【課題】対象物の検査を短時間で精度よく行なえる装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線検査装置１００は、走査型Ｘ線源１０と、複数のＸ線検出器２３．１〜２３．Ｎと、画像取得制御機構３０と、演算部７０と、メモリ９０とを備える。走査型Ｘ線源１０は、検査対象２０に向けてＸ線を出力する。Ｘ線検出器２３．１〜２３．Ｎは、検査対象２０を透過したＸ線を検出する。画像取得制御機構３０は、Ｘ線検出器２３．１〜２３．Ｎが検出した画像データ９８をメモリ９０に格納する。演算部７０に含まれる再構成部７６は、画像データ９８に基づいて、解析法を用いて水平断面の再構成画像を生成し、反復法を用いて垂直断面の再構成画像を生成する。 （もっと読む）

スペクトルプロセッサ１１８は、検出器信号から導出された第一のスペクトル信号であって、検出器信号に関する第一のスペクトル情報を含む第一のスペクトル信号を生成する第一の処理チャネル１２０と、検出器信号から導出される第二のスペクトル信号であって、検出器信号に関する第二のスペクトル情報を含む第二のスペクトル信号を生成する第二の処理チャネル１２０とを含む。第一及び第二のスペクトル信号は、検出器信号をスペクトル的に分解するために使用され、検出器信号は、検出された多色放射線を示す。
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【課題】 高拡大率で、被検体の高分解能高品位の３次元画像を得ることにある。
【解決手段】 Ｘ線ビームを照射するＸ線源３と、被検体１から透過してくるＸ線ビーム２を検出するＸ線検出器４と、Ｘ線ビーム内で、Ｘ線ビーム中心線の方向に対し９０度より小さなラミノ角で交差する回転軸ＲＡに対し、被検体１とＸ線ビームとを相対回転させる回転手段６と、Ｘ線検出器４で検出したＸ線透過像から３次元画像を作成する制御処理部１２とを備え、制御処理部１２は、被検体１とＸ線源３との間で干渉しない回転可能範囲に基づき、半回転を超え１回転を満たない角度範囲で回転され所定の回転角度毎にＸ線ビームの透過像をＸ線検出器４で撮影するスキャン制御部１２ａと、Ｘ線検出器４で検出された多数の透過像から被検体の３次元画像を作成する再構成部１２ｃとを設けた構成である。 （もっと読む）

【課題】ＣＴ撮影から対象物の３次元画像情報を得るまでの所要時間を大幅に短縮化することのできるコーンビームＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】ＣＴ撮影により得られるＸ線投影データを収集して、そのデータを用いた逆投影処理によって、対象物Ｗの３次元画像情報を得るコンピュータを主体とする演算装置を備えたコーンビームＸ線ＣＴ装置において、演算装置のコンピュータを並列処理機能を有したものとし、Ｘ線検出器２からのＸ線投影データを記憶するデータ収集処理と、収集したＸ線投影データを用いた逆投影処理により対象物の３次元画像情報を得る数値計算処理とを並列に実行することにより、ＣＴ撮影の開始から断層像を得るまでの所要時間を大幅に短縮化する。 （もっと読む）

【課題】拡大率を満足させつつ、高分解能高品位で広い範囲の３次元画像を得る。
【解決手段】Ｘ線ビーム２を照射するＸ線源３と、被検体１からの透過Ｘ線ビームを検出するＸ線検出器４と、Ｘ線ビームが９０度より小なるラミノ角で交差する回転軸ＲＡに対して、被検体を支持する支持台５とＸ線ビームとを相対回転させる回転手段７と、Ｘ線検出器から収集した透過像から３次元画像を得る制御処理部１２と、回転軸に直交する面内で、支持台またはＸ線源，Ｘ線検出器及び回転軸を一体に移動する移動機構６とを有し、前記制御処理部１２は、所定の送り量で移動機構６を移動制御させてスキャン位置を設定する設定手段と、各スキャン位置のもとにスキャンを実施し、透過像を収集するスキャン制御部１２ａと、各スキャン位置の透過像から３次元画像を再構成する再構成部１２ｃと、各３次元画像を合成する画像合成部１２ｄとを備えた円錐軌道断層撮影装置である。 （もっと読む）

