【課題】原子番号の低い結晶材料或いはワークに用いられる短波長Ｘ線回折測定装置及びその方法を提供する。
【解決手段】その装置はＸ線管１と、入射絞り２と、テーブル４と、サンプルまたはワーク３の位置制限部分に用いられる位置制限受光スリット５、測角器７と、検出器６と、エネルギー分析器９とを備えており、Ｘ線管１と検出器６はサンプルまたはワーク３が置かれるテーブル４の両側に位置し、検出器６は回折透過Ｘ線の受光に用いられる。本発明の短波長Ｘ線回折透過方法によれば、サンプルまたはワーク３を破壊せずに、より厚い結晶材料サンプルまたはワーク３の異なる深さと異なる箇所のＸ線回折スペクトルを測定し、コンピュータ１０でデータ処理を行い、サンプル又はワーク３における各点の位相、残留応力等のパラメーター及びその分布を得ることができる。本発明は、操作が簡単で、測定時間が短いという利点を有し、正確で、かつ信頼できるＸ線回折スペクトルを得ることができる。 （もっと読む）

【課題】 測定データの改ざんを容易に確認できる分析装置を提供する。
【解決手段】 試料に対して測定を行って測定データを得る測定装置２と、測定データ及び測定関連データを記憶する第１記憶領域２１と、測定データ及び測定関連データを第１記憶領域２１とは異なったファイル形式で記憶する第２記憶領域２２と、第１記憶領域２１内のデータ及び第２記憶領域２２内のデータを画像として表示する表示装置４と、それらのデータを印字して表示するプリンタ６とを有する分析装置１である。第１記憶領域２１内のファイルと、そのファイルに対応する第２記憶領域２２内のファイルには、共通の履歴情報が記憶される。第１記憶領域２１内のデータ及び第２記憶領域２２内のデータを表示して比較することにより、データの改ざんを判断する。第２記憶領域２２はＸＭＬファイルによって構成できる。 （もっと読む）

目標物体の領域の高分解能画像を構成するために使用することができる画像データを提供する方法及び装置が開示される。本方法は、放射源からの入射放射を目標物体に供給するステップと、少なくとも１つの検出器により、目標物体により散乱された放射の強度を検出するステップと、入射放射又は目標物体後方の開口を目標物体に対して高分解能で位置合わせすることなく、検出された強度に応じて画像データを提供するステップとを含む。
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本発明は、核燃料棒上のクラッドの分析を遂行する方法及び道具を提供する。該方法は、核燃料棒の外面上にクラッドの層を有する核燃料棒を用意し、この燃料棒から該クラッドをクラッド掻取り道具で掻き取り、そしてこのクラッド掻取り道具からクラッドフレークを採集すると述べられる。該方法はまた、該クラッドフレークを粒子画分に分別し、そして走査電子顕微鏡で該クラッドを分析することを備え、しかも該掻取り道具は、クラッド付着物の予想剪断強さに合っている剛性を備えたブレードを有する。 （もっと読む）

１以上の試料を特徴付けるための超高速システム（および方法）である。本システムはステージ組立部を含み、ステージ組立部は特徴付けられる試料を有する。本システムは持続時間が１ピコ秒未満の光パルスを放射することができるレーザー源を有する。本システムはレーザー源に接続されているカソードを有する。特定の実施例において、カソードは１ピコ秒未満の電子パルスを放射することができる。本システムはステージ上に配置された試料上に電子パルスの焦点を合わせるために適合されれる電子レンズ組立部を有する。本システムは試料を通過する１以上の電子を捕らえるために適合された検出部を有する。検出部は試料の構造を代表する試料を通過する１以上の電子に関連付けられた信号（たとえば、データ信号）を供給する。本システムは検出部に接続されているプロセッサを有する。プロセッサは、試料の構造に関連付けられた情報を出力するために、試料を通過する１以上の電子に関連付けられたデータ信号を処理するために合わせられる。本システムはプロセッサに接続されている出力デバイスを有する。出力デバイスは試料の構造に関連付けられた情報を出力するために合わせられる。

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被測定部品の一部分について複数の材料特性を示すグラフィカル情報を表示するシステムおよび方法。エネルギーが、被測定部品の選択された部分に向けられる。結果のエネルギーが、被測定部品の選択された部分から検出され、被測定部品の一部分について複数の材料特性のそれぞれを表すデータが、検出されたエネルギーに少なくとも部分的に基づいて得られる。複数のグラフが、得られたデータに基づいて形成される。グラフのそれぞれは、複数の材料特性のうちの別々の１つを示す情報を有する。複数のグラフが、複数のグラフのそれぞれに含まれる情報間での実質的に同時の視覚的比較を容易にする形で、互いに別個に表示される。

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【課題】密輸品を検出する。
【解決手段】この方法は、第一の脅威タイプの参照物体を走査したときに測定される参照量の第一の分布を表わすデータを記憶するステップと、当該被検査物体の値を測定するために被検査物体を走査するステップと、上述の値の参照値の中での位置を求めるステップと、被検査物体が第一の脅威タイプである可能性の指標として、上述の値に対応する第一の分布を表わすデータの得点を決定するステップと、を含んでいる。 （もっと読む）

