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Fターム[2F065JJ09]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 受光部 (23,546) | 配置;方向 (2,894) | 被測定物に対し垂直 (1,561)

Fターム[2F065JJ09]に分類される特許

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【課題】安価に測定誤差を校正し高精度且つ高速なコントラスト式のオートフォーカスを実現する。
【解決手段】画像測定装置は、ワークを撮像してその画像情報を転送するカメラと、カメラの合焦位置を制御してこれをZ軸方向の位置情報として出力する位置制御部と、画像及び位置情報に基づいてワークの画像測定を行う画像測定機とを備える。位置制御部は、カメラの所定の撮像タイミングで位置情報を取得保持し、画像測定機は、合焦軸方向に沿って移動速度及び移動方向の少なくとも一つが異なるように複数回のAFサーチを行い、各AFサーチのカメラからの画像情報及び位置制御部からの位置情報に基づき撮像タイミングと位置情報の取得タイミングとのずれ量を求め、このずれ量に基づいてAFサーチで求められた合焦位置を補正する。 (もっと読む)


【課題】 複雑な演算を行うことなく、二種類以上の方向性を持つ線パターンが存在する撮像画像から、同一の方向性を持つ線パターンのみを容易に抽出する為の技術を提供すること。
【解決手段】 投影パターン画像上には、第1の方向に沿って平行に並んでいる単色の第1の線分群と、第1の方向とは異なる第2の方向に沿って平行に並んでいる単色の第2の線分群と、が配置されている。第1の線分群のそれぞれと第2の線分群のそれぞれとの交点位置における画素の輝度値は、該交点位置以外の位置における画素の輝度値と異なる。 (もっと読む)


【課題】高精度且つ高速なコントラスト式のオートフォーカスを実現する。
【解決手段】画像測定装置は、ワークを撮像してその画像情報を転送するカメラと、カメラの合焦位置を制御してこの合焦位置をZ軸方向の位置情報として出力する位置制御部と、画像情報及び位置情報に基づいてワークの画像測定を行う画像測定機とを備える。位置制御部は、カメラによるワークの撮像期間における所定のタイミングで、カメラ及び位置制御部のいずれか一方から他方に出力されるトリガ信号に基づき位置情報を取得保持し、画像測定機は、カメラから転送された画像情報及び位置制御部から出力された位置情報に基づき画像情報のZ軸方向の位置情報を算出し、算出された位置情報を用いてオートフォーカス制御を行う。 (もっと読む)


【課題】透明基板に設けられたフィデューシャルマークを確実かつ容易に検出する。
【解決手段】フィデューシャルマークMが設けられた検査対象基板10の一方の面に光を照射すると共に、基板10の一方の面を撮像した撮像データに基づいてマークMを検出する際に、緑色、青色および黒色のうちのいずれかの色で形成された有色半透明シート9bを基板10の他方の面に接するように配設すると共に、少なくともシート9bに対する接触面が黒色および緑色のいずれかの色で形成された有色不透明シート9aをシート9bにおける基板10に対する接触面の裏面に接するように配設した状態において、他方の面がシート9bに接するように配設した基板10の一方の面にLED光源21から赤色光L1を照射すると共に、単色画像データを出力可能な撮像部22によって基板10の一方の面を撮像し、撮像部22から出力された単色画像データに基づいてマークMを検出する。 (もっと読む)


【課題】切削部の境界が明確に検出できる溶接ビード切削幅測定方法を提供する。
【解決手段】溶接ビード切削部11を照明装置で照射し、照射された領域をカメラ3で撮影し、その撮影画像を画像処理装置4で処理して溶接ビード切削幅を測定する溶接ビード切削幅測定方法において、前記照明装置として、溶接ビード切削部に対し左側から照射する左側照明装置1と右側から照射する右側照明装置2との2つを用い、左側からの照射と右側からの照射を交互に行う。 (もっと読む)


【課題】缶の巻締め部の巻締め厚さを全周にわたって精度よく計測できる金属缶端巻締め外観検査方法を提供する。
【解決手段】外観検査装置を用いた金属缶端巻締め外観検査方法は、巻締め部上方に配設したリング照明装置2からの照明光により巻締め上端両側の反射映像をリング照明装置2の中心と同軸上に配設したカメラ4で撮像し、入力映像をディジタル多階調画像に変換し、巻締め上端両側の二重のリング状画像を得、リング状画像の中心から放射状に二重のリング外側端とリング内側端とのリング幅を適宜な間隔で全周計測し、各リング幅寸法があらかじめ設定した上下限の閾値範囲外のとき、金属缶が不良品であると判別する。 (もっと読む)


