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Fターム[2F065RR07]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 比較基準データの作成、設定 (2,769) | 比較相手 (2,648) | 実物 (289)

Fターム[2F065RR07]に分類される特許

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【課題】検査対象基板の気泡起因の突起欠陥と、異物起因の突起欠陥と、表面のうねり(ラフネス)を、正確に判別して、欠陥検査を行う。
【解決手段】検査対象基板とほぼ垂直な方向から光束を照射し、その照射光によって発生した反射光の強弱を光学センサで受光する工程と、この光学センサで検出した信号に基づいて画素ごとの階調分布を算出し、階調の極大値の座標を算出する工程と、前記検出した信号に基づいて画素ごとの2値化処理した画像を作成し、欠陥候補部の形状を認識し、この形状の重心の座標を算出する工程と、前記極大値の座標と前記重心の座標の位置関係によって欠陥の種類を判別する工程を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 従来技術では、3次元モデルを2次元画像へ投影する処理や、画像から抽出される全ての2次元特徴と3次元モデルの特徴との対応を検査する処理などの演算量が大きいという課題があった。
【解決手段】 3次元モデル特徴とのマッチングに必要な画像特徴を、所定の画像特徴制約条件で絞り込んで抽出する画像特徴抽出手段と、3次元モデル特徴と画像特徴とを2次元平面上でマッチングさせて、モデル特徴と画像特徴との対応関係である特徴対応情報を所定の特徴対応制約条件で絞り込んで取得する2次元マッチング手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】時系列的に変化する撮影画像から、撮影装置の撮影位置、姿勢又は対象物の座標を精度良く計測でき、また、高速、小メモリ容量の超解像処理を可能とする。
【解決手段】時系列的に撮影した一連の撮影画像を取得し、撮影画像から特徴点を抽出し、特徴点を追跡して相互に対応付け、対応付けられた一連の撮影画像から、超解像処理を行なうための画像群である原画像群を選択し、原画像群において対応付けられた特徴点から超解像処理を行なうための特徴点としての主特徴点を抽出して、主特徴点の周囲の小領域に部分画像を設定し、部分画像を特徴点の移動量が略等しいグループに分けて部分画像に超解像処理を行ない部分的超解像画像を形成し、部分的超解像画像が形成された撮影画像群からステレオ画像を選択し、標定および三次元計測を行なう。 (もっと読む)


【課題】 アライメントマークの計測の高速度化を図りつつ、マーク位置を高精度に計測できるようにする。
【解決手段】 ウエハWを載置して移動するウエハステージWSと、ウエハステージWS上に載置されたウエハWに形成されたアライメントマークAM1〜9を検出するアライメントセンサAS1〜3と、アライメントマークAM1〜9をアライメントセンサAS1〜3で検出する際のウエハステージWSの移動方向であるY方向に沿って、ウエハステージWS上に配列的に設けられた複数のステージマークSM1R〜SM9R,SM1L〜SM9Lと、アライメントセンサAS1〜3がウエハマークAM1〜9を検出しているときに、ステージマークSM1R〜SM9R,SM1L〜SM9Lを検出するステージマークセンサSS1〜2と、これらセンサAS1〜3,SS1〜2の検出結果に基づいて、アライメントマークAM1〜9の位置を求める制御装置FIAUとを備えて構成される。 (もっと読む)


【課題】改善された端面を有する特にガラス・ロッド部分の形で光導体を提供する。
【解決手段】本発明は、ガラス・ロッド、特に光導体を検査するための方法であって、ガラス・ロッドは2台のカメラの前に配置され、これらのカメラはガラス・ロッドの端面を側面から、ガラス・ロッドの長手方向軸に対して半径方向の2つの異なる視野方向で記録し、端面の外形の平面度と傾斜度は両方のカメラによって記録に基づいて光学的に非接触式で決定され、ガラス・ロッドは、その端面の平面度または傾斜度のいずれかがそれぞれ規定された設定範囲から逸脱している場合には、除去/分類デバイスによって自動的に除去および/または分類される方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】記録紙の斜行量及び記録紙の搬送速度の速度ムラに因らず、より精度よく記録紙のサイズを検出することが可能な画像形成装置及びその制御方法を提供する。
【解決手段】同一の記録紙7に対し感光体ドラム505上に形成された現像剤像の転写、定着を複数回行う画像形成動作が可能であり、記録紙7の位置を検知するラインセンサ10〜12と、ラインセンサ10〜12の検知結果に基づいて記録紙7の斜行量を算出し、次いで記録紙7の主走査方向及び副走査方向の長さを算出し、第1の記録紙サイズとして定着前の記録紙7のサイズを、第2の記録紙サイズとして定着後の記録紙7のサイズを検出する主走査方向演算部24及び副走査方向演算部25と、第1及び第2の記録紙サイズから定着前後における記録紙7の伸縮率を算出し、該伸縮率に基づいて画像形成動作を制御する画像補正制御部26とを有することを特徴とする画像形成装置。 (もっと読む)


