説明

金属酸化物上の均一にサイズ制御された金ナノクラスター及びその製造方法並びにそれを用いた触媒

【課題】平均クラスターサイズが2nm以下の金クラスターの調製法を確立するとともに、高い選択性が要求される酸化反応や水素化反応等の触媒として利用可能な金ナノクラスターを提供する。
【解決手段】アークプラズマ蒸着法を用いることにより、チタニア、アルミナ、シリカ、ジルコニア、又はセリアからなる金属酸化物或いはこれらの複合酸化物表面上に担持された、平均クラスターサイズが2nm以下の金ナノクラスターを得ることができ、得られた金ナノクラスターと金属酸化物の複合体は、酸化反応や水素化反応等の触媒として用いることができる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、金属酸化物上の、ナノサイズに制御された金ナノクラスター及びその製造方法並びにそれを用いた触媒に関する。
【背景技術】
【0002】
バルクの金は化学的な反応性が乏しいため、これまで、金は触媒反応に対しては不活性であると考えられてきた。ところが、チタニア担体上に担持した金のクラスターサイズが5nm以下になると、COの酸化反応やプロピレンの選択酸化反応に対して高い触媒活性が発現することが見いだされた(特許文献1〜5、非特許文献1,2)。
最近では、チタニアやアルミナ担体上に2nm程度の金クラスターを担持するとプロピレンのエポキシ化によるプロピレンオキサイドの生成に対して非常に高い活性が発現することが報告されており(非特許文献3)、現在2nm以下の金クラスターの特異な触媒活性の発現に注目が集まってきている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開平5−57192号公報
【特許文献2】特開平8−127550号公報
【特許文献3】特開平9−122478号公報
【特許文献4】特開2000−309582号公報
【特許文献5】特開2008−259993号公報
【非特許文献】
【0004】

【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、平均クラスターサイズが2nm以下であり、かつ均一にサイズ制御された金ナノクラスターを金属酸化物担体上に担持する方法は、まだ確立されていない。そのため、平均クラスターサイズが2nm以下の金クラスターの調製法を確立するとともに、その金属クラスターを高い選択性が要求される酸化反応や水素化反応等の触媒として利用することが望まれている。
【0006】
本発明は、こうした事情を鑑みてなされたものであって、平均クラスターサイズが2nm以下であり、かつ均一にサイズ制御された金ナノクラスターを、金属酸化物表面上に製造できる技術を提供することを目的とするものである。また、本発明は、平均クラスターサイズが2nm以下に制御された金ナノクラスターを用いて、従来反応しなかった気体分子の解離反応を効率よく進行させる触媒活性種及びその技術を提供することをもう1つの目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明者らは、従来の金ナノ粒子製造技術に代わる新しい技術を開拓するために、鋭意研究を重ねた結果、アークプラズマ蒸着法(同軸型真空アーク蒸着法)により金を蒸発させる手法を用いることにより、種々の金属酸化物上に、サイズ制御された、平均クラスターサイズ2nm以下の金ナノクラスターを製造できることを見いだした。
【0008】
本発明はこれらの知見に基づいて完成に至ったものであり、本発明によれば、以下の発明が提供される。
[1]金属酸化物上に担持された金クラスターであって、その平均クラスターサイズが2nm以下であることを特徴とする金ナノクラスター。
[2]前記金属酸化物が、チタニア、アルミナ、シリカ、ジルコニア、又はセリアからなる金属酸化物或いはこれらの複合酸化物であることを特徴とする上記[1]の金ナノクラスター。
[3]アークプラズマ蒸着法を用いて金属酸化物上に担持させることを特徴とする、上記[1]又は[2]の金ナノクラスターの製造方法。
[4]上記[1]又は[2]に記載の金ナノクラスターからなることを特徴とする触媒。
