【課題】低コントラストの障害物を検出でき、且つノイズとなる不要なエッジ点の検出を防止することができる障害物検出装置を提供する。
【解決手段】遠赤外線撮像装置１Ｒ，１Ｌが撮像して得た画像に基づいて障害物を検出する障害物検出装置３に、撮像して得た画像を構成する各画素の画素値に基づいて各画素のエッジ強度を算出する手段と、複数の所定画像部分毎にエッジ強度の度数分布を算出する手段と、障害物の輪郭に相当する所定数のエッジ点を検出するための閾値を、前記度数分布に基づいて前記所定画像部分毎に選択する閾値選択手段と、前記所定画像部分を構成する画素の画素値及び該所定画像部分で選択された閾値を比較することにより、該閾値以上の画素値を有するエッジ点を検出するエッジ点検出手段とを備え、前記エッジ点検出手段が検出したエッジ点に基づいて障害物を検出する処理を実行する制御部を備える。 （もっと読む）

【課題】被測定物の表面粗さの程度によらず、その測定対象寸法を正確に測定できる寸法測定装置及び寸法測定方法を提供する。
【解決手段】寸法測定装置１は、白色光源２からの光を、被測定物に向かう第１の光束と第２の光束に分岐し、第１の光束と第２の光束の間に被測定物の測定対象寸法に対応する第１の光路差を生じさせる第１の干渉計３と、被測定物で散乱された光を検出する受光素子３８と、第１の干渉計３を出射した光束を、参照鏡４３に向かう第３の光束と光路に沿って移動可能な移動鏡４４に向かう第４の光束に分岐して、第３の光束と第４の光束との間に第２の光路差を生じさせる第２の干渉計４と、第３及び第４の光束を受光し、第１の光路差と第２の光路差とが略等しい場合に生じる干渉信号を検出する検出器５と、被測定物の測定対象寸法を測定し、得られた測定値を受光素子３８で受光した散乱光の光量に基づいて補正するコントローラ６を有する。 （もっと読む）

【課題】横分解能が極めて高く、高精細、高コントラストの干渉波形が得られるレーザ走査干渉計を提供する。
【解決手段】レーザ光源１２からのレーザ光をコリメータレンズ１３で平行レーザ光束Ｂとし、走査ミラー１５で走査光Ｂ１〜Ｂ３に変換し、テレセントリックｆθレンズ１６を通して参照面１７ａ及び被観察面１８ａに照射する。参照面１７ａ及び被観察面１８ａからの反射光は、テレセントリックｆθレンズ１６で反射平行光束Ｂｒとなり、走査ミラー１５で反射し、ビームスプリッタ１４を通過して結像レンズ２０で集光され、ピンホール２１ａを通過して受光素子２２に入射する。受光素子２２で反射平行光束Ｂｒの光量を計測して演算手段を含む制御部２３に送信し、制御部２３で受光素子２２から得た光量信号を時系列データとして取得し、データ処理を行って表示手段２４に明暗データからなる干渉波形を出力する。 （もっと読む）

【課題】白色干渉縞のピーク位置を正確に検出可能な寸法測定装置及び寸法測定方法を提供する。
【解決手段】寸法測定装置１は、白色光源２からの光を、被測定物１０に向かう第１の光束と第２の光束に分岐し、第１の光束と第２の光束の間に被測定物１０の測定対象寸法に対応する第１の光路差を生じさせる第１の干渉計３と、第１の干渉計３を出射した光束を、参照鏡４３に向かう第３の光束と光路に沿って移動可能な移動鏡４４に向かう第４の光束に分岐して、第３の光束と第４の光束との間に第２の光路差を生じさせる第２の干渉計４と、第３及び第４の光束を受光し、第１の光路差と第２の光路差とが略等しい場合に生じる干渉信号を検出する検出器５と、移動鏡４４の複数の位置での検出器５の出力の時間平均値又は移動平均値から干渉信号が最大値となる移動鏡４４の位置を決定し、その位置から第２の光路差を求めて、測定対象寸法を求めるコントローラ６を有する。 （もっと読む）