【課題】円錐傾斜断層撮影装置で生じるリング状アーチファクトを低減化する。
【解決手段】Ｘ線３を照射するＸ線源４と、被検体１からのＸ線透過像を検出する検出器５と、被検体を相対的に回転軸ＲＡに対して回転させる回転手段２，６と、３次元画像を作成する制御処理部１２とを備えた装置であって、回転軸ＲＡは、Ｘ線中心線の方向に対し９０度より小さなラミノ角で交差し、制御処理部１２は、３次元サイノグラムＰ０に対し回転方向にローパスフィルタ処理してサイノグラムＰ１を得、サイノグラムＰ１に対し透過像に沿った２次元ローパスフィルタ処理してサイノグラムＰ２を得、サイノグラムＰ１からＰ２を減算してリング成分を抽出し、サイノグラムＰ０からリング成分を減算したサイノグラムＰ^＊を得るリング補正処理部１２ｃと、得られたサイノグラムＰ^＊から３次元画像を再構成する再構成部１２ｄとを有する断層撮影装置である。 （もっと読む）

【課題】撮影系の機器の強度不足や、温度変化などによる部材の変形、あるいはＸ線焦点位置の移動等があっても、良好な画質の断層像を得ることのできるＸ線断層像撮影装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線発生装置１とＸ線検出器２の対と試料ステージ３とを相対回転させる回転機構を３６０°以上にわたって回転させてＸ線投影データをデータ記憶手段１４に収集し、その投影データのうち、所定の角度の投影データとその角度から３６０°回転して同じ回転角度になった状態でのＸ線投影データを比較し、これら両データ間の投影位置のずれ量を求め、そのずれ量に基づいてデータ記憶手段１４に記憶した各Ｘ線投影データを補正して再構成演算することにより、回転機構による回転の軌道の変化に起因する画質の低下の発生を防止する。 （もっと読む）

【課題】断層像の座標変換を伴うことなくリングアーチファクトを除去することを可能とし、断層像の精度を低下させることなく確実にリングアーチファクトを除去した断層像を得ることのできるＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】互いに対向配置されたＸ線発生装置１とＸ線検出器２の対と、これらの間に配置された試料ステージ３とを相対回転させることにより、複数の角度での対象物ＷのＸ線投影データを収集し、その投影データを用いて回転軸Ｒに直交する面に沿った断層像を構築するＸ線ＣＴ装置において、断層像を構成する各画素について、当該断層像上で回転軸Ｒに相当する位置を中心とした扇形状のコンボリューションフィルタカーネルを用いてフィルタ処理を施すことにより、断層像に現れるリングアーチファクトを抽出し、その抽出した画像をフィルタ処理を施す前の画像から減算することにより、リングアーチファクトを実空間において除去または低減することを可能とし、当初の断層像の精度を維持したままリングアーチファクトの除去を実現する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線ＣＴ画像を生成する機能と、トモシンセシスの断層画像を生成する機能の双方を具備する基板検査装置を提供する。
【解決手段】固定配置されたＸ線源２の上方に基板ステージ１を配置し、さらにその上方にディテクタステージ４を配置する。基板ステージ１は、基板１０をＸ，Ｙの各軸方向に沿って移動可能に支持し、ディテクタステージ４は、ＦＰＤ３をＸ，Ｙの各軸方向への移動および軸回転が可能な状態で支持する。撮影を行う場合には、ＦＰＤ３および基板１０の検査領域の位置がそれぞれＸ線源３の光軸を中心とする仮想円上で変化するように各ステージ１，４の移動を制御する。また、Ｘ線ＣＴ用の撮影では、基板１０の検査領域に対するＦＰＤ３の姿勢が撮影の都度変化するように制御し、トモシンセシス用の撮影を行う場合には、ＦＰＤ３を、各軸がＸ，Ｙの各方向に合った状態に固定して移動を行わせる。 （もっと読む）

【課題】比較的短時間で断層像を確認することができ、これにより対象物の位置決めやＸ線条件などを変更すべき点があればいち早く適した条件に変更することができ、しかも必要とされる解像度（分解能）に過不足のない断層像を、最短時間のもとに得ることのできるＸ線断層像撮影装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線発生装置１とＸ線検出器２の対と試料ステージ３とを相対的に回転させる回転機構を複数回転にわたって回転させ、その各回転ごとに、他の回転とは互いに異なる複数の角度でＸ線投影データを収集し、その所定回数の回転ごとに再構成演算を行って対象物Ｗの断層像を構築することで、回転数を増やすほどプロジェクション数を増大させ、得られる断層像の解像度を次第に向上させる。初期段階で他の条件の設定変更の要否を判断でき、無駄な撮影を抑制し、また、最終的には所要の解像度の断層像を得ることを可能とする。 （もっと読む）