[5]水素解離反応用触媒であることを特徴とする上記[4]の触媒。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、アークプラズマ蒸着法を用いることにより、種々の金属酸化物上に担持された、平均クラスターサイズが2nm以下の金ナノクラスターを製造することができ、また、これらを触媒として用いることにより、効率よく水素解離反応を進行させることができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1−1】実施例1で得られた、金ナノクラスターの電子顕微鏡像
【図1−2】実施例2で得られた、金ナノクラスターの電子顕微鏡像
【図1−3】実施例1、2で得られた、金ナノクラスターの粒径分布を示す図
【図2】アーク電圧に対して金の平均クラスターサイズをプロットした図
【図3】コンデンサー容量に対して金の平均クラスターサイズをプロットした図
【図4】プラズマ発生回数に対して金の平均クラスターサイズをプロットした図
【図5−1】析出沈殿法(比較例1)により得られた金クラスターの透過型電子顕微鏡像
【図5−2】電子線蒸着法(比較例2)により得られた金クラスターの原子間力顕微鏡像
【図6】金の平均クラスターサイズに対してHD生成速度をプロットした図
【図7】コンデンサー容量に対してAu 4f7/2結合エネルギーをプロットした図
【発明を実施するための形態】
【0011】
本発明の金ナノクラスターは、種々の金属酸化物上に、その平均クラスターサイズが2nm以下の均一な半球状で存在することを特徴とするものであり、これらの金ナノクラスターは、加熱、加圧下においてもその形態を変えることなく安定に金属酸化物上に存在する。
そして、本発明においては、アークプラズマ蒸着法(同軸型真空アーク蒸着法)を用いることにより、金属酸化物上に、平均クラスターサイズが2nm以下の金ナノクラスターをはじめて担持することが可能となったものである。
【0012】
本発明で用いるアークプラズマ蒸着法とは、円筒状のトリガ電極と、金ナノクラスター作製用材料である金原料で少なくとも先端部が構成された円筒状のカソード電極とが、円板状の絶縁碍子を挟んで隣接して配置されてなり、前記カソード電極とトリガ電極との周りに同軸状に円筒状のアノード電極が配置されている同軸型真空アーク蒸着源を備えている同軸型真空アーク蒸着装置を用い、前記トリガ電極とアノード電極との間にトリガ放電をパルス的に発生させて、前記カソード電極とアノード電極との間にアーク放電(プラズマ)を断続的に誘起させ、金属酸化物からなる担持体上に、所定の粒径を有する金ナノクラスターを付着せしめる方法である。
【0013】
本発明において、アークプラズマを発生させるアーク電圧、放電用のコンデンサー容量、及びアークプラズマの発生回数を制御することにより、平均クラスターサイズが2nm以下の金ナノクラスターを得ることができる。
本発明の平均クラスターサイズが2nm以下の金ナノクラスターを得るためには、アークプラズマを発生させるアーク電圧は、通常50〜200V、好ましくは70〜100Vであり、放電用のコンデンサー容量は、通常360〜8800μF、好ましくは360〜1080μFであり、アークプラズマの発生回数は、通常10〜100回、好ましくは30〜60回である。
アークプラズマの直下に、担持体である金属酸化物を配置する。
アークプラズマからの距離で蒸着範囲を制御する。蒸着は10−5Torr以下の真空下、好ましくは室温で行う。
【0014】
本発明に用いられる金属酸化物は、チタニア、アルミナ、シリカ、ジルコニア、又はセリア、或いは、これらの複合酸化物である。
本発明で用いる金属酸化物は、粉状、粒状、ペレット状、板状等、種々の形状のものを使用することができる。
これらの金属酸化物への金の担持量は、10重量%以下、好ましくは5重量%程度である。
また、少なくともカソード電極の先端部に用いる金原料は、特に限定されるものではない。
【0015】
本発明では、この金クラスターと金属酸化物の複合体を触媒とすることにより、効率よく水素解離反応等を進行させることができる。
