説明

Fターム[2F065RR07]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 比較基準データの作成、設定 (2,769) | 比較相手 (2,648) | 実物 (289)

Fターム[2F065RR07]に分類される特許

101 - 120 / 289


【課題】導光手段からの干渉光の出射位置と干渉光を受光する受光面との位置関係を容易に調整可能な光画像計測装置を提供する。
【解決手段】眼底観察装置(光画像計測装置)1は、CCD184の受光面に対する計測光の照射状態(照射位置、照射方向)を特定する照射状態特定部211と、特定された計測光の照射状態に基づいて光ファイバ165のファイバ端165aの位置や向きを変更するファイバ端駆動機構244を備え、それにより、光ファイバ165のファイバ端165aとCCD184の受光面との相対的な位置や方向を自動的に変更することができる。このようにファイバ端165aと受光面とを適正な位置関係に配置させた状態で眼底Efの計測を実施する。 (もっと読む)


【課題】透明体又は導電体からなる測定対象物の光厚さ及び電気特性を用いて単一の検知手段(センサ)で測定対象物の厚さ及び位置を簡易で迅速且つ確実に測定できる測定装置を提供する。
【解決手段】前記測定対象物100が透明体の場合は不透明な部材を背面に配設し、導電体の場合は不導電体の部材を背面に配設し、該測定対象物に光を照射して対象物からの反射光を受光し、該受光光により二つの電極の抵抗値を変化させる複数の光導電素子を所定の間隔で離隔配設し、複数の光導電素子の少なくとも一の光導電素子の一方の電極に交流電源が接続されると共に、他の光導電素子の一方の電極が出力端子として形成される検知手段2と、予め検出された前記測定対象物に関する厚さ及び位置情報が基準データとして格納される基データベースメモリ32と、前記検知手段からの検知信号及び基準データに基づき前記測定対象物の厚さ及び位置を判別する判別手段3とを備える。 (もっと読む)


【課題】コークス炉の炭化室からコークスを押し出す際に生じる押出負荷と、炭化室の炉壁の凹凸の状態との関係を定量的に把握することができるようにする。
【解決手段】炭化室11の右側及び左側の炉壁14R、14L全体に亘る凹凸量を示す炉壁3次元プロフィールデータ701を、壁面観察装置200で得られた画像信号を用いて生成する。そして、炉壁14に登り勾配があることによって、押し出されるコークス15が受ける抵抗を指標化した抵抗指数kを、炉壁3次元プロフィールデータ701を用いて求めるようにした。そして、この抵抗指数kと押出負荷とに相関があることが確認できた。したがって、押出負荷に影響を与える炉壁14の状態を定量的に評価することができる。 (もっと読む)


【課題】従来よりも計算負荷の軽い回転補正を行うことで、処理コストを軽減しつつ、精度良く物体検出する。
【解決手段】撮像装置は、画像を撮像する撮像部と、撮像部の3次元空間における姿勢を表す姿勢パラメータに基づいて、撮像部により撮像された画像に施されることになる回転補正の回転角度を算出する回転角度算出部を含む。また、撮像装置は、撮像部により撮像された画像において、検出対象となる検出対象物体が含まれうる1つ以上の候補領域を抽出する抽出部と、抽出された各候補領域を、算出された回転角度に応じて回転補正する回転補正部を含む。さらに、撮像装置は、回転補正された各候補領域から、検出対象物体を検出する物体検出部を含む。 (もっと読む)


【課題】従来の光ファイバセンサは、2つの光源を必要とする点、検出する2つの偏波の変動は、異なる光ファイバに生じるものであるため変化のしかたが異なり、それらの偏波変動を比較して時間差を特定することが困難である点、偏波変動の発生位置を詳細に特定できない点等の課題があった。
【解決手段】偏波光源から発せられた偏波光を2分配し、これらの分配偏波光のそれぞれを測定光ファイバの両端に導いてそれぞれ前記測定光ファイバ中を異なる方向に伝播させ、前記測定光ファイバの両端にて前記異なる方向に伝播された偏波光を取り出し、この取り出された偏波光の偏波変化の時間差を計測して前記測定光ファイバ上で生じた偏波変動の生じた位置もしくは区間を特定する事を特徴とする。これにより、その発生位置を精度良くかつ簡単に特定する事が可能である。 (もっと読む)


