【課題】測定線に沿う物体３４の正反射面の相対位置を測定する方法において、正反射面の傾斜角の許容範囲を広くする。
【解決手段】 （ａ）少なくとも１本の集束光ビーム３８を測定線上の公称位置４０に集束させ、正反射面からの反射ビーム４４を形成する。（ｂ）検出器平面５０における反射ビーム４４の像を記録する。（ｃ）検出器平面５０内の反射ビーム４４の像の位置を決定する。（ｄ）その反射ビームの像の位置を測定線に沿う公称位置４０からの正反射面の変位に変換する。工程（ａ）において、複数本の集束光ビーム３８を公称位置４０に集束させることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】不定形な袋状ワークを対象とし、ピッキングする袋状ワークの位置と姿勢を高い精度で検出することができる袋状ワーク認識装置および方法を提供する。
【解決手段】表面が滑らかな複数の袋状ワーク１の３次元形状を計測する距離センサ１２と、３次元形状からピッキングする袋状ワークの位置と姿勢を認識してロボット制御装置にその結果を出力する物体認識処理装置とを備えた袋状ワーク認識装置。物体認識処理装置は、３次元形状の法線ベクトルの角度から、その不連続部分を袋状ワークの境界とみなして袋状ワークごとに異なるラベル値を割り当て、各ラベル値ごとに袋状ワークの位置と姿勢を認識する。 （もっと読む）

【課題】箱状ワークを対象とし、ワークが密着している場合や荷崩れの場合でもピッキングするワークの位置と姿勢を高い精度で認識することができる箱状ワーク認識装置および方法を提供する。
【解決手段】隣接して荷積みした複数の箱状ワーク１を上方から撮影して全体画像を取得する単眼カメラ１１と、複数の箱状ワーク全体の３次元形状を計測する距離センサ１２と、全体画像から箱状ワークのエッジ部分を検出し、エッジ部分を境界として３次元形状から各箱状ワークの位置と姿勢を認識し、ピッキングする箱状ワークの位置と姿勢を出力する物体認識処理装置１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】ケーブル支持帯の移動に伴う挙動の影響を受けにくく、測定精度の悪化を防止できる同期移動装置およびこれを備えた画像測定装置を提供する。
【解決手段】Ｘスライダ５３と、Ｘスライダ５３を移動させる送りねじ軸５４１と、送りねじ軸に螺合されたナット部材と、Ｘスライダ５３およびナット部材を連結するフローティングユニット７と、Ｘスライダ５３へ配線されるケーブルの支持および案内を行うケーブル支持帯６５とを備える。フローティングユニット７は、Ｘスライダに固定された第１の部材７１と、ナット部材に固定された第２の部材７２と、これらに介在して設けられ、かつ、送りねじ軸の軸線に対して直交する面内での送りねじ軸の振れ運動を吸収する中間部材７３を含んで構成されている。Ｘスライダ５３へケーブルを配線する側のケーブル支持帯の端部は、ワイヤ８５，８６を介して第２の部材７２に接続されている。 （もっと読む）

【課題】対象物に表示する画像処理用マーカーの構成要素をあまり大きくせずとも、良好な検出精度が得られるようにするとともに、誤検出を減らして処理の迅速化を図る。
【解決手段】対象物である工業用部品Ｗに表示するマーカーＭとして、真円又は楕円等の３つのマーカー構成要素ｍ1〜ｍ3を各々三角形の頂点に対応するように配置する。その三角形の重み付き重心に対応付けて、真円又は楕円等の付加構成要素ｍ4を表示する。カメラＣにより撮影した画像データから３つのマーカー構成要素ｍ1〜ｍ3を識別し、対応する三角形の画像平面における形状、大きさ及び位置と、予め設定されている部品Ｗ及び三角形のＣＡＤデータ等とに基づいて、マーカーＭの即ち部品Ｗの位置及び姿勢を検出する。 （もっと読む）

【課題】照明変化がある場合でも、鏡面反射物体の姿勢を推定する。
【解決手段】環境内の３Ｄ鏡面反射物体１０１の３Ｄ姿勢推定の前処理ステップにおいて、物体１０１の３Ｄモデル及び該物体の姿勢のセットを使用して２Ｄ基準画像対のセットを生成する。各基準画像対は姿勢のうちの１つに関連付けられる。次に、物体の２Ｄ入力画像対を取得する。２Ｄ入力画像対内の特徴と各２Ｄ基準画像対内の特徴とを、概算コスト関数を使用して比較することによって物体の大まかな３Ｄ姿勢を推定する。オプションで、概算推定値を精密コスト関数を使用して精緻化する。 （もっと読む）

【課題】計測レンジを維持しつつ、計測可能な高さを簡便に拡張する。
【解決手段】計測対象に投影された、位置に応じて周期的に輝度が変化する光パタンを解析することによって、計測対象の三次元形状を計測する三次元形状計測システムは、計測対象の高さの基準面を有する取付台に計測対象が取り付けられ、計測ヘッドが計測対象および基準面に光パタンを投影して撮像し、変位部が計測ヘッドを高さ方向へ変位させる。撮像された画像の或る画素における光パタンの位相を位相算出部７５が算出し、算出された位相に基づいて高さ算出部７７が計測対象の高さを算出し、算出された高さに基づいて送り量算出部７８が変位部を変位させるべき変位量を算出する。高さ算出部７７は、位相算出部７５が算出した位相に基づいて高さを算出し、算出した高さを、変位量に基づいて補正することにより、計測対象の高さを算出する。 （もっと読む）

