【課題】 高い三次元位置分解能で高精度の蛍光Ｘ線三次元分析を可能とする蛍光Ｘ線三次元分析装置を提供する。
【解決手段】 試料を載置するための移動ステージと、X線源及び前記X線源から照射されるX線を試料内部において集光点に集光する照射側集光光学部とを有するX線照射集光手段と、移動ステージに載置される試料から発生する蛍光Ｘ線を集光する検出側集光光学部及び検出側集光光学部により集光される蛍光X線を受けてその検出を行う検出器とを有する蛍光X線検出手段と、移動ステージを三次元に移動させる駆動手段と、検出側集光光学部の焦点と、照射側集光光学部の集光点とを試料内部において一致させる調整手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】従来のＸ線，超音波画像におけるコントラストと空間解像度の問題を補い、癌の検査の正確率を上げることにある。
【解決手段】予めコリメートされた入射Ｘ線Ｉ（Ｗ）は、非対称モノクロ・コリメータ１０によって反射され、面状波Ｘ線Ｐ（Ｗ）を発生する。面状波Ｘ線Ｐ（Ｗ）は、試料１２を通過する。試料１２を通過したビームＲ（Ｗ）は、角度アナライザ１４によって角度分析され、屈折された成分Ｄ（Ｗ）のみが、角度アナライザ１４を通過することが許される。屈折された成分Ｄ（Ｗ）は、Ｘ線暗視野撮像として、写真フィルム１６に記録される。 （もっと読む）

【課題】 小型であり、光軸調整のための作業が簡単であり、光軸調整の自動化が容易であるＸ線ビーム処理装置を提供する。
【解決手段】 所定の回折角度でＸ線を回折する第１結晶ブロック２ａ及び第２結晶ブロック２ｂを支持する結晶ホルダ３と、Ｘ線Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３の光軸を含む面に直交する軸線Ｘ１を中心として結晶ホルダ３を回転させることができ且つ結晶ホルダ３をその回転範囲内で固定状態に支持できるモータ４とを有するＸ線ビーム処理装置１Ａである。結晶ホルダ３は、第１結晶ブロック２ａと第２結晶ブロック２ｂの両方でＸ線回折が生じるように互いの角度が調整された状態でそれら２つの結晶ブロック２ａ，２ｂを固定状態で支持する。２つの結晶ブロック２ａ，２ｂの光軸調整は軸線Ｘ１を中心として結晶ホルダ３を１軸回転させるだけで行われる。 （もっと読む）

【課題】 結晶アナライザの取付け方法を改良することにより、ダブルスリットアナライザ、平行スリットアナライザ、結晶アナライザという３つの受光素子を容易に交換できるようにする。
【解決手段】 第１スリット１２ａと、そのＸ線通過部Ｂの幅を調整する装置１７と、第２スリット１２ｂと、そのＸ線通過部Ｂの幅を調整する装置１７と、第１スリット１２ａと第２スリット１２ｂとの間に設けられていて平行スリットアナライザ１８及び結晶アナライザ１９を１つずつ交換して固定状態で支持できるアナライザ支持装置１３と、第２スリット１２ｂを平行移動させるスリット位置移動装置９とを有するアナライザ４である。スリット位置移動装置９による第２スリット１２ｂの平行移動方向は、アナライザ支持装置１３が結晶アナライザ１９を支持したときにその結晶アナライザ１９で回折するＸ線が進む方向にスリット１２ｂのＸ線通過部Ｂを変位させる方向である。 （もっと読む）

認証システム、装置および方法は、ナノ結晶材料を含む識別マーキングを認証する。マーキングの１または複数の特性が確認され、測定プロファイルが提供される。測定プロファイルを参照プロファイルの閉集合の少なくとも１つのメンバーと比較する。各参照プロファイルは１または複数の特性の予め決められた値を有する。各参照プロファイルは集合内でユニークである。少なくとも１つの参照プロファイルはナノ結晶形態のインジケータ材料の特徴を示し、バルク形態の同じインジケータ材料の特徴は示さない。
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【課題】 ＦＰ法で試料の組成を分析する蛍光Ｘ線分析装置などにおいて、非測定元素を多く含み、その原子番号を特定できない種々の試料についてより広い適用範囲で十分正確に分析できるものを提供する。
【解決手段】 仮定した元素の濃度に基づいて、試料13中の各元素から発生する２次Ｘ線4 の理論強度を計算し、その理論強度と検出手段9 で測定した測定強度とが合致するように、仮定した元素の濃度を最適化計算して、試料13における元素の濃度を算出する算出手段10を備え、その算出手段10が、蛍光Ｘ線4 を測定しない非測定元素については、複数の非測定元素の濃度を仮定するとともに、試料中の非測定元素から発生する２次Ｘ線に代えて、濃度を仮定する非測定元素と少なくとも同数の１次Ｘ線の散乱線を用い、用いる１次Ｘ線の散乱線に、試料で散乱される前の波長が相異なる散乱線を含める。 （もっと読む）