【課題】カメラは一般的な市販のものをそのまま使用できるとともに、インラインでの検査・判定をも可能とし得るワークの変形・歪み検査方法を提供する。
【解決手段】ステージS上にブロックBを水平方向に移動可能に設置し、ブロックBにフィクサFを取り付け、フィクサFにワークWを載置し得るようになし、ブロックBまたはフィクサFにマークMを付すか若しくは、ブロックBまたはフィクサFの一部をマークとするとともに、ブロックBのワーク載置面から所定距離K隔てて該ブロックBの上方で且つ、該ワーク載置面に対して垂直に1台のカメラCを設置し、カメラCまたはブロックBをカメラCの視野の対角線方向に水平移動させ、その移動前、移動中及び移動後においてカメラCによりワークWの姿を撮像することにより、移動前には見えなかったワークWの稜線をもキャッチし、該稜線上の計測点の三次元座標値を求めるとともに、該三次元座標値を使ってワークWの変形や歪みを検出する。 (もっと読む)


【課題】従来の、ワークのはんだ付け部形状と予め登録されたはんだ付け部形状とをパターンマッチングさせてはんだ付け状態を検査する方法では、実際は良品であるのに不良品とする過剰判定が生じてしまう恐れがあり、はんだ付け状態を判別分析により検査する方法では、はんだ付け部の形状が予め登録できない不良モード等に属する形状であると誤判定が生じる恐れがあった。
【解決手段】はんだ付け状態の良否を、はんだ付け部のパターン形状により判定する、はんだ付け状態の検査方法であって、検査対象となるワーク内に存在する複数の同一パターンのはんだ付け部のうち、あるはんだ付け部のパターン形状を示す、はんだ付け部の形状を撮像したパターン画像等の情報と、他のはんだ付け部のパターン形状を示す前記情報とを比較することにより、前記はんだ付け部のはんだ付け状態の良否を判定する。 (もっと読む)


【課題】正確な三次元形状測定を行うことができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】所定幅を有したスリット光Sからなる投影パターンを被検物5に投影する投影部20と、スリット光Sが所定間隔走査される毎に被検物に投影された投影パターン像を撮像する撮像部30と、撮像部30で撮像される投影パターン像のそれぞれに対し、スリット光Sの走査位置に応じて算定される3以上の変調係数をそれぞれ乗じて3以上の変調画像を取得し、同じ変調係数を乗じて取得された変調画像群をスリット光Sの走査方向に並べて合成して3以上の正弦波パターン投影画像を生成する画像生成部41と、3以上の正弦波パターン投影画像から被検物5の位相分布を算出し、位相分布に基づいて被検物5の表面形状を測定する形状測定部42と、を有して構成される。 (もっと読む)


【課題】冷延鋼板のストリップの耳伸び・腹伸びに関する形状不良を安価にかつ精度良く検出することができるストリップ形状検出方法および装置を提供することを目的とする。
【解決手段】搬送中のストリップの一方の幅方向端部側から他方の幅方向端部側に向けて、少なくとも3つのレーザー平面光を前記ストリップの幅方向内の所定位置で互いに交差し、かつ交差角度を異にするように照射し、照射されたレーザー平面光を前記他方の幅方向端部側で受光し、該受光信号に基づいて前記ストリップの形状不良の判定およびその形状を検出する。 (もっと読む)


【課題】正確な三次元形状測定を行うことができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】パタン投影系20が、投影パターンの投影方向を、第1の投影方向A1と、第1の投影方向に対して撮像系の光軸を中心に180度回転対称となる第2の投影方向A2とで切り替える投影方向切替手段30を有して構成され、形状測定部50は、被検物の表面上における同一の測定点に対し、第1の投影方向A1で投影された投影パターンが基準線に対して変形した量から求まる測定点の第1の高さ情報と、第2の投影方向で投影された投影パターンが基準線に対して変形した量から求まる第2の高さ情報との差から算出可能な撮像系のディストーションに因り発生する高さ情報を、第1又は第2の高さ情報から除いて、測定点の高さを測定する。 (もっと読む)