【課題】情報端末装置に対する撮影対象の空間的な動作によって、情報端末装置の表示部に表示される情報を制御できる情報端末装置を提供する。
【解決手段】情報を表示する表示部５と、表示部５に表示する情報を記憶するメモリ６とを少なくとも有する情報端末装置１０であって、空間的位置関係の基準となる撮影対象Ｓと、一定間隔で画像を入力する撮像部１と、撮影対象Ｓに光量を照射する光源部２と、撮影対象の空間的位置関係の変化を推定する推定部３と、メモリ６から読み出して表示部５に表示する情報を推定部３により推定された空間位置関係の変化に応じて制御する制御部４とを備える。 （もっと読む）

【課題】３次元計測処理用のパラメータの算出が完了したときに、算出されたパラメータの精度を簡単に確認できるようにする。
【解決手段】撮像により生成された画像から位置関係が既知の複数の特徴点を抽出することが可能な形態のキャリブレーションワークを用いたキャリブレーション処理により３次元計測のためのパラメータを算出した後に、パラメータの算出に用いられたステレオ画像に含まれる複数の特徴点を対象に、算出したパラメータを用いた３次元座標の算出処理を実行する。そして、算出された各３次元座標を透視変換して、変換後の座標を所定のパターンで表した投影画像を生成し、これをモニタ装置に表示する。 （もっと読む）

【課題】 膜状の測定対象物の膜厚の時間変化を精度良く測定することが可能な膜厚測定装置、及び膜厚測定方法を提供する。
【解決手段】 第１波長λ_１の測定光成分、及び第２波長λ_２の測定光成分を含む測定光を測定対象物１５へと供給する測定光源２８と、測定対象物１５の上面からの反射光及び下面からの反射光の干渉光について、第１波長λ_１の干渉光成分、及び第２波長λ_２の干渉光成分に分解する分光光学系３０と、第１、第２干渉光成分のそれぞれの各時点での強度を検出する光検出器３１、３２と、膜厚解析部４０とを有して膜厚測定装置１Ａを構成する。膜厚解析部４０は、第１干渉光成分の検出強度の時間変化での第１位相と、第２干渉光成分の検出強度の時間変化での第２位相との位相差に基づいて、測定対象物１５の膜厚の時間変化を求める。 （もっと読む）

本発明は、レーザスキャナ１０を用いて周辺空間を光学的に走査および測定する方法であって、レーザスキャナ１０が、ある中心Ｃを有する走査を行うために、目標Ｔを含むその周りを光学的に走査および測定し、それによって、異なる中心を有するが同じ周辺空間を走査する２つの隣接する走査が測定点Ｘの範囲内で重複し、したがっていくつかの目標が２つの走査のいずれかによって走査され、それによって、第１のステップ中に、２つの隣接する走査を位置合わせするために、測定点内で目標の場所が特定され、第２のステップ中に、２つの隣接する走査の場所を特定された目標の間で対応関係候補が探され、第３のステップ中に、２つの隣接する走査の仮の位置合わせが行われ、重複する範囲内に測定点の十分な適合度がある場合、仮の的位置合わせが正規の位置合わせに置き換わり、したがって目標を特定する方法が提供される。
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【課題】３次元モデルの精度や認識結果を、視覚により容易に確認できるようにする。
【解決手段】認識対象のワークの３次元モデルを作成した後に、この３次元モデルによりワークの実物モデルの３次元情報を対象にした認識テストを実行する。さらに認識された位置および回転角度により３次元モデルを座標変換し、変換後の３次元モデルの各３次元座標を、認識処理のための撮像を行った各カメラＡ，Ｂ，Ｃの撮像面に透視変換する。そして、各カメラＡ，Ｂ，Ｃにより生成されて認識処理に使用された実物モデルの画像に３次元モデルの投影画像を重ねて表示する。 （もっと読む）

【課題】基準面上に置かれた同一形状の複数の対象物の３次元位置・姿勢を正確かつ容易に認識する。
【解決手段】３次元形状取得部２６により得られた対象物２０の集合２１の３次元位置・姿勢データと、対象物２０の３次元モデルであって位置と姿勢を変化させた当該３次元モデルの位置・姿勢データとを比較し、対象物２０の集合２１中、前記３次元モデルの位置・姿勢に一致度の高い対象物２０を決定する。 （もっと読む）

