６３２が利用しうるカウンタ６４０の異なる調節されたカウントを決定するための異なるカウント調節値を決定することもできる。
【００９８】
さらに９１２の参照を続けると、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６の欠陥検知感度を変更することができる。より具体的には、欠陥マネージャ６３６が欠陥検知器（不図示）を含む一実施形態では、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２が欠陥検知器の欠陥検知感度を変更することができる。欠陥１０８の実際の位置の正確な予測がより難しいような、光格納媒体１０４を利用する一定の用途では（例えば、欠陥１０８の第１のエッジが比較的些細であり定義が難しいような場合）、カウンタ６４０が調節されたカウントに達したら、欠陥マネージャ６３６に欠陥検知信号を生成させる代わりに、欠陥マネージャ６３６の欠陥検知感度を変更することが望ましい場合もある。このようにすることで、方法９００は、欠陥１０８のより柔軟な検知を行うことができる。
【００９９】
さらに９１２に関して、また別の実施形態では、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を、欠陥１０８の深刻度が比較的最小限であり、欠陥１０８の影響を受けるデータが、ディスクドライブシステム６００のコントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の設定を調節または維持することにより再読み取り可能である、という判断に基づいて、変更することができる。この決定は、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号、および／または、データ検知器６１２からの検知されたデータに基づいて行うことができる。１以上のコントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の設定は、例えば方法５００に関して上述した方法で調節することができる。本実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、前の例同様に、カウンタリセットモジュール６４４が第１のカウンタリセット位置のカウンタ６４０のリセットを行った後で、カウンタ６４０が調節されたカウントに達するときを判断することにより、ＯＰＵ４０８が、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置していると判断することができる。欠陥境界コントローラ６３２の制御下に、欠陥マネージャ６３６は、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの一以上の設定を調節することができる。一実施形態では、欠陥マネージャ６３６内の欠陥検知器（不図示）は、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の設定を調節するのに適した信号を生成することができる。
【０１００】
９１６で、カウンタ６４０のカウントが上述したように第２の調節されたカウントに達したかを判断する。例えばプロセッサ６４８は、カウンタ６４０のカウントを受信して、これによりカウンタ６４０のカウントが第２の調節されたカウントに達したかを判断することができる。上述したように、第２の調節されたカウントは、欠陥境界コントローラ６３２のメモリ６５２に格納されてよく、プロセッサ６４８が受信したカウンタ６４０のカウントと、プロセッサ６４８により比較されてよい。本開示および教示を読んだ当業者であれば、カウンタ６４０が第２の調節されたカウントに達したら、ＯＰＵ４０８が、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置の近くの位置に位置することに気づくであろう。
【０１０１】
さらに９１６を、既に参照した７２４と合わせて参照すると、カウンタ６４０はブロック９０４を参照して説明した第１のカウンタリセット位置８０４とは異なる第２のカウンタリセット位置でリセットされてよい。本実施形態では、カウンタ６４０は、異なる第２のカウンタリセット位置からカウントを始めることで、第２の調節されたカウントに達する。
【０１０２】
９１６でカウンタ６４０のカウントが第２の調節されたカウントに達したと判断すると、フローは９２０に進む。カウンタ６４０のカウントが第２のカウントに達していない場合には、フローは、カウンタ６４０のカウントが第２の調節されたカウントに達するまで９１６に留まる。
【０１０３】
９２０で、欠陥１０８に対する欠陥管理モジュール４３６の応答を、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第２のエッジの予測位置に位置していること、または、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置の近くの位置に位置していることに基づいて変更する。
【０１０４】
より具体的には、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からのデータを読み取ろうとする後続する試み中に欠陥１０８に対する自身の応答を変更させてよい。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、ディスクドライブシステム６００を、欠陥１０８がなかったときのその通常処理モードに戻すべく、欠陥マネージャ６３６に、自身の応答の変更に代えて、またはこれに加えて、ディセーブルされたコントローラを再度イネーブルすることに適した信号を生成することにより、または、前に増加した欠陥検知感度を低減させることにより、読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６の一方または両方の応答を変更させる。
【０１０５】
９１２および９２０の両方を参照すると、ディスクドライブシステム６００はさらに、データの再読み取りを迅速に試みることに加えて、欠陥１０８が影響を与えるデータを読み取ろうとする後続する試みを向上させるために利用されてよい。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、第１のカウンタリセット位置８０４、第１の調節されたカウント、第２のカウンタリセット位置、および第２の調節されたカウントを、適切な期間または無期限に格納して、欠陥１０８が影響を与えるデータを読み取ろうという後の試み中に上述したように欠陥マネージャ６３６および／または読み取りチャネル６２０および／またはサーボコントローラ４１６の応答を変更することができる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、第１のカウンタリセット位置８０４、第１の調節されたカウント、第２のカウンタリセット位置、および第２の調節されたカウントを、データの再読み取りの試みが既に所定回数行われ、オーディオおよび／またはビデオ再生連続性要件によって現在の再生セッション中にさらなる試みが禁止されているような場合、データを読み取ろうとする後の試みで利用する目的に、格納することができる。
【０１０６】
９１２および９２０の参照を続けると、また別の代替的な実施形態では、図１０の代替的なディスクドライブシステム１０００のブロック図に示すように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６の応答を変更する代わりに、欠陥１０８に対する自身の応答を変更することができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２自身は、ディスクコントローラ４４０がサーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、および、タイミングコントローラ４３２ｂの各々を動作させて、光格納媒体１０４上の欠陥の検知を管理する方法５００に関して開示される機能の任意の１以上を実装するべく、ディスクコントローラ４４０が提供する適切な設定を選択することができる。
【０１０７】
さらに上述したように、欠陥１０８が光格納媒体１０４上で、第１のトラック上の欠陥１０８の検知された位置から放射状に伝播すると仮定することによって、欠陥境界コントローラ６３２等により、第２のトラック上の欠陥１０８の第２の位置を予測することができる。しかし別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、別のトラック上の欠陥１０８の別の位置を正確に予測するために、複数のトラック上の欠陥１０８の検知された位置に関する情報を利用することができる。例えば、検知境界コントローラ６３２は、第１のトラック上の欠陥１０８の検知された位置、および、第２のトラック上の欠陥１０８の第２の検知された位置に関する情報を利用することで、光格納媒体１０４の第３のトラック上の欠陥１０８の第３の位置を予測することができる。
【０１０８】
図１１は、光格納媒体１０４の第３のトラック上の欠陥１０８の第３の位置を予測するために利用することができる方法１１００のフローチャートである。方法１１００は、説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム６００を参照して説明する。しかし、方法１１００はディスクドライブシステム６００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【０１０９】
１１０４で、第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック長の差異を決定する。例えば、円形の光格納媒体１０４の場合には、２つの連続するトラックの間のトラック長の差異は、２・π・Ｔｐ（式１）として表現することができる。ここでＴｐはトラックピッチを表す。
【０１１０】
図１２は、上述した第１のトラックであってよい第１のトラック１２０４、および、第２のトラック１２０８を含む複数のトラックを有する光格納媒体１０４を示す。放射線１２１２の長さはトラックピッチである。例えば、ＤＶＤ媒体上で、トラックピッチＴｐは０．７４μｍであり、２つの連続するトラック間のトラック長の差異は、２・π・０．７４μｍ＝４．６５μｍとなる。
【０１１１】
１１０４の参照を続けると、第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック数に応じた、２つの連続するトラック間のトラック長の差異の適切な倍数を利用して、第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック長の差異を決定することができる。倍数は、第１のトラック、第２のトラック、および第３のトラックが光格納媒体１０４上に連続して配置されている場合に２となる。
【０１１２】
次に、１１０８で、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置を計算する。第３のカウンタリセット位置は、第１のカウンタリセット位置８０４と同様に光格納媒体１０４の上の同じ角度位置ではなくてよい。つまり、光格納媒体１０４の上のトラックは、図１２に示すような螺旋形状に配置されていてよい。従って、光格納媒体１０４上のカウンタリセット位置の各々が光格納媒体１０４上の認識可能なデータ境界の位置である一実施形態では、上述したように、光格納媒体１０４の外部エッジに行くにつれて、この螺旋配置および各螺旋の長さが大きくなることにより、異なるトラック上のカウンタリセット位置が異なる角度位置を有してよい。
【０１１３】
例えば図１３は、図８のトラック８００および第２のトラック１３００を示す。トラック８００および第２のトラック１３００は、例えば、上述した第１のトラックおよび第２のトラックであってよい。第２のトラック１３００は、カウンタリセット位置１３０４、１３０８、および１３１２、および、欠陥１０８の第１のエッジおよび第２のエッジが第２のトラック１３００上で検知された位置１３１６および１３２０を含んでよい。図１３から分かるように、トラック８００上の位置８１６および８２０および第２のトラック上の位置１３１６および１３２０は、半径方向に配置されていてよいが、トラック８００上のカウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２および第２のトラック１３００上のカウンタリセット位置１３０４、１３０８、および１３１２は、半径方向に配置されていなくてよい。
【０１１４】
１１０８の参照を続けると、欠陥境界コントローラ６３２は、１１０４が示すような第１のトラックおよび第３のトラックの間のトラック長の差異を利用して、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置を計算することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、第３のトラックの第３のカウンタリセット位置を、（ｉ）第１のトラック上の上述した第１のカウンタリセット位置８０４、（ｉｉ）その境界を、カウンタ６４０をリセットするためのカウンタリセットモジュール６４４が検知する、ＥＣＣブロック等のデータブロックの既知の長さ、および（ｉｉｉ）第１のトラックおよび第３のトラックの間のトラック長の差異に基づいて計算することができる。または、第１のカウンタリセット位置が光格納媒体１０４の第１のトラック上の所定の角度位置である実施形態では、検知境界コントローラ６３２は、第１のトラック上のカウンタリセット位置に基づいて第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置をより単純に計算することができる。
【０１１５】
次に１１１２で、欠陥１０８を第１のトラック上に検知する。例として、欠陥１０８を検知してよく、第１のカウンタリセット位置８０４および第１のカウントを、方法７００に示すように決定および格納することができる。同様に、第２のカウンタリセット位置および第２のカウントを、方法７００に示すように決定および格納することができる。
【０１１６】
次に１１１６で、欠陥１０８を第２のトラック上で検知する。本開示および教示を読んだ当業者であれば、第２のトラック上の欠陥１０８の第１および第２のエッジ、および、第２のトラック上の対応するカウンタリセット位置を、方法７００に関して説明した方法同様に決定することができる。
【０１１７】
次に１１２０で、第１のトラック補償値を計算する。第１のトラック補償値は、負であっても正であってもよく、（ｉ）第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置および第３のトラック上の欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置と、（ｉｉ）第１のトラック上の第１のカウンタリセット位置８０４および第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置との間の、推定ビット数の差異を表している。第１のトラック補償値を計算する様々な技術を以下で詳述する。
【０１１８】
次に１１２４で、第２のトラック補償値を計算する。第２のトラック補償値は、負であっても正であってもよく、（ｉ）第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置および第３のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置と、（ｉｉ）第１のカウンタリセット位置および第１のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置との間の、推定ビット数の差異を表している。
【０１１９】
１１２０および１１２４を参照して、第１および第２のトラック補償値を計算する様々な技術を以下で説明する。一実施形態では、読み取りチャネル４２０は、第２のトラックからデータを読み取ることができる。欠陥マネージャ６３６は、第１のトラックに関して行った検知と同じ方法で、第２のトラック上の検知１０８の第１のエッジを検知することができる。検知マネージャ６３６は、検知マネージャ６３６が第１のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジの位置を検知した際と同じ方法で、第２のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジを同様に検知することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置に対応するカウンタ６４０のカウントを記録することができる。加えて、欠陥境界コントローラ６３２は、第２のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置に対応するカウンタ６４０のカウントを記録することができ、対応するカウンタリセット位置を記録することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、トラック補償値、および適宜、第２のトラック補償値を、（ｉ）第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置、第１のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置、第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置、第２のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置のうちの１以上、および（ｉｉ）第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック数を含むがこれらに限定はされない変数の関数として、計算してよい。
【０１２０】
１１２０および１１２４を引き続き参照すると、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８が、放射状、非放射状に、あるいは、直線状または曲線状に伝播するという仮定に基づいて、第１および第２のトラック補償値を計算することができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、光格納媒体１０４の他のトラックに関する予測を行うときに懸案となる欠陥１０８の種類が、通常は、トラックピッチよりも相対的に長いことから、非放射状に、しかも線形に伝播すると仮定することができる。従って、例えば欠陥境界コントローラ６３２が、欠陥１０８が、第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置および第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置により定義される方向に線形に伝播すると仮定することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、例えば第１のトラックおよび第３のトラックの間のトラック数を、第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置および第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置の間の距離の乗数として利用することで、トラック補償値および／または第２のトラック補償値の計算に利用される関数を構築することができる。別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、例えば、上述した変数を利用することで多項式関数を構築して、トラック補償値および／または第２のトラック補償値を計算することができる。