固体の分子状結晶化化合物もしくは分子状共結晶性化合物、または少なくとも２種類の固体の分子状結晶化化合物からなる固溶体の、多形もしくは疑似多形を、各容器ごとに異なる条件下にある一配列からなる容器内で並行調査するための装置を用いた一連調査で検出する方法であって、実質的に、結晶化化合物の無定形形態、もしくは結晶化化合物の溶媒和物のみか、または実質的に、少なくとも２種類の化合物の混合物中の一化合物の無定形形態もしくは溶媒和物のみを、懸濁液または溶液として用いて、無定形化合物の溶液が、同じ温度では、対応する結晶性化合物で達成されるより高い結晶可能化合物含量を有する方法。 （もっと読む）

ｉｎ−ｓｉｔｕ状態で、試料の既知の特性を測定するＸ線回折技術に関する。その技術は、実質的に発散するＸ線放射を放射するためのＸ線源を使用するステップを含み、発散Ｘ線放射を受けるとともに、試料に向けて発散Ｘ線放射の発散経路を向け直すことによって、平行なＸ線放射のビームを発生させるために前記固定されたＸ線源に対して配置されたコリメーティング光学素子を備えている。第１のＸ線検出器が試料からの回折放射を収集する。Ｘ線源及びＸ線検出器は、その動作中、試料の既知の特性についてのアプリオリな情報に従って、互いの相対位置、及び試料に対する少なくとも１つのディメンションが固定されている。第２のＸ線検出器は、特に本発明の晶相モニタリングの実施形態において、試料の既知の特性についてのアプリオリな情報に従って、第１のＸ線検出器に対して固定することができる。

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サンプルを分析するために、Ｘ線、中性子線、ガンマ線、または粒子ビーム放射を使用して、分析エンジンの放射境界面にサンプルを呈示する技法が開示される。保護障壁は、放射に対して透過性であり、かつサンプルをエンジンから分離し、障壁移動システムを使用して、放射境界面に対して可動である。一実施形態の障壁は、サンプルが配置される空洞にわたって可動であり、空洞にわたって膜のほぼ連続的な供給を提供および回収するリールシステムで可動である膜である。空洞は、サンプルが通って可動であるサンプル経路の一部を形成することが可能である。サンプル経路が加圧される場合、膜は、分析エンジンによるサンプルの分析中に圧力を維持する。

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Ｘ線結晶構造回折用の生体高分子の微結晶を封入するサンプルマウント（１０）が、例えば、小さな金属ロッド（１６）の湾曲外面に止着することにより曲率を付与されたパターン化ポリイミド樹脂薄膜（１２）を使用して、用意される。パターン化膜（１２）は、結晶を保持するテーパ先端（２４）を含むことが好ましい。好ましくは、結晶を受承する小さなサンプル開口が膜に配置されている。排出溝によりサンプル開口に接続された第２の大開口が、設けられて、過剰液体の除去と粘性溶液内のより容易な操作を許容する。膜（１２）に付与された曲率は、膜の剛性を増加させると共に、結晶を回収するための便利なスコップ状作用をもたらす。ポリイミド樹脂は、背景及び吸収に対する寄与が最小であると共に、所望の疎水性又は親水性を得るように処理することができる。

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【課題】 薄膜の組成比が未知の場合はロッキングカーブ測定により基板と薄膜の膜厚方向の格子定数の差を評価することはできるが、結晶歪み度合いを評価することはできない。格子定数が組成比、結晶歪みの両方の影響を受けている場合に、それらを切り分けて結晶歪み度合いを評価する方法を提供する。
【解決手段】 ＸＲＤによるロッキングカーブと蛍光Ｘ線ファンダメンタル・パラメータ法の併用により、結晶性の基板または層上に製膜された、格子定数のミスマッチによる結晶歪みを有する組成比未知の結晶性固溶体薄膜の結晶歪み度合いを分析する。 （もっと読む）

【課題】 試料を支持する試料板からの回折Ｘ線の影響を排除して、試料に関する正確なＸ線回折測定をできるようにする。
【解決手段】 単結晶試料板２１によって支持する試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから発生する回折Ｘ線を２次元Ｘ線検出器２によって検出し、検出された回折Ｘ線の座標及び強度をＸ線読取り装置によって読み取り、そしてその読取り結果に基づいて演算を行って回折Ｘ線強度分布を求めるＸ線測定装置である。単結晶試料板２１から出る回折Ｘ線が２次元Ｘ線検出器２によって検出される座標位置を、回折Ｘ線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。単結晶試料板２１からの回折Ｘ線がＸ線強度の演算に算入されないので、試料Ｓからの回折Ｘ線だけに関して正確にＸ線強度分布を求めることができる。 （もっと読む）