【課題】３次元計測の計測条件を表すパラメータを適切な適切な認識結果を出力するのに必要な値に設定する処理を、容易に行えるようにする。
【解決手段】ワークの実物モデルＷＭ１，ＷＭ２のステレオ画像を対象に、ユーザが設定した計測パラメータによる３次元計測を実行し、計測結果に基づきワークモデルＷＭ１，ＷＭ２の位置および姿勢を認識する。また認識結果を表す画像を表示し、ユーザの認識結果を選択する操作に応じて、選択された認識結果を示す数値データをサンプルデータに設定する。そして、計測パラメータの設定値を所定の数値範囲内で毎回変更して、設定された計測パラメータによる３次元計測および認識処理を実行し、サンプルデータとの相違量が所定値以内になる認識結果が得られたときに設定されたパラメータの数値範囲を合格範囲に設定する。そして合格範囲の中間値をパラメータの最適値として確定し、登録する。 （もっと読む）

【課題】認識処理の都合に応じた任意の平面の高さを０として高さの認識処理を行うことができるようにする。
【解決手段】キャリブレーションにより３次元計測のためのパラメータを算出して登録した後に、実際の認識処理で高さを０と認識したい平面をステレオカメラにより撮像し、この平面に含まれる特徴パターン（マークｍ１，ｍ２，ｍ３）を対象に、登録されたパラメータによる３次元計測を実行する。この計測により３つ以上の３次元座標を取得すると、これらの座標を含む平面を表す演算式を導出する。さらに、キャリブレーションで高さが０と定義された平面と演算式が表す平面との位置関係に基づき、前者の平面内の点を後者の平面に移動させるための変換用パラメータ（同次変換行列）を求め、この変換用パラメータにより登録されたパラメータを変換する。 （もっと読む）

【課題】 ２次元画像における輪郭などの特徴から３次元物体を認識する３次元物体認識装置において、隠れの影響を排除してロバスト性を向上させるとともに、位置及び姿勢を最適化して認識精度を高める手段を提供する。
【解決手段】 本発明に係る３次元物体認識装置は、３次元物体を撮影するカメラと、３次元物体の位置及び姿勢を変化させながらカメラ画像に投影し、各投影点の座標及びエッジの向きを算出する手段と、それに基づいて作成したルックアップテーブルを記憶する手段と、ピラミッド画像を作成する手段と、解像度が最も低いピラミッド画像についてエッジを抽出する手段と、方向付きディスタンスマップを作成する手段と、方向付きディスタンスマップ上に各投影点をマッピングする手段と、位置及び姿勢を評価する手段と、位置及び姿勢を最適化する手段と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】移動する目標物を高精度に追跡できるようにする。
【解決手段】目標物に向けて光を照射するレーザ発生器１２と、レーザ発生器１２から照射された光による目標物からの反射光を撮像面に結像させることにより目標物を撮像する撮像器１１とを備える目標追跡装置において、制御部１４は、撮像器１１により撮像された画像上での像の慣性主軸を求め、慣性主軸に沿った画素値の分布に基づいて目標物の位置を算出し、算出された位置をもとにレーザ発生器１２及び撮像器１１の指向方向を駆動部１３により制御する。 （もっと読む）

【課題】液面の位置を正確に検出して、高品質な塗膜を形成することができるスリットコート式の塗布方法及び塗布装置を提供する。
【解決手段】液槽に貯留された塗布液をノズルから流出させると共に当該ノズルと基板を前記基板の塗布面の面方向に相対移動させて塗布液を基板に塗布する塗布方法において、前記液槽の液面７７に対して鉛直方向下方から検査光７６を照射して液面７７からの反射光７８を受光して反射光７８の受光位置から液面７７の位置を検出する際に、前記検査光７６が透過する第１透過部７４及び前記反射光７８が透過する第２透過部７５の少なくとも何れか一方を前記液面７７に対して傾斜させて液面７７の位置を検出する。 （もっと読む）

【課題】産業機械と干渉計とが衝突してしまうことを防止できる測定システムを提供すること。
【解決手段】移動体２１と干渉計３とが接近しすぎるなど、移動体２１に取り付けられた反射体４１に対する測定においてなんらかの異常があった場合、干渉計３の判定手段７が受光信号に基づいて、反射体４１に対する測定において異常があると判定し、干渉計３の停止命令出力手段５２が産業機械２に停止命令を出力する。そして、停止命令が入力された産業機械２の停止手段２３１が移動機構２２の駆動を停止させ、移動体２１の移動を停止させる。従って、移動体２１と干渉計３とが接近しすぎるなど、移動体２１の測定においてなんらかの異常があった場合、産業機械２の停止手段２３１が移動機構２２の駆動を停止させることとなるので、産業機械２と干渉計３とが衝突してしまうことを防止することができる。 （もっと読む）

【課題】膜厚測定対象が非平面でもテラヘルツエコーパルスのパルス幅の増大がなく、膜厚測定分解能が低下しない膜厚測定装置を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波パルスＬtを発生するテラヘルツ波発生手段１と、テラヘルツ波パルスＬtを膜厚測定対象に入射させる入射光学系５と、膜厚測定対象から反射されてくるテラヘルツエコーパルスＬteを受光する受光光学系６と、テラヘルツエコーパルスＬteのパルス幅を短パルス化する短パルス化手段１５と、テラヘルツエコーパルスＬteの電場振幅時間分解波形を検出する検出手段７と、を有する膜厚測定ユニット１７を備えることを特徴とする非接触膜厚測定装置。 （もっと読む）