【０１２１】
別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、格納されている履歴データおよびさらなるデータ（例えば光格納媒体１０４の、第１のトラック、第２のトラック、および第３のトラックに対して連続して配置されている必要はない第４のトラック上の欠陥１０８の検知された位置）の一方または両方を利用することで、トラック補償値および／または第２のトラック補償値を決定するために利用することのできる関数を構築することができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、これらデータを利用して、別の線形関数を構築することができ、あるいは、これらデータを利用して、多項式関数等のより複雑ではあるがより正確な関数を構築して、トラック補償値を決定することができる。さらに、本開示および教示を読んだ当業者には、所望のレベルの精度および複雑性を有する任意の特定のトラックのトラック補償値を計算するのに適した関数を構築するために適切なデータを利用することができることが理解されよう。加えて、ここに特に記載する実施形態は、第３のトラック上の欠陥１０８の位置を予測することに関してトラック補償値を計算することに関しているが、本開示および教示を読んだ当業者であれば、トラック補償値をここに記載したように計算して、第２のトラック等の光格納媒体１０４の他のトラック上の欠陥１０８の位置を予測することに関して利用することもできることを理解する。
【０１２２】
次に１１２８で、第１のトラック調節されたカウントを決定する。第１のトラック調節されたカウントは、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置と、第３のトラック上の欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置との間の推定ビット数を表している。従って、第１のトラックで欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置が、上述したカウンタ６４０の第１のカウントに対応しているので、１１２０に関して開示した第１のトラック補償値を、カウンタ６４０の第１のカウントに追加して、第１のトラック調節されたカウントを決定することができる。
【０１２３】
次に１１３２で、第２のトラック調節されたカウントを決定する。第２のトラック調節されたカウントは、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置と、第３のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置との間の推定ビット数を表している。従って、第１のトラックで欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置が、上述したカウンタ６４０の第２のカウントに対応しているので、１１２４に関して開示した第２のトラック補償値を、カウンタ６４０の第２のカウントに追加して、第２のトラック調節されたカウントを決定することができる。
【０１２４】
第１および第２のトラック調節されたカウントが１１３０および１１３２で計算されると、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８が影響を与える第３のトラックの領域からデータを読み取ろうとする試み中に、欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を、第１および第２のトラック調節されたカウントが示す第３のトラック上の欠陥１０８の予測された第３の位置で、またはその付近で変化させる。欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答は、例えば方法５００に関して記載したものと同様の方法で変化させることができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、カウンタ６４０が第３のカウンタリセット位置にあるカウンタリセットモジュール６４４によりリセットされた後で、カウンタ６４０が第１のトラック調節されたカウントに達したとき、欠陥マネージャ６３６に第３のトラック上に欠陥決定信号を生成させる。本開示および教示を読んだ当業者であれば、カウンタ６４０が第１のトラック調節されたカウントに達したときに、ＯＰＵ４０８が第３のトラック上の欠陥１０８の予測された第３の位置に位置することを理解するであろう。
【０１２５】
様々な他の実施形態では、カウンタ６４０がこのようにして第１のトラック調節されたカウントに達すると、欠陥境界コントローラ６３２は、代わりに、任意の他の適切な方法で、欠陥マネージャ６３６の欠陥検知感度を変更して、欠陥マネージャ６３６に、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが適用する利得および／またはｄｃオフセットを増加させたり、欠陥１０８に対する欠陥マネージャ６３６の応答を変更したりすることができる。各実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、上述したように、ディスクコントローラ４４０に、上述した機能の任意の１以上を実装するためにコントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂを動作させることで、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂに提供される適切な設定間の選択を、欠陥マネージャ６３６に行わせることにより、上述した方法で欠陥マネージャ６３６の応答を変化させることができる。
【０１２６】
さらに、図１０に関して記載したように、欠陥境界コントローラ６３２は、例えば欠陥マネージャ６３６の応答を変化させる代わりに、欠陥１０８に対する自身の応答を変化させることができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、サーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、およびタイミングコントローラ４３２ｂの各々を動作させるのに利用するためにディスクコントローラ４４０に提供される適切な設定を選択することができる。
【０１２７】
ここで記載する方法５００、７００、９００、および１１００各々に関して、幾多ものさらなる変形例が本開示および教示を読んだ当業者には明らかである。特に、上述した方法の任意の１以上のステップを任意の特定の方法で実装することができ、１以上のステップを上述した方法の任意の１以上から省くこともできる。あくまで一例であるが、方法５００、７００、９００、および１１００は、欠陥１０８の第２のエッジを検知すること、第２の調節されたカウントを決定するステップ、第２のトラック調節されたカウントを決定するステップの１以上を含まなくてよい。例えばこれら実施形態では、欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答は、所定の期間が経った後で、欠陥１０８がない状態に戻ってよい。
【０１２８】
上述した様々なブロック、処理、および技術は、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア、またはハードウェア、ファームウェア、および／またはソフトウェアの任意の組み合わせで実装できる。ソフトウェアで実装されるときには、ソフトウェアは、コンピュータ、プロセッサ、ハードディスクドライブ、光ディスクドライブ、テープドライブ等のＲＡＭまたはＲＯＭまたはフラッシュメモリの磁気ディスク、光ディスク、その他の格納媒体に格納することができる。同様に、ソフトウェアは、例えばコンピュータ可読ディスクまたはその他の搬送可能コンピュータ格納メカニズムで、または通信媒体を介して、を含む任意のまたは所望の配信方法によりユーザまたはシステムに配信されてよい。通信媒体は通常、コンピュータ可読命令、データ構造、プログラムモジュールその他のデータを、変調されたデータ信号（例えば搬送波またはその他の搬送メカニズム）で具現化する。例示であり限定ではないが、通信媒体は、有線ネットワークまたは直接有線接続等の優先媒体、および、音響、無線周波数、赤外線その他の無線媒体等の無線媒体を含む。従って、ソフトウェアは、電話回線、ＤＳＬライン、ケーブルテレビライン、無線通信チャネル、インターネット等を介してユーザまたはシステムに配信されてよい（これらは、搬送可能格納媒体を介してソフトウェアを提供することと置き換え可能に捕らえることができる）。ハードウェアに実装するときには、ハードウェアは１以上の離散コンポーネント、集積回路、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）等を含むことができる。
【０１２９】
本発明を特定の例を参照して記載してきたが、これらはあくまで例示を目的としたものであり、本発明を限定する意図はなく、当業者であれば、本発明の精神および範囲から逸脱せずに開示された実施形態で明示したものに変更、追加を加えたり、あるいはそれから削除することもできる。
【技術分野】
【０００１】
本願は、２００９年１月１４日に提出された、「欠陥境界コントローラ」なる名称の米国仮出願第６１／１４４，６０２号明細書の恩恵を請求しており、この全体をここに参照として組み込む。
【０００２】
本開示は概してディスク格納デバイスに係り、より詳しくはディスク上の欠陥の位置を検知する技術に係る。
【背景技術】
【０００３】
ここに提供する背景技術の記載は、概して開示のコンテキストを示す目的を持つ。現在の発明者の、さもなくば出願時に先行技術とはならないであろうこの背景技術に記載されている範囲および記載の側面は、いずれも、本開示に対して自認した先行技術であることを明示もしくは示唆するものではないことを理解されたい。
【０００４】
レーザを利用して光格納媒体のポリカーボネート基板上部に極小の窪みまたはピットのパターンを形成することにより、データを光格納媒体に書き込む方法がある。ピット間の領域はランドとして知られており、ピットおよびランドをあわせて、光格納媒体へ書き込まれたデータである。光ピックアップユニット（ＯＰＵ）は、レーザよび光センサを含んでよく、データの読み取りに利用される。例えばＯＰＵのレーザを、データを読み取ろうとしている光格納媒体の上のトラックに方向付けることができる。ランドに対するピットの窪みによって、ピットとランドとからはそれぞれ異なるように光が反射される。光格納媒体は、読み取り処理中にスピンドル／供給モータ（ＦＭ）ドライバにより回転されることで、光センサがピットおよびランドから読み取りを行うことができる。光センサは、ピットとランドとからの反射がそれぞれ異なることを検知して、ピットおよびランドが表すデータを読み取る。
【０００５】
光格納媒体からデータを正確に読み取るには反射の差異を正確に検知することが必要となり、ピットは極小の窪みであるので、光格納媒体に書き込まれるデータの整合性は、引っかきまたは指紋によって欠陥を有しやすくなる。このような欠陥は、ランドおよびピットのパターンに干渉して、光格納媒体の反射特性を脅かす場合があり、これによりデータを正確に読み取れなくなったり、全く読み取れなくなったりする場合すらある。例えば、光格納媒体のユーザが音声またはビデオを再生する際に「スキップ」または「ブリップ」が生じたり、処理データを読み取ることが難しくなったりすることがある。
【０００６】
図１は、光格納媒体１０４の欠陥開始領域１１２から始まる、引っかきまたは指紋といった欠陥１０８を有するＤＶＤ媒体等の光格納媒体１０４を示している。欠陥開始領域１１２は、図１の欠陥開始領域１１２の拡大図に示すように複数のトラック１１６を含んでよい。これら複数のトラック１１６の各々にはデータが書き込まれている。データは後に、複数のトラック１１６から読み出され、さらなる処理、光格納媒体１０４のユーザへの表示、ユーザへの音声またはビデオ再生等に利用されてよい。
【０００７】
光格納媒体上の欠陥は、光格納媒体にわたり放射状に広がるので、時としてそのサイズが成長することがある。図１に示す欠陥１０８は、欠陥開始領域１１２内で複数のトラック１１６にわたり放射上に広がって、そのサイズが増加する。欠陥１０８により、特に欠陥１０８のサイズが増加するときに、複数のトラック１１６にデータが書き込まれている光格納媒体１０４上のデータ層の劣化が生じ、これにより、例えばＤＶＤプレーヤの読み出しチャネル等の読み出しチャネルの、欠陥１０８が広がる各トラックからデータを読み出す能力に悪影響を及ぼす。
【０００８】
図２は、光格納デバイスからの出力信号２００を示す。出力信号２００は例えば、光格納媒体（例えば光格納媒体１０４）からデータを読み出すことで生成される信号に対応する読み出しチャネル信号であってよい。出力信号２００は、指紋により生じた劣化を有する劣化領域２０４を含む。劣化領域２０４は、低信号レベルおよび指紋の稜線に対応する稜線２０８により特徴付けられる。図３は、光格納デバイスからの別の出力信号３００を示す。出力信号３００は、引っかきにより生じる深刻な劣化を有する劣化領域３０４を含む。劣化領域３０４は、略完全に劣化した信号レベルおよびその結果の総データ損失により特徴付けられる。
【０００９】
光格納媒体１０４に書き込まれるデータは、リード−ソロモン符号化スキーム等の誤り訂正符号化（ＥＣＣ）スキームに従って符号化されてよい。場合によっては、ＥＣＣを利用することで、読み出しチャネルは、欠陥１０８が存在していても、光格納媒体１０４の、欠陥１０８等の欠陥の位置に書き込まれているデータを決定できる。しかし欠陥１０８が深刻すぎたり大きすぎたりする場合には、ＥＣＣであっても、データの損失を補うことができない場合がある。さらに、ＥＣＣがデータの損失を補うことができる場合であっても、欠陥１０８がさらなる問題を生じる場合もある。つまり、読み出しチャネルは、様々な制御ループを活用して、データを光格納媒体１０４から読み出すタイミング、利得量、および読み出し信号に適用されるｄｃオフセット等のパラメータを継続的に監視して調節する。例えばデータは、光格納媒体１０４のチャネルクロックに従って読み出される。光データ取得システムは、例えば光格納媒体１０４の回転速度に基づき期待チャネルクロックを決定する。しかし、様々な要素によって期待チャネルクロックが不正確になる場合がある。例えば光格納媒体１０４の偏心または楕円回転、光格納媒体１０４の回転速度の変化、および、読み出されるトラックの曲率中心と光格納媒体１０４の回転軸との間の差異の全てがタイミングエラーを引き起こす原因となりうる。従って読み出し処理中に適切な信号タイミングを確実に得るためには、タイミング制御ループを利用して、実際のチャネルクロックを回復している。同様に、利得およびｄｃオフセット制御ループを利用して、ＯＰＵからの読み出し信号の増幅を制御して、タイミング制御の問題を生じた要素のうちの１以上を含む要素の結果読み出し信号に付加されうるｄｃオフセットを補う。
【００１０】
しかし欠陥１０８が存在する場合には、光格納媒体１０４のデータの劣化によって、タイミング、利得、ｄｃオフセット制御ループに対して好ましくない入力が生じ、この結果、信号タイミング、利得、およびｄｃオフセット補償について望ましくない不正確な制御が行われる場合がある。この結果、欠陥１０８が含まれる光格納媒体１０４の領域を過ぎた後であっても、十分な量の信頼できるデータに基づいて制御ループが更新されることで再度適切な出力が生成されるまでは、欠陥１０８に悪影響（つまりスキップ、ブリップ等）が継続して生じる場合がある。
【００１１】
同様の問題が、光格納媒体１０４からデータを読み出すＯＰＵの位置を制御することに関して欠陥１０８が存在する場合にも生じうる。ＯＰＵの位置は、例えばタイミング制御に関して上述したものを含む要素によって変化してしまって不都合な場合がある。このため、タイミング、利得、およびｄｃオフセット同様に、ＯＰＵの位置も監視対象として、さらなる制御ループにより更新するとよい。しかしタイミング、利得、およびｄｃオフセット制御ループ同様に、ＯＰＵを位置させる制御ループも、欠陥１０８が存在すると不正確なデータに基づいて更新されることがあり、これによりＯＰＵの位置の調節が不正確になって、これが、ＯＰＵが欠陥１０８の最後を通過した後であっても継続する場合がある。
【００１２】
１つの公知のシステムに、欠陥１０８等の欠陥を検知して、例えば読み取りチャネルが利用するループに対する一定の変更を行うものがある。例えばタイミングループは、欠陥１０８から生じる不正確なデータでタイミングループの更新を行うことを最小限に抑えるべく、ディセーブルすることができる。システムはさらに、欠陥１０８が内部で検知されたＥＣＣブロックの光格納媒体１０４上のアドレスを決定することができる。ＥＣＣブロックの再読み取りの試みを後で行うようにすると、欠陥１０８を事前に検知する確率を高めるために、ＥＣＣブロックの開始からシステムの欠陥に対する検知感度が増して、これによってタイミングループが先にディセーブルされて、不正確なデータで更新されることがさらに少なくなる。
【発明の概要】
【００１３】
一実施形態の方法は、ディスクドライブの格納媒体の上の欠陥を検知する。格納媒体の上のデータの最小アドレス可能な単位内で、欠陥の位置を判断する段階をさらに含む。加えて、方法は、位置を示す情報をメモリに格納する段階を含む。方法はさらに、格納媒体の上に格納されているデータに対するディスクドライブのセンサの位置を監視する段階を含む。方法はまた、ディスクドライブの欠陥検知器、ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および、ディスクドライブのサーボコントローラのうち少なくとも１つの応答を、格納媒体の上に格納されているデータに対するセンサの位置、および、欠陥の位置の格納されている情報に基づいて、変更する段階を含む。
【００１４】
別の実施形態では、読み取りチャネルコントローラの欠陥に対する応答を変更する段階は、読み取り信号に適用される利得を増加させる段階を有する。一実施形態では、利得を増加させる段階は、格納媒体の、欠陥の位置に格納されているデータの振幅が閾値を超えると判断することに呼応して、利得を増加させる段階を含む。
【００１５】
さらなる実施形態では、装置は、ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられたカウントをそれぞれ生成するカウンタを含む。装置はさらに、格納媒体の上の欠陥を検知する欠陥検知器を含む。装置はさらに欠陥境界コントローラを含む。欠陥境界コントローラは、欠陥の位置に対応するカウンタのカウントを判断する。欠陥境界コントローラは、欠陥検知器、ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および、ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、カウントとカウンタとに基づき変更する。
【００１６】
一実施形態では、装置はさらに、カウンタを１以上のカウンタリセット位置でリセットするカウンタリセットモジュールを含む。欠陥境界コントローラは、さらに、欠陥に対応する特定のカウンタリセット位置を判断する。加えて、欠陥境界コントローラは、欠陥検知器、読み取りチャネルコントローラ、および、サーボコントローラのうち少なくとも１つの応答を、さらに欠陥に対応するカウンタリセット位置に基づき変更する。
【００１７】
別の実施形態では、カウントは、欠陥に対応するカウンタリセット位置と欠陥の位置との間の格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す。
【００１８】