【課題】
簡便な方法で高精度にリンク長を推定する。
【解決手段】
モーションキャプチャにより計測された被験体上のマーカ位置情報を用いた運動学パラメータの推定手段である。リンク機構モデルのリンク上の相対マーカ位置、リンク長、関節角とから推定マーカ位置を定義し、前記マーカ位置情報と前記推定マーカ位置との誤差を表す目的関数を用意する。前記目的関数に、複数フレーム上のマーカ位置情報、及び、関節角を入力する手段と、前記目的関数を用いて前記誤差を最小にする最適化計算を行い、複数のフレームに共通の相対マーカ位置及びリンク長を推定し、推定されたリンク長を前記被験体に特有のリンク長とする手段と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】基板テーブルの位置および/または移動を、過剰なコストの増加を伴うことなく、広い移動範囲にわたって正確に測定するために使用することができるシステムを提供する。
【解決手段】変位測定システム、詳細には、基準フレームに対するリソグラフィ装置内の基板テーブルの変位を測定するための変位測定システムが提供される。変位測定システムは、基板テーブルに取り付けられた複数の変位センサと、基準フレームに取り付けられた、個々の変位センサと結合したターゲットとを備えている。 (もっと読む)


【課題】被検出部が非円筒状でも測定でき、毎分数万回転の高速回転まで測定可能なポリゴンミラーの面出入り測定装置を提供する。
【解決手段】第1光源2と、前記第1光源から射出された第1測定光6を集光させる第1光学レンズ3と、第1測定光6を被測定ポリゴンミラーで反射させた第1反射光7の位置を検出する第1光検出素子5と、第2光源8と、前記第2光源から射出された第2測定光12を集光させる第2光学レンズ9と、第2測定光12を被測定ポリゴンミラーで反射させた第2反射光13の位置を検出する第2光検出素子11と、第1光検出素子と第2光検出素子から出力される信号より、ミラー面の面出入りを算出する面出入り算出手段を備えたことを特徴とする面出入りを測定する装置。 (もっと読む)


【課題】円盤状体の直径測定における測定時間を短縮することができる直径測定装置を提供すること,および被測定物であるウェーハなどの円盤状体のそりやひずみ,或いは測定時に傾きなどが生じた場合でも,高度の測定精度を維持することの出来る直径測定装置を提供すること。
【解決手段】測定対象である円盤状体の直径に対応する上記円盤状体の外周位置に,該円盤状体の2以上の外周部分に測定光を照射する2以上の照射光学系と,これに対向し上記照射光学系から照射され上記円盤状体の外周部分で一部が遮られた測定光を受光する受光光学系とを備え,上記受光光学系による光学画像に基づいて上記円盤状体の直径を算出する直径測定装置。 (もっと読む)


【課題】 高温の測定対象物にも適用でき、測定対象部位の変形を直接計測することにより、ノイズの少ない高精度な信頼性のある歪み計測をできるようにした光学式振動歪み計測装置を提供する。
【解決手段】 一つのフォルダーに取り付けた少なくとも3基のレーザ変位計を用いて振動する測定対象部位の少なくとも3箇所の変形を測定し、各レーザ変位計により計測した変位の差から測定対象物に発生している振動変形による歪みを演算装置により演算する。 (もっと読む)


【課題】レーザ座標表示系における医療技術機器患者テーブルの位置決め精度のチェックを簡素化する。
【解決手段】アイソセンタに位置決め可能な患者テーブルと光学座標表示系とを備え、この座標表示系が、試験ビームを放出するために設けられた少なくとも1つのビーム源、特にレーザ放射器を有する医療技術機器、特に放射線治療機器において、患者テーブルの位置決め精度をチェックするために、1列の光電池で構成された少なくとも1つの光電池列を有しビームを検出するための試験体が設けられ、試験体の位置が患者テーブルの位置と相関している。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の任意断面に相当する三次元データの任意断面データを、座標位置合わせ等を行うことなく簡易に取得できるようにする。
【解決手段】基準平面11P上に測定対象物12aを載置し、測定対象物12aを挟んで少なくとも3つのマーカー13aを配置する。次に、マーカー13aの三次元座標値に対して位置合わせが可能なように、測定対象物12aの三次元データを取得する。そして、3つのマーカー13aの三次元座標値に基づいて第1の平面π0を求め、3つのマーカーのうち、2つのマーカー131,132を通り、第1の平面π0に垂直な第2の平面π1を決定する。しかる後、第2の平面π1を決定づける平面方程式と三次元データとの交点から、前記三次元データの断面データを取得する。 (もっと読む)