【課題】より正確な3次元形状の処理を行なうことができる3次元形状処理装置を提供する。
【解決手段】計測された顔の3次元形状から複数の局所パッチ領域(目、鼻など)を抽出する。また、各局所パッチ領域に対して、データの品質を演算する。各局所パッチ領域に該当する部分のデータを、その品質とともに記憶する。新たな局所パッチ領域の計測データが得られたときに(S501)、その新たなデータの品質と、記憶された対応する局所パッチ領域のデータの品質とを比較する(S503)。新たなデータの方が高品質であれば(S505でYES)、記憶されたデータを新たなデータで更新する(S507)。 (もっと読む)


【課題】 被測定物の表面の反射率分布の影響を低減して、高精度に表面形状を測定できる形状測定方法を提供すること。
【解決手段】 被測定物の表面形状を測定する形状測定方法において、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記被測定物の表面に斜めに入射させ、前記参照光を参照ミラーに入射させるステップと、前記被測定物で反射した前記測定光と前記参照ミラーで反射した前記参照光とを光電変換素子へ導くステップと、前記測定光と前記参照光とで形成される干渉光を、前記被測定物を移動しながら前記光電変換素子で検知するステップと、前記被測定物の表面上の同じ位置で反射した前記測定光から得られる干渉信号に基づいて、前記被測定物の表面形状を求めるステップと、を実行する。 (もっと読む)


【課題】被検物の時間的な変化の影響もしくは被検物表面の急激な状態変化の影響を受けることがないようにして正確な三次元形状測定を行うことができるような測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】位置によって異なる光学波長および位相を有する投影パターンを被検物に投影する投影部と、前記投影パターンが投影された前記被検物の像を色調に対応する少なくとも2つの波長特性に基づいて分けた撮像として取得する撮像取得部と、前記被検物の複数の位置に対応する前記撮像から前記波長特性同士の重複による誤差を修正した修正位相を取得する修正位相取得部と、前記修正位相取得部により得られた前記修正位相から前記被検物の形状を測定する形状測定部とを備えることを特徴とする形状測定装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】鏡面反射光の影響を受けることなく正確な三次元形状測定を行う。
【解決手段】被検物20に所定の投影パターンを投影するパターン投影系と、投影パターンが投影された被検物を撮像する第1の開口数NA1を有した第1撮像装置6と、これと同一光軸上において被検物を撮像する第2の開口数NA2を有した第2撮像装置8と、被検物に対する光軸方向の相対位置を調整する位置調整器とを備えて形状測定器が構成される。Z1位置およびZ2位置において、投影パターンを投影した被検物を、第1および第2撮像系により撮像して第1(Z1)および第2(Z1)測定画像並びに第2(Z1)および第2(Z2)測定画像を取得し、所定画像位置における第1位置ずれ(Δd1)と第2位置ずれ(Δd2)とから、所定画像位置に対して合焦する合焦位置(Z0)を求め、所定画像位置における合焦位置(Z0)での測定画像から所定画像位置の光軸方向位置を求め、前記被検物の三次元形状を求める。 (もっと読む)