また別の実施形態では、欠陥境界コントローラは、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが、欠陥の位置に対応する調節されたカウントに達したときに、読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる。
【００１９】
また別の実施形態では、欠陥境界コントローラは、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが、欠陥の近くを示しているときに、欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する。
【００２０】
また別の実施形態では、欠陥の位置は、格納媒体の第１のトラックの上である。欠陥境界コントローラは、欠陥の位置に基づき補償値を計算する。欠陥境界コントローラは、さらに、欠陥の位置に対応するカウントに補償値を追加して、格納媒体の第２のトラックの上の欠陥の第２の位置を予測する。
【００２１】
さらなる実施形態では、方法は、カウンタを動作させる。カウンタのカウントはそれぞれ、ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられている。方法はさらに、欠陥検知器を利用して格納媒体の上の欠陥を検知する段階を含む。加えて、方法は、欠陥の位置に対応するカウンタのカウントを判断する段階を含む。方法はさらに、欠陥検知器、ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、およびディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、カウントとカウンタとに基づき変更する段階を含む。
【００２２】
別の実施形態では、方法はさらに、１以上のカウンタリセット位置でカウンタをリセットする段階と、欠陥に対応するカウンタリセット位置を判断する段階とをさらに備える。加えて、欠陥検知器、読み取りチャネルコントローラ、およびサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を変更する段階は、欠陥に対応するカウンタリセット位置にさらに基づいて行われる。
【００２３】
また別の実施形態では、カウントは、欠陥に対応するカウンタリセット位置と欠陥位置との間の格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す。
【００２４】
また別の実施形態では、欠陥に対応するカウンタリセット位置は、格納媒体の上の誤り訂正符号化ブロックの境界である。
【００２５】
また別の実施形態では、欠陥に対応するカウンタリセット位置は、格納媒体の上のデータセクタの境界である。
【００２６】
また別の実施形態では、欠陥に対応するカウンタリセット位置は、格納媒体の上の所定の角度位置である。
【００２７】
また別の実施形態では、欠陥検知器の応答を変更する段階は、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが欠陥の近くを示すときに、欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する段階を変更する段階を有する。
【００２８】
また別の実施形態では、読み取りチャネルコントローラの応答を変更する段階は、カウンタがカウンタリセット位置でリセットされた後で、カウンタが欠陥の位置に対応する調節されたカウントに達したときに、読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる段階を有する。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】欠陥を有する光格納媒体を示す。
【００３０】
【図２】指紋による劣化を含む光格納媒体からの出力信号を示す。
【００３１】
【図３】引っかきによる深刻な劣化を含む光格納媒体からの出力信号を示す。
【００３２】
【図４】一実施形態におけるディスクドライブシステムのブロック図である。
【００３３】
【図５】別の実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体の欠陥を管理する方法のフローチャートである。
【００３４】
【図６】別の実施形態における欠陥管理モジュールの実装を含むディスクドライブシステムのブロック図である。
【００３５】
【図６Ａ】また別の実施形態における欠陥管理モジュールの欠陥境界コントローラの詳細図である。
【００３６】
【図７】また別の実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体上の欠陥の位置を決定する方法のフローチャートである。
【００３７】
【図８】また別の実施形態における光格納媒体のトラックを示す２つの図である。
【００３８】
【図９】別の実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体上の欠陥に対する応答を変更する方法のフローチャートである。
【００３９】
【図１０】別の実施形態における欠陥管理モジュールの別の実装を含む代替的なディスクドライブシステムのブロック図である。
【００４０】
【図１１】また別の実施形態における光格納媒体の第３のトラック上の欠陥の位置を予測する方法のフローチャートである。
【００４１】
【図１２】また別の実施形態における複数のトラックを有する光格納媒体を示す。
【００４２】
【図１３】別の実施形態における光格納媒体の２つのトラック上のカウンタリセット位置および欠陥検知位置を示す。
【発明を実施するための形態】
【００４３】
ここで記載する欠陥検知および応答技術は、１以上のＤＶＤフォーマット仕様（例えばＤＶＤ読み取り専用メモリ（ＤＶＤ−ＲＯＭ）、記録可能フォーマットＤＶＤ−ＲおよびＤＶＤ＋Ｒ、書き込み可能フォーマットＤＶＤ−ＲＷおよびＤＶＤ＋ＲＷ、およびＤＶＤランダムアクセスメモリ（ＤＶＤ−ＲＡＭ））を利用する光ディスクドライブシステムで利用されるものとして記載されるが、これら技術は、様々な他の種類の光ディスクドライブシステムで利用可能であり、これら光ディスクドライブシステムには、Ｂｌｕ−ＲａＹ Ｄｉｓｃ（ＢＤ）フォーマット仕様およびコンパクトディスク（ＣＤ）フォーマット仕様が含まれてよいが、ＤＶＤフォーマット仕様に準拠したものに限定されるわけではない。またさらに、ここで記載する技術は、他のデータ格納デバイスおよびドライブシステム（例えば磁気ディスクドライブシステム）に利用することもできる。
【００４４】
図４は、一実施形態におけるディスクドライブシステム４００のブロック図である。ディスクドライブシステム４００は、例えば、Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｃプレーヤ、ＤＶＤプレーヤ、パーソナルコンピュータまたはラップトップコンピュータ等に見られるようなＢｌｕ−Ｒａｙディスクドライブシステム、ＤＶＤディスクドライブシステム等、または、光ドライブを利用しうる複数のデバイスおよび機器のいずれかであってよい。ディスクドライブシステム４００は、光格納媒体１０４、ＯＰＵ４０８が取り付けられた移動アーム４０４、サーボ４１２、サーボコントローラ４１６、読み取りチャネル４２０、メモリ４２４、読み取りチャネルコントローラ４３２、欠陥管理モジュール４３６、ディスクコントローラ４４０、およびインタフェース４４４を含む。読み取りチャネルコントローラ４３２は、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａおよびタイミングコントローラ４３２ｂを含む。別の実施形態では、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａは、２つの別個のコントローラ（つまり、１つがｄｃオフセットコントローラ（不図示）であり、１つが利得コントローラ（不図示）である）として実装される。また別の実施形態では、以下に詳述するように、電圧制御発振器（ＶＣＯ）（図４には不図示）を、タイミングコントローラ４３２ａに集積してよく、あるいは、タイミングコントローラ４３２ｂに通信可能なように連結させることができる。
【００４５】
図５をさらに参照して、ディスクドライブシステム４００の処理を以下に詳述する。図５は、一実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体の欠陥を管理する方法５００のフローチャートである。方法５００は、説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム４００を参照して説明する。しかし、方法５００はディスクドライブシステム４００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【００４６】
５０４で、データを光格納媒体１０４から検知する。一実施形態では、ディスクドライブシステム４００を含みうるような上述したコンピューティングデバイスのうちの１つにおけるマイクロプロセッサ（不図示）が、読み取りデータ要求をインタフェース４４４に提供して、読み取るべきデータ（データをそこから読み取る光格納媒体１０４の第１のトラックを示す情報）を示すことができる。インタフェース４４４は、読み取るべきデータを示す情報をディスクコントローラ４４０に送信して、ディスクコントローラ４４０が、例えばデータをそこから読み取る第１のトラックを示す信号をサーボコントローラ４１６に送信する。ディスクコントローラ４４０からの信号に呼応して、サーボコントローラ４１６は、サーボ４１２の、移動アーム４０４およびＯＰＵ４０８を第１のトラック上に位置させる処理を制御する。ここではＯＰＵ４０８を第１のトラック上に位置させることに関して説明するが、サーボコントローラ４１６およびサーボ４１２は、ＯＰＵ４０８を、データ読み取り要求が示す光格納媒体１０４の任意の適切な位置（例えば第１のトラックの上の特定のデータセクタ等）の上に位置させるために利用することができる。ＯＰＵ４０８は、レーザおよび光センサを含んで、第１のトラックのランドおよびピットから異なる反射を検知することで、光格納媒体１０４上に格納されているデータを読み取ることができる。
【００４７】
５０４の参照を続けると、光格納媒体１０４上に格納されるデータの検知は、一実施形態では、さらに以下のように行われてよい。読み取りチャネル４２０は、ＯＰＵ４０８からアナログの読み取り信号を受信して、アナログ読み取り信号に基づいてデジタル信号を生成して、デジタル信号が表すデータを検知する。一実施形態では、検知されたデータをメモリ４２４に書き込んでよく、メモリ４２４にはＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリ、および／または、任意の他の適切な電子データ格納媒体に書き込んで、ディスクドライブシステム４００を配置するコンピューティングデバイスによる利用に備えさせる。別の実施形態では、検知されたデータは、ディスクコントローラ４４０に提供されてよく、ディスクコントローラ４４０からインタフェース４４４に提供されてよい。次いでインタフェース４４４はさらに、検知されたデータを上述したマイクロプロセッサに提供することができる。読み取りチャネル４２０は、さらに、光格納媒体１０４から読み取った位置情報に基づいて位置信号を生成して、これらの位置信号をサーボコントローラ４１６に提供してよい。従って、サーボコントローラ４１６はさらに、読み取りチャネル４２０からの位置信号に呼応して、サーボ４１２の処理を制御することができる。
【００４８】
次に５０８で、ディスクドライブシステム４００内のコントローラを、読み取りチャネル４２０に提供された様々なパラメータを調節するべく更新する。これらパラメータは例えば、読み取り処理中に適切なタイミング、増幅、およびｄｃオフセット補償を確かに行うために利用される信号タイミング、利得、およびｄｃオフセットパラメータを含んでよい。ディスクドライブシステム４００では、デジタル信号および検知されたデータの一方または両方が、読み取りチャネルコントローラ４３２内のコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの更新に利用される。コントローラ４３２ａおよび４３２ｂは、デジタル信号および／または検知されたデータからの更新に呼応して、読み取りチャネル４２０に提供された上述したパラメータを調節する。これらパラメータは、例えば、光格納媒体１０４の偏心または楕円回転が生じる変動、光格納媒体１０４の回転速度の変動、光格納媒体１０４の回転軸と、第１のトラックまたは任意の他の読み取りトラックの曲率中心との間の差異等に呼応して調節することができる。加えて、デジタル信号および検知されたデータの一方または両方を、例えばサーボ４１２の正確に制御するべく、１以上の上述した要素に呼応して、サーボコントローラ４１６の更新に利用することができる。
【００４９】
次に５１２で、検知の第１のエッジ（例えば図１を参照して記載した欠陥１０８の開始点）が光格納媒体１０４上で検知されたかを判断する。検知１０８の第１のエッジは、ディスクドライブシステム４００内で様々な方法のいずれかで検知することができる。例えば、読み取りチャネル４２０からのデジタル信号および検知されたデータの一方または両方を欠陥管理モジュール４３６に提供することができる。さらに一実施形態では、タイミングコントローラ４３２ｂは、欠陥管理モジュール４３６のタイミング制御を行うことができる。またさらに、ディスクコントローラ４４０は、欠陥管理モジュール４３６に欠陥検知設定を提供してよく、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥検知設定を利用して欠陥１０８の第１のエッジを検知することができる。ディスクコントローラ４４０は、例えば、機械読み取り可能な命令を実行するコントローラであってよい。機械読み取り可能命令は、ファームウェア、ソフトウェア等として格納可能である。欠陥検知設定は、例えば、欠陥を示すデジタル信号の劣化量を示してよい。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、例えば、光格納媒体１０４の特定の位置のデジタル信号の包絡線の振幅が、ディスクコントローラ４４０が設定する閾値を下回るという判断に基づいて、欠陥１０８の第１のエッジを検知する。別の実施形態では、欠陥１０８の第１のエッジは、サーボコントローラ４１６を利用してサーボ４１２から受信する信号の振幅に基づいて欠陥を検知することにより、ディスクドライブシステム４００内で検知することができる。
【００５０】
５１２で欠陥１０８の第１のエッジが検知されたと判断されると、フローは５１６に進む。欠陥１０８の第１のエッジが検知されなかった場合には、フローは５０４に戻り、方法は記載するように続いていく。
【００５１】
５１６で、ディスクドライブシステム４００は、欠陥１０８の第１のエッジに呼応する。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上に不正確な更新を行うことを回避するべく、欠陥１０８の第１のエッジを検知するとコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上をディセーブルすることにより、欠陥１０８の第１のエッジに呼応してよい。別の実施形態では、サーボコントローラ４１６も、読み取りチャネル４２０から検知されたデータに基づいて、または、サーボ４１２から受信した信号の振幅に基づいて、欠陥管理モジュール４３６が欠陥１０８によってＯＰＵ４０８の処理に半径トラックの問題が生じていると判断する場合には、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれに加えて、欠陥１０８の第１のエッジの検知に呼応して、同様にディセーブルされる。コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上に関して、および、サーボコントローラ４１６に関して利用される「ディセーブル」と言う用語は、ここでは、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の出力のさらなる更新を回避して、信号タイミング、利得、ｄｃオフセット等のさらなる調節を回避することを言う。
【００５２】
次に５２０で、欠陥１０８の第１のエッジを検知した場所を判断する。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、光格納媒体１０４に格納されているデータの最小アドレス可能な単位内で、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置を判断する。欠陥管理モジュール４３６は、必須ではないが、欠陥１０８の第１のエッジが検知されたデータの最小アドレス可能な単位を判断または特定することができる。例えば、ＤＶＤ媒体では、データの最小アドレス可能な単位は、８から１４変調（ＥＦＭ）フレームであり、これには１，４８８ビットが含まれる。従って、例えば、欠陥管理モジュール４３６は、さらに以下で詳述するような技術を利用して、ＥＦＭフレーム内の位置またはビット数を決定することができるが、必ずしも第１のトラック上で検知された欠陥１０８の第１のエッジにおける特に特定されたＥＦＭフレームではなくてもよい。
【００５３】
次に５２４で、欠陥１０８の第２のエッジまたは終端を検知したかを判断する。検知１０８の第２のエッジは、ディスクドライブシステム４００内で様々な方法のいずれかで検知することができる。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、上述したようにディスクコントローラ４４０が提供する欠陥検知設定を利用して、欠陥１０８の第２のエッジを検知することができる。より具体的には、一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、５１２で読み取りチャネル４２０が提供するデジタル信号の包絡線の振幅が欠陥１０８の第１のエッジを検知するのに利用される閾値以上であるという判断に基づいて、欠陥１０８の第２のエッジを検知する。別の実施形態では、サーボコントローラ４１６は、例えば、ＯＰＵが、欠陥１０８が検知された位置にあるとき、サーボ４１２から受信する信号の振幅と比してサーボ４１２から受信する信号の振幅が増加していることに基づいて、欠陥１０８の第２のエッジを検知することができる。５２４で欠陥１０８の第２のエッジが検知されたと判断されると、フローは５２８に進む。欠陥１０８の第２のエッジが検知されない場合には、フローは、第２のエッジが検知されるまで５２４に留まる。
【００５４】
５２８で、ディスクドライブシステム４００は、欠陥１０８の第２のエッジに呼応する。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、５１６でディセーブルされたコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上を再度イネーブルすることにより、欠陥の第２のエッジに呼応することができる。コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上に関して利用される「再度イネーブルする」または「再度イネーブルされた」という用語は、ここでは、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上のディセーブルに続いてコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上の出力のさらなる更新を可能とすることを言う。別の実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、同様に、欠陥管理モジュール４３６が、読み取りチャネル４２０から検知されたデータに基づいて、または、サーボ４１２から受信した信号の振幅に基づいて、欠陥管理モジュール４３６が、欠陥１０８がＯＰＵ４０８の処理に半径トラックの問題が生じなくなったと判断すると、欠陥１０８の第２のエッジの検知に呼応してサーボコントローラ４１６を再度イネーブルする。