本発明の金ナノクラスターを用いた触媒反応において、反応器は特に限定されないが、通常は回分式もしくは流通式の反応器を使用し、上記の金ナノクラスターを充填した触媒層へ、水素、重水素原料を供給することにより行われる。このとき水素、重水素原料は、窒素等で希釈されていてもよい。
【0016】
本発明の触媒を用いた水素解離反応において、反応器に供給される水素、重水素濃度は特に制限されない。また、本発明の触媒は、水素、重水素濃度が10〜90%の範囲で、交換反応収率ならびに選択率が変わらない。
また、本発明における触媒反応の反応温度は、通常80〜500℃程度であり、高温であるほど好ましい。
さらに、本発明における触媒反応の反応圧力は、常圧あるいは加圧のいずれでも実施できるが、通常は常圧程度が採用される。
【実施例】
【0017】
以下、本発明を実施例に基づいて説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
アークプラズマ蒸着装置(同軸型真空アーク蒸着装置)(ハイパーアークプラズマガンARL-300 株式会社アルバック製)を用いて、アーク電圧70V、コンデンサー容量720μF、プラズマ発生回数30回のアークプラズマ条件下において、10−5Torr以下の真空下でチタニア基板上に金を蒸着し、金ナノクラスターを得た。
得られた金ナノクラスターの電子顕微鏡像を図1−1に示し、画像解析ソフト(旭化成エンジニアリング:A像くんR)を用いて求めた粒径分布を図1−3(A)に示す。
【0018】
(実施例2)
実施例1と同様なアークプラズマ条件下でアルミナ薄膜上に金を蒸着し、金ナノクラスターを得た。
得られた金ナノクラスターの顕微鏡像を図1−2に示し、画像解析ソフト(旭化成エンジニアリング:A像くんR)を用いて求めた粒径分布を図1−3(B)に示す。
チタニアおよびアルミナ基板上に1nm程度のサイズの均一な金クラスターの形成が観
察された。
【0019】
(実施例3〜5)
実施例1と同様なアークプラズマ条件下で、それぞれ、シリカ基板上、ジルコニア基板上、及びセリア基板上に金を蒸着し、金ナノクラスターを得た。
実施例1〜5で得られた金の平均クラスターサイズを表1に示す。
【0020】
【表1】

表1に示すとおり、チタニア、アルミナ、シリカ、ジルコニア、セリアのどの金属酸化物基板上においてもアークプラズマ法を用いることにより、平均サイズが2nm以下の金クラスターが形成することができる。
【0021】
(実施例6〜9)
アーク電圧を、それぞれ、90V、110V、150V、及び200Vに変えた以外は、実施例1と同様にしてチタニア基板上に金クラスターの作製を行い、アーク電圧に対して金の平均クラスターサイズをプロットしたものを図2に示す。
【0022】
図2に示すとおり、アーク電圧が70〜110Vにおいて、チタニア基板上に1〜2nmのサイズの均一な金クラスターが観察された。110V以上では、アーク電圧の上昇とともに金クラスターサイズは急激に増大した。また、60V以下では再現性よくアークプラズマが発生しないため、金クラスターの作製を行うことができなかった。
したがって、70〜110Vのアーク電圧で金の蒸着を行うことが好ましい。
【0023】
(実施例10〜13)
コンデンサー容量を、それぞれ360μF、1080μF、2200μF、及び4400μFに変えた以外は、実施例1と同様にしてチタニア基板上に金クラスターの作製を行い、コンデンサー容量に対して金の平均クラスターサイズをプロットしたものを図3に示す。
【0024】
図3に示すとおり、コンデンサーの容量が1080μF以下において、チタニア基板上に1〜2nmのサイズの均一な金クラスターが生成した。しかし、1080μFを超えると、金の平均クラスターサイズは大きく増大するとともに、サイズの分布範囲が拡がった。例えば、4400μFの場合、5〜15nmの様々なサイズの金クラスターが認められた。
したがって、360〜1080μFのコンデンサー容量が、平均クラスターサイズが1〜2nmの金クラスターを作製する場合には好ましい。
【0025】
(実施例14〜18)
プラズマ発生回数を、それぞれ10回、40回、60回、80回、及び100回に変えた以外は、実施例1と同様にしてチタニア基板上に金クラスターの作製を行い、プラズマ発生回数に対して金の平均クラスターサイズをプロットしたものを図4に示す。
