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Fターム[2F065NN13]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 制御 (2,523) | 受光部の (262) | 増幅度 (49)

Fターム[2F065NN13]に分類される特許

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【課題】原稿の厚みに影響されず安定して原稿の画像を読み取ることができる画像読取システム、原稿サイズ検出装置、及び原稿サイズ検出方法、並びに画像読取方法を提供する。
【解決手段】原稿の画像を読み取る画像読取装置と、画像読取装置を制御する制御装置とを備えた画像読取システムであって、原稿を搬送路に沿って搬送する搬送手段と、搬送路の途中に設けられ且つ原稿の厚みに応じて搬送路から離れる方向に移動可能に設けられ、搬送路に沿って搬送される原稿の画像を読み取る画像読取手段と、画像読取手段で読み取った原稿の画像データに所定の処理を施す画像処理手段と、原稿の厚みを判別する原稿の厚さ判別手段と、原稿の厚さ判別手段による判別結果に基づいて、画像読取手段による原稿の読取条件、又は画像処理手段による原稿の画像処理条件を変更する変更手段とを備え、原稿の厚みに影響されず安定して原稿の画像を読み取るようにした。 (もっと読む)


【課題】撮像領域内の各地点からの光に含まれる偏光成分間の大きさの違いを示す指標値に基づく画素値をもった偏光情報画像の高精度な解析処理を実現することを課題とする。
【解決手段】水平偏光成分P及び鉛直偏光成分Sの大きさの違いを示す差分偏光度(指標値)を算出し、算出した各指標値に基づく画素値をもった差分偏光度画像(偏光情報画像)を撮像するという撮像動作を連続して行うことで、露光量が互いに異なる例えば3種類の偏光情報画像を撮像する。そして、過去の撮像動作により撮像された3種類の偏光情報画像の中から、偏光成分間の大きさの違いが最大である特定の偏光情報画像を選定し、選定した特定の偏光情報画像に対応する露光量に基づいて後の撮像動作時の露光量を決定する。 (もっと読む)


【課題】対象物体からの反射光を複数の受光素子で受光した際に各受光素子からの出力レベルの高低にかかわらず、対象物体の位置を精度よく検出することができる光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置10では、光源部12から検出光を出射した際、受光部13は対象物体Obからの反射光を第1受光素子131および第2受光素子132で受光する。信号処理部71は、第1受光素子131および第2受光素子132から出力された信号を加算した加算信号を位置検出部50に検出用信号として出力する際、加算出力が閾値以下のときには加算出力に第1倍率を乗じたレベルの信号を検出用信号として出力し、加算出力が閾値を超えるときには加算出力に第1倍率より小さな第2倍率を乗じたレベルの信号を検出用信号として出力する。 (もっと読む)


【課題】 すき入れ及び紙端を鮮明に撮像し、すき入れが施された位置をばらつきが生じることなく高い精度で測定する検査方法を提供する。
【解決手段】
あらかじめ紙端撮像ラインカメラの撮像条件を紙端が鮮明に撮れる撮像条件に設定し、すき入れ撮像ラインカメラの撮像条件をすき入れが鮮明に撮れる撮像条件に設定した後、各ラインカメラにおいて紙端画像とすき入れ画像とをそれぞれ取得し、紙端画像から紙端を示す座標を検出し、すき入れ画像からすき入れを示す座標を検出し、紙端の座標からすき入れの座標までの距離を算出した後、算出した各座標間の距離が許容範囲か否かを判定してすき入れが形成された位置の合否判定を行う。 (もっと読む)