【課題】被験者の跳躍動作をより好適に測定することができる跳躍動作測定装置を提供する。
【解決手段】カメラ20によって撮像された画像データに基づいて、測定部13が、カウンタームーブメントジャンプ動作、スクワットジャンプ動作、ホッピングジャンプ動作、及び立ち上がり動作の中から測定動作選択部12によって選択された測定対象の跳躍動作の測定を行い、情報出力部15が、測定結果に基づいた情報を出力する。また、情報提供部14が、選択された跳躍動作となるように、被験者Aに対して、カメラ20によって撮像された画像データに基づいた情報提供を、モニタ30を通じて行う。 (もっと読む)


【課題】中央部に円孔を有する円盤状基板の内周と外周の中心ずれを測定する時間を短縮可能な、中心ずれ測定装置及びその方法を提供すること。
【解決手段】中央部に円孔を有する円盤状基板Wの内周と外周の中心ずれを測定する中心ずれ測定装置であって、内周端面C1と外周端面C2に挟まれた主平面Sの半径方向幅Bを、投光部と受光部との間に形成された計測領域DA内で円盤状基板の全周にわたって非接触で計測する計測部と、前記計測部によって計測された半径方向幅Bの最大値Bmaxと最小値Bminの差Aを演算して該差Aを用いて中心ずれを演算する演算部とを備えることを特徴とする、中心ずれ測定装置。 (もっと読む)


【課題】照明光を機械的に走査せずに測定対象物の表面形状を精度良く求める。
【解決手段】点灯制御部31は、光源LEを順次に1個ずつ点灯させる。撮像制御部32は、各光源LEが点灯される毎に、測定対象物の画像データを撮像部20に取得させる。画像データ特定部33は、画像データを構成する各画素について、輝度値が最大となる画像データを、撮像部20により取得された全画像データ中から特定する。傾き算出部34は、画像データ特定部33により特定された各画像データにつき、各画像データを取得する際に点灯された光源LEの位置を特定し、特定した各光源LEの位置を基に、各画素に対応する測定対象物の各測定位置の傾きを算出する。表面形状算出部35は、傾き算出部34により算出された各測定位置APの傾きを基に、各測定位置APの高さを算出し、測定対象物OBの表面形状を算出する。 (もっと読む)


【課題】位相シフト法による干渉縞を用いた高さ計測装置において、位相シフト画像に内包する各種ノイズ成分の影響を抑制し高精度な光学的計測装置を提供する。
【解決手段】測定対象物の測定面の高さと上記測定面の高さに応じた複数の異なる波長の光による干渉縞画像内の各点の明るさが変化する部分の位相との関係を所定の演算式に数式化するとともに、上記測定対象物の測定面の高さと測定面の高さに応じた上記複数の異なる波長の光による干渉縞画像内の各点の明るさが変化する部分の位相との組合せを、同数式化した所定の演算式に基いて演算し、この演算により求めた位相情報を位相コード変換テーブルに反映させることによって、上記測定対象物の測定面の高さを計測する。 (もっと読む)


【課題】記録媒体の変位に追従して外周面が変位させられる追従部材の変位量を、回転体の偏心の影響を受けずに計測すること。
【解決手段】計測装置200は、搬送路32に沿って搬送される記録媒体Pに外周面を接触させ、記録媒体Pの変位に追従して当該外周面が変位させられる追従部材210と、当該外周面の変位量を光学的に計測する変位量計測手段とを有する。 (もっと読む)


【課題】位相シフト法を利用した三次元計測を行うにあたり、計測精度の向上を図ることのできる基板検査装置を提供する。
【解決手段】基板検査装置8は、プリント基板に対し光を照射する照明装置10と、当該プリント基板を撮像するCCDカメラ11と、制御装置12とを備えている。制御装置12は、CCDカメラ11により撮像された元画像データを記憶する元画像データ記憶手段24と、元画像データからRGB各色成分を抜き出す抜き出し画像データ作成手段25と、抜き出し画像データのデータ欠落部分を補完する補完画像データ作成手段26と、当該補完画像データを基にカラー輝度画像を作成するカラー画像作成手段27と、当該カラー輝度画像を基に計測対象領域を抽出する二次元計測手段28と、当該計測対象の三次元計測を行う三次元計測手段29と、当該計測結果を基にハンダの印刷状態を検査する判定手段30とを備えている。 (もっと読む)


【課題】うねりによる影響を極力無くして被検面の変位量を検出する。
【解決手段】 対物レンズ18は、光源13が発した光束を被検面23a上に微小なビーム光として投射する。シリンドリカルレンズ21は、被検面23aで反射した反射光束に非点収差を与える。受光センサ19は、非点収差が与えられた反射光束を入射させて受光パターンに応じた出力変化が得られるように受光面が複数に分割されている。信号処理部26は、受光面から得られる変位信号に基づいて被検面23aの変位を検出する。表面すねり補正部28は、変位信号に基づいて表面のうねりの周期ピッチを求め、その時点の被検面23a上のビーム径が周期ピッチよりも大きくなるように集光レンズ20と受光面19aとの間隔を変え、これに連動して対物レンズ18を移動する。 (もっと読む)


