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Fターム[2G020CD51]の内容

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【課題】基となるデータに対して複数の異なるデータ処理を順次実行してゆく形態のデータ処理において、データ処理の種類、その実行順序、パラメータの設定といった事項を試行錯誤の上で決定しなければならない場合に、従来はデータ処理を一つずつ実行しなければならず非効率であった。
【解決手段】各データ処理の処理内容が記憶された処理記憶部と、アイコン配置命令の入力に基づき、一又は複数の処理アイコンを表示部に表示するアイコン表示部と、処理実行命令の入力に基づき、表示部に表示されている処理アイコンの並び順に、前記基データに対してデータ処理を実行する処理実行部と、を含んだシステム構成とする。表示部に表示されている処理アイコンの並び順に応じてデータ処理が実行されるため、逐一データ処理実行の命令を与える必要がなくなる。データ処理の種類を変更したり、順番を入れ替えたりすることも容易に行える。 (もっと読む)


【課題】被測定光と回折光との角度関係に関わらず当該回折光の広がり角を設定可能とすることで、被測定光と回折光との角度を柔軟に変更可能とする。
【解決手段】入出射面41が、回折面31に対して、溝5の配列方向(y方向)に傾斜されている。 (もっと読む)


【課題】光学基板の変形を抑制しつつ、その間隔寸法を変化させて、所望の波長帯域の光を精度よく分光する。
【解決手段】間隔をあけて対向配置され、対向面にコート層2a,2bが設けられた複数の光学基板3,4と、該光学基板3,4の中心線回りに周方向に間隔をあけて配置され、光学基板3,4の間隔方向に伸縮可能なアクチュエータ5と、該アクチュエータ5と光学基板3,4とを周方向に間隔をあけた複数位置において接続する接続部材10とを備える可変分光素子1を提供する。 (もっと読む)


【課題】光学系を正確に調整できる分光測定装置および分光測定装置の調整方法を提供すること。
【解決手段】分光測定に用いる測定用光源と放射光スペクトル上に複数の輝線を有する調整用光源とを交換して取り付けることができる光源部と、光源部が放射した光を分光する分光手段と、前記分光手段が分光した光を受光するようにアレイ状に配列された受光素子群を有し、前記受光素子群は所定の位置に配置された複数の調整用受光素子を含む受光デバイスと、前記調整用受光素子が前記分光した光のうち前記輝線に対応する波長の光を受光するように前記受光デバイスの位置を調整する位置調整機構と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】透過帯域の波長に対する透過帯域幅の変化を抑制する。
【解決手段】間隔をあけて対向する複数のコート層2a,2bを備え、該コート層2a,2b間の光路長を調整することにより該コート層2a,2bを通過する光の透過帯域を変化させる可変分光素子1であって、透過帯域を変化させる分光波長帯域内において、任意の2つの透過帯域間の中心波長の変化の割合よりも、これら透過帯域間の透過帯域幅の変化の割合が小さくなるように前記コート層2a,2bが構成されている可変分光素子1を提供する。 (もっと読む)


【課題】 回折格子や分光器を用いないで、対象物の表面の色、吸収などを簡易迅速に検出するための軽量、小型、低コストのセンサを与えること。
【解決手段】 筐体と、筐体の内部に設けられ複数の波長の光を発生する光源と、筐体の内部に設けられ光源から発生した複数波長の光を直線偏光にして分岐し第1分岐光gを交番電界を掛けたポッケルス効果素子を含む光路Gに通し第2分岐光hを誘電体あるいは反対向きの交番電界を掛けたポッケルス効果素子を含む光路Hに通して分岐光g、hの間に周期的な位相差を与え合波して試験光Sとする干渉部と、試験光Sを外部の試料にあてるための筐体に設けられた窓と、試料からの反射光を受光する受光素子と、受光素子によって得られた時間的光強度変化を、交番電界の変化に同期してフーリエ変換する演算部と、フーリエ変換によって得られた波数分布R(ν)を記憶表示する記憶表示部を含む。 (もっと読む)


【課題】熟練者でなくとも複合物に含まれている化合物を同定できるスペクトル分析装置を提供する。
【解決手段】スペクトルに関する質問に回答することで、化合物を同定するスペクトル分析装置であり、質問順序データベース206は、今回の質問番号と回答と、今回以前の質問番号と回答と、次の質問番号とを対応付けて記憶する。結果情報データベース205は、分析結果の化合物の情報と、結果に至るまでの質問番号と回答とを記憶する。質問決定処理部208は、回答データベース207と質問順序データベース206とを参照して、次の質問を決める。その質問を、質問表示処理部213が表示させる。回答受付処理部214は、表示された質問に対する回答の入力を受付け、質問番号とともに回答データベース207に格納する。結果表示処理部215は、回答データベース207の記憶内容に対応する分析結果を、結果情報データベース205から取得して出力する。 (もっと読む)