診断撮像装置は、原子核崩壊を示すγ線を検出する検出器素子１６を含む。検出されたγ線は、タイムスタンプされ２０、リストモードで記憶されるラインオブレスポンス（ＬＯＲ）４６を生成するのに使用される。前記ＬＯＲは、画像に再構成される３４。画像分析プロセッサ３８は、運動アーチファクトについて前記画像を分析し、前記モーションアーチファクトを最小化するように選択されたＬＯＲを変換するように事象変換プロセッサ３０を反復的に調整する。変換されたＬＯＲ５０が検出器素子１６の対と対応しない場合、最も近い検出器素子５２、５４が、決定される。候補ＬＯＲ６２は、最も近い検出器素子と近隣の検出器素子との間で作成される。ＬＯＲ４６上の事象位置４０は、飛行時間（ＴＯＦ）情報から決定され、次いで変換された事象位置４８を生成するように変換される。変換された事象位置４０に最も近く交差する候補ＬＯＲ６２及び適切に更新されたＴＯＦ情報は、画像再構成において使用するのに選択される。
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【課題】高放射線量と測定回路の高ゲイン設定を両立させ、放射線透過画像データから断層画像を高画質に再構成できることにある。
【解決手段】放射線撮影装置11は、放射線検出器2の複数のチャンネルの内、その一部において放射線源から照射される放射線を遮蔽する遮蔽体74を備える。制御演算装置12の格納装置31は、放射線源１と放射線検出器2との間に被検体74が設置されてない状態における、放射線検出器2のリファレンスチャンネル以外の各チャンネルの出力I0(u,v)と、リファレンスチャンネルの出力I_refとの比(I0(u,v)/I_ref)からなるチャンネル定数k(u,v)を格納する。画像再構成装置22は、チャンネル定数k(u,v)に、リファレンスチャンネルの出力値I_refを乗じ、被検体が設置された状態における各チャンネルにおける出力I(u,v)で除したものを、対数変換したものとして、各チャンネル(u,v)の減衰率a(u,v)を算出する。 （もっと読む）

【課題】恐れのある物を特定するために、再構成されていないスキャンデータの解析を行うＣＴスキャンシステム及びＣＴスキャン方法を提供すること。
【解決手段】手荷物のＣＴスキャンの恐れのある物の判断方法は、バッグの完全な再構成の必要性をなくす。スキャン中にＣＴスキャンデータが解析され、考えられる恐れのある位置を特定する。この解析は、バッグ中の対象物を表現する線図に基づいて解析される。対象物の質量、大きさ、位置、及び原子番号は、この線図データに基づいて決定される。何らかの考えられる恐れは、データを変更し再構成して、恐れの表示を向上させる。２つのエネルギーのスキャンを使用して、考えられる恐れの解像度の密度の決定にも使用できる。 （もっと読む）

【課題】加熱処理前、後の鋳巣モデルの位置合わせを行うことにより鋳造品の内部欠陥の種類の判別精度向上を図ることができる鋳造内部欠陥検査支援装置及び方法を提供する。
【解決手段】三次元形状モデル取得手段が得た三次元形状モデルに基づいて加熱処理前、後鋳巣モデル２０Ｍ，２０Ａを得、加熱処理前、後の鋳巣モデル２０Ｍ，２０Ａを鋳巣モデル分割領域２２毎に位置合わせ（ベストフィット処理）する。形状変化を精度高く把握でき、ひいては内部欠陥の種類（加熱処理で形状変化するガス巣及び加熱処理で形状変化しない引け巣）を精度高く判定できる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線二次元検出器に得られる投影像の明度を低下させることなく、撮像時間を短縮する。
【解決手段】Ｘ線二次元検出器２に対し、被検査体７の撮像時（静止時）には長いパルス幅（期間）の第１のパルス領域、被検査体７の回転時には短いパルス幅（期間）の第２のパルス領域となるよう同期信号発生部２６から同期信号を送り、Ｘ線二次元検出器２による投影像の撮像を制御するようにした。そして、Ｘ線二次元検出器２で各角度位相の投影像を撮像し、得られた投影像より内部構造データの再構成計算を行うようにした。 （もっと読む）