【００５５】
次に５３２で、欠陥１０８の第２のエッジを検知した場所を判断する。５２０で、欠陥管理モジュール４３６は、光格納媒体１０４に格納するデータの最小アドレス可能な単位内で、以下に記載するように、欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置を判断する。欠陥管理モジュール４３６は、必須ではないが、欠陥１０８の第２のエッジが位置するデータの特定の最小アドレス可能な単位を判断または特定することができる。
【００５６】
次に５３６で、欠陥１０８の実際の位置を予測する。読み取りチャネル４２０は、欠陥管理モジュール４３６が欠陥１０８の第１のエッジを検知するように、光格納媒体１０４から読み取られたデータを処理する必要がある。従って、欠陥管理モジュール４３６は、概して、欠陥１０８が実際に始まってから少し経つまでは、欠陥１０８の第１のエッジを検知しない。同様に、この処理遅延のために、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８が実際に終了してから少し経つまでは、概して、欠陥１０８の第２のエッジを検知しない。従って、欠陥管理モジュール４３６は、光格納媒体１０４上に格納されているデータの最小アドレス可能な単位の範囲で、欠陥１０８の実際の位置を予測してよい。例えば欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置および欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置を予測してよい。欠陥管理モジュール４３６は、以下に示すように後の利用に備えて予測された位置を示す情報を格納しておくことができる。欠陥管理モジュール４３６は、この予測を、以下に詳述する技術に従って行うことができる。
【００５７】
次に５４０で、ディスクドライブシステム４００は、後続する、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み取る試みの間に、欠陥１０８に対する応答を変更する。より具体的には、一実施形態では、ディスクドライブシステム４００は、格納媒体に格納されているデータに対するＯＰＵ４０８の位置および欠陥１０８の位置を示す格納情報に基づく後続する試みの間に、欠陥１０８に対する応答を変更することができる。以下に詳述するように、ディスクドライブシステム４００は、例えばＯＰＵ４０８が、５３６に関して説明したような欠陥１０８の予測位置にあるとき、または、ＯＰＵ４０８が予測位置の近くの光格納媒体１０４の位置にあるときに、自身の応答を変更することができる。
【００５８】
一実施形態では、継続して５４０を参照して、欠陥１０８の位置に格納されているデータが、誤り訂正符号（ＥＣＣ）スキームを利用しても読み出すことができない場合、読み取りチャネルコントローラ４３２が、再読み取り信号をサーボコントローラ４１６に提供して、サーボ４１２の処理を制御して、ＯＰＵ４０８に、欠陥１０８による影響を受けているデータの再読み取りを試みさせることができる。従って、再読み取りの試み中に、欠陥管理モジュール４３６は、以下で後述するように、光格納媒体１０４に格納されているデータに対するＯＰＵ４０８の位置を監視することができる。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８について予測された位置にあるとき、または、ＯＰＵ４０８が予測された位置の近くの光格納媒体１０４の位置にあるときに、再読み取りの試み中に、欠陥１０８に対する自身の応答を変更する。別の実施形態では、欠陥１０８に対する自身の応答を変更させるのに加えて、またはその代わりに、欠陥管理モジュール４３６が、読み取りチャネルコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の一方または両方の応答を変更する。
【００５９】
５４０の参照を続けると、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８に対する自身の応答、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を様々な方法で変化させることができる。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、再読み取りの試み中に、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジについて予測された位置にあるときに、欠陥検知信号を生成することができる。さらに一実施形態では、欠陥検知信号は、読み取りチャネルコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の一方または両方を欠陥モードにする。欠陥モードは、最初のデータ読み取り中に欠陥１０８の第１のエッジに呼応するのに利用する、読み取りチャネルコントローラ４３２の処理と同じモード、または、サーボコントローラ４１６の処理の同じモードであっても異なるモードであってもよい。例えば、欠陥検知信号に呼応して、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一以上をディセーブルすることができる。別の実施形態では、サーボコントローラ４１６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれらに加えてディセーブルされてよい。この結果、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６に対する不正確な更新を最小限に抑え、読み取りチャネル４２０が再読み取りの試み中に欠陥１０８による影響を受けるデータを正確に検知する可能性を高めることができる。加えて、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６に対する不正確な更新を最小限に抑えることができるので、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６を、欠陥１０８の終端の後でより迅速に正確に更新することができる。
【００６０】
別の実施形態では、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上が、欠陥管理モジュール４３６からの強制された更新を受信することができる。また別の実施形態では、サーボコントローラ４１６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれらに加えて、欠陥管理モジュール４３６からの強制された更新を受信することができる。これらの更新は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上および／またはサーボコントローラ４１６に対する適切な入力となって、欠陥１０８の位置のデータを再度読み取る試みの後で、例えば読み取りチャネル４２０の性能、および／または、サーボコントローラ４１６およびサーボ４１２の性能を最適化することができる。
【００６１】
５４０に関する説明を続けると、読み取りチャネルコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の、例えば上述したようなモード等の様々な欠陥モードが、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂ、および／または、サーボコントローラ４１６の設定（１または複数）により有効にされ、これら設定は、例えばディスクコントローラ４４０によってコントローラ４３２ａおよび４３２ｂ、および／または、サーボコントローラ４１６へ提供されてよい。欠陥検出信号を適切に生成することにより、欠陥管理モジュール４３６は、利用する設定（１または複数）を選択することができる。
【００６２】
５４０に関する別の実施形態では、光格納媒体１０４からのデータの音声またはビデオ再生を継続させる要求によって、再読み取り処理を行わないようにする場合に、欠陥管理モジュール４３６が、適切な期間の間、または無限期間の間、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置を格納することができ、後の、欠陥１０８が影響を与えるデータの再読み取りの試みの間の、ＯＰＵ４０８が、例えば欠陥１０８の第１のエッジの予測位置にあるときに、欠陥検知信号を生成する。
【００６３】
５４０に関するまた別の実施形態では、以下の詳述するように、欠陥管理モジュール４３６は、自身の欠陥１０８に対する応答を、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に位置しているとき、または欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置しているときに、自身の欠陥検知感度を変更することにより、変更することができる。例えば、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置とは、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置から１０または１００ビットのオーダ分、離れた位置のことであってよい。一実施形態では、近くの位置とは、経験的に決定されてよい。このようにして、利用される光格納媒体１０４の種類について一定の共通の欠陥の種類について性能を最適化させることができる。別の実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８が影響を与えるデータの読み取りの試みの間に、異なる近くの位置を試みることができる。例えば、欠陥１０８が生じるエラーの数は、状況によっては、誤り訂正符号が処理可能なレベルを超える場合がある。近くの位置を再読み取りの戦略の一部として調節することにより、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８についてよく機能する近くの位置を見つける試みにおいて、様々な近くの位置を試みることができる。これは、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置と近くの位置との間のビットのデフォルト数が、一部の欠陥には機能するが、欠陥１０８等の他の欠陥にはよく機能しない場合に助けとなるだろう。
【００６４】
一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、例えばディスクコントローラ４４０により、それに提供される設定に従って、欠陥を示すデジタル信号内の低下した劣化量を特定することにより、欠陥検知感度を変更することができる。このようにして、欠陥１０８の影響を受けているデータの再読み取りの試み中に、欠陥管理モジュール４３６は、通常の応答条件における場合よりも、欠陥管理モジュール４３６よりも欠陥１０８が実際に始まる位置により近い位置で、欠陥１０８の第１のエッジを検知する可能性が高まる。さらに、例えば欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置により近いコントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上をディセーブルしてよい。別の実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの１以上の代わりに、またはこれらに加えて、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置に近いサーボコントローラ４１６をディセーブルしてよい。こうすることで、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂおよび/または４１６に対する不正確な更新を最小限に抑えることができるようになり、このような不正確な更新の好ましくない結果を回避することができるようになる。
【００６５】
５４０に関するまた別の実施形態では、さらに以下に詳述するように、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の深刻度が比較的最小であること（例えば、指紋により生じたもの）、欠陥１０８による影響を受けるデータが、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの設定を調節または維持することで、および／または、サーボコントローラ４１６の設定を調節または維持することで、再読み取りできる可能性が高いこと、等の判断に基づいて、欠陥１０８に対する自身の応答、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を変更することができる。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に位置しているときに、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置しているときに、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａの設定をイネーブルして、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが読み取り信号に与える利得を増加させてよい。例えば、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置は、欠陥の第１のエッジの予測位置から１０または１００ビットのオーダ分、離れた位置のことであってよく、欠陥管理モジュール４３６が自身の欠陥検知感度を変更させることができる実施形態に関して上述した方法と同様の方法により決定されてよい。例えば、欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置におけるデジタル信号の包絡線の振幅が、ディスクコントローラ４４０が設定する閾値を上回る場合には、比較的最小限の深刻度であると判断してよい。一実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、依然として、タイミングコントローラ４３２およびサーボコントローラ４１６の一方または両方をディセーブルさせつつ、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが利用する利得を増加させる。別の実施形態においては、サーボコントローラ４１６およびタイミングコントローラ４３２ｂの一方または両方が、欠陥１０８の深刻度が比較的最小限であることに鑑みて、ディセーブルされない。加えて、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが２つの離散したコントローラ（１つがｄｃオフセットコントローラおよび１つが利得コントローラである）として実装される実施形態では、欠陥管理モジュール４３６は、ｄｃオフセットコントローラをディセーブルして、しかも利得コントローラが利用する利得は増加させる。
【００６６】
５４０に関するまた別の実施形態では、図１１から図１３を参照して以下で詳述するように、欠陥管理モジュール４３６は、自身の欠陥１０８に対する応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を、第２のトラック等の光格納媒体１０４の他のデータトラックに関して変更させてよい。例えば、上述したように、欠陥管理モジュール４３６は、第１のトラックの上で欠陥１０８の第１のエッジが検知されたＥＦＭフレーム内の位置またはビット数、および、第１のトラックの上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された同じＥＦＭフレームまたは別のＥＦＭフレーム内の位置またはビット数を判断する。好適には、第１のトラック上で検知した欠陥１０８の位置に関する情報を利用して、第２のトラック上の欠陥の第２の位置等の、光格納媒体１０４の別のトラック上の欠陥の別の位置を正確に予測することができる。つまり、欠陥管理モジュール４３６は、第１のトラック上で検知される欠陥１０８の第１のエッジおよび第２のエッジの位置を利用することで、第２のトラック上の欠陥１０８の第２の位置を予測することができる。欠陥１０８の別のトラック（例えば第２のトラック）上の欠陥１０８の位置の予測方法については特に以下で詳述する。ほんの１例としては、欠陥１０８の第２のトラック上の第２の位置は、欠陥１０８が、欠陥１０８の第１のトラック上で検知された位置から、光格納媒体１０４で放射状に伝播するという仮定のもとに予測することができる。欠陥１０８が伝播すると仮定される光格納媒体１０４上の半径は、例えば図６および図７に関して後述する１以上の実施形態に従って、第１のトラック上の欠陥１０８の検知を、光格納媒体１０４の回転角度の追跡とあわせて行うことで、決定することができる。
【００６７】
さらに５４０に関して、欠陥の第２のトラック上の第２の位置を予測した後で、欠陥管理モジュール４３６は、上述した方法のいずれかまたは任意の適切な方法によって、第２のトラック上の欠陥１０８に呼応することができる。例えば、第２のトラック上で、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第２の予測位置にあるときに、欠陥検知信号を生成して、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂ、および／または、サーボコントローラ４１６をディセーブルすることができる。または、欠陥管理モジュール４３６は、ＯＰＵ４０８が第２の予測位置に、またはその近くに位置しているときの欠陥検知感度を増加させてよく、ＯＰＵ４０８が第２の予測位置に、またはその近くに位置しているときのオフセットおよび利得コントローラ４３２ａが利用する利得を増加させてよい。以下の教示に則った欠陥１０８の第２のトラック上の第２の位置の正確な予測によって、上述したような第２のトラックからデータを読み取りときに利点を生じることができる。例えば図１を参照して記載したように、欠陥１０８はしばしば、複数のトラック１１６にわたり放射状に広がって、そのサイズが大きくなる場合がある。従って欠陥管理モジュール４３６は、欠陥１０８が第１のトラックの安定処理に対してあまり脅威でない間に、欠陥１０８が始まる場所を判断することができ、光格納媒体１０４の第２の後続するトラックが読み取られて欠陥１０８のサイズが大きくなることで問題が生じると、欠陥１０８に対する応答を変更することができる。
【００６８】
図６を参照すると、一実施形態における欠陥管理モジュール４３６の実装を含むディスクドライブシステム６００が示されている。図６に示されているように、ディスクドライブシステム６００は、光格納媒体１０４、移動アーム４０４、ＯＰＵ４０８、サーボ４１２、サーボコントローラ４１６、読み取りチャネル４２０、読み取りチャネルコントローラ４３２、欠陥管理モジュール４３６、およびディスクコントローラ４４０を含む。メモリ４２４およびインタフェース４４４は、簡潔性を期す目的から図６には示さないが、ディスクドライブシステム６００は、さらに、ディスクドライブシステム４００に関して記載したのと同様に、メモリ４２４およびインタフェースの一方または両方を含んでよい点を理解されたい。ディスクドライブシステム６００では、読み取りチャネル４２０が、アナログフロントエンド（ＡＦＥ）６０４、アナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）６０８、およびデータ検知器６１２を含む。読み取りチャネルコントローラ４３２は、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、タイミングコントローラ４３２ｂ、および、電圧制御発振器（ＶＣＯ）６２０を含む。加えて、ディスクドライブシステム６００では、検知管理モジュール４３６が、検知応答モジュール６２８および検知境界コントローラ６３２を含む。検知応答モジュール６２８はさらに、検知マネージャ６３６、カウンタ６４０、およびカウンタリセットモジュール６４４を含む。
