説明

アイメックにより出願された特許

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【課題】SiのnMOSFETデバイスと、GeのpMOSFETデバイスとを、同じ半導体基板の上に作製する方法を提供する。
【解決手段】Si基板1中に、Si活性領域2とGe活性領域3が形成され、ゲート形成後、HDD、LDD、ハロを形成する。SiのnMOSとGeのpMOSの双方に役に立つ1つの活性化アニールを使用する。SiのnMOSに対して固相再成長(SPER)プロセスを用いることで、SiのnMOSのための熱量は、GeのpMOSと両立するまで低くすることができる。Geのn型ドーパントの活性化と、Siの妥当なSPER速度は、500℃の温度の実際の下限を与え、Geの溶融は、937℃の上限を与える。好適な具体例では、活性化アニール温度は500℃と900℃の間となる。それらの温度範囲内で、Siの結晶化に十分な時間は、Ge中のドーパントの活性化にも十分である。 (もっと読む)


【課題】金属ゲート電極を有する二重仕事関数半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】該製造方法は、第1領域101及び第2領域102を有する基板100を設けること、第1領域に第1半導体トランジスタ107を作製すること、第2領域に第2半導体トランジスタ108を作製すること、第1サーマルバジェットを第1半導体トランジスタに備わる少なくとも第1ゲート誘電体キャッピング層114aに作用し、第2サーマルバジェットを第2半導体トランジスタに備わる少なくとも第2ゲート誘電体キャッピング層114bに作用すること、を備える。 (もっと読む)


【課題】基板上の3次元構造の少なくとも1つの側壁に、少なくとも1つの触媒ナノ粒子を設けるための良好な方法および、こうした触媒ナノ粒子を触媒として用いて、偏長ナノ構造を形成するための良好な方法を提供する。
【解決手段】少なくとも1つの触媒ナノ粒子(8)を、基板(1a,1b)の主面(15)上にある3次元構造の少なくとも1つの側壁(10)に設けるための方法であって、該主面(15)は面内にあり、3次元構造の側壁(10)は基板(1a,1b)の主面の面に対してほぼ垂直な面内にあり、主面(15)上に、非触媒マトリクス(5)に埋め込まれた触媒ナノ粒子(7)を含む3次元構造を得ること、3次元構造の側壁(10)において非触媒マトリクス(5)の少なくとも一部を選択的に除去して、少なくとも1つの触媒ナノ粒子(8)を露出させること、を含む。 (もっと読む)


本発明は、半導体基板(1)上に酸化層(9)を形成する方法を提供する。この方法は、例えば3次元構造を含む、少なくとも1つの孔(5)を含むような半導体基板(1)を得る工程と、酸性の電解質溶液中で基板を陽極酸化することにより、例えば3次元構造を含む半導体基板(1)上に酸化層(9)を形成する工程と、を含む。
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【課題】異なる誘電体材料を含む、デュアル仕事関数半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】第1領域Iと第2領域IIとを有する基板5を用意し、(i)第1領域Iと第2領域IIを覆うようにホスト誘電体層1を形成し、(ii)第1領域Iと第2領域IIの上のホスト誘電体層1を覆うように第1誘電体キャップ層2を形成した後、(iii)第1領域Iの上の下位層1に対して選択的に、第1誘電体キャップ層1を除去して、第1領域Iの上の下位層1を露出させ、(iv)第1領域Iの上の下位層1と、第2領域IIの上の第1誘電体キャップ層2とを覆うようにHfベースの誘電体キャップ層3を形成し、(v)第1領域Iと第2領域IIの上のHfベースの誘電体キャップ層3を覆うように制御電極4を形成する。 (もっと読む)


基板貫通バイア(75)を作製する方法であって、バイアは基板(5)の裏面からSTI(14)またはPMD(13)までエッチングされる。金属1コンタクトパッド(55)と基板貫通バイア(75)との間の追加のコンタクト(50)は、基板貫通バイア(75)と半導体チップ(11)のバックエンドオブライン(3)との間のコンタクトを実現するために作製される。
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【課題】半導体ウェット洗浄処理において、基板の腐食を防止した方法および装置の提供。
【解決手段】半導体基板(1)を洗浄するための方法および装置に関し、基板の表面の上に、第1の導電性または半導体材料を含み、第2の導電性または半導体材料の層(4)により囲まれた少なくとも1つの構造(5)を含み、この層は本質的に表面の全体に渡って拡がり、第1および第2の材料は物理的に接続され、この方法は、基板を提供する工程と、基板の表面に面するように対向電極(20)を配置する工程と、表面と電極との間の空間に電解溶液(21)を供給する工程であって、基板表面、洗浄溶液(21)、および対向電極(20)により形成されたガルバニ電池中で、対向電極がアノードとして働く工程とを含む。 (もっと読む)


イオンミリングを含む方法をオープンナノシェル懸濁液及びオープンナノシェル単層構造を作製するため例示する。イオンミリング技術により、上記基板上において、オープンナノシェルの外形及び上方への配向性を制御することが可能である。安定でかつ高密度なオープンナノシェル単層構造により被覆された基板を作製することができる。当該基板は、上方への配向性を有するナノアパーチャー構造及びナノチップ構造を有し、SERSベースの生体分子検出のための基板として用いることができる。
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【課題】リソグラフプロセスで用いられる二重パターニングプロセスを最適化するための良好な方法およびシステムを提供する。
【解決手段】単一層でのパターンの多重パターニングリソグラフプロセスを設定する方法が開示される。多重パターニングリソグラフプロセスは、第1パターニングステップと、少なくとも第2パターニングステップとを含む。方法は、少なくとも1つのプロセス条件に関して、多重パターニングリソグラフプロセスに関するパターンの設計パラメータ及び/又は分割パラメータの関数として、分割に関連したプロセス品質を表す少なくとも1つの計量に関する値を得ることを含む。方法は、少なくとも1つの計量の前記値を、設計パラメータ及び分割パラメータに基づいて評価し、少なくとも1つのプロセス条件を考慮することを含み。方法は、前記評価に基づいて多重パターニングリソグラフプロセスを用いて処理すべきパターンを分割するための設計及び/又は分割指針を導出することを含む。 (もっと読む)


【課題】フィンベース半導体デバイスにおいて、最適なキャリア移動度を有するデバイスを提供する。
【解決手段】基板を提供する工程であって、基板510は、少なくとも第1キャリア移動度増加パラメータを有する第1半導体層551と、第1半導体層の上の埋め込み絶縁層530と、埋め込み絶縁層の上の少なくとも第2キャリア移動度増加パラメータを有する第2半導体層520とを含み、第2キャリア移動度増加パラメータは第1キャリア移動度増加パラメータとは異なる工程と、基板の第1活性領域と第2活性領域を形成する工程であって、第1活性領域は、第2活性領域から電気的に分離される工程と、を含む。 (もっと読む)


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