【0026】
図4に示すとおり、プラズマ発生回数が60回以上では、金クラスターサイズの顕著な増大が認められた。10〜60回の場合に、チタニア基板上に、平均クラスターサイズが1〜2nmの金クラスターが観察されたが、金の担持量が3〜6重量%となる30〜60回の条件が最も好ましい。
【0027】
(比較例1:析出沈殿法による作製)
pH7に調整されたHAuCl溶液を原料として、析出沈殿法によりチタニア担体上に金を担持したAu/TiO触媒の透過型電子顕微鏡像[非特許文献1]を図5−1に示す。
【0028】
(比較例2:電子線蒸着法による作製)
金のロッドに電子線を照射することにより金を蒸発させる電子線蒸着法を用いて、室温で10−9Torr以下の真空下に置かれたチタニア基板上に金クラスターを作製した。蒸着は、フィラメント電流1.8A、電圧800V、エミッション電流11mA、フラックス電流10nA、蒸着時間10分の条件下で、直径2nmの金ロッドを用いて行った。金クラスターの原子間力顕微鏡像を図5−2に示す。
【0029】
比較例1の析出沈殿法により作製した約3重量%のAu/TiO触媒の金の平均クラスターサイズは約5nmであった。また、比較例2の電子線蒸着法により作製した金の平均クラスターサイズは5〜10nmであり、さらにクラスター同士の凝集も認められた。
これに対して、前記実施例(図1−1)より明らかなとおり、本発明のアークプラズマ法により作製した金クラスターの平均クラスターサイズは約3重量%においても1nm程度であり、アークプラズマ法でのみ平均クラスターサイズ2nm以下の大きさの金ナノクラスターの作製が可能であることがわかる。
【0030】
(実施例19〜22)
実施例1の条件下で作製したAu/TiO(平均クラスターサイズ1.1nm)を回分式反応器中にセットした。水素および重水素を各々6Torrずつ反応器内に導入した後、基板温度を152℃として水素−重水素交換反応(H+D→2HD)を行った。反応器内のガス濃度は質量分析計を用いて常にモニターした。
また、実施例20〜22においては、それぞれ実施例11〜13で作製したAu/TiO上で、実施例19と同様の条件下で水素−重水素交換反応を行った。
実施例19〜22におけるHDの生成速度を、金の平均クラスターサイズに対してプロットしたものを図6に示す。
【0031】
図6に示すとおり、金のクラスターサイズが1〜6nmの範囲において、クラスターサイズが小さくなるほどHD生成速度が増大した。1nmの金クラスターの速度は8nmのクラスターに比べて200倍以上大きかった。金クラスターサイズが小さいほど、水素−重水素交換反応が効率的に進行することが明らかとなった。
【0032】
(比較例3)
Au(111)単結晶上で、実施例19と同様の条件下で水素−重水素交換反応を行ったときのHDの生成速度を表2に示す。
(比較例4)
TiO(110)単結晶上で実施例19と同様の条件下で水素−重水素交換反応を行ったときのHDの生成速度を表2に示す。
(比較例5)
比較例2の条件下で作製したAu/TiO上で実施例19と同様の条件下で水素−重水素交換反応を行ったときのHDの生成速度を表2に示す。
(比較例6)
電子線蒸着法を用いて、Au(111)単結晶上に室温でチタンを蒸着した。蒸着は、フィラメント電流1.9A、電圧850V、エミッション電流11mA、フラックス電流5nA、蒸着時間5分の条件下で、直径1.5mmのチタンロッドを用いて行った。蒸着後の表面を3×10−7Torrの酸素存在下で10分間327℃に加熱することにより、TiO/Au(111)表面を得た。この表面を用いて、実施例19と同様の条件下で水素−重水素交換反応を行ったときのHDの生成速度を表2に示す。
【0033】
【表2】

表2に示すとおり、Au(111)単結晶およびTiO(110)単結晶上では、水素−重水素交換反応は進行しない。これに対して、Auを蒸着したTiO(110)上では水素−重水素交換反応が進行する。したがって、AuとTiOの組み合わせが、水素−重水素交換反応を効果的に進行させることがわかる。
【0034】