【課題】回折アライメントビームを偏向させるためのより強固で、簡単かつ安価な方法を提供する。
【解決手段】アライメントツールは、基板W上のアライメントマークP1をアライメントビームで照らし、反射スペクトルを測定する。この反射スペクトルは基準マークG91、G93、G96と比較され、ミスアライメントの有無を判断する。アライメントマークP1から基準マークG91、G93、G96上へとアライメントビームを回折することによってもたらされたサブビームを偏向するためにブレーズ型サブ波長格子10を使用する。 (もっと読む)


【課題】非破壊的で簡便であり、FEM解析に適用でき、実証性を有する溶接変形および残留応力の評価方法を提供すること。
【解決手段】本発明にかかる溶接構造物の評価方法は、マーキングされた溶接材表面の画像を、互いに異なる溶接状態において取得する工程と、それぞれの溶接状態において取得された画像を比較して、前記溶接材の変位差を測定する工程と、前記変位差を逆解析して固有ひずみを求める工程と、前記固有ひずみから両溶接状態の残留応力差と変形差を算出する工程とを備えるものである。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板に形成されるパネルのエッジの位置を精度よく検出する。
【解決手段】エッジの位置検出装置が実行する処理は、当該装置に対して外部から入力される指示に基づいて、初期設定を実行するステップ(S710)と、ガラス基板の全体を表わす画像から、対象となる領域に対応する画像を抽出するステップ(S720)と、抽出された画像のエッジを強調した画像データを生成するステップ(S730)と、エッジ強調された画像を表わすデータを投影累算方向の方向に従って積算し、一次元投影累算データを生成するステップ(S740)と、統計量を算出する対象となる領域を決定するステップ(S750)と、決定された領域に基づいて統計量を算出し、その統計量に基づいて閾値を算出するステップ(S760)と、閾値を用いて、パネルエッジの位置を決定するステップ(S770)とを含む。 (もっと読む)


【課題】レーザ光を用いたパターン投影装置又はパターン検査装置において、干渉縞の発生を低減すること。
【解決手段】レーザ光を発生するレーザ発生装置と、パターンを有するマスクと、レーザ発生装置とマスクの間に配置され、レーザ光をマスク上に照射し、パターンを対象物に投影する光学系と、光学系内に配置される回転位相板と、回転位相板を回転する駆動装置と、回転位相板と光学系間の振動伝播を阻止する緩衝材と、を備えている、パターン投影装置、及び、パターン検査装置。 (もっと読む)


【課題】傾斜した測定面を有する被測定物を良好に測定できる光学式変位測定器の提供。
【解決手段】光学式変位測定器の光学装置160に、平行光L13を集光させた集光光L14を、被測定物900の測定面901に向けて照射するとともに、測定面901からの反射光L15を受ける対物レンズ170と、この反射光L15における集光光外縁L14Aよりも外側に向けて反射された外側反射部分L16を反射して、測定面901における集光光L14の照射位置Pへ入射させる反射手段190と、を設けている。このため、外側反射部分L16に対応する外側反射集光光L19を測定面901で反射させた第2測定面反射光L20を、集光光外縁L14Aから内側にかけての部分、および、平行光外縁L13Aから内側にかけての部分を進行させて、受光ビームとして合焦位置の検出に利用することができる。 (もっと読む)


【課題】 誤品検査を行う作業者の集中力を回復させることができる物品検査装置を提供する。
【解決手段】 部品コード(物品識別情報)に対応して部品の外観形状を示す情報を記憶している外観形状データベース(記憶手段)21と、部品に付されている部品IDを入力する部品ID入力手段31と、部品IDが入力された際に、入力された部品IDに対応して外観形状データベース21に記憶されている外観形状情報から得られる真正物品の外観形状、又は、入力された部品IDから相違する非真正物品の外観形状を表示する表示器40を備えている。そして、表示器40が真正物品の外観形状を表示する頻度は、非真正物品の外観形状を表示する頻度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】例えば10nm以下の微小なスペーシングを測定することが可能なスペーシング計測装置及び計測方法を提供する。
【解決手段】被計測物Tの表面に透明体4を対向させ、透明体4を介して光を被計測物Tに出射し、被計測物Tの表面と透明体4との対向部に生じる干渉光の強度に基づいて被計測物Tと透明体4との間のスペーシングを算出するスペーシング計測装置であって、光を出射する光源1と、出射した光の強度を所定の周波数の変調波で変調させる変調手段2と、干渉光の光強度を電気信号に変換するセンシング手段7と、電気信号を、前記変調波を参照波として同期検波する同期検波手段8とを備えている。 (もっと読む)


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