【課題】 剛体架線式において、トロリ線の摩耗部分と剛体部の反射部分とを区別し、トロリ線の摩耗部のみを白域とし、背景を黒域とすることにより、トロリ線の摩耗部分を抽出するにある。
【解決手段】トロリ線の種類を予め設定することにより、前記ラインセンサ画像中のトロリ線の最大幅に相当する画素数以上を持つ白域の部分を黒域に変換する手段６１を備え、剛体架線式のトロリ線を撮像した２値化処理後のデータにおいて剛体部を白域から黒域に変換し、カテナリ式のトロリ線を撮像した２値化処理後のデータと同じ画面構成とすることができる。 （もっと読む）

【課題】静止物体を低価格で簡易に且つ高精度にステレオ３次元計測できるようにした、インタラクティブなステレオ３次元計測システムを提供する。
【解決手段】ステレオ画像間の対応位置を探索することにより、静止物体である計測対象の３次元計測を行うステレオ３次元計測システムであって、撮像装置と、空間的にも時間的にも変化するアクティブ照明を発生させるアクティブ照明手段と、３次元計測処理装置と、表示装置とを備え、アクティブ照明で計測対象を照らしつつ、撮像装置を用いて時系列のステレオ画像を撮影し、撮影されたステレオ画像は、３次元計測処理装置に入力され、３次元計測処理装置では、時間方向に複数のフレームを使ってステレオ画像間の対応位置を探索することにより、計測対象までの距離を計測し、計測して得られた計測結果を表示装置に表示させ、更に、最新のステレオ画像を用いて逐次的に計測処理を行い、実時間に計測結果を表示装置に表示させる。 （もっと読む）

【課題】微細な試料の表面各部の高さ情報から当該表面の画像を得るための新たな手法を提供する。
【解決手段】三次元形状測定器により取得された試料の表面各部の高さを示す高さ情報が高さ画像記憶部２０１で記憶される。画像−擬似輝度画像変換部２０７は、まず、当該試料の表面各部の高さ情報に基づいて当該表面各部の傾きを示す傾き情報を算出する。そして、この表面各部の傾きを当該試料表面の画像における当該表面各部の輝度に対応付けて当該画像における輝度情報を生成し、この輝度情報を用いて当該試料表面の輝度画像を構築する。 （もっと読む）

【課題】３次元計測方法及びそれを用いた装置において、撮像のボケによる影響を排除して計測領域における３次元形状を高速且つ高精度に計測できるようにすることで、計測領域における識別性能を向上させる。
【解決手段】計測対象物の計測領域における画像から得られる輝度値分布を縞パターンに直交する方向に微分した輝度微分値と、計測対象物の反射率の差異が縞パターンから得られる位相値に及ぼす影響を補正するための位相補正値との補正関係を予め求めておき、計測対象物に所定の光を投影して撮像し、所定の撮像画像を取得する処理（Ｓ１）と、画像の輝度についての微分画像を生成する処理（Ｓ２）と、縞パターンの位相値を算出する処理（Ｓ３）と、撮像のボケによる縞パターンの位相値の誤差を補正する処理（Ｓ４）と、撮像画像の画素の位置について、３次元座標を計算する処理とを実行させることで、計測領域における３次元形状を計測する。 （もっと読む）

【課題】画像処理の手段を用いて、アーク溶接時の溶融池又は溶滴上に発生する酸化物の存在状態を定量的に把握することが可能なアーク溶接における酸化物認識方法及び酸化物認識装置の提供。
【解決手段】アーク溶接中に溶融池Ｐ及びその周囲を複数のフレーム画像に撮像し、所定の輝度範囲の有する領域を抽出し、領域内であって且つ予め規定した閾値よりも大きい輝度を有する１又は複数の孤立領域を抽出し、抽出された各孤立領域の位置情報及び特徴量を検出する。 （もっと読む）