【００６９】
５０４の参照に戻り、読み取りチャネル４２０の処理を詳述する。図４を参照して上述したように、光格納媒体１０４からデータを読み取るとき、アナログ読み取り信号がＯＰＵ４０８から受信される。より詳しくは、ディスクドライブシステム６００では、アナログ読み取り信号がＡＦＥ６０４で受信される。オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが、ＡＦＥ６０４に通信可能に連結されて、アナログ読み取り信号の振幅を、読み取りチャネル４２０の残りによる処理に適したレベルに調節して、例えばＯＰＵ４０８のトラックにおける偏心位置によりアナログ読み取り信号に導入されたｄｃオフセットを除去する。ＡＦＥ６０４のアナログ出力は、ＡＤＣ６０８で受信されて、チャネルクロックに従ってアナログ出力がサンプルされる。チャネルクロックは、光格納媒体１０４に書き込まれたビットの間隔に基づいて生成されるので、光格納媒体１０４から読み取られるデータのタイミングに対応する。例えば図６に示す実施形態では、ＶＣＯ６２０が、ＡＤＣ６０８に提供されるチャネルクロックを生成する。本実施形態では、タイミングコントローラ４３２ｂは、光格納媒体１０４上のビットの間隔の変動に呼応して、ＶＣＯ６２０の発振周波数を変化させるように、ＶＣＯ６２０の入力に適切な電圧を加えることができる。一実施形態では、ＶＣＯ６２０は、サーボコントローラ４１６にクロックを提供しない。その代わりに、サーボコントローラ４１６は、固定クロック（不図示）により制御される別個のＡＤＣ（不図示）を含むことができる。
【００７０】
５０４の説明を続けると、ＡＤＣ６０８は、ＡＦＥ６０４のアナログ出力をサンプルして、図４を参照して説明したデジタル信号を生成する。デジタル信号は、光格納媒体１０４から読み取ったデータを表しており、データ検知器６１２に提供される。データ検知器６１２は、デジタル信号を復調して、光格納媒体１０４に元々書き込まれていたデータビットを検知する。
【００７１】
５０８の参照に戻ると、デジタル信号および検知したデータの一方または両方が、サーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、およびタイミングコントローラ４３２ｂの１以上を更新するために利用される。図６のディスクドライブシステム６００では、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号を利用して、サーボコントローラ４１６、および、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａを更新する。サーボコントローラ４１６は、デジタル信号の振幅を監視して、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａは、デジタル信号の振幅およびｄｃオフセットを監視して、サーボ４１２およびＡＦＥ６０４にそれぞれ入力するために適切な信号を判断して、適切な追跡および適切な振幅およびｄｃオフセット補償が、光格納媒体１０４の後続する読み取り中に確実に行われるようにする。加えて、図６に示す実施形態では、検知されたデータをデータ検知器６１２からタイミングコントローラ４３２ｂに入力する。タイミングコントローラ４３２ｂは、データ検知器６１２が適切にＡＤＣ６０８のデジタル出力を復調できるように、適切な時間に、検知されたデータに基づいて、ＡＤＣ６０８がＡＦＥ６０４のアナログ出力を確実にサンプルするのに必要となるタイミング調節を判断する。必要となるタイミング調節を判断した後で、タイミングコントローラ４３２ｂは、ＶＣＯ６２０への電圧入力を調節することで、ＶＣＯ６２０からＡＤＣ６０８に提供されるチャネルクロックを調節する。
【００７２】
５０８の説明を続けると、ディスクドライブシステム６００は、サーボコントローラ４１６およびオフセットおよび利得コントローラ４３２ａを調節するために利用されるＡＤＣ６０８からのデジタル信号、および、タイミングコントローラ４３２ｂを調節するために利用されるデータ検知器６１２からの検知されたデータを有するものとして開示されているが、本開示および教示を読んだ当業者であれば適切な変形例を想到するであろう。例えば、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号の品質をタイミングコントローラ４３２ｂにより評価して、必要なタイミング調節を判断することもできる（調節を、データ検知器６１２からの検知されたデータに基づいて判断する代わりに）。
【００７３】
図６Ａ、図７、および図８をさらに参照して、ディスクドライブシステム６００の処理を以下に詳述する。図７は、一実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体上の欠陥の位置を決定する方法７００のフローチャートである。説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム６００を参照して方法７００を説明する。しかし、方法７００はディスクドライブシステム７００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【００７４】
７０４で、欠陥の第１のエッジ（欠陥１０８の開始点等）が光格納媒体１０４上に検知されたかを判断する。一実施形態では、ディスクドライブシステム６００において、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号およびデータ検知器６１２からの検知されたデータを、欠陥マネージャ６３６に入力する。検知マネージャ６３６は、デジタル信号および検知されたデータの両方を検査して欠陥を検知する。より具体的には、検知マネージャ６３６は、ディスクコントローラ４４０が提供する設定を利用して欠陥を検知するディスク検知器（不図示）を含んでよく、これに関しては図４および図５を参照して詳述する。ディスクコントローラ４４０が提供する設定を利用して、欠陥マネージャ６３６は、欠陥の第１のエッジを検知することができる。または、欠陥マネージャ６３６は、デジタル信号または検知されたデータのいずれか（両方ではなくて）を検査して欠陥を検知してもよい。また別の実施形態では、欠陥１０８の第１のエッジは、サーボコントローラ４１６を利用してサーボ４１２から受信する信号の振幅に基づいて欠陥を検知することにより、ディスクドライブシステム６００内で検知することができる。７０４で欠陥１０８の第１のエッジが検知されたと判断されると、フローは７０８に進む。欠陥１０８の第1のエッジが検知されていない場合には、フローは、欠陥１０８の第１のエッジが検知されるまで７０４に留まる。
【００７５】
７０８で、欠陥マネージャ６３６は、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａおよびタイミングコントローラ４３２ｂの一方または両方を、および、一実施形態では、コントローラ４３２ａおよび４３２ｂの一方または両方に代えて、またはこれらに加えて、サーボコントローラ４１６を、ディセーブルすることにより、欠陥１０８の第１のエッジに呼応することができる。
【００７６】
次に７１２で、カウンタ６４０の第１のカウンタ、および、第１のカウンタリセット位置を判断する。第１のカウントは、欠陥１０８の第１のエッジが検知された光格納媒体１０４の位置に対応する。より具体的には、カウンタ６４０は、光格納媒体１０４の異なる位置に関するカウントを生成することができる。特に、以下に詳述するように、カウンタ６４０の各カウントは、光格納媒体１０４のチャネルクロックの所定の周期数に対応していてよい。
【００７７】
７１２の参照を続けると、第１のカウンタリセット位置は、図８によく示されているように、カウンタリセットモジュール６４４により決定されてよい。図８は、光格納媒体１０４（不図示）のトラック８００の２つの図面を示す。第２の、または底部の図面の重要性を以下で説明する。第１の図面では、図８は、トラック８００上の位置８０４、８０８、８１２、８１６、および８２０を示す。一実施形態では、位置８０４は、第１のカウンタリセット位置であり、位置８０８および８１２は、さらなるカウンタリセット位置である。より具体的には、カウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２の各々は、光格納媒体１０４上の認識可能なデータ境界の位置であってよい。例えばＤＶＤ媒体上で、データは、それぞれ１，４８８ビット長のフレームに配置される。フレームは、それぞれ２６個のフレームを含むセクターに配置され、セクターはさらに、それぞれ１６セクターを含むＥＣＣブロックに配置される。光格納媒体１０４から検知され、データ検知器６１２が提供するデータビットを監視することにより、カウンタリセットモジュール６４４は、これらデータのグループの境界が生じるときを判断し、これにより、対応するカウンタリセット位置でカウンタ６４０をリセットして、カウンタ６４０のカウントをゼロに戻す。さらに、これら境界の検知は、フレーム、セクター、およびＥＣＣブロックの境界の検知に限られず、ＤＶＤ媒体の境界の検知にも限られないことを理解されたい。または、本発明の一以上の実施形態では、ＤＶＤ−ＲＡＭ媒体上のヘッダの境界、Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｃ媒体の上のＥＣＣクラスタの境界、または、任意の適切なデータ格納媒体の上の任意の適切な境界等の任意の認識可能なデータ境界の検知が含まれる。
【００７８】
図８のトラック８００上の位置８１６および８２０は、それぞれ欠陥１０８の第１のエッジおよび第２のエッジが検知された位置である。図８に示すように、第１のカウンタリセット位置８０４は、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置８１６の前に位置している（の前に読み取られている）。図８のカウンタ６４０の様々な図面の重要性を以下で説明する。
【００７９】
図８の７１２をさらに参照すると、本発明の別の実施形態では、カウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２が、光格納媒体１０４の第１のトラック上の所定の角度位置にあってよい。例えば、読み取り処理中に光格納媒体１０４を回転させるスピンドル／供給モータ（ＦＭ）ドライバを駆動するのに利用されるスピンドルモータは、周期的なパルスを生成することができる。カウンタリセットモジュール６４４は、スピンドル／ＦＭドライバに電気的に連結されて、パルスを検知および処理して、光格納媒体１０４の回転角度を追跡して、光格納媒体１０４の第１のトラックの上の所定の角度位置でカウンタ６４０をリセットする。一実施形態では、カウンタ６４０は、パルスに呼応して、９０度回転するごとにリセットされてよいので、カウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２は、図８には示されていないが、互いに対して９０度の角度である第１のトラックの上の位置に対応していてよい。別の実施形態では、光格納媒体１０４の回転角度は、カウンタ６４０を利用して、カウンタのカウントを、光格納媒体１０４の特定の回転角度で生じる光格納媒体１０４の既知のチャネルクロック数と比較することにより、追跡することもできる。
【００８０】
図８の７１２の参照を続けると、カウンタ６４０が第１のカウンタリセット位置８０４でリセットされた後で、カウンタのカウントがゼロとなることは、第１のカウンタリセット位置８０４の下の図８のカウンタ６４０の図示に示唆されている通りである。カウンタ６４０は、第１のカウンタリセット位置８０４からカウントを始める。上述したように、カウンタ６４０の各カウントは、光格納媒体１０４のチャネルクロックの所定の周期数に対応する。例えば、カウンタ６４０は、ＶＣＯ６２０の出力からチャネルクロックを受信することができる。本実施形態では、カウンタ６４０の各カウントは、チャネルクロックの１周期の発生を示す。または、カウンタ６４０は、カウンタ６４０へのチャネルクロック入力を２、４、８、１６等によって分割することができるカウンタ６４０内のクロック分周器を含むことによって、より小さく、結果としてより安価なカウンタとして実装することができる。本実施形態では、カウンタ６４０の各カウントは、それぞれチャネルクロックの２、４、８、１６等の周期を示してよい。しかし好適には、第１のカウンタリセット位置８０４が、光格納媒体１０４の回転角度を追跡することにより決定される、光格納媒体１０４の第１のトラックの所定の角度位置にある場合、カウンタ６４０はクロック分周器を含まない。クロック分周器は、本実施形態では省くこともできる。例えば光格納媒体１０４の回転角度を追跡する上述した技術の１以上は、カウンタ６４０の精度の低減を調節することができる程度の高い解像度でこの追跡を行うことができなくてもよい。
【００８１】
図８の７１２の説明を続けると、欠陥マネージャ６３６が欠陥１０８の第１のエッジを検知したときのカウンタ６４０のカウントは、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置８１６に対応する第１のカウントであると判断される。より具体的には、第１のカウントは、カウンタリセットモジュール６４４が第１のカウンタリセット位置８０４でカウンタ６４０をリセットしたときからの光格納媒体１０４のチャネルクロックの周期数に対応するので、第１のカウントは、光格納媒体１０４の、第１のカウンタリセット位置８０４と、欠陥１０８の第１のエッジが検出された位置８１６との間に格納されているデータビットの数等のデータ量を示すことが理解されるであろう。従って、カウンタ６４０の第１のカウントは、欠陥１０８の第１のエッジが検知された、光格納媒体１０４に格納されている最小アドレス可能なデータの単位内の位置に対応する。例えば、図８の実施形態では、カウンタの第１のカウントは、十進法で４００，０００であることが、位置８１６の下の図８のカウンタ６４０の図により分かるので、これは、４００，０００データビットが、光格納媒体１０４の、第１のカウンタリセット位置８０４と位置８１６との間に格納されていることを示している。
【００８２】
図６Ａを参照するとよく分かるように、第１のカウンタリセット位置８０４とカウンタ６４０の第１のカウントとがメモリに格納されてよい。図６Ａは、一実施形態における欠陥境界コントローラ６３２の詳細図を示す。図６Ａに示すように、欠陥境界コントローラ６３２は、プロセッサ６４８とメモリ６５２とを含む。メモリ６５２は、第１のレジスタ（「レジスタ１」）６５６と、第２のレジスタ（「レジスタ２」）６６０とを含む。動作においては、欠陥マネージャ６３６が欠陥１０８の第１のエッジを検知するとき、欠陥マネージャ６３６は、例えば欠陥境界コントローラ６３２のプロセッサ６４８に欠陥検知信号を提供してよい。欠陥検知信号は、欠陥マネージャ６３６に含まれうる上述した欠陥検知器（不図示）により生成されてよい。プロセッサ６４８は、欠陥マネージャ６３６から欠陥検知信号を受信して、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に、カウンタ６４０から受信した第１のカウントを記録する。
【００８３】
さらに図６Ａに関しては、カウンタ６４０をリセットして、結果生じるゼロのカウントをプロセッサ６４８に提供するたびに、プロセッサ６４８は、第２のレジスタ６６０等のメモリ６５２に、対応するカウンタリセット位置を示す情報を格納してよい。一実施形態では、プロセッサ６４８は、対応するカウンタリセット位置を判断するために、データが読み出されているトラックの長さに関する既知の情報とあわせて、カウンタ６４０のリセットに関する情報を処理する。この、カウンタ６４０の各リセットに対応するカウンタリセット位置を示す情報の格納は、一時的であっても無限であってもよい。しかし一実施形態では、プロセッサ６４８が欠陥マネージャ６３６から欠陥検知信号を受信すると、プロセッサ６４８は、最近のカウンタ６４０のリセットに対応するカウンタリセット位置を示す情報を無限に格納する。本開示および教示を読んだ当業者であれば、このカウンタリセット位置が、第１のカウンタリセット位置８０４であることを理解する。
【００８４】
７１２の後、７１６で、欠陥の第２のエッジ（欠陥１０８の終端等）が光格納媒体１０４で検知されたと判断される。この判断は、例えば、ディスクコントローラ４４０が欠陥マネージャ６３６または自身の含む欠陥検知器（不図示）に提供する設定を利用して、または、７０４に関して上述したサーボコントローラ４１６を利用して、行うことができる。７１６で欠陥１０８の第２のエッジが検知されたと判断されると、フローは７２０に進む。欠陥１０８の第２のエッジが検知されない場合には、フローは、欠陥１０８の第２のエッジが検知されるまで７１６に留まる。
【００８５】
７２０で、欠陥マネージャ６３６は、欠陥１０８の第２のエッジに対して、７０８でディセーブルされたコントローラ４３２ａおよび４３２ｂ一方または両方、および／または、サーボコントローラ４１６を再度イネーブルすることで、応答してよい。
【００８６】
次に７２４で、カウンタ６４０の第２のカウントおよび第２のカウンタリセット位置を決定する。第１のカウンタリセット位置８０４および第２のカウンタリセット位置は、欠陥１０８の位置および欠陥１０８の幅に応じて、同じであっても異なっていてもよい。例としては、第１のカウンタリセット位置８０４がデータ境界に対応する１以上の実施形態では、欠陥１０８による影響を受ける光格納媒体１０４の領域内（つまり、欠陥１０８の第１のエッジと第２のエッジとがそれぞれ検知された位置８１６と８２０との間）に存在している場合がある。この場合には、欠陥検知位置に対応するカウンタ６４０の第１のカウントが決定された後で、カウンタリセットモジュール６４４が第２のデータ境界を検知して、欠陥１０８の第２のエッジが検知されてカウンタ６４０の第２のカウントが決定される前にカウンタ６４０をリセットする。位置８１６と位置８２０との間に位置しているデータ境界またはその他のカウンタリセット位置がない場合には、第１のカウンタリセット位置８０４と第２のカウンタリセット位置とは同じである。一実施形態では、上述したように第２のカウンタリセット位置が第１のカウンタリセット位置８０４と異なっている場合、欠陥境界コントローラ６３２は、第２のカウンタリセット位置も、第２のレジスタ６６０等のメモリ６５２に記録してよい。
【００８７】
カウンタ６４０の第２のカウントは、光格納媒体１０４の、第２のカウンタリセット位置と、欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置との間の、データビット数等のデータ量を示す。カウンタ６４０の第２のカウントも、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に記録することができる。
【００８８】
