【課題】破損した校正値の修復時間を節約し、計測装置が稼動状態のまま校正値を更新でき、校正値の更新が異常終了しても、継続して計測処理できる計測装置を提供すること。
【解決手段】グループ分類された校正値およびこのグループ分類された各校正値のＳＵＭ値、そして最初に計測装置を校正したときの初期校正値を内部メモリに保持させ、計測装置が稼動中に、作業メモリに保持された更新データに対するＳＵＭ値と、グループ分類された各校正値のＳＵＭ値とを比較し、相違したＳＵＭ値に対応する校正値を書き換える。この書き換え処理が異常終了したときは、初期校正値を用いて計測処理を継続する。 （もっと読む）

【課題】従来の校正支援装置においては、不良コストおよび校正コストを削減できないという課題があった。
【解決手段】
校正対象の校正を支援する校正支援装置であって、校正対象が取得した測定値を受け付ける受付部１１と、検査対象についての真値が格納され得る真値格納部１８と、受付部１１が受け付けた測定値の変化の傾向を判断する変化傾向判断部１９と、真値を取得し、変化傾向判断部１９の判断結果に応じて、校正の目標値を決定する目標値決定部２０と、目標値決定部２０が決定した目標値を出力する目標値出力部２１とを備えた。 （もっと読む）

【課題】 複数の信号経路を利用したセンサ自己診断を提供する。
【解決手段】 実施形態は、複数の信号経路を利用したセンサ自己診断のためのシステムおよび方法に関する。一実施形態では、センサは磁界センサであり、システムおよび／または方法は、関連する安全性規格、またはＳＩＬ規格などの他の業界規格を満たすまたは上回るように構成される。例えば、単一の半導体チップ上に実装されたモノリシック集積回路センサシステムは、半導体チップ上に第１のセンサ信号用の第１の信号経路を有する第１のセンサ装置と、半導体チップ上に第２のセンサ信号用の、第１の信号経路とは異なる第２の信号経路を有する第２のセンサ装置と、を含むことができ、第１の信号経路信号と第２の信号経路信号とを比較することによりセンサシステムセルフテストを提供する。 （もっと読む）

【課題】センシングデバイスの高機能化と高信頼性化とに対応するために、書換可能ＰＲＯＭ回路を複数設け、それらの出力から適切なものを選択する多数決回路を設けることは、製品コスト、半導体チップ面積の両面で大きな負担となる。高機能化と高信頼性化とを図りながら、製品コスト、半導体チップ面積の増大を抑制できるようにする。
【解決手段】エミュレーションモードでテストデータが更新書き込み可能な書換可能ＰＲＯＭ回路４Ａと、エミュレーションモードで確定された最適解データをライトモードで１回限り書き込み可能で、リードモードにおいて最適解データの読み出しが可能な、書き換え不可のワンタイムＰＲＯＭ回路４Ｂと、書換可能ＰＲＯＭ回路４ＡとワンタイムＰＲＯＭ回路４Ｂとを制御するＰＲＯＭ制御回路５と、エミュレーションモードで書換可能ＰＲＯＭ回路４Ａの出力を選択し、リードモードではワンタイムＰＲＯＭ回路４Ｂの出力を選択し、センサ回路１に送出するＰＲＯＭ出力選択スイッチ６を備える。 （もっと読む）

【課題】フィールド機器固有の特殊な出力状態の中で、予め想定される出力トレンドを記憶装置に保存しておき、出力シミュレート機能を実行した場合に、その保存されている出力トレンドを模擬的に出力させることにより、上位システム側での対応を事前に検討可能とする。
【解決手段】シミュレーション部に格納された異常値の外に予め想定される出力トレンドを保存する記憶装置と乱数発生装置を備え、シミュレーション部に格納された異常値と前記記憶装置に保存された出力トレンドと前記乱数発生装置から生成される模擬データを選択して診断処理部に出力する。 （もっと読む）

【課題】ドリフト検知の対象計測器やドリフト判定モデルを選択する際の作業負担を軽減できる計測器ドリフト検知装置を提供すること。
【解決手段】計測器ドリフト検知装置において、ドリフト判定の対象とする計測器の一覧を提示する表示画面、各計測器のドリフト判定に適用可能なドリフト判定モデルを提示する表示画面およびこのドリフト判定モデルを実行するプログラムに適用可能なパラメータを提示する表示画面を出力するＨＭＩ手段１６を備えるようにした。これにより、ドリフト判定対象とする複数の計測器を抽出する作業や、計測器毎に適切なドリフト判定モデルおよびパラメータを割り当てる作業負担が軽減される。 （もっと読む）

