【課題】インピーダンス素子の両側に２つのコンデンサがデルタ型又はπ型に接続されてなり、基板に内蔵されるコンデンサ回路内の各コンデンサの容量を、コンデンサを回路に接続したままの状態で、簡易な装置構成により、正確かつ容易に測定できるコンデンサ容量測定方法を提供する。
【解決手段】第１の測定段階では、両コンデンサＣ１，Ｃ２を並列接続したときの両コンデンサＣ１，Ｃ２の合成容量を測定する。第２の測定段階では、両コンデンサＣ１，Ｃ２の容量比を測定する。算出段階では、第１の測定段階で測定された合成容量と、第２の測定段階で測定された容量比とに基づいて、両コンデンサＣ１，Ｃ２の容量をそれぞれ算出する。 （もっと読む）

【課題】電池用電極材に対して、簡便に評価を行うことができる厚さ測定装置、及び厚さ測定方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる測定装置は、太陽電池のセル２１の電極の抵抗分布を測定する測定装置であって、セル２１との間にエアギャップを形成するため、セル２１にエアを噴出する測定ヘッド３１と、測定ヘッド３１に設けられたコイル４１と、コイル４１に接続された発振器５０と、測定ヘッド３１とセル２１との相対位置を変化させる可動部１３と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】４端子対法による計測が行える回路基板検査装置において、プローブのコンタクトチェックのための専用回路が不要であり、また、測定中においても適宜コンタクトチェックが行えるようにする。
【解決手段】高電位側電圧プローブＰ３および低電位側電圧プローブＰ４に接続される各同軸ケーブルＣの内部導体ＩＬと外部導体Ｓとの間に、高周波領域で定在波が発生しないように、インピーダンスマッチング用の抵抗素子Ｒ０とスイッチＳＷ２とを含む直列回路２２を接続し、スイッチＳＷ２がオフであるときの内部導体ＩＬと外部導体Ｓ間の第１の電圧値と、スイッチＳＷ２がオンであるときの内部導体ＩＬと外部導体Ｓ間の第２の電圧値とに基づいて、各電圧プローブＰ３，Ｐ４の接触状態の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】被測定キャパシタの測定精度の向上が図れる静電容量検出回路の提供。
【解決手段】この発明は、駆動回路１と、オフセット調整用キャパシタＣｃと可変抵抗Ｒｃとを含む可変調整回路４と、容量電圧変換回路２と、制御回路５と、メモリ６と、を備えている。容量電圧変換回路２は、被測定キャパシタＣｓの静電容量と、オフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量との差に応じた電圧を出力する。制御回路５は、可変抵抗Ｒｃの抵抗値及びオフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量を調整する。メモリ６は、制御回路５で調整後の可変抵抗Ｒｃの抵抗値及びオフセット調整用キャパシタＣｃの静電容量値を記憶する。 （もっと読む）

【課題】絶縁靴のアッパー部を水濡れさせることなく該絶縁靴の絶縁抵抗を測定することが可能な絶縁靴の絶縁抵抗測定用基台、及びこれを用いた絶縁抵抗測定装置を提供する。
【解決手段】固定プレート１４に支柱１５を設け、該支柱１５の上部に支持プレート１６を設ける。そして、固定プレート１４と支持プレート１６との間に下部スポンジ材１７を設置し、支持プレートの上面に上部スポンジ材１８を設置する。そして、容器１３内の支持プレートよりも若干低いレベルまで水２２を注入する。この状態で上部スポンジ材１８の上に絶縁靴２１を載置し加圧すると、絶縁靴２１の靴底２１ａ全体が水と接触するので、絶縁靴２１のアッパー部２１ｂと容器１３との間に電圧を印加し、このときに流れる電流を測定することにより、絶縁靴２１の絶縁抵抗を高精度に測定することが可能となる。また、絶縁靴２１内に水が浸入することを防止できる。 （もっと読む）