次に７２８で、第１の調節されたカウントを、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み出す試みで後で利用されるものとして決定する。より具体的には、第１の調節されたカウントは、図８のトラック８００の第２の図面の８２４で示す欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に対応している。位置８２４の下のカウンタ６４０の図に示すように、第１の調節されたカウントは第１のカウントより僅かに小さい。図８に示すように、第１の調節されたカウントは、十進法の３９９，９８５であり、図８の第１のカウントは４００，０００である。従って第１の調節されたカウントを、後続する試みで欠陥マネージャ６３６からの応答を変更するときを決定するために利用することができる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、先ず、欠陥１０８の第１のエッジを検知した位置に対応するカウンタ６４０の第１のカウントに追加するべき第１のカウント調節値を決定することにより、第１の調節されたカウントを決定することができる。第１のカウント調節値と第１のカウントとの合計値が、第１の調節された値である。第１のカウント調節値は、欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置と、欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置との間のチャネルクロックまたはビットの推定数を表す。例えば第１のカウント調節値は１０ビットまたは１００ビットのオーダであってよく、利用される光格納媒体１０４の種類に応じて変化してよい。第１のカウント調節値は、例えば、その性能が、利用される光格納媒体１０４の種類について一定の共有した種類の結果について最適化されるように経験的に決定されてよい。別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８が影響を与えるデータの読み取りの試み中に異なるカウント調節値を試すことができてよい。例えば、欠陥１０８が生じるエラーの数は、状況によっては、誤り訂正符号が処理可能なレベルを超える場合がある。カウント調節値を再読み取りの戦略の一部として調節することにより、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８についてよく機能する第１のカウント調節値を見つける試みにおいて、異なるカウント調節値を試みることができる。これは、デフォルトのカウント調節値が、一部の欠陥には機能するが、欠陥１０８等の他の欠陥にはよく機能しない場合に助けとなるだろう。さらに、第１のカウント調節値は負であっても正であってもよい。一実施形態では、第１のカウント調節値を負として、第１の調節されたカウントをカウンタ６４０の第１のカウントより低くする。
【００８９】
７２８の参照を続けると、第１の調節されたカウントを欠陥境界コントローラ６３２の、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に格納してよい。
【００９０】
次に７３２で、第２の調節されたカウントを、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み取ろうとする、後の試みに利用されるものとして決定する。より具体的には、第２の調節されたカウントは、図８のトラック８００の第２の図面の８２８で示す欠陥１０８の第２のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置の近くの位置に対応している。位置８２８の下のカウンタ６４０の図に示すように、第２の調節されたカウントは第２のカウントより僅かに小さい。図８に示すように、第２の調節されたカウントは、十進法の４４９，９８７であり、図８の第２のカウントは４５０，０００である。従って第２の調節されたカウントを、後続する試みで欠陥マネージャ６３６からの応答を変更するときを決定するために利用することができる。７２８として説明した第１の調節されたカウントの決定同様に、欠陥境界コントローラ６３２は、第２の調節されたカウントを、先ず、欠陥１０８の第２のエッジを検知した位置に対応するカウンタ６４０の第１のカウントに追加するべき第２のカウント調節値を決定することにより、決定することができる。第２のカウント調節値と第２のカウントとの合計値が、第２の調節された値である。第２のカウント調節値は、欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置と、欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置との間のチャネルクロックまたはビットの推定数を表す。７２８として説明した第１のカウント調節値同様に、７２８として説明した方法同様に決定された第２のカウント調節値は１０ビットまたは１００ビットのオーダであってよく、利用される光格納媒体１０４の種類に応じて変化してよい。加えて、第２のカウント調節値を負であっても正であってもよい。一実施形態では、第２のカウント調節値は負であり、第２の調節されたカウントがカウンタ６４０の第２のカウントより小さくなるようになっている。
【００９１】
７３２の参照を続けると、第２の調節されたカウントを欠陥境界コントローラ６３２の、第１のレジスタ６５６等のメモリ６５２に格納してよい。
【００９２】
図９を参照して、ディスクドライブシステム６００の処理を以下に詳述する。図９は、一実施形態におけるディスクドライブシステムの光格納媒体の欠陥の検知の応答を変更する方法９００のフローチャートである。方法９００は、説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム６００を参照して説明する。しかし、方法９００はディスクドライブシステム６００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【００９３】
９０４で、欠陥１０８が検知されたデータ読み取り処理に後続する光格納媒体１０４からのデータ読み取り処理中に、光格納媒体１０４が第１のカウンタリセット位置８０４に達したかを判断する。例を挙げると、図６Ａの参照に戻り、欠陥境界コントローラ６３２のプロセッサ６４８は、カウンタ６４０のカウントを受信して、カウンタ６４０がリセットされたときを判断することができる。図６Ａを参照して詳述するように、第１のカウンタリセット位置８０４を示す情報を、欠陥境界コントローラ６３２のメモリ６５２に格納することができる。格納された第１のカウンタリセット位置を利用して、データが再読み取りされるトラックの長さに関する既知の情報とともにカウンタのカウントを監視することにより、プロセッサ６４８は、第１のカウンタリセット位置８０４に達したかを判断することができる。第１のカウンタリセット位置８０４に達したと判断すると、フローは９０８に進む。第１のカウンタリセット位置８０４に達していない場合には、フローは、第１のカウンタリセット位置８０４に達するまで９０４に留まる。
【００９４】
９０８で、カウンタ６４０のカウントが上述したように第１の調節されたカウントに達したかを判断する。例えばプロセッサ６４８は、カウンタ６４０のカウントを受信して、これによりカウンタ６４０のカウントが第１の調節されたカウントに達したかを判断することができる。上述したように、第１の調節されたカウントは、欠陥境界コントローラのメモリ６５２に格納されてよく、プロセッサ６４８が受信したカウンタ６４０のカウントと、プロセッサ６４８により比較されてよい。本開示および教示を読んだ当業者であれば、カウンタ６４０が第１の調節されたカウントに達したら、ＯＰＵ４０８が、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置することに気づくであろう。カウンタ６４０のカウントが第１の調節されたカウントに達したと判断すると、フローは９１２に進む。カウンタ６４０のカウントが第１のカウントに達していない場合には、フローは、カウンタ６４０のカウントが第１の調節されたカウントに達するまで９０８に留まる。
【００９５】
９１２で、欠陥１０８に対する欠陥管理モジュール４３６の応答を、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第１のエッジの予測位置に位置していること、または、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置していることに基づいて変更する。従って図６の実施形態では、図４および図５を参照して説明したように、欠陥境界コントローラ６３２が、欠陥マネージャ６３６に、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からのデータを読み取ろうとする後で行われる試み中に、自身の欠陥１０８に対する応答を変更させる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、自身の応答の変更の代わりに、またはこれに加えて、読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６の一方または両方の応答を変更させてよい。本開示または教示を読んだ当業者であれば、欠陥境界コントローラ６３２がこのようにして、カウンタ６４０の第１のカウントに基づいて、および、カウンタ６４０自身に基づいて（つまり、欠陥１０８が影響を与えるデータを読み取ろうとする後続する試み中に生成されたカウンタ６４０のカウントに基づいて）、欠陥マネージャ６３６および／または読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６の応答を変更させるときを判断することを理解するであろう。
【００９６】
９１２を引き続き参照して説明を続けると、ディスクドライブシステム６００は、ここに含まれている欠陥マネージャ６３６および／または欠陥検知器（不図示）、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６に、様々な方法のいずれかにより（図４および図５に関して説明したような方法を含む）欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からデータを読み出そうとする後続する試み中に、欠陥１０８に対する応答を変更させる。
【００９７】
９１２の参照を続けると、一実施形態では、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の欠陥検知信号を生成させることができる。より具体的には、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、欠陥検知信号を生成させることができる。欠陥マネージャ６３６は、サーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、およびタイミングコントローラ４３２ｂの一以上を、それらに対する不正確なデータの導入を最小限に抑えるべく動作させるために利用される、図４および図５を参照して記載したようなディスクコントローラ４４０が提供する欠陥検知信号を適切に生成することができる。このようにして、欠陥マネージャ６３６の感度を増加させる必要なく、誤った欠陥を検知してしまう危険性を低減させることができる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、さらに、欠陥マネージャ６３６に、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａおよびタイミングコントローラ４３２ｂのものとは異なるサーボコントローラ４１６の処理を変更させるために、欠陥境界コントローラ６３２が利用しうるカウンタ６４０の異なる調節されたカウントを決定するための異なるカウント調節値を決定することもできる。
【００９８】
さらに９１２の参照を続けると、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６の欠陥検知感度を変更することができる。より具体的には、欠陥マネージャ６３６が欠陥検知器（不図示）を含む一実施形態では、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２が欠陥検知器の欠陥検知感度を変更することができる。欠陥１０８の実際の位置の正確な予測がより難しいような、光格納媒体１０４を利用する一定の用途では（例えば、欠陥１０８の第１のエッジが比較的些細であり定義が難しいような場合）、カウンタ６４０が調節されたカウントに達したら、欠陥マネージャ６３６に欠陥検知信号を生成させる代わりに、欠陥マネージャ６３６の欠陥検知感度を変更することが望ましい場合もある。このようにすることで、方法９００は、欠陥１０８のより柔軟な検知を行うことができる。
【００９９】
さらに９１２に関して、また別の実施形態では、上述したように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネルコントローラ４３２の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を、欠陥１０８の深刻度が比較的最小限であり、欠陥１０８の影響を受けるデータが、ディスクドライブシステム６００のコントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の設定を調節または維持することにより再読み取り可能である、という判断に基づいて、変更することができる。この決定は、ＡＤＣ６０８からのデジタル信号、および／または、データ検知器６１２からの検知されたデータに基づいて行うことができる。１以上のコントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の設定は、例えば方法５００に関して上述した方法で調節することができる。本実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、前の例同様に、カウンタリセットモジュール６４４が第１のカウンタリセット位置のカウンタ６４０のリセットを行った後で、カウンタ６４０が調節されたカウントに達するときを判断することにより、ＯＰＵ４０８が、欠陥１０８の第１のエッジの予測位置の近くの位置に位置していると判断することができる。欠陥境界コントローラ６３２の制御下に、欠陥マネージャ６３６は、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの一以上の設定を調節することができる。一実施形態では、欠陥マネージャ６３６内の欠陥検知器（不図示）は、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂの１以上の設定を調節するのに適した信号を生成することができる。
【０１００】
９１６で、カウンタ６４０のカウントが上述したように第２の調節されたカウントに達したかを判断する。例えばプロセッサ６４８は、カウンタ６４０のカウントを受信して、これによりカウンタ６４０のカウントが第２の調節されたカウントに達したかを判断することができる。上述したように、第２の調節されたカウントは、欠陥境界コントローラ６３２のメモリ６５２に格納されてよく、プロセッサ６４８が受信したカウンタ６４０のカウントと、プロセッサ６４８により比較されてよい。本開示および教示を読んだ当業者であれば、カウンタ６４０が第２の調節されたカウントに達したら、ＯＰＵ４０８が、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置に、または、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置の近くの位置に位置することに気づくであろう。
【０１０１】
さらに９１６を、既に参照した７２４と合わせて参照すると、カウンタ６４０はブロック９０４を参照して説明した第１のカウンタリセット位置８０４とは異なる第２のカウンタリセット位置でリセットされてよい。本実施形態では、カウンタ６４０は、異なる第２のカウンタリセット位置からカウントを始めることで、第２の調節されたカウントに達する。
【０１０２】
９１６でカウンタ６４０のカウントが第２の調節されたカウントに達したと判断すると、フローは９２０に進む。カウンタ６４０のカウントが第２のカウントに達していない場合には、フローは、カウンタ６４０のカウントが第２の調節されたカウントに達するまで９１６に留まる。
【０１０３】
９２０で、欠陥１０８に対する欠陥管理モジュール４３６の応答を、ＯＰＵ４０８が欠陥１０８の第２のエッジの予測位置に位置していること、または、欠陥１０８の第２のエッジの予測位置の近くの位置に位置していることに基づいて変更する。
【０１０４】
より具体的には、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６に、欠陥１０８が影響を与える光格納媒体１０４の領域からのデータを読み取ろうとする後続する試み中に欠陥１０８に対する自身の応答を変更させてよい。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、ディスクドライブシステム６００を、欠陥１０８がなかったときのその通常処理モードに戻すべく、欠陥マネージャ６３６に、自身の応答の変更に代えて、またはこれに加えて、ディセーブルされたコントローラを再度イネーブルすることに適した信号を生成することにより、または、前に増加した欠陥検知感度を低減させることにより、読み取りチャネルコントローラ４３２および／またはサーボコントローラ４１６の一方または両方の応答を変更させる。
【０１０５】
９１２および９２０の両方を参照すると、ディスクドライブシステム６００はさらに、データの再読み取りを迅速に試みることに加えて、欠陥１０８が影響を与えるデータを読み取ろうとする後続する試みを向上させるために利用されてよい。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、第１のカウンタリセット位置８０４、第１の調節されたカウント、第２のカウンタリセット位置、および第２の調節されたカウントを、適切な期間または無期限に格納して、欠陥１０８が影響を与えるデータを読み取ろうという後の試み中に上述したように欠陥マネージャ６３６および／または読み取りチャネル６２０および／またはサーボコントローラ４１６の応答を変更することができる。一実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、第１のカウンタリセット位置８０４、第１の調節されたカウント、第２のカウンタリセット位置、および第２の調節されたカウントを、データの再読み取りの試みが既に所定回数行われ、オーディオおよび／またはビデオ再生連続性要件によって現在の再生セッション中にさらなる試みが禁止されているような場合、データを読み取ろうとする後の試みで利用する目的に、格納することができる。
【０１０６】
９１２および９２０の参照を続けると、また別の代替的な実施形態では、図１０の代替的なディスクドライブシステム１０００のブロック図に示すように、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥マネージャ６３６の応答を変更する代わりに、欠陥１０８に対する自身の応答を変更することができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２自身は、ディスクコントローラ４４０がサーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、および、タイミングコントローラ４３２ｂの各々を動作させて、光格納媒体１０４上の欠陥の検知を管理する方法５００に関して開示される機能の任意の１以上を実装するべく、ディスクコントローラ４４０が提供する適切な設定を選択することができる。
【０１０７】