【課題】発光ダイオードの発光光に含まれる発光強度リップルや発光ダイオードの光強度分布の全体的な非平坦性の影響を除外して観測波長を高精度に校正する。
【解決手段】特定波長の光を吸収するガス吸収セルに発光ダイオードから出射された所定波長帯域の基準光を通過させ、当該通過後の透過光の観測スペクトラムを求める工程と、観測スペクトラムに移動平均処理を施して移動平均化観測スペクトラムを求める工程と、移動平均化観測スペクトラムと観測スペクトラムとの比をとることにより補正観測スペクトラムを求める工程と、補正観測スペクトラムにおけるガス吸収セルの吸収波長と既知の特定波長との差異に基づいて観測波長を校正する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】1フレーム周期で繰り返し発生する被測定光のスペクトラムを測定する際に、瞬時的な光スペクトラムを観測する。
【解決手段】入力される被測定光について分光と波長掃引して電気信号に変換して出力する光学部130と、前記光学部の波長掃引を制御し、波長掃引の波長毎に、被測定光の繰り返し周期とずれた周期のサンプリングクロックを出力する制御部101と、前記光学部からの電気信号を前記サンプリングクロック毎にシーケンシャルサンプリングする測定部140と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】波長走査型OCTやフーリエドメインOCT等の光断層画像化装置の波長走査型光源、モノクロメーター、分光器等の較正を、オシロスコープや干渉フィルター等の特殊機材を使用するすることなく行えるようにする。
【解決手段】時間的に波長を走査する波長走査型光源2を有する光コヒーレンストモグラフィーの波長走査型光源2を較正する場合に、光コヒーレンストモグラフィーにより波長走査型光源2をモニタリングしてスペクトル干渉信号を時間信号として検出し、このスペクトル干渉信号から走査波長の時間依存性を求め、波長走査型光源2の走査波長の時間依存特性を較正する。 (もっと読む)


【課題】多数のフィルターを装着し、且つ短時間でフィルター切換えが可能な、フィルター式モノクロメータの提供
【解決手段】光学干渉フィルター1が多重の同心円にそって設けた複数の貫通孔にそれぞれ着脱自在に配設された円盤状のターレット10と、ターレット10を周方向に回転させるための第1のモータ30と、ターレットを水平方向に移動させる並行する2本のガイドシャフト40と、シャフト軸方向移動自在の水平移動部材42と、を具備し、光源ランプユニットから集光レンズを介して照射する光路の位置を固定して、その光路の位置を基準にして、前記第1及び第2のモータ30,70を駆動して前記ターレット10を周方向に移動させ、所望の光学干渉フィルター1に逐次切換えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本開示は概略的に、多重波長作像分光器に対する方法および装置に関する。より詳細には、一実施例において本開示は、光子を貫通通過させる光学フィルタに関する。
【解決手段】前記フィルタは、第1フィルタ・ステージおよび第2フィルタ・ステージを含む。前記第1フィルタ・ステージは、第1リターダ要素と第1液晶セルとを含み得る。前記第1要素は、入力面および出力面を含み得る。前記第1要素の各面のひとつは、当該フィルタを貫通通過する光子の軌跡に対して実質的に直交しては配向されない。

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【課題】分光光度計用のセルであって、厚みがマイクロメートルオーダーであり、かつ、光路長が無段階で可変のセルを実現する。
【解決手段】分光光度計用セル3は、2枚の光透過部材31a、31bを有し、これら光透過部材31a、31bはフッ化物のイオン結晶材からなる平板状である。枠材32の左右面は溶液通路となる開口が形成され、この開口の中央部付近に通路形成用部材35が配置され、枠材32の左右面に光透過部材31a、31bが固定される。枠材32の左右端面は略台形状であり、上面側端面32aは、下上面側端面32bより厚みが小である。枠材32の左右端面には溶液入口孔33と溶液出口孔34が形成される。この分光光度計用セル3の厚み(光路長)は、例えば、上端部で0.005mm、下端部で0.04mm程度の非常に薄いものである。 (もっと読む)


【課題】 画素数の大きなPDA検出器を使用し、光学系の構成を変更することなしに、所望の波長分解能に応じて、見かけ上画素数の小さな検出器を利用した場合と同等の出力を得られるようにする。
【解決手段】シフトクロックCKの1パルス毎にPDA検出器7から1画素ずつ出力される電流信号をコンデンサ82で積分し、スイッチ87によるクランプ動作が解除されているタイミングでS/H回路91にサンプル/ホールドする。コンデンサ82を放電させるリセット用スイッチ83を閉成するリセット制御信号RS、クランプ制御信号CP及びトリガ制御信号TGをシフトクロックCKの1パルス毎に欠損させることで、波長方向に隣接する2個の画素信号をコンデンサ82で電流加算し、その加算された電圧信号をA/D変換することで見かけ上波長分解能を半分に落とすことができる。 (もっと読む)