【課題】断層像と透過像とを一緒に表示し、簡便に被検体の撮影領域の全体像を把握することにある。
【解決手段】被検体４を載置するテーブル６と、被検体４に向けてＸ線を照射するＸ線管１と、被検体を透過したＸ線ビームを検出するＸ線検出器２と、Ｘ線ビームの放射線光軸Ｌと９０°以下の角度で交差する回転軸ＲＡに対し、被検体とＸ線とを相対的に回転させるための回転手段８とを有する断層撮影装置であって、前記回転を行わせつつ所定の回転角度位置毎に、Ｘ線検出器２から透過像を順次収集する撮影制御部１５ａと、この収集された複数の透過像から被検体の断層像を再構成する再構成部１５ｂと、断層像の再構成に用いた複数の透過像から少なくとも１つの透過像を選択して縮小し、再構成した断層像と並べて表示画面上に表示する表示制御部１５ｃとを備えた構成である。 （もっと読む）

【課題】はんだの形状不良を示す不良モデルを準備しなくとも、不良のはんだ付け部位に対するＸ線断層撮影のシミュレーションを容易に行えるようにする。
【解決手段】はんだの形状が良好な良品部品に対しＸ線ＣＴによる断層撮影を実行することにより、複数の構成点の空間座標と各点におけるＸ線吸収率を示す数値とを対応づけた３次元画像データを生成し、これを良品モデルデータとする。この後、モニタに良品モデルデータによる３次元画像を表示した編集画面を立ち上げて、この画面の編集ウィンドウ１００において、ユーザにはんだの形状を変更する編集作業を行わせるとともに、編集操作に応じて、３次元画像データ中のＸ線吸収率を示す点の分布状態を変更する。編集が完了した時点での３次元画像データを対象に、断層撮影のシミュレーションを実行し、その処理結果を示す断層画像または３次元画像を表示する。 （もっと読む）

【課題】有機素材のような軽い元素で構成された材料をナノ単位のレベルで立体観察が行なえるようにする。
【解決手段】真空ポンプ１３によって内部が真空状態となる真空室３内に少なくともＸ線を照射するＸ線照射部２３が臨むと共に１〜１０ｋｅＶの低エネルギーＸ線をコーン状に照射するＸ線照射装置５と、前記Ｘ線照射装置５から照射されるＸ線の中心線Ｃ−１上の適宜位置に試料のセットを可能とした試料セット台３５を有する回転可能な試料ステーション７と、前記試料ステーション７の試料セット台３５にセットされた試料１５を挟んで前記Ｘ線照射装置５と対向し合うと共に冷却手段によって冷却される検出面９ａを有する二次元Ｘ線検出器９とを配置し、真空室３内に照射されるコーン状のＸ線によって試料１５を検出面９ａに拡大投影する。 （もっと読む）

【課題】操作者の熟練度に頼ることなく、再構成演算により算出された浮動小数点フォーマットの画素の濃淡データを、整数フォーマットの輝度データに変換するための１次変換係数を常に最適に設定することができ、もって常に高いコントラストの見やすい断層像を表示することのできる放射線断層撮像装置を提供する。
【解決手段】再構成演算により算出された浮動小数点フォーマットからなる画素の濃淡データから、最大値と最小値等の特徴値を抽出し、その特徴値を用いて最適な１次変換係数を自動的に算出して設定する。例えば濃度データの最大値を最大輝度値またはその近傍、最小値を最小輝度値またはその近傍となるような１次変換係数を算出することで、常に高いコントラストの断層像の表示を可能とする。 （もっと読む）

本発明は、デジタル撮影測量の位置決め原理に基づいて注目対象物を撮影して複数のＸ線面状画像データを取得し、Ｘ線像の撮影時に、既知の三次元位置における複数の標識点を同時にＸ線像に撮影し、容積撮影立体画像再構成直角座標系O-XYZにおける標識点の座標とＸ線像座標系o-xyにおける標識点の座標により前記両座標系の変換関係を構築し、この変換関係によりＸ線撮影ビーム毎の進路と位置を決定し、各Ｘビームが注目対象物の全ボクセルを透過することを得、同Ｘビームの進路上のボクセルｇと画素ＧによりRadon方程式群を立ててボクセルｇの階調値を解き、コンピュータにより全ボクセルｇの階調値を算出し、ボクセルｇの階調値により注目対象物の三次元立体容積画像を再構成する、Ｘ線容積撮影による立体画像再構成方法を開示するものである。
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