【課題】CCDカメラの飽和露光量を超える過大な入力光量に対して、最短時間で測定可能なCCDカメラ信号を得ることが可能な測定装置、及びその応答時間の短縮方法を提供することを目的とする。
【解決手段】CCDカメラ1aの露光時間を制御する測定装置100の応答時間の短縮方法であって、CCDカメラは、異なる透過率の2つ以上のフィルタ出力を同時に使用し、入力光量の最小値を検出する第1の透過率の大きいフィルタ出力の測定範囲の最大値(飽和値)と、第2の透過率の低い第2のフィルタ出力の測定範囲の(最小値)とがラップするような透過率とし、第1のフィルタ出力が飽和している場合には、前記第2のフィルタ出力から、前記第1の透過率と前記第2の透過率との比率から、前記第1のフィルタ出力に換算した露光時間の補正ゲインを求め、一回の制御周期(測定周期)で入力光量を検知し、次の制御周期で第1のフィルタの露光時間を更新する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、共焦点光学系を利用して計測対象物の変位を計測する共焦点計測装置であって、光の波長による、計測対象物の変位を計測する精度の変動を抑えた共焦点計測装置を提供する。
【解決手段】本発明は、共焦点光学系を利用して計測対象物の変位を計測する共焦点計測装置である。共焦点計測装置100は、白色LED21と、白色LED21から出射する光に、光軸方向に沿って色収差を生じさせる回折レンズ1と、回折レンズ1より計測対象物200側に配置され、回折レンズ1で色収差を生じさせた光を計測対象物200に集光する対物レンズ2と、対物レンズ2で集光した光のうち、計測対象物200において合焦する光を通過させるピンホールと、ピンホールを通過した光の波長を測定する波長測定部とを備えている。回折レンズ1の焦点距離は、回折レンズ1から対物レンズ2までの距離と、対物レンズ2の焦点距離との差より大きい。 (もっと読む)


【課題】 測定対象が変わっても測定対象の反射率などの光学特性、あるいは形状や機械的特性に依存せずに検出感度やノイズの割合が調整可能で、測定対象への照射光による測定対象の熱変形の影響が小さくでき、最適な条件下で測定精度を確保することが可能な光学式変位検出方法を提供する。
【解決手段】 測定対象となるカンチレバー6に光を照射する光源10と、光源10を駆動する光源駆動回路21と、光源10からカンチレバー6に照射した後の光を受光し、光強度を検出する光検出器16と、光検出器16の検出信号を所定の増幅率で増幅する増幅器22から構成される光学式変位検出機構において、光強度調整器28と増幅率調整器27を設けカンチレバー6への照射光強度や光検出器16の増幅率を調整できるようにした。 (もっと読む)


【課題】
単一の統合条件においては複数の欠陥種を同時に検出することは困難であり、また、多次元の特徴量として扱って複数の欠陥を検出すると、信号処理にかかる計算コストが検出器の増加とともに増大するという問題が発生する。
【解決手段】
被検査対象物に照明光を照射する照明光学部と、前記照明光学部により照射され該被検査対象物から該被検査対象物の表面に対してそれぞれ異なる方位角方向および仰角方向に散乱する散乱光をそれぞれ検出する複数の検出器を備えた検出光学部と、前記複数の検出器により検出した該被検査対象物からの散乱光に基づく複数の信号のそれぞれについて、ゲイン調整および閾値判別に基づく欠陥判別を並列に行い、前記ゲイン調整および欠陥判別された結果に基づき欠陥を抽出する信号処理部と、を有する欠陥検査装置である。 (もっと読む)