【課題】 高速に変調された光の波長チャープを高い精度で簡便に測定し、広い帯域を持つ変調光の波長チャープを測定する。
【解決手段】 光パワーの平方根に比例する電場振幅の透過率を光周波数で微分して得られる微分係数が正で極大となる第一の透過波長域と、この第一の透過波長域と電場振幅の透過率が等しくこの電場振幅の透過率を光周波数で微分して得られる微分係数が前記第一の透過波長域とその絶対値がほぼ等しく符号が負となる第二の波長域とを有する可変光フィルタを用い、この可変光フィルタの透過波長域を可変し変調光の波長域に前記第一または第二の透過波長域を順次合致させ、それぞれ通過した変調光の時間波形を観測する。 (もっと読む)


【課題】光学的なバンドパスフィルタを用いた測定結果と等価な測定結果が得られるマルチチャンネル分光方式の分光光度計を提供する。
【解決手段】試料からの検出光は、凹面回折格子で分光・反射されて、フォトダイオードアレイに入射する。フォトダイオードアレイは、検出光の分散方向に多数のフォトダイオードが並べられている。各フォトダイオードから出力される波長毎の光電信号は、光電データに変換された後に、光学的なバンドパスフィルタの波長と透過率との関係に対応させて重みデータで重み付けされてから加算される。加算で得られる測定データが測定結果として出力される。 (もっと読む)


変調分光システム1が、プローブビーム11をサンプル10上に向け、反射されたプローブビームは集光器7によって集光され、検出器8により処理される。光源4、5によって作られたポンプビームは、ポンプビーム13をサンプル上のプローブビームと同じにスポットに向ける。しかし、同時にポンプビームをそのプローブスポットに重ならない隣接した位置に切り換えることも行われる。これは空間変調と呼ばれる。集光サブシステム7の円柱レンズ16は、両ポンプビームスポットからのルミネセンスを同時に含む反射光を集光し、従ってルミネセンスは除去が容易に行えるDC信号となる。また、変調器からのポンプビームの強度と位置を変えるための手段も備える。これは不要なバックグラウンドのルミネセンス信号を除去する手段となると同時にS/N比を改善する。
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干渉計(10)を較正する方法は、電気信号(220)の印加に応じて光学ギャップ(15)を制御するようになっているアクチュエータ(50)を使用する。所定の略単色の波長を有し、第1の所定の入射角(65)を有する光ビーム(60)が干渉計に照射され、アクチュエータに印加される電気信号(220)を変化させる間に、干渉計から第2の所定の角度(75)で反射する光(70、80)が検出され、それにより、印加される電気信号と干渉計の光路長との間に較正された関係が確立される。
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【課題】フェムト秒光パルスのパルス幅を容易に計測すること。
【解決手段】入力光パルスを二分して得られた第1分岐光L1、および第1分岐光に対し時間遅延のない第2分岐光L2が、基本波として、入射される非線形光学素子20と、非線形光学素子で発生された第2高調波の、ある波長領域に存在する全てのスペクトルを抽出し、抽出する中心波長が位置によって連続的に変化するスペクトル抽出光学素子30と、スペクトル抽出光学素子から出射する第2高調波の2次元パターンを撮像する2次元撮像素子40とを具える。非線形光学素子として、有機色素素子を用い、自己相関波形情報対波長情報の2次元パターンを得、自己相関波形情報からスケール基準としてのレチクルを用いてパルス幅を決定する。 (もっと読む)


【課題】 薄膜の面内モード吸収スペクトルと面外モード吸収スペクトルを、偏光していない通常の電磁波を用いて、一つの同じ薄膜から同時に測定できる。
【解決手段】 透明基板1に対して、非偏光の通常の電磁波を複数の異なる入射角で照射させ、それぞれの入射角での透過シングルビームスペクトルSobsjを測定する。そして、それらの測定スペクトルSobsjから、演算により透明基板1の面内モードスペクトルSa IPと面外モードスペクトルSa OPを算出する。次に、透明基板1と薄膜10が合さったものに対して、同様に、透過シングルビームスペクトルSobsjを測定し、その面内モードスペクトルSb IPと面外モードスペクトルSb OPを算出する。そして、Sa IPとSb IPの比Sb IP/Sa IPを演算することにより、薄膜10の面内モード吸収スペクトルSIPを算出し、Sa OPとSb OPの比SbOP/Sa OPを演算することにより、薄膜10の面外モード吸収スペクトルSOPを算出する。 (もっと読む)


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