さらに上述したように、欠陥１０８が光格納媒体１０４上で、第１のトラック上の欠陥１０８の検知された位置から放射状に伝播すると仮定することによって、欠陥境界コントローラ６３２等により、第２のトラック上の欠陥１０８の第２の位置を予測することができる。しかし別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、別のトラック上の欠陥１０８の別の位置を正確に予測するために、複数のトラック上の欠陥１０８の検知された位置に関する情報を利用することができる。例えば、検知境界コントローラ６３２は、第１のトラック上の欠陥１０８の検知された位置、および、第２のトラック上の欠陥１０８の第２の検知された位置に関する情報を利用することで、光格納媒体１０４の第３のトラック上の欠陥１０８の第３の位置を予測することができる。
【０１０８】
図１１は、光格納媒体１０４の第３のトラック上の欠陥１０８の第３の位置を予測するために利用することができる方法１１００のフローチャートである。方法１１００は、説明をし易くする目的から、ディスクドライブシステム６００を参照して説明する。しかし、方法１１００はディスクドライブシステム６００以外のシステムにより実装することもできることを理解されたい。
【０１０９】
１１０４で、第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック長の差異を決定する。例えば、円形の光格納媒体１０４の場合には、２つの連続するトラックの間のトラック長の差異は、２・π・Ｔｐ（式１）として表現することができる。ここでＴｐはトラックピッチを表す。
【０１１０】
図１２は、上述した第１のトラックであってよい第１のトラック１２０４、および、第２のトラック１２０８を含む複数のトラックを有する光格納媒体１０４を示す。放射線１２１２の長さはトラックピッチである。例えば、ＤＶＤ媒体上で、トラックピッチＴｐは０．７４μｍであり、２つの連続するトラック間のトラック長の差異は、２・π・０．７４μｍ＝４．６５μｍとなる。
【０１１１】
１１０４の参照を続けると、第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック数に応じた、２つの連続するトラック間のトラック長の差異の適切な倍数を利用して、第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック長の差異を決定することができる。倍数は、第１のトラック、第２のトラック、および第３のトラックが光格納媒体１０４上に連続して配置されている場合に２となる。
【０１１２】
次に、１１０８で、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置を計算する。第３のカウンタリセット位置は、第１のカウンタリセット位置８０４と同様に光格納媒体１０４の上の同じ角度位置ではなくてよい。つまり、光格納媒体１０４の上のトラックは、図１２に示すような螺旋形状に配置されていてよい。従って、光格納媒体１０４上のカウンタリセット位置の各々が光格納媒体１０４上の認識可能なデータ境界の位置である一実施形態では、上述したように、光格納媒体１０４の外部エッジに行くにつれて、この螺旋配置および各螺旋の長さが大きくなることにより、異なるトラック上のカウンタリセット位置が異なる角度位置を有してよい。
【０１１３】
例えば図１３は、図８のトラック８００および第２のトラック１３００を示す。トラック８００および第２のトラック１３００は、例えば、上述した第１のトラックおよび第２のトラックであってよい。第２のトラック１３００は、カウンタリセット位置１３０４、１３０８、および１３１２、および、欠陥１０８の第１のエッジおよび第２のエッジが第２のトラック１３００上で検知された位置１３１６および１３２０を含んでよい。図１３から分かるように、トラック８００上の位置８１６および８２０および第２のトラック上の位置１３１６および１３２０は、半径方向に配置されていてよいが、トラック８００上のカウンタリセット位置８０４、８０８、および８１２および第２のトラック１３００上のカウンタリセット位置１３０４、１３０８、および１３１２は、半径方向に配置されていなくてよい。
【０１１４】
１１０８の参照を続けると、欠陥境界コントローラ６３２は、１１０４が示すような第１のトラックおよび第３のトラックの間のトラック長の差異を利用して、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置を計算することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、第３のトラックの第３のカウンタリセット位置を、（ｉ）第１のトラック上の上述した第１のカウンタリセット位置８０４、（ｉｉ）その境界を、カウンタ６４０をリセットするためのカウンタリセットモジュール６４４が検知する、ＥＣＣブロック等のデータブロックの既知の長さ、および（ｉｉｉ）第１のトラックおよび第３のトラックの間のトラック長の差異に基づいて計算することができる。または、第１のカウンタリセット位置が光格納媒体１０４の第１のトラック上の所定の角度位置である実施形態では、検知境界コントローラ６３２は、第１のトラック上のカウンタリセット位置に基づいて第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置をより単純に計算することができる。
【０１１５】
次に１１１２で、欠陥１０８を第１のトラック上に検知する。例として、欠陥１０８を検知してよく、第１のカウンタリセット位置８０４および第１のカウントを、方法７００に示すように決定および格納することができる。同様に、第２のカウンタリセット位置および第２のカウントを、方法７００に示すように決定および格納することができる。
【０１１６】
次に１１１６で、欠陥１０８を第２のトラック上で検知する。本開示および教示を読んだ当業者であれば、第２のトラック上の欠陥１０８の第１および第２のエッジ、および、第２のトラック上の対応するカウンタリセット位置を、方法７００に関して説明した方法同様に決定することができる。
【０１１７】
次に１１２０で、第１のトラック補償値を計算する。第１のトラック補償値は、負であっても正であってもよく、（ｉ）第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置および第３のトラック上の欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置と、（ｉｉ）第１のトラック上の第１のカウンタリセット位置８０４および第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置との間の、推定ビット数の差異を表している。第１のトラック補償値を計算する様々な技術を以下で詳述する。
【０１１８】
次に１１２４で、第２のトラック補償値を計算する。第２のトラック補償値は、負であっても正であってもよく、（ｉ）第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置および第３のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置と、（ｉｉ）第１のカウンタリセット位置および第１のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置との間の、推定ビット数の差異を表している。
【０１１９】
１１２０および１１２４を参照して、第１および第２のトラック補償値を計算する様々な技術を以下で説明する。一実施形態では、読み取りチャネル４２０は、第２のトラックからデータを読み取ることができる。欠陥マネージャ６３６は、第１のトラックに関して行った検知と同じ方法で、第２のトラック上の検知１０８の第１のエッジを検知することができる。検知マネージャ６３６は、検知マネージャ６３６が第１のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジの位置を検知した際と同じ方法で、第２のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジを同様に検知することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置に対応するカウンタ６４０のカウントを記録することができる。加えて、欠陥境界コントローラ６３２は、第２のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置に対応するカウンタ６４０のカウントを記録することができ、対応するカウンタリセット位置を記録することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、トラック補償値、および適宜、第２のトラック補償値を、（ｉ）第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置、第１のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置、第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置、第２のトラック上で欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置のうちの１以上、および（ｉｉ）第１のトラックと第３のトラックとの間のトラック数を含むがこれらに限定はされない変数の関数として、計算してよい。
【０１２０】
１１２０および１１２４を引き続き参照すると、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８が、放射状、非放射状に、あるいは、直線状または曲線状に伝播するという仮定に基づいて、第１および第２のトラック補償値を計算することができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、光格納媒体１０４の他のトラックに関する予測を行うときに懸案となる欠陥１０８の種類が、通常は、トラックピッチよりも相対的に長いことから、非放射状に、しかも線形に伝播すると仮定することができる。従って、例えば欠陥境界コントローラ６３２が、欠陥１０８が、第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置および第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置により定義される方向に線形に伝播すると仮定することができる。欠陥境界コントローラ６３２は、例えば第１のトラックおよび第３のトラックの間のトラック数を、第１のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置および第２のトラック上で欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置の間の距離の乗数として利用することで、トラック補償値および／または第２のトラック補償値の計算に利用される関数を構築することができる。別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、例えば、上述した変数を利用することで多項式関数を構築して、トラック補償値および／または第２のトラック補償値を計算することができる。
【０１２１】
別の実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、格納されている履歴データおよびさらなるデータ（例えば光格納媒体１０４の、第１のトラック、第２のトラック、および第３のトラックに対して連続して配置されている必要はない第４のトラック上の欠陥１０８の検知された位置）の一方または両方を利用することで、トラック補償値および／または第２のトラック補償値を決定するために利用することのできる関数を構築することができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、これらデータを利用して、別の線形関数を構築することができ、あるいは、これらデータを利用して、多項式関数等のより複雑ではあるがより正確な関数を構築して、トラック補償値を決定することができる。さらに、本開示および教示を読んだ当業者には、所望のレベルの精度および複雑性を有する任意の特定のトラックのトラック補償値を計算するのに適した関数を構築するために適切なデータを利用することができることが理解されよう。加えて、ここに特に記載する実施形態は、第３のトラック上の欠陥１０８の位置を予測することに関してトラック補償値を計算することに関しているが、本開示および教示を読んだ当業者であれば、トラック補償値をここに記載したように計算して、第２のトラック等の光格納媒体１０４の他のトラック上の欠陥１０８の位置を予測することに関して利用することもできることを理解する。
【０１２２】
次に１１２８で、第１のトラック調節されたカウントを決定する。第１のトラック調節されたカウントは、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置と、第３のトラック上の欠陥１０８の第１のエッジの実際の位置との間の推定ビット数を表している。従って、第１のトラックで欠陥１０８の第１のエッジが検知された位置が、上述したカウンタ６４０の第１のカウントに対応しているので、１１２０に関して開示した第１のトラック補償値を、カウンタ６４０の第１のカウントに追加して、第１のトラック調節されたカウントを決定することができる。
【０１２３】
次に１１３２で、第２のトラック調節されたカウントを決定する。第２のトラック調節されたカウントは、第３のトラック上の第３のカウンタリセット位置と、第３のトラック上の欠陥１０８の第２のエッジの実際の位置との間の推定ビット数を表している。従って、第１のトラックで欠陥１０８の第２のエッジが検知された位置が、上述したカウンタ６４０の第２のカウントに対応しているので、１１２４に関して開示した第２のトラック補償値を、カウンタ６４０の第２のカウントに追加して、第２のトラック調節されたカウントを決定することができる。
【０１２４】
第１および第２のトラック調節されたカウントが１１３０および１１３２で計算されると、欠陥境界コントローラ６３２は、欠陥１０８が影響を与える第３のトラックの領域からデータを読み取ろうとする試み中に、欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答を、第１および第２のトラック調節されたカウントが示す第３のトラック上の欠陥１０８の予測された第３の位置で、またはその付近で変化させる。欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答は、例えば方法５００に関して記載したものと同様の方法で変化させることができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、カウンタ６４０が第３のカウンタリセット位置にあるカウンタリセットモジュール６４４によりリセットされた後で、カウンタ６４０が第１のトラック調節されたカウントに達したとき、欠陥マネージャ６３６に第３のトラック上に欠陥決定信号を生成させる。本開示および教示を読んだ当業者であれば、カウンタ６４０が第１のトラック調節されたカウントに達したときに、ＯＰＵ４０８が第３のトラック上の欠陥１０８の予測された第３の位置に位置することを理解するであろう。
【０１２５】
様々な他の実施形態では、カウンタ６４０がこのようにして第１のトラック調節されたカウントに達すると、欠陥境界コントローラ６３２は、代わりに、任意の他の適切な方法で、欠陥マネージャ６３６の欠陥検知感度を変更して、欠陥マネージャ６３６に、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａが適用する利得および／またはｄｃオフセットを増加させたり、欠陥１０８に対する欠陥マネージャ６３６の応答を変更したりすることができる。各実施形態では、欠陥境界コントローラ６３２は、上述したように、ディスクコントローラ４４０に、上述した機能の任意の１以上を実装するためにコントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂを動作させることで、コントローラ４１６、４３２ａ、および４３２ｂに提供される適切な設定間の選択を、欠陥マネージャ６３６に行わせることにより、上述した方法で欠陥マネージャ６３６の応答を変化させることができる。
【０１２６】
さらに、図１０に関して記載したように、欠陥境界コントローラ６３２は、例えば欠陥マネージャ６３６の応答を変化させる代わりに、欠陥１０８に対する自身の応答を変化させることができる。例えば、欠陥境界コントローラ６３２は、サーボコントローラ４１６、オフセットおよび利得コントローラ４３２ａ、およびタイミングコントローラ４３２ｂの各々を動作させるのに利用するためにディスクコントローラ４４０に提供される適切な設定を選択することができる。
【０１２７】
ここで記載する方法５００、７００、９００、および１１００各々に関して、幾多ものさらなる変形例が本開示および教示を読んだ当業者には明らかである。特に、上述した方法の任意の１以上のステップを任意の特定の方法で実装することができ、１以上のステップを上述した方法の任意の１以上から省くこともできる。あくまで一例であるが、方法５００、７００、９００、および１１００は、欠陥１０８の第２のエッジを検知すること、第２の調節されたカウントを決定するステップ、第２のトラック調節されたカウントを決定するステップの１以上を含まなくてよい。例えばこれら実施形態では、欠陥マネージャ６３６の応答、および／または、読み取りチャネル４２０の応答、および／または、サーボコントローラ４１６の応答は、所定の期間が経った後で、欠陥１０８がない状態に戻ってよい。
【０１２８】
上述した様々なブロック、処理、および技術は、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア、またはハードウェア、ファームウェア、および／またはソフトウェアの任意の組み合わせで実装できる。ソフトウェアで実装されるときには、ソフトウェアは、コンピュータ、プロセッサ、ハードディスクドライブ、光ディスクドライブ、テープドライブ等のＲＡＭまたはＲＯＭまたはフラッシュメモリの磁気ディスク、光ディスク、その他の格納媒体に格納することができる。同様に、ソフトウェアは、例えばコンピュータ可読ディスクまたはその他の搬送可能コンピュータ格納メカニズムで、または通信媒体を介して、を含む任意のまたは所望の配信方法によりユーザまたはシステムに配信されてよい。通信媒体は通常、コンピュータ可読命令、データ構造、プログラムモジュールその他のデータを、変調されたデータ信号（例えば搬送波またはその他の搬送メカニズム）で具現化する。例示であり限定ではないが、通信媒体は、有線ネットワークまたは直接有線接続等の優先媒体、および、音響、無線周波数、赤外線その他の無線媒体等の無線媒体を含む。従って、ソフトウェアは、電話回線、ＤＳＬライン、ケーブルテレビライン、無線通信チャネル、インターネット等を介してユーザまたはシステムに配信されてよい（これらは、搬送可能格納媒体を介してソフトウェアを提供することと置き換え可能に捕らえることができる）。ハードウェアに実装するときには、ハードウェアは１以上の離散コンポーネント、集積回路、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）等を含むことができる。
【０１２９】