【課題】単結晶試料の結晶方位を容易かつ高精度に調整可能なＸ線回折装置を提供する。
【解決手段】単結晶基板１０を傾斜補正治具２０を用いて試料固定台１に固定する。傾斜補正治具２０は、単結晶基板１０の格子面１１の結晶方位１２と表面１０Ｓとのなす傾斜角αに対応した傾斜面２１を有しており、結晶方位１２と支持面１Ｓにおける法線方位１Ｐとが互いに平行になる。これにより、あおり角と回転角とをそれぞれ独立して最適化することができ、入射Ｘ線２Ａおよび回折Ｘ線３Ａの各方向に対して結晶方位１２を正確かつ容易に調整し、単結晶基板１０の格子面１１におけるＸ線回折パターンを高精度に測定することができる。 （もっと読む）

サンプルを高エネルギー放射線に露光させるための、例えば、Ｘ線吸収端近傍解析（ＸＡＮＥＳ）を実施するためにサンプルをＸ線に露光させるためのコンパクトで電力消費が少ないシステム及び方法である。このシステム及び方法は、Ｘ線管のような電力消費量が少ない放射源と、解析中にサンプルに放射エネルギーを向けて照射し、これを変化させるための同調可能な１つ以上の結晶光学系と、サンプルによって放射された放射線を検出するために、Ｘ線検出器のような放射線検出デバイスとを備えている。同調可能な１つ以上の結晶光学系は二重湾曲光学系でよい。システムの構成部品は同一直線上に配置してもよい。開示されるシステム及び方法は、特に例えば、生物学的工程におけるクロム又はその他の遷移金属の化学的状態のＸＡＮＥＳ解析のようなＸＡＮＥＳ解析に利用可能である。
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不活性ガス雰囲気にある試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、分光室は不活性ガスで置換しないですむとともに試料室と連通せず、かつ十分な強度の２次Ｘ線を得ることができ、さらに隔壁が長寿命である装置を提供する。試料４が収納される試料室１と、試料４に１次Ｘ線６を照射するＸ線源７が収納され、前記試料室１と連通する照射室２と、試料４から発生する２次Ｘ線８を分光して検出する検出手段９が収納される分光室３と、前記照射室２と分光室３とを仕切るように配置されて前記２次Ｘ線８を通過させる隔壁１０とを備え、前記試料室１および照射室２が不活性ガスで置換されるとともに、前記分光室３が真空排気される。
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【課題】 ＦＰ法で試料の組成や面積密度を分析する蛍光Ｘ線分析装置などにおいて、種々の試料について、簡便にしかもジオメトリ効果を十分現実に則し加味して理論強度を計算し、十分正確に定量分析できるものを提供する。
【解決手段】 仮定した組成に基づいて、試料13中の各元素から発生する２次Ｘ線6 の理論強度を計算し、その理論強度と検出手段9 で測定した測定強度を理論強度スケールに換算した換算測定強度とが一致するように、仮定した組成を逐次近似的に修正計算して、試料13の組成を算出する算出手段10とを備え、その算出手段10が、理論強度を計算するにあたり、試料13の大きさ、ならびに試料表面13a の各位置に照射される１次Ｘ線2 の強度および入射角φをパラメータとして、光路ごとに２次Ｘ線6 の理論強度をシミュレーション計算する。 （もっと読む）

【課題】磁歪と磁化とを、試料の同領域で観測する。
【解決手段】Ｘ線回折法による磁歪計測の手法とＸ線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。この手法は、試料の同領域についての磁場内での回折光強度の相対変化δを磁場上昇時および磁場下降時のそれぞれで計測して、それらから磁場Ｈに対し反対称な成分δ_Ａと対称な成分δ_Ｓとを求め、対称な成分δ_Ｓに基づき試料の前記領域の磁歪係数λ₁₀₀を求めるとともに、反対称な成分δ_Ａと対称な成分δ_Ｓとを再合成して得られる量Ｒ’_ａに基づき試料の前記領域の相対磁化Ｍ/Ｍ_Ｓを求めるものである。内部モードの磁歪係数値が外部モードの磁歪係数値に一致する条件を使えば、機器の較正等に都合のよい方法である。 （もっと読む）

【課題】本発明は、小角Ｘ線散乱用途に使用するＸ線ビームのビーム発散を減少させるＸ線ビームを生成する方法及び装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線ビームを焦点に集束させる集束光学系、集束光学系と光学的に結合する第１スリット、第１スリットと光学的に結合する第２スリット、およびＸ線検出器を含み、焦点が検出器の前に配置されるＸ線分析システム。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線回折装置において、複数の異なる測定軸を用いて得られた複数のデータを表示することに関して、それら複数のデータを有効に活用できるようにする。
【解決手段】 Ｘ線源から発生したＸ線を試料に照射すると共にその試料で回折したＸ線をＸ線検出器によって検出する測定装置２を備えたＸ線回折装置１である。測定装置２は測定の基準となる測定軸を複数有する。Ｘ線回折装置１は、画像を表示する表示装置４と、その表示装置４に供給する画像データを生成する画像データ生成部７，１１，１３とを有する。この画像データ生成部は、複数の測定軸の個々に関する測定データをＴＡＢ表示と共に個別に表示するための画像データを生成し、さらに、複数のＴＡＢ表示のうちの１つが指示されたときにそのＴＡＢ表示に対応する測定データを画面上に表示するための画像データを生成する。 （もっと読む）