【課題】被検物の表面形状の影響を受けることがないように投影パターンを生成して正確な三次元形状測定を行うことができるような測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】被検物に所定の投影パターンを投影するパターン投影部と、前記投影パターンが投影された前記被検物を撮像する撮像部と、前記撮像部により得られた撮像画像から前記投影パターンに対応する前記被検物の複数の部分の光軸方向の位置を演算する形状演算部と、前記パターン投影部により投影された前記投影パターンと前記撮像部により得られた撮像画像との位置の対応づけを行うとともに、前記撮像画像の画像面上の点の輝度を演算する輝度演算部と、前記輝度演算部により得られた前記撮像画像の画像面上の点の輝度により、前記投影パターン上の点に対して輝度の補正を行うパターン補正部とを備える形状測定装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】投影光学系及び結像光学系におけるディストーション等の影響を軽減し、計測精度が高い三次元形状測定装置を提供する。
【解決手段】投影対象に所定の投影パターンを投影する投影部と、パターンの投影された前記投影対象を撮像する撮像部と、前記投影対象に対する前記撮像部の光軸方向の相対位置を調整する位置調整部と、平面形状を有する校正用プレートに前記投影パターンを投影し、前記撮像部により撮像されたプレート撮像画像から、光軸方向の位置毎にデータを記憶する校正データ記憶部と、被検査物にパターンを投影し、撮像された被検物撮像画像から前記被検物の光軸方向の高さを演算する形状演算部と、前記形状演算部により得られた前記高さ毎に、記憶された前記校正データを用いて、前記高さを演算するのに用いた前記被検物撮像画像のデータを校正し、校正画像を取得する校正画像取得部とを備えることを特徴とする形状測定装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】教示が簡単で低廉なコストの3次元クリームはんだ印刷自動検査を実現する。
【解決手段】水平姿勢の基板と、その上方から1次元イメージセンサカメラの横長視野に沿って幅広く基板を照明する拡散光光源と、基板に対してカメラ視軸が斜め角度を取る姿勢に設置した1次元イメージセンサカメラとが構成する3次元撮像幾何光学配置において、カメラのピクセル配置に直交する方向に基板を移動することによって、基板全面の3次元画像を獲得し、検体クリームはんだ印刷基板の3次元画像と基準クリームはんだ印刷基板の3次元画像との差分画像処理を行い、クリームはんだの広がりや高さの異常によって生じた教示閾値を超える差分のある画素を、異同画素として検出する。 (もっと読む)


【課題】ロール状のパンのスライス部にフィリングが適切に充填されているか否かを確認できる充填検査方法、充填検査装置、充填制御装置を提供する。
【解決手段】サンドロールとなるパンのスライス部とスライス部にフィリング充填機で充填されるフィリングの高さを変位センサで測定すると共に、搬送されるパンの位置情報をレーザーセンサとエンコーダー等からなるパン位置情報検出部で求め、両者から得られる測定したサンドロールのフィリング位置形状データと対比用フィリング位置形状データとを比較しフィリングの充填状態を検査し、フィリングの充填状態の適不適を判定し、判定結果又は比較結果に基づいてフィリングの吐出量を制御するフィリング吐出量制御部を設けた。また高さを正確に測定するためパンのスライス部を拡開するガイド部を前記充填機に設け、ガイド部の上方に変位センサを配置した。 (もっと読む)


【課題】受光信号のピーク位置がイメージセンサの焦点からずれる現象を軽減し、波形に対する平滑化処理を施すことでノイズを改善する変位センサを提供すること。
【解決手段】受光信号に基づき、画素毎に複数の画素の受光量を平均した移動平均値を算出する変位センサのコントローラ10に内蔵されたCPUと、前記平均値から受光量がピークとなる画素位置を判別するとともに、該判別の結果に基づいてワークWの変位を検出する該コントローラ10に接続されたセンサヘッド20aと、を備える変位センサにおいて、CPUは、予め画素位置毎に設定された参照数により移動平均値を算出する、ことを特徴とする構成をしている。 (もっと読む)


【課題】光学顕微鏡による観察面の直接観察では発見しにくい、平坦で特徴の少ない面内の極小領域に規則性を持って点在する試料であった場合に、アライメントを容易にする。
【解決手段】走査電子顕微鏡の試料室外もしくは試料室内に、走査電子顕微鏡の観察面に対して斜め方向に光を照射して反射光を検出する光学顕微鏡ユニット24を設ける。アライメントの際には、複数ある観察対象部位から任意に選択した観察対象部位で、電子顕微鏡の観察面とは異なる端面を斜めから観察した光顕画像を撮影する。撮影した画像をテンプレートマッチングの手法を用いて解析し、実画像上における観察位置の座標情報を推定する。 (もっと読む)


101 - 120 / 289