【課題】高コントラストな干渉信号を信号処理により得る。
【解決手段】被測定面の形状を測定する形状測定装置２００は、被測定面からの測定光と参照光とによって形成される干渉光を前記測定光または前記参照光の光路長を変更しながら光電変換素子で検知する干渉計１０と、前記光電変換素子で検知された第１干渉信号をフーリエ変換して位相分布および振幅分布を求め、該振幅分布を整形した後、該位相分布および該整形された振幅分布を逆フーリエ変換して第２干渉信号を求め、該第２干渉信号に基づいて前記被測定面の形状を決定するコンピュータ１００とを備える。 （もっと読む）

【課題】タイヤの表面に照射したライン光の像を撮像した画像に基づいて光切断法による形状検出を行う場合に，ライン光の強度を増強することなく，十分に高い撮像レートでライン光の像の撮像を行っても，タイヤの表面に照射したライン光の明瞭な像を得ることができる。
【解決手段】タイヤ１の表面の一の線Ｌｓ上に光切断線が形成されるように，その光切断線における検出高さ方向（Ｚ軸方向）とは異なる方向から複数のライン光を連ねて照射，又は１つのライン光をそのライン長方向において集光して照射する投光装置１０と，タイヤ１の表面に一の線状に連ねて照射されたライン光の像を，複数のシート光それぞれの主光線がタイヤ１の表面に対して正反射する方向において，又は集光された１つのライン光の主光線がタイヤ１の表面に対して正反射する方向において撮像するカメラ２０とを備える。 （もっと読む）

【課題】測定空間内の測定対象物の位置に依らず、測定対象物を確実に検出することができるエッジ検出装置を提供する。
【解決手段】光源６からの単色光をその光軸に対し平行から所定の範囲で収束させた単色光束としてラインセンサ８に投光する。 （もっと読む）

【課題】 平滑面及び粗面を同時に観察可能な形状観察装置を提供する。
【解決手段】 光を発する光源11、光が照射されるパターンを有するパターン素子21、パターンを透過した光を集光するフーリエレンズ13、光源11と共役な位置に配置され、光を通す照射光透光部を含む照射光フィルタ31A、フーリエレンズ13を透過した光をコリメートする投影レンズ14、コリメートされた光で照射された被観察物51表面の反射光を集光する集光レンズ15、及び照射光透光部と共役で反射光を減光する反射光減光部を含む反射光フィルタ32を備える。 （もっと読む）

【課題】鏡面である対象面上の各位置における傾斜方向および傾斜角を容易かつ精度よく求める。
【解決手段】欠陥検出装置１では、点光源である光源部１１からの光束がビームスプリッタ１４１およびレンズ１４２を介して平行光として対象面９１に照射され、対象面９１からの反射光がピンホール板１５が位置する集光面に集光される。ピンホール板１５のピンホール１５１を透過した光は、レンズ１６を介して平行光とされてイメージセンサ１７へと導かれる。反射光は対象面９１の各位置の傾斜方向および傾斜角に応じた集光面上の位置に集光されるため、取得される画像では傾斜方向および傾斜角が同じ領域が明るくなる。したがって、ピンホール板１５をＸＹ移動機構２１により移動しつつイメージセンサ１７にて画像の取得を繰り返すことにより、対象面９１上の各位置の傾斜方向および傾斜角を求めることができる情報を容易かつ精度よく取得することができる。 （もっと読む）

【課題】３次元計測方法及びそれを用いた装置において、撮像画像の各点におけるコントラストが高い場合であっても、計測結果の信頼性が低い点を検出することができ、測定の信頼性を向上させると共に、計測値の異常値の発生を防止する。
【解決手段】縞パターンを計測対象物に投影し、その計測対象物を撮像する過程を、位相を一定間隔でシフトさせて複数回実行する撮像画像取得ステップ（Ｓ２）と、複数枚の撮像画像における同一点での実測明度の明度変化に基づいて、縞パターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算すると共に、それらを用いて推定明度を計算し、実測明度と推定明度との差の平方値、又は差の絶対値を、撮像画像取得ステップ（Ｓ２）を実行した回数だけ加算した信頼性パラメータを演算するステップ（Ｓ３）を備え、信頼性パラメータが予め設定された所定値よりも小さい点のみのデータを用いて３次元形状を計測する。 （もっと読む）