【課題】校正データなどを任意の伝送器に転送可能なセンサデータ伝送システムを提供することを目的とする。
【解決手段】プロセス現場に配置された少なくとも一つのセンサ（Ａ1）と、このセンサ（Ａ１）にアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器（Ｂ１）と、校正設備の整った試験室に配置された前記センサ（Ａ1）と同等の仕様を備えたセンサ（Ａ２）と、このセンサにアナログ伝送線を介して接続されたディジタル出力が可能な伝送器（Ｂ２）と、前記センサ（Ａ1）とセンサ（Ａ２）を接続するディジタル信号伝送線を備えた。 （もっと読む）

【課題】コストを大幅に増加させることなく精度を向上したＣＭＯＳセンサを提供する。
【解決手段】一実施形態におけるＣＭＯＳセンサシステムにおいて向上した精度を提供する方法及びシステムは、相補型金属酸化膜半導体基板１１２上の第１の端子１１４及び第２の端子１１６を有する複数のセンサ素子と、第１の端子１１４を電源に選択的に接続すると共に、該第１の端子１１４を読出し回路１０８に選択的に接続するように構成される第１の複数のスイッチと、第２の端子１１６を電源に選択的に接続すると共に、該第２の端子１１６を読出し回路１０８に選択的に接続するように構成される第２の複数のスイッチとを含む。 （もっと読む）

【課題】低コストで、しかもセンサの校正が容易な計測システムを提供する。
【解決手段】ＰＨ計測システムは、計測器本体１と、計測器本体１に対し着脱可能とされたセンサモジュール２Ａと、センサモジュール２Ａに接続されるＰＨセンサ３Ａとから構成される。センサモジュール２Ａには、ＰＨセンサ３Ａからのアナログ信号を増幅する増幅器２１と、増幅器２１で増幅されたアナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換器２２と、センサモジュール２Ａにおける計測動作に必要な制御を実行する制御部２３と、ＰＨセンサ３Ａの校正情報を格納する不揮発性メモリ２４とを備える。 （もっと読む）

【課題】外挿領域において非現実的な推定値を算出する確率を低減する。
【解決手段】推定用多項式生成装置は、入力パラメータのデータと出力パラメータのデータとの組からなる分析用データを記憶する分析用データ記憶部１と、入力パラメータの特殊点を記憶する特殊点情報記憶部２と、分析用データを用いて低次の推定用多項式を算出する低次推定用多項式算出部３と、この推定用多項式を用い、各入力パラメータの特殊点から出力パラメータ値を推定する特殊点推定値算出部４と、各入力パラメータの特殊点と特殊点推定値算出部４が算出した出力パラメータ値との組を分析用データとして、分析用データ記憶部１に記憶されている分析用データに追加し、追加したデータを含む分析用データを用いて高次の推定用多項式を算出する高次推定用多項式算出部５とを備える。 （もっと読む）

【課題】外部装置の構成を簡素化することができる物理量センサを提供することにある。
【解決手段】物理量センサ１は、電源端子１０ａ、出力端子１０ｂ、および接地端子１０ｃを有する端子部１０と、物理量を検出する検出部１１と、補正値が記憶される記憶部１２と、検出部１１の検出出力を記憶部１２の補正値を用いて補正して出力端子１０ｂに出力する出力補正部１３と、外部装置と通信する通信部１４と、電源端子１０ａの電位変化により外部装置が要求している動作モードを判別する判別部１５と、その結果に応じ、記憶部１２の補正値を外部装置より受け取った補正値に書き換える調整モードまたは書き換えを許可しない通常モードのいずれかの動作モードで動作する制御部１６と、電源端子１０ａより得た電力を元にして動作電圧を生成する電源部１７とを備え、通信部１４は、電源端子１０ａにより外部装置との間でシリアル信号の送受信を行う。 （もっと読む）

【課題】推定用多項式を用いて状態量などの推定を行なう場合に、外挿領域において非現実的な推定値を算出する確率を低減する。
【解決手段】推定装置は、予め設定された領域判断条件に従って入力パラメータが内挿領域にあるか外挿領域にあるかを判断する領域判断部３と、入力パラメータが内挿領域にあるときに高次の推定用多項式を用いて入力パラメータから出力パラメータを推定する高次多項式推定演算部４と、入力パラメータが外挿領域にあるときに低次の推定用多項式を用いて入力パラメータから出力パラメータを推定する低次多項式推定演算部５とを備える。 （もっと読む）

センサデバイスのためのデバイス固有校正データを提供する方法であって、環境が監視されるある領域内にセンサデバイスを設ける工程を含み、該センサデバイスは、前記領域の選択された状態に反応する部分と、送信部分と、メモリ部分とを少なくとも備える。前記センサデバイスが分類されるセンサ群に関連付けられた包括的校正データが、前記センサデバイスから離隔したデータベースに格納される。前記センサデバイスの実際の校正データをより正確に適合させるための、前記包括的校正データの修正に用いる訂正データが少なくとも、前記センサデバイスのメモリ部分に格納される。前記センサデバイスは、前記訂正データを取得するために問合せデバイスにより問い合わせられる。前記センサデバイスに関する前記包括的校正データは、前記データベースから取得され、センサデバイス固有校正データを作り出すため、前記校正データを用いて修正される。 （もっと読む）