図6で示した金クラスターサイズに対するHD生成速度は、金の平均クラスターサイズに対するAu−TiO界面の長さと同様な相関をもっていることから、Au−O−Tiの金属と酸化物の複合体サイトが水素−重水素交換反応の活性点となっていることが明らかとなった。この触媒活性種は、水素解離活性が必要な反応、たとえばプロピレンオキサイド合成反応や過酸化水素合成反応に有効であることが容易に推測される。
【0035】
(実施例23〜27)
それぞれ、実施例1、及び実施例10〜13と同様の条件下で作製したAu/TiOに対するAuの結合エネルギーを光電子分光法により測定し、コンデンサー容量に対してAu 4f7/2の結合エネルギーをプロットしたものを図7に示す。
(比較例7)
比較例2(電子線蒸着法による作製)と同様の条件下で作製したAu/TiOに対するAu 4f7/2の結合エネルギーを測定し、その結合エネルギーを図7に点線で示す。
【0036】
図7に示すとおり、電子線蒸着法により作製した大きな金クラスターに対する結合エネルギーはバルクの金の結合エネルギー(84.0eV)と近く、金の電子状態の変化はみられない。これに対して、コンデンサー容量が小さく、金のクラスターサイズが小さいほど金の結合エネルギーが高く、金の電子的な特性が変化していることがわかる。すなわち、Au−O−Tiの複合体サイトが形成していることを示している。
【産業上の利用可能性】
【0037】
本発明は、ナノクラスターの特性や製造法を示すものであり、平均クラスターサイズが2nm以下の金クラスターを生産技術として利用することで、高い選択性が要求される酸化反応や水素化反応等の触媒およびセンサーとしての利用が期待される。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
金属酸化物上に担持された金クラスターであって、その平均クラスターサイズが2nm以下であることを特徴とする金ナノクラスター。
【請求項2】
前記金属酸化物が、チタニア、アルミナ、シリカ、ジルコニア、又はセリアからなる金属酸化物或いはこれらの複合酸化物であることを特徴とする請求項1に記載の金ナノクラスター。
【請求項3】
アークプラズマ蒸着法を用いて金属酸化物上に担持させることを特徴とする、請求項1又は2に記載の金ナノクラスターの製造方法。
【請求項4】
請求項1又は2に記載の金ナノクラスターからなることを特徴とする触媒。
【請求項5】
水素解離反応用触媒であることを特徴とする請求項4に記載の触媒。

【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図6】
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【図7】
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【図1−1】
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【図1−2】
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【図1−3】
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【図5−1】
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【図5−2】
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【公開番号】特開2010−247108(P2010−247108A)
【公開日】平成22年11月4日(2010.11.4)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−100722(P2009−100722)
【出願日】平成21年4月17日(2009.4.17)
【国等の委託研究の成果に係る記載事項】(出願人による申告)平成20年度独立行政法人科学技術振興機構委託研究「戦略的創造研究推進事業(CREST)/異種物質との接合を利用した金クラスター触媒の機能設計」産業技術力強化法第19条の適用を受ける特許出願
【出願人】(301021533)独立行政法人産業技術総合研究所 (6,529)
【Fターム(参考)】