説明

Fターム[2F067AA07]の内容

波動性又は粒子性放射線を用いた測長装置 (9,092) | 測定内容 (1,524) | 位置、座標 (355) | 変位、移動量 (15)

Fターム[2F067AA07]に分類される特許

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【課題】基板および基板の1つまたは複数の平坦な表面上に配置されたアンテナを有するセンシング素子を含む近接センサアセンブリを開示する。
【解決手段】ケーブル120が、基板130の平坦な表面に実質的に平行に通り、基板130の側面に取り付けられ、ケーブル120はセンシング素子131から放出される電磁場90の方向に対して実質的に垂直に向けられる。 (もっと読む)


【課題】製造コストが安く、故障部品が交換可能なセンサプローブを組み立てる。
【解決手段】センサを組み立てる方法は、エミッタ336をプローブキャップ300内に配置するステップを含み、エミッタ336は少なくとも1つのマイクロ波信号から電磁界を生成するように構成される。内側スリーブ302は環状であり、該表面324を囲むねじ部326を含む。ねじ部326はプローブキャップ300のねじ部322と連携し、互いにねじ結合される。外側スリーブ304は、内表面328を囲むねじ部332を持ち、内側スリーブ302のねじ部326と連携し、外側スリーブ304内に、内側スリーブ302をねじ結合する。 (もっと読む)


【課題】電磁場に対して、大きな電磁エネルギー量を放射するエミッタを有すセンサ組立体を提供する。
【解決手段】マイクロ波エミッタ206は、エミッタ本体300から半径方向外向きに延びる第1のアーム310を含む。第1のアーム310は、少なくとも部分的に非線形であり、かつ少なくとも1つのピーク334及び少なくとも1つのトラフ336を有する。本マイクロ波エミッタ206はまた、エミッタ本体300から半径方向外向きに延びる第2のアーム312を含む。第2のアーム312は、少なくとも1つのピーク334及び少なくとも1つのトラフ336を有する。第1のアーム310及び第2のアーム312は、少なくとも1つのマイクロ波信号を受信した時に電磁場を発生する。 (もっと読む)


【課題】稼働中の駆動軸との近接度を、測定範囲の広いセンサーで検出し、データを送信する。
【解決手段】機械構成部品104をモニタするうえで使用するためのセンサ組立体110は信号処理デバイス200と、少なくとも1つのプローブ202と、を含む。少なくとも1つのプローブは、少なくとも1つのマイクロ波信号から電磁場が生成されるように構成された放射源206を含み、負荷信号が生成されるように電磁場内に機械構成部品が配置されたとき、放射源は、離調する。少なくとも1つのプローブは、放射源に結合され、負荷信号を信号処理デバイスに無線で送信するように構成された送信機210も含む。 (もっと読む)


【課題】アンテナ送信時の反射を吸収する電磁吸収部材を設け、アンテナ接地による過度のエネルギー損失をふせぐ。
【解決手段】マイクロ波センサプローブ202は、プローブ筐体208と、前記プローブ筐体に結合された放射源本体と、前記放射源本体に結合された放射源206と、を含む。放射源は、少なくとも1つのマイクロ波信号から電磁場を生成するように構成されている。少なくとも1つの電磁吸収部材は、放射源を介して送られた電流と放射源によって生成された電磁放射のうちの少なくとも1つを吸収するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】近接度応答の線形範囲を拡大する。
【解決手段】マイクロ波センサ組立体110は、あるパターンの周波数を含む少なくとも1つのピンクノイズ系マイクロ波信号を生成するための信号処理デバイス200と、前記信号処理デバイスに結合された少なくとも1つのプローブ202と、を含む。プローブは、少なくとも1つのピンクノイズ系マイクロ波信号から電磁場224を生成するように構成された放射源206を含み、放射源206から前記信号処理デバイスに負荷信号が反射するように物体が前記電磁場内に配置されたとき、前記放射源は離調する。 (もっと読む)


【課題】エミッタの散乱パラメータを安定化さすセンサアセンブリを提供する。
【解決手段】センサアセンブリ110は、所定の周波数範囲内で複数の周波数成分を含む少なくとも1つのマイクロ波信号から少なくとも1つの電磁界224を発生させるエミッタ206を備えた少なくとも1つのプローブ202であって、部品が少なくとも1つの電磁界224と相互に作用した場合にエミッタ206に負荷が誘起される、少なくとも1つのプローブ202と、エミッタと結合されたデータコンジット204であって、負荷を表す少なくとも1つの負荷信号がこのデータコンジット204内でエミッタ206から反射されるデータコンジット204と、少なくとも1つの負荷信号の受信と電気的出力の発生とを行うように構成された少なくとも1つの信号処理装置200と、を備える。 (もっと読む)