【課題】プラント制御装置が有する複数のＡＩモジュールの試験を、試験装置を手による接続繋ぎ変え作業をすることなく実行できるようにする。
【解決手段】プラント制御装置の複数のＡＩモジュール４の各々に対応して設けられ個別にＯＮ−ＯＦＦ制御される切り替えスイッチ５、試験ソフトを搭載したメンテナンスＰＣ１、およびメンテナンスＰＣからの指令に基づいてアナログ試験信号を発生する信号発生装置３を備え、前記指令に基づいて選択された切り替えスイッチがＯＮ動作することにより対応ＡＩモジュールに信号発生装置からのアナログ試験信号が供給され、アナログ試験信号が供給されたＡＩモジュールの出力をプラント制御装置のＣＰＵが読み込んだＣＰＵ読み込み値とメンテナンスＰＣ内の許容値とを比較してＣＰＵ読み込み値が許容値内に入るようにＡＩモジュールの設定値が調整される。 （もっと読む）

【課題】フィールド機器への電源入力後、異常診断の実行開始を一定時間遅らせるフィールド機器を提供すること。
【解決手段】被測定対象のプロセス量に基づく異常診断を実行する診断部４０を備え、この診断部４０による診断結果を出力または表示するフィールド機器１０において、異常診断の実行を指示する診断実行指示信号ＤＥを生成する診断実行指示部２０を備え、診断部４０は、診断実行指示信号ＤＥに基づいて異常診断を実行する、ことを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】計器データの管理を効率的に行うことができる計器保守管理システムを提供する。
【解決手段】計器の保守管理に必要な計器データを管理するための計器保守管理システム１００であって、サーバＰＣ１０は、記憶部１１を備え、クライアントＰＣ２０は、計器データを計器番号と共に入力して記憶部１１に送信する入力部２１と、記憶部１１を参照して指定された計器番号に関連付けられた計器データを抽出して出力する出力部２２と、を備える。サーバＰＣ１０及びクライアントＰＣ２０は、ＬＡＮ３０に接続され、このＬＡＮ３０には、モバイルＰＣ４０がネットワーク５０を介して接続可能となっている。このモバイルＰＣ４０は、入力部４１と、出力部４２と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】 メータ指示に現れない不完全な異常を検知することができるメータ自己診断装置を提供すること。
【解決手段】 センサ３の抵抗値範囲内で予め設定された抵抗値の診断用擬似センサ抵抗２５と、電源電圧２３及び分割抵抗２４へ、センサ３を接続するか、診断用擬似センサ抵抗２５を接続するかを切り替えるスイッチ２６と、処理演算部２１で実行され、診断用擬似センサ抵抗２５を接続している際の検出信号から異常を判断するステップＳ７〜Ｓ２１の異常判断処理を備えた。 （もっと読む）

【課題】センサユニットに対するパラメータの設定を簡易に、しかも再現性良く行うことのできるセンサシステムを提供する。
【解決手段】１つまたは複数のセンサユニットに電気的に接続されて各センサユニットの動作条件をそれぞれ設定するマスタユニットに、各センサユニットにそれぞれ設定した動作条件を各センサユニットに対応付けて記憶するマスタメモリを設ける。 （もっと読む）

【課題】センサ装置に直接アクセスしなくても定数や判定閾値を変更してフィルタリングすることができるセンサ出力フィルタリング装置を提供する。
【解決手段】センサ装置からの信号を入力する入力部１と、各種のセンサ装置に対応して関連付けられた校正データが登録された校正データ登録部６と、各種のセンサ装置に対応して関連付けられたフィルタが格納されたフィルタ格納部５と、入力部１にセンサ装置の信号が入力されると、そのセンサ装置に関連付けられた校正データを校正データ登録部６から選択し、選択した校正データで前記信号をキャリブレーションし、そして、センサ装置に関連付けられたフィルタをフィルタ格納部５から選択し、キャリブレーションした信号をそのフィルタでフィルタリングする制御部２と、制御部２によりフィルタリングされた信号をセンサ装置の計測信号として出力する出力部３とを備えた。 （もっと読む）

【課題】破損した校正値の修復時間を節約し、計測装置が稼動状態のまま校正値を更新できる計測装置を提供すること。また、校正値の更新による不揮発性メモリの劣化を防ぐ長寿命な計測装置を提供すること。
【解決手段】グループ分類された校正値およびこのグループ分類された各校正値のＳＵＭ値をそれぞれ内部メモリに保持させ、計測装置が稼動中に、作業メモリに保持された更新データに対するＳＵＭ値と、グループ分類された各校正値のＳＵＭ値とを比較し、この比較の結果、相違したＳＵＭ値に対応する校正値を書き換える。 （もっと読む）