【課題】電子部品の位置が誤ってずれていても、電子部品の高さ計測を可能とする。
【解決手段】電子部品にレーザをパルス点灯させたライン光を走査して、光切断法により端子の高さを計測するための電子部品の端子高さ計測方法において、レーザを連続点灯させたライン光を、端子先端のずれ予想範囲に亘って走査しながら、拡散反射光を撮像し、撮像された画像に基づいて電子部品の端子位置を取得し、その位置情報から端子高さを計測するためのレーザ点灯位置補正を行なう際、端子表面からの拡散反射光が弱い電子部品に対しては、前記レーザの連続点灯によるライン光の、リニアアクチュエータによる走査速度を遅くする。 （もっと読む）

【課題】光学センサ４によってプラスチックフィルム１の反射光または透過光を画像認識し、その画像変化によってヒートシール部分２の微小凹凸表面を読み取り、プラスチックフィルム１のヒートシール位置を検出するとき、微小凹凸表面であっても、鮮明に画像変化があらわれるようにする。
【解決手段】光源４によって遮蔽板３およびプラスチックフィルム１が照射される。遮蔽板３は一定長さのエッジ５を有する。したがって、エッジ５によって影の境界７が形成され、影の境界７において、光学センサ８によってプラスチックフィルム１の反射光または透過光が画像認識される。 （もっと読む）

【課題】基本的にはドーム型照明方式の考え方を用い、ローアングル光照明方式の不具合を解消しながらも、その場合に生じ得る照度不足や照度ムラといった新たな問題点を解決し、配線基板の検査をより精度良く行えるようにする。
【解決手段】光透過性及び光拡散性を有し、検査用カメラ３００が撮影する検査領域２０ａを覆うように近接配置される概略平板状又はドーム状をなす光拡散部材２と、その光拡散部材２の外側に離間して配置され、前記検査領域２０ａに当該光拡散部材２を透過させて光を照射する複数の光照射部材４と、前記光拡散部材２に設けられた撮影用観測孔２ａの周囲からカメラの方向に延びる筒状体３と、を備え、前記カメラが、それら筒状体３及び観測孔２ａを介し前記検査領域２０ａを撮影できるように構成するとともに、前記筒状体３のカメラ側開口に、前記光照射部材４からの直射光が入らないように構成した。 （もっと読む）

【課題】トンネル坑口や陸橋下など背景が急激に変化してもパンタグラフを見失わずデータ抜けが生じないパンタグラフ測定装置を提供するにある。
【解決手段】車両１の屋根上に設置したラインセンサ２からパンタグラフ３付近の映像を取得し、この映像を画像処理部６により画像処理して時空画像を生成し、パンタグラフ３の位置と加速度を測定するパンタグラフ測定装置において、パンタグラフ３には、光の反射しやすい領域４ｂと光の反射しにくい領域４ａとが縞模様となったマーカー４をラインセンサ２による走査方向を横切るように設置し、画像処理部６は、時空画像において、縞模様に対応するマーカーパターンを単位時間毎に高さ方向に走査して一致又は一定以上に近似する箇所を探索することにより照合するパターンマッチングを行うことで、昼間でも背景と明確に切り分けができ、また、トンネル坑口など、背景の輝度が急に変化する場合においても連続的にデータを取得することができる。 （もっと読む）

【課題】光源と光学系の配置と調整が簡単な形状測定装置を提供する。
【解決手段】シリコンを含む半導体材料からなる物１００の形状を測定する形状測定装置１０は、４００ｎｍ〜８００ｎｍの波長を有する可視光１７を出射する光源１５と、９００ｎｍ〜１２００ｎｍの波長を有する近赤外光１８を出射する光源１８と、物に第１の光と第２の光を一つの光軸１９に沿って同一の方向から入射する光学系１４と、２つの光１７，１８に感度を有し、光１７，１８の反射光を受光する撮像素子２２を有する。 （もっと読む）