【課題】計測した光学検出器の光電子増倍係数を基に計算した補正印加電圧を用いて光学検出器を駆動して補正値を検査することにより、基準となる試料を必要とすること無く、光学検出器の出力値を補正することが可能な表面検査装置を実現する。
【解決手段】表面検査装置において、個々の光学検出器8a〜8cの光電子増倍係数を計測し、計測した光電子増倍係数を基に制御部11が補正印加電圧を計算する。表面検査装置に組み込まれた検出器8a〜8cのそれぞれについて、計算した補正印加電圧を用いて光学検出器8a〜8cを駆動して補正値を検査する。これにより、基準となる試料を必要とすること無く、光学検出器の出力値を補正することが可能な表面検査装置を実現することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明はサーボエリアを設定し、サーボエリア、データエリアのうち少なくとデータエリアの欠陥を検出できるパターンドメディア用ハードディスク検査装置及び検査方法を提供することにある。
【解決手段】本発明はサーボエリア及びデータエリアにパターンが形成されたハードディスク表面に2次元的に走査して照射し、前記ハードディスク表面からの散乱光を受光して前記ハードディスク表面の欠陥を検出する際に、前記散乱光のうちサーボエリアから第1散乱光に基づいてサーボエリアを設定し、前記設定結果から前記散乱光のうちデータエリアからの第2散乱光を抽出し、前記データエリアの欠陥を検出することを特徴とする。 (もっと読む)


物体のエリアのトポグラフィを、物体上に投影されたパターンの位相の解析を介して検査する非接触方法である。その方法は、第1のパースペクティブから獲得された、光学的パターンが投影される物体の第1の画像を取得するステップと、第2のパースペクティブから獲得された、光学的パターンが投影される物体の第2の画像を取得するステップであって、第2の画像内の物体上に当たるときの光学的パターンは、第1の画像内の光学的パターンとは異なる、ステップとを含む。その方法は、第1の画像内に映し出された光学的パターンの少なくとも1つの領域の位相に関する位相データに基づいて、物体の少なくとも1つの領域のトポグラフィを記述するデータを決定するステップをさらに含む。第2の画像内に映し出された物体の対応する領域から獲得した位相データは、第1の画像から獲得した位相データまたはトポグラフィデータのあらゆる曖昧性を解決するために使用される。

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【課題】光反射型部品検出システムにおいて、検出環境に応じた判別条件の設定を容易にするとともに判別の確実性を得る。
【解決手段】本発明の光反射型部品検出システム110は、搬送される部品が通過する搬送経路102中に設定された既定の検出範囲Spからの反射光の量を検出する受光素子117と、該受光素子で検出された前記反射光の量を所定の判別条件に基づいて判別する判別手段120とを具備する光反射型部品検出システムにおいて、前記検出範囲の背後に光反射面114aを備えた動作部材114を配置し、該動作部材を動作させて前記光反射面の位置又は姿勢を変化させることで前記検出範囲に前記部品が配置されていないときの背景からの反射光量が変化するように構成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】反射率が不均一な対象物でも表面形状等を測定することが可能な変位センサシステム及び変位センサを提供する。
【解決手段】変位センサシステム1は、二次元撮像素子15の撮像面15A上の複数の領域Eを指定する領域指定部33と、指定された領域Eごとに対応して個別の投受光感度を設定可能な感度設定部20と、各領域内の走査線Lの受光信号を、当該領域に対応する投受光感度下で受光処理部17に取り出させ、その取り出された受光信号に応じた検出処理を実行する受光制御部20と、を備える. (もっと読む)


【課題】測定値の信頼性に関する新たな情報を提供できるようにする。
【解決手段】カーブフィッティング法において理論干渉波形毎に得られる各フィッティングレベルと、各フィッティングレベルにそれぞれ対応する各理論干渉波形の膜厚との相関を示す相関図36を作成して表示するとともに、膜厚むらによって変化する相関図36の波形の谷部のピーク値について、しきい値L1,L2を設定し、谷部のピーク値が、しきい値L1,L2で規定される警報範囲に入ったときには、安定に測定が行われていないとして警報を出力するようにしている。 (もっと読む)