【課題】線状導体の先端付近に観測空間が無くても、その先端付近における状況を把握できるような検出装置を提供する。
【解決手段】吐出針Nの先端における液体の吐出状況を検出する検出装置100において、空胴共振器11にマイクロ波周波数の電磁波の定在波をTM01モードで励起し、このTM01モードの回転磁界の中心に沿って配置された吐出針Nに電磁誘導によってマイクロ波周波数の交流電流Iを流す励振部10と、交流電流Iが流れることによって吐出針Nから放射される電磁波を受信する受信部20と、受信部20の受信した電磁波に基づいて吐出針Nの先端における吐出の有無や吐出量を検出する検出部30を備える。 (もっと読む)


本発明は、ライン構造体中の反射要素とライン構造体の端部に設けられた電磁波のための結合箇所との間の距離を求める方法及びこの方法を実施する距離測定装置(2)であって、距離測定装置が、送受信装置を有し、送受信装置は、結合箇所のところに設けられていて、電磁波をライン構造体中に結合すると共に反射要素で反射された電磁波をライン構造体から結合解除するために送受信装置をライン構造体に同軸誘導結合するライン移行部(6)を備え、距離測定装置が、結合箇所と反射要素との間の距離を結合された電磁波と結合解除された電磁波の位相差から求める評価装置を更に有することを特徴とする距離測定装置に関する。
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【課題】探索画像中にテンプレートと類似したパターンが存在する場合でも正確なマッチング位置を出力する検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】画像探索部にテンプレート選択画像におけるテンプレートの相対位置と探索画像における現在探索中の場所の相対位置を比較してその位置ずれ量を出力する相対位置比較部を有し、マッチング位置決定部において探索画像類似度分布情報のみならず、前記位置ずれ量をも考慮しマッチング位置を決定する。 (もっと読む)


【課題】スポットビーム型電子ビーム露光装置及び電子ビーム位置変動抑制方法に関し、各種の外乱に起因する電子ビームの位置変動をリアルタイムに抑制する。
【解決手段】電子源1から放出された広い断面積の電子ビームを一つの描画用電子ビーム3とそれを取り囲む四つの検出用電子ビーム4とに分ける五つの孔を配置したビーム制限絞り2と、四つの検出用電子ビーム4を四極子のレンズと双極子の偏向との重畳電場内に通過させる電場発生機構5と、描画用と検出用の双方電子ビームに作用するコンデンサレンズ6と、描画用電子ビーム3を照射面に集束させる対物レンズ8の主面付近の上下に検出エッジ及び検出器の組み合わせからなる電子ビーム検出機構9をx,y方向に計四つ配置し、一方の方向から二つの検出信号を処理する検出信号処理回路11を各々の方向に備え、各検出信号処理回路11からの出力により描画用電子ビーム3を偏向させる偏向器7を備える。 (もっと読む)


【課題】試験片のマクロまたはミクロの変形の測定を含め、試験片の変形特性を決定するために試験片にマークを付けて測定するための方法および装置を提供すること。
【解決手段】試験片にマークを付けて測定するための方法および装置であって、エネルギー式システムを用いて試験片の変形特性を決定するために高解像度ゲージマークを形成する。 (もっと読む)


【課題】 外部から視認できない物体等の移動量を、放射線を用いて計測するに当たり、放射線の空間強度分布の時間的変化や、放射線検出器の感度むら並びに歪みがあっても、常に高い精度で移動量を計測することのできる放射線を用いた移動量測定装置を提供する。
【解決手段】 規定時間経過前後の被測定物の放射線透視像から、それぞれ移動量測定方向に沿ったラインプロファイルPn(y),Pn−1(y)を作成し、これらのラインプロファイルの差分値の絶対値があらかじめ設定されている値以上の領域のみを比較して被測定物Wの移動量を算出することで、放射線の空間強度分布や放射線検出器の感度むら等の影響を除外し、正確な移動量の算出を可能とする。 (もっと読む)


【課題】標準寸法試料の最適観察倍率以外の倍率範囲においても倍率校正、測長値の校正が行える荷電粒子線装置を提供する。
【解決手段】倍率基準とする試料の試料拡大像を用いて倍率が校正された第1の倍率で試料像を取得する一画像内で前記偏向器によって荷電粒子線を所定量偏向させて記録した視野移動を含む第1の試料像から抽出した荷電粒子線偏向前後の視野の移動量と、第2の倍率で試料像を取得する一画像内で前記偏向器によって荷電粒子線を前記所定量偏向させて記録した視野移動を含む第2の試料像から抽出した荷電粒子線偏向前後の視野の移動量とをもとに、前記第2の倍率を校正する。 (もっと読む)


本発明は、方法および測定システムを提供する。当該方法は:測定画像情報を含む測定モデルを提供するステップと;上記測定画像情報を利用することにより測定領域を突き止めるステップと;測定結果情報を提供する為に少なくとも一つの測定を実施するステップと;を含む。
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