【課題】変位量への換算を迅速に処理する。
【解決手段】 対物レンズ18は、光源13が発した光束を被検面23a上に微小スポットとして投射する。シリンドリカルレンズユニット21は、曲率半径の異なる2つのシリンドリカルレンズ30,31をもっており、それぞれに被検面23aで反射した反射光束に異なる量の非点収差を与える。受光センサ19は、非点収差が与えられた反射光束を入射させて受光パターンに応じた出力変化が得られるように受光面が複数に分割されている。信号処理部24は、受光面から得られる出力信号に基づいて被検面23aの変位を検出する。選択部33は、被検面23aの検出範囲に応じて、いずれか一方のシリンドリカルレンズ30,31を光路上にセットするように移動機構22を制御する。 (もっと読む)


【課題】部品およびはんだに対する3次元計測結果に基づく検査の結果や検査対象部位の状態を、ユーザが容易に確認できるような表示を行い、検査結果の確認作業を支援する。
【解決手段】基板上の部品およびはんだに、それぞれ異なる手法の3次元計測を実施し、それぞれの計測により得た3次元情報をはんだ付け部毎および種別毎に読出可能に蓄積する。そして、これらの蓄積情報に基づき、はんだ付け部位毎に部品とはんだとの関係を表す画像を生成し、この画像を含む画面を検査結果の確認用の画面として表示する。好ましい確認用画面では、はんだの3次元情報が表す立体形状を部品のはんだへの接合面の近傍位置で切断した場合に得られるはんだの断面を正面として、このはんだの断面と部品との関係を示す画像(YZ図またはXZ図)が表示される。 (もっと読む)


【課題】多乱光の影響による三次元形状の測定の誤差を抑制する。
【解決手段】三次元形状測定装置は、投影部と、調整部と、検出部と、制御部とを備える。投影部は、測定対象物に対してパターン光を照射する。調整部は、パターン光の照射強度を調整する。検出部は、パターン光の照射された前記測定対象物の表面の明るさを検出する。制御部は、パターン光を照射しない非照射状態で検出される測定対象物の表面の明るさに基づいて調整部による照射強度の調整を制御する。 (もっと読む)


【課題】 1台のカメラでワークの位置などを認識するにあたり、ワークの形状等に特徴部分がない場合でも、その位置などを認識することができ、また、複数のワークがカメラの視野に入る場合でも、対象とすべきワークを的確に認識できるようにする。
【解決手段】 予め所定の方向から視たワークモデルの基本形状を記憶しておき、この基本形状とカメラで画像情報として取得したワーク形状との相関性を算出するとともに、基本形状が得られる方向にカメラを移動させ、移動後に新たに取得した画像情報のワーク形状と基本形状の相関性を求め、この両者の相関性が所定の閾値に達するまでカメラの移動と画像取得を繰り返す。画像情報に複数のワークが認識される場合、移動後の相関性が移動前の相関性より低い場合、次に相関性が高いワークに切り換える。 (もっと読む)


【課題】ライン状(線状)の撮像領域を用いて移動する計測対象物の撮像を行う際にも、高輝度な照明光を用いることなく明るい画像を取得することが可能な三次元形状計測装置を提供する。
【解決手段】この表面実装機100は、各々がX1方向に並べられるとともにX1方向と直交するY2方向にライン状に延びるライン状撮像領域63a〜63fを含み、部品120を撮像する二次元イメージセンサ63と、二次元イメージセンサ63に対してX1方向に相対的に移動する部品120に向けて正弦波状の光強度分布を有するパターン光Gを投影する照明部61と、二次元イメージセンサ63が、ライン状撮像領域63a〜63fを用いて部品120の領域P1を順次撮像する場合に、領域P1の画像信号を、投影されたパターン光Gが有する周期Lの2分の1の積分範囲dで積算する制御を行う撮像制御部73とを備える。 (もっと読む)


【課題】穿孔機械の測定値を表示するための補助装置において安全かつ快適な作業が実現される補助装置を得る。
【解決手段】穿孔機械と連結可能な補助装置において、穿孔機械の作業平面に対する傾き、および/または、穿孔機械の作業平面までの距離を含む測定データを求めるための測定装置と、求められた前記測定データに応じて作業平面上にシンボルを投影するプロジェクタと、を設ける。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の表面に発生するひずみを、直接測定すること無く離れた位置から簡易に、かつ、高精度に計測可能なひずみ計測方法及びひずみ計測システムを提供する。
【解決手段】ひずみ計測システム1は、測定対象物2の表面の計測対象領域Sを正面から撮像する第1撮像装置3と、測定対象物2の側面を撮像する第2撮像装置5と、第1撮像装置3及び第2撮像装置5により撮像された画像に基づいて測定対象物2に発生するひずみを算出する計測装置10と、を備えている。 (もっと読む)


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