【課題】 軽元素の分析においてＳＮ比が十分に向上した蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。
【解決手段】 試料１に１次Ｘ線２を照射するＸ線源３と、試料１から発生する２次Ｘ線の通路４に配置され、分析対象の軽元素と同一の軽元素を含む分光素子７と、この分光素子７によって回折された２次Ｘ線４Ｄが入射される検出器１０とを備え、試料１から発生する２次Ｘ線の通路４における試料１と分光素子７との間に、分析対象の蛍光Ｘ線よりも短い波長のＸ線を除去する全反射ミラー５０からなるフィルタ素子５が配置されている。 （もっと読む）

【課題】金属帯上に塗布されるワックスの付着量を短時間で正確に測定することを可能としたワックス付着量測定方法を提供する。
【解決手段】本発明のワックス付着量測定方法は、ワックスが付着された金属帯を、500〜950℃の温度で熱処理し、該熱処理前後の金属帯上の炭素量の差からワックスの付着量を求めることを特徴とする。さらに、蛍光Ｘ線分析法を用いて、熱処理前後の金属帯上の炭素量の差を求めることが好ましい。 （もっと読む）

ｘ線回折を利用した走査方法が開示される。この方法は、容器内の特定の物質によって回折されたｘ線を検出するよう光導電体ｘ線変換層を有するフラットパネル検出器を用いて交通センターで容器内に特定の物質があるかどうかを検査する段階を有する。回折ｘ線は、例えば波長分散回折及びエネルギ分散回折により種々の仕方で特性決定できる。
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空港の手荷物検査の分野では、マルチレベル検査手順が利用されている。第１レベル検査システムがバッグの内部の「疑わしい領域」を検出すると、それは次のレベルのシステムに送られ、再スキャンされる。本発明によると、当該領域の再スキャンを大きく低減することを可能にする手荷物内部の疑わしい領域の検出及び追跡を行う装置／方法が提供される。この目的のため、画像内の疑わしい領域の位置と共に、第１レベルシステムからの画像が、第１レベルシステムから第２レベルシステムに送られる。第２レベルにバッグが到着すると、追加的なソース／検出システムを用いてシンプルなＸ線送信画像が測定される。その後、これら２つの画像は、第２レベルスキャナシステムにおいて疑わしい領域を正確に決定するため、厳密にレジスタリングされる。
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【課題】 簡単な構成で、Ｘ線管の負荷が変わっても蛍光Ｘ線の強度にほとんど影響しない全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】 筒状の筐体11内に、その筐体11の軸方向を長手方向L とする棒状のターゲット10と、そのターゲットの長手方向L に配置されたフィラメント13とを有し、陰極である前記フィラメント13から放射した熱電子14を陽極である前記ターゲット10の端面に衝突させて、そのターゲット10から発生して前記筐体11の側壁に向かうＸ線を窓12を介して出射する点光源のＸ線管1 を備え、そのＸ線管1 からのＸ線2 を分光素子4 で単色化して帯状の１次Ｘ線3 として試料表面5aに微小な入射角度αで入射させ、発生する蛍光Ｘ線6 の強度を検出手段7 で測定する。ここで、前記ターゲットの長手方向L が試料表面5aと平行になるように前記Ｘ線管1 が配置されている。 （もっと読む）

【課題】 小型かつ簡易な構造であっても、複雑な形状等を有する測定試料の元素分布マップを精度良く作成することができるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 測定試料に電子線を照射して、当該測定試料から発生する特性Ｘ線の強度を測定するための検出手段を備えたＸ線分析装置であって、測定試料及び検出手段の相対位置を変更するための回転手段と、測定試料の特性Ｘ線の強度を複数位置で測定するための検出手段と、特性Ｘ線強度の加算値を求めるとともに、当該加算値に基づいて、測定試料の元素分布マップを作成する作成手段と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】本発明が解決しようとする問題点は、分析器の真空系と分析室の真空系を隔壁を用いて遮断した場合、低エネルギーのＸ線の検出が困難であったという点である。
【解決手段】試料を収容する真空に保持された分析室と、１次ビームを前記試料に照射する１次ビーム照射手段と、前記１次ビームにより前記試料から発生するＸ線を集束する集光手段と、前記Ｘ線の集束点に位置し、前記集束したＸ線を通過させるアパーチャと、前記アパーチャを通過したＸ線を分光・検出する真空に保持された分光手段と、を備える表面分析装置であって、前記分析室と前記分光手段を仕切る前記アパーチャにより前記分光手段内の真空度と異なる分析室内の真空度を保持することを特徴とする表面分析装置。 （もっと読む）