本発明を特定の例を参照して記載してきたが、これらはあくまで例示を目的としたものであり、本発明を限定する意図はなく、当業者であれば、本発明の精神および範囲から逸脱せずに開示された実施形態で明示したものに変更、追加を加えたり、あるいはそれから削除することもできる。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクドライブの格納媒体の上の欠陥を検知する段階と、
前記格納媒体の上に格納されているデータの最小アドレス可能単位内で、前記欠陥の位置を判断する段階と、
メモリに前記位置を示す情報を格納する段階と、
前記格納媒体の上に格納されている前記データに対する前記ディスクドライブのセンサの位置を監視する段階と、
前記ディスクドライブの欠陥検知器、前記ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、前記ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記格納媒体の上に格納されている前記データに対する前記センサの前記位置と、格納されている前記欠陥の前記位置の情報とに基づき変更する段階と
を備える方法。
【請求項２】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記方法はさらに、
格納されている前記欠陥の前記位置の情報に基づき前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置を予測する段階を備え、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および前記サーボコントローラのうちの前記少なくとも１つの前記応答を変更する段階は、
前記センサが前記第２のトラックの上の前記第２の位置にあるときに前記応答を変更する段階を有する請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記方法はさらに、
前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置を判断する段階と、
前記第２の位置および格納されている前記欠陥の前記位置の情報に基づき、前記格納媒体の第３のトラックの上の前記欠陥の第３の位置を予測する段階と
を備える請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記読み取りチャネルコントローラの前記欠陥に対する前記応答を変更する段階は、
読み取り信号に適用される利得を増加させる段階を有する請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記利得を増加させる段階は、
前記格納媒体の、前記欠陥の前記位置に格納されているデータの振幅が閾値を超えると判断することに呼応して、前記利得を増加させる段階を含む請求項４に記載の方法。
【請求項６】
ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられたカウントをそれぞれ生成するカウンタと、
前記格納媒体の上の欠陥を検知する欠陥検知器と、
欠陥境界コントローラと
を備え、
前記欠陥境界コントローラは、
欠陥の位置に対応する前記カウンタのカウントを判断して、
前記欠陥検知器、前記ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および、前記ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記カウントと前記カウンタとに基づき変更する、装置。
【請求項７】
前記カウンタを１以上のカウンタリセット位置でリセットするカウンタリセットモジュールをさらに備え、
前記欠陥境界コントローラは、
前記欠陥に対応する特定のカウンタリセット位置を判断して、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および、前記サーボコントローラのうち少なくとも１つの前記応答を、さらに前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置に基づき変更する請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記カウントは、前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置と前記欠陥の位置との間の前記格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記欠陥境界コントローラは、前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが、前記欠陥の前記位置に対応する調節されたカウントに達したときに、前記読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる請求項７に記載の装置。
【請求項１０】
前記欠陥境界コントローラは、前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが、前記欠陥の近くを示しているときに、前記欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する請求項７に記載の装置。
【請求項１１】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記欠陥境界コントローラは、
前記欠陥の前記位置に基づき補償値を計算して、
前記欠陥の前記位置に対応する前記カウントに前記補償値を追加して、前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置を予測する請求項７に記載の装置。
【請求項１２】
カウンタを動作させる段階であって、前記カウンタのカウントはそれぞれ、ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられている段階と、
欠陥検知器を利用して前記格納媒体の上の欠陥を検知する段階と、
前記欠陥の位置に対応する前記カウンタのカウントを判断する段階と、
前記欠陥検知器、前記ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および前記ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記カウントと前記カウンタとに基づき変更する段階と
を備える方法。
【請求項１３】
１以上のカウンタリセット位置で前記カウンタをリセットする段階と、
前記欠陥に対応するカウンタリセット位置を判断する段階と
をさらに備え、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および前記サーボコントローラのうちの前記少なくとも１つの前記応答を変更する段階は、前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置にさらに基づいて行われる請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記カウントは、前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置と前記欠陥の位置との間の前記格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置は、前記格納媒体の上の誤り訂正符号化ブロックの境界である請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置は、前記格納媒体の上のデータセクタの境界である請求項１３に記載の方法。
【請求項１７】
前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置は、前記格納媒体の上の所定の角度位置である請求項１３に記載の方法。
【請求項１８】
前記欠陥検知器の前記応答を変更する段階は、
前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが前記欠陥の近くを示すときに、前記欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する段階を有する請求項１３に記載の方法。
【請求項１９】
前記読み取りチャネルコントローラの前記応答を変更する段階は、
前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが前記欠陥の前記位置に対応する調節されたカウントに達したときに、前記読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる段階を有する請求項１３に記載の方法。
【請求項２０】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記方法はさらに、
前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置に対応する前記カウンタのカウントを判断する段階と、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および、前記サーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記第２のトラックの上の前記欠陥の前記第２の位置に対応する前記カウントに基づき変更する段階と
を備える請求項１２に記載の方法。
【請求項１】
ディスクドライブの格納媒体の上の欠陥を検知する段階と、
前記格納媒体の上に格納されているデータの最小アドレス可能単位内で、前記欠陥の位置を判断する段階と、
メモリに前記位置を示す情報を格納する段階と、
前記格納媒体の上に格納されている前記データに対する前記ディスクドライブのセンサの位置を監視する段階と、
前記ディスクドライブの欠陥検知器、前記ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、前記ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記格納媒体の上に格納されている前記データに対する前記センサの前記位置と、格納されている前記欠陥の前記位置の情報とに基づき変更する段階と
を備える方法。
【請求項２】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記方法はさらに、
格納されている前記欠陥の前記位置の情報に基づき前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置を予測する段階を備え、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および前記サーボコントローラのうちの前記少なくとも１つの前記応答を変更する段階は、
前記センサが前記第２のトラックの上の前記第２の位置にあるときに前記応答を変更する段階を有する請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記方法はさらに、
前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置を判断する段階と、
前記第２の位置および格納されている前記欠陥の前記位置の情報に基づき、前記格納媒体の第３のトラックの上の前記欠陥の第３の位置を予測する段階と
を備える請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記読み取りチャネルコントローラの前記欠陥に対する前記応答を変更する段階は、
読み取り信号に適用される利得を増加させる段階を有する請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記利得を増加させる段階は、
前記格納媒体の、前記欠陥の前記位置に格納されているデータの振幅が閾値を超えると判断することに呼応して、前記利得を増加させる段階を含む請求項４に記載の方法。
【請求項６】
ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられたカウントをそれぞれ生成するカウンタと、
前記格納媒体の上の欠陥を検知する欠陥検知器と、
欠陥境界コントローラと
を備え、
前記欠陥境界コントローラは、
欠陥の位置に対応する前記カウンタのカウントを判断して、
前記欠陥検知器、前記ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および、前記ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記カウントと前記カウンタとに基づき変更する、装置。
【請求項７】
前記カウンタを１以上のカウンタリセット位置でリセットするカウンタリセットモジュールをさらに備え、
前記欠陥境界コントローラは、
前記欠陥に対応する特定のカウンタリセット位置を判断して、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および、前記サーボコントローラのうち少なくとも１つの前記応答を、さらに前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置に基づき変更する請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記カウントは、前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置と前記欠陥の位置との間の前記格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記欠陥境界コントローラは、前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが、前記欠陥の前記位置に対応する調節されたカウントに達したときに、前記読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる請求項７に記載の装置。
【請求項１０】
前記欠陥境界コントローラは、前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが、前記欠陥の近くを示しているときに、前記欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する請求項７に記載の装置。
【請求項１１】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記欠陥境界コントローラは、
前記欠陥の前記位置に基づき補償値を計算して、
前記欠陥の前記位置に対応する前記カウントに前記補償値を追加して、前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置を予測する請求項７に記載の装置。
【請求項１２】
カウンタを動作させる段階であって、前記カウンタのカウントはそれぞれ、ディスクドライブの格納媒体の上のそれぞれ異なる位置に関連付けられている段階と、
欠陥検知器を利用して前記格納媒体の上の欠陥を検知する段階と、
前記欠陥の位置に対応する前記カウンタのカウントを判断する段階と、
前記欠陥検知器、前記ディスクドライブの読み取りチャネルコントローラ、および前記ディスクドライブのサーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記カウントと前記カウンタとに基づき変更する段階と
を備える方法。
【請求項１３】
１以上のカウンタリセット位置で前記カウンタをリセットする段階と、
前記欠陥に対応するカウンタリセット位置を判断する段階と
をさらに備え、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および前記サーボコントローラのうちの前記少なくとも１つの前記応答を変更する段階は、前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置にさらに基づいて行われる請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記カウントは、前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置と前記欠陥の位置との間の前記格納媒体のチャネルクロックの周期の数を示す請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置は、前記格納媒体の上の誤り訂正符号化ブロックの境界である請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置は、前記格納媒体の上のデータセクタの境界である請求項１３に記載の方法。
【請求項１７】
前記欠陥に対応する前記カウンタリセット位置は、前記格納媒体の上の所定の角度位置である請求項１３に記載の方法。
【請求項１８】
前記欠陥検知器の前記応答を変更する段階は、
前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが前記欠陥の近くを示すときに、前記欠陥検知器の欠陥検知感度を変更する段階を有する請求項１３に記載の方法。
【請求項１９】
前記読み取りチャネルコントローラの前記応答を変更する段階は、
前記カウンタが前記カウンタリセット位置でリセットされた後で、前記カウンタが前記欠陥の前記位置に対応する調節されたカウントに達したときに、前記読み取りチャネルコントローラを欠陥モードに入らせる段階を有する請求項１３に記載の方法。
【請求項２０】
前記欠陥の前記位置は、前記格納媒体の第１のトラックの上であり、
前記方法はさらに、
前記格納媒体の第２のトラックの上の前記欠陥の第２の位置に対応する前記カウンタのカウントを判断する段階と、
前記欠陥検知器、前記読み取りチャネルコントローラ、および、前記サーボコントローラのうちの少なくとも１つの応答を、前記第２のトラックの上の前記欠陥の前記第２の位置に対応する前記カウントに基づき変更する段階と
を備える請求項１２に記載の方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図６Ａ】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図６Ａ】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公表番号】特表２０１２−５１５４０９（Ｐ２０１２−５１５４０９Ａ）
【公表日】平成２４年７月５日（２０１２．７．５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−５４５４６４（Ｐ２０１１−５４５４６４）
【出願日】平成２２年１月８日（２０１０．１．８）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２０１０／０２０５１８
【国際公開番号】ＷＯ２０１０／０８３１０９
【国際公開日】平成２２年７月２２日（２０１０．７．２２）
【出願人】（５０２１８８６４２）マーベル ワールド トレード リミテッド (302)
【Ｆターム（参考）】
【公表日】平成２４年７月５日（２０１２．７．５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１月８日（２０１０．１．８）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２０１０／０２０５１８
【国際公開番号】ＷＯ２０１０／０８３１０９
【国際公開日】平成２２年７月２２日（２０１０．７．２２）
【出願人】（５０２１８８６４２）マーベル ワールド トレード リミテッド (302)
【Ｆターム（参考）】
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