【解決手段】バーコード読み取り装置および方法であって、そこではプローブ光のスペクトルがまず空間にフーリエ変換され、バーコード上に導かれ、そしてフーリエ変換され、スペクトル的に符号化されたバーコードパターンを時間ドメインの波形に変換する。ある実装では、スペクトルドメインから空間ドメインへのフーリエ変換は分散要素によって行われ、一方でスペクトル的に符号化されたバーコードパターンから時間ドメインの波形へのフーリエ変換は群速度分散(GVD)によって行われる。時間的に符号化されたバーコードパターンは光ディテクタによって検出され、デジタイザによってデジタル化され、およびデジタル信号プロセッサによって解析される。本発明は、1および2次元バーコードの読み取りや変位検知や表面測定や幅およびギャップの測定やフローサイトメトリや光メディアの読み取りや存在または非存在検出や他の関連分野を含む複数の分野に適用可能である。 (もっと読む)


【課題】結晶パターンによる反射率のばらつきがあっても反射光に影響されることなく、反射防止膜のような薄膜の厚さを容易に計測できる膜厚計測装置および膜厚計測方法を提供する。
【解決手段】同軸配置された投受光部を持つ、光干渉式の膜厚計測装置を用いて板状物体の表面に形成された膜の厚さを計測する膜厚計測方法は、投受光部の光軸に対する垂直面から、膜の形成された面を傾斜させた状態で板状物体を保持する工程(S21)と、投受光部から板状物体表面に計測光を照射し、かつ、投受光部に板状物体からの反射光を入力する工程と、入力した反射光に基づいて板状物体の表面に形成された膜の厚さを計測する工程(S25)と、を含む。 (もっと読む)


【課題】測定者の意図した測定が行われなかった場合であっても容易に測定条件の再設定を行う。
【解決手段】被測定物に投影光を投射する投光手段と、前記投影光による前記被測定物の投影光画像を取得する撮像手段であって、該撮像手段の撮像面を区分する部分領域毎の撮像による部分的な前記投影光画像を順に読み出す部分読み出しが可能に構成されるとともに、前記撮像面全面での撮像による前記投影光画像を読み出す全面読み出しが可能に構成された撮像手段と、前記撮像手段から部分読み出しされた複数の部分投影光画像に基づいて、前記被測定物の距離画像を算出する算出手段と、当該距離画像と前記撮像手段から全面読み出しされた全体投影光画像とに基づいて、前記被測定物の再測定部位を指定する指定手段と、前記指定された再測定部位に対応する測定条件を設定する設定手段とを備える3次元形状測定装置とする。 (もっと読む)


【課題】撮像領域内に局所的に高輝度又は低輝度の部位が存在しても、画像全体として鮮明な2次元画像及び3次元画像を撮像できる共焦点顕微鏡を実現する。
【解決手段】本発明による共焦点顕微鏡は、フレーム画像信号を高ゲイン及び低ゲインで交互に増幅する増幅手段(32,33)と、一連の高ゲイン増幅画像及び低ゲイン増幅画像から全焦点画像をそれぞれ形成する手段(36,37,38,39)を有する。2つの全焦点画像から適正輝度範囲の画素を抽出して画素合成を行う(43)。増幅手段のゲイン情報と画素合成手段(43)からの出力信号とに基づいて、増幅率補正された全焦点画像を形成し(44)、増幅補正された全焦点画像についてγ補正等の輝度補正を行い(45)、全ての画素が適正輝度範囲内の2次元画像情報を出力する。 (もっと読む)


【課題】 ラインセンサからの受光量の出力時間を短縮化させ、応答性を向上させた光学式変位計を提供することを目的とする。
【解決手段】 同一の半導体基板上に奇数素子20a及び偶数素子20bが交互に配置されたラインセンサ20と、奇数素子20aの受光量が入力され、当該受光量を順に出力する第1シリアル出力部21aと、偶数素子20bの受光量が入力され、当該受光量を順に出力する第2シリアル出力部20bとを備え、奇数素子20a及び偶数素子20bのいずれか一方から出力される同時に露光して求められた受光量に基づいて、上記ラインセンサの投受光条件を求めるフィードバック制御を繰り返し、受光量調整のための時間を短縮化させる。 (もっと読む)


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