Ｘ線構造解析における回折Ｘ線の検出器への斜め入射時の強度補正

【課題】
新たな斜め入射補正式を考案し、従来の補正精度を上回る精度を得る。
【解決手段】
Ｘ線構造解析における回折Ｘ線の検出器への斜め入射時の強度を、cosνに加えてf(0)/f(ν)を乗ずることにより補正する斜め入射強度補正法であって、f(ν)が所定の式で表される。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線構造解析における回折Ｘ線の検出器への斜め入射時の強度補正に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
回折Ｘ線が検出器に入射するとき、検出器への入射角νに依存して読み取り強度が変化することが知られている。正確な回折強度を知るためにはこの斜め入射時に強度を補正する必要がある。
【０００３】
従来、読取強度にcosνを乗じることによる斜め入射補正が行われていた。
【非特許文献１】Acta Cryst. (1999). B55, 917-922
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上記非特許文献１の補正方法は、全体としてはある程度良い信頼度因子が得られたものの、νが大きな反射ほどその補正精度が悪くなることが次第に明らかになった。
本発明は、新たな斜め入射補正式を考案し、従来の補正精度を上回る精度を得ることを目的とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００５】
以下、実施例に基づいて本発明を具体的に説明するが、もとより本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
【実施例１】
【０００６】
69mmに球形整形したCeB₆結晶を、真空カメラを用いてX線回折強度を測定した。波長l=0.71073AのX線を使用し、回転幅16o、0o~16o,10o~26oのように両端を6oずつ重ねて0o~186oまでの18枚を、露光時間12分および128分で計36枚を測定し斜め入射補正を行った。
従来のcosνによる補正では信頼度因子R=2.928%であったのに対し、

【０００７】
による補正では信頼度因子R=1.891%であった。このことを図３及び図４を用いて以下に説明する。
【０００８】
図３は測定したすべての反射について、cosν補正を適用し、図４は測定したすべての反射について、

【０００９】
補正を適用し、それぞれ計算強度に対する観測強度と計算強度の差

【００１０】
を計算したものである。図３は、グラフ両端においてdI/Iの値が大きくなっているのに対し、図４は、グラフ全域にわたって低いdI/I値を表示している。両図の比較からも上記信頼性の向上がわかる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】イメージングプレートと入射Ｘ線との関係を示した説明図である。
【図２】イメージングプレートの読取装置概念図である。
【図３】cosν補正を適用したdＩ/Ｉ散布図である。
【図４】f(0)/f(ν)cosν補正を適用したdＩ/Ｉ散布図である。

【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線構造解析における回折Ｘ線の検出器への斜め入射時の強度を、cosνに加えて