【課題】差動信号伝送用ケーブルの端末部において生じるインピーダンス不整合を可能な限り低減し、差動信号伝送用ケーブルそのものが持つ純粋な特性を評価することができる差動信号伝送用ケーブルの特性評価機構及び特性評価方法を提供する。
【解決手段】差動信号伝送用ケーブル１１の信号線導体１２が接続される信号線パッド１３と、差動信号伝送用ケーブル１１のシールド導体１４が接続されるグランドパッド１５と、を有する基板１６と、信号線導体１２を信号線パッド１３に押し付ける押さえ部材１７と、弾性絶縁シート１８と、弾性絶縁シート１８の片面に設けられた金属箔１９と、からなり、金属箔１９をシールド導体１４とグランドパッド１５とに接触させることで、シールド導体１４とグランドパッド１５とを間接的に接続するシールド導体保持シート２０と、シールド導体保持シート２０を固定するクリップ２１と、を備える特性評価機構１０である。 （もっと読む）

【課題】
低抵抗体の良否を簡素な回路構成で高精度に判定可能な低抵抗体の良否検査装置を提供すること。
【解決手段】
被測定抵抗Rxの電圧降下を4端子法で計測し、それと時間順次に所定の一乃至複数の基準抵抗の電圧降下を独立に計測し、得られた複数の電圧降下の電圧増幅値を演算することにより、低抵抗値をもつ被測定抵抗の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】デルタ回路を構成する第１ないし第３のインピーダンス要素のうちの第１のインピーダンス要素のインピーダンス測定において、第２のインピーダンス要素と第３のインピーダンス要素の間に流れる電流をゼロに抑え、第１のインピーダンス要素のインピーダンスを正確に測定できるインピーダンス測定装置を提供する。
【解決手段】このインピーダンス測定装置では、第２の導電路Ｌ２と電気接続された出力端子及び反転入力端子と、所定の基準電位（例えば、グランド電位）に電気接続された非反転入力端子とを有するオペアンプ３４が備えられる。そして、第１のインピーダンス要素Ｚ１と第２のインピーダンス要素Ｚ２の間の第１の導電路Ｌ１の電位、及び第２のインピーダンス要素Ｚ２と第３のインピーダンス要素Ｚ３の間の第２の導電路Ｌ２の電位を基準電位に誘導しつつ、第１のインピーダンス要素Ｚ１のインピーダンスが測定される。 （もっと読む）

【課題】被測定試料（ＤＵＴ）から得られる電圧信号と電流信号とを同時に測定しながら、測定系に含まれている信号変換回路で生ずる誤差を確実に打ち消す。
【解決手段】ＤＵＴの電圧信号出力系と電流信号出力系の信号変換回路１００，２００と、基準信号出力部４４０と、信号変換回路１００を電圧信号出力系又は基準信号出力部４４０に接続するスイッチＳＷ１と、信号変換回路２００を電流信号出力系又は基準信号出力部４４０に接続するスイッチＳＷ２とを有し、ＳＷ１，ＳＷ２を基準信号出力部４４０側に切り換えての第１ステップで出力される変換後基準信号からインピーダンスＺ_３を算出し、ＳＷ１，ＳＷ２を各出力系側に切り換えての第２ステップで信号変換回路１００より出力される変換後電圧信号と信号変換回路２００より出力される変換後電流信号とからインピーダンスＺ_４を算出したのち、Ｚ_４／Ｚ_３なる除算を行ってＤＵＴのインピーダンスＺを求める。 （もっと読む）

【課題】曲線的充放電特性の電気二重層キャパシタにおいて、内部抵抗Ｒ及び静電容量Ｃを測定する方法及び装置を提供する。
【解決手段】
計測された端子電圧Ｖ、充電時間ｔ_ｃｈ及び放電時間ｔから、充電時の電荷Ｑ_ｃｈと放電時の電荷Ｑとの差ΔＱと、放電時に端子から放出される放出エネルギーＷと、を算出し、ΔＱと、放出エネルギーＷと直線的放電特性の放出エネルギーＷ_０との差である乖離エネルギーΔＷと、の算定式から内部抵抗Ｒを解析的に求め、算出された内部抵抗ＲとΔＱとから、電気二重層キャパシタの静電容量における電圧に依存する成分αＶ_ｃの電圧係数αを算出し、算出された内部抵抗Ｒと電圧係数αとから、静電容量Ｃを算出する。 （もっと読む）

【課題】一台で高抵抗薄膜の抵抗値と表面凹凸を正確に測定できる測定装置を提供する。
【解決手段】載置板１２をポリアセタール樹脂で構成し、裏面にガード電極５２を配置する。載置板１２上に配置した基板２３の表面に、円環電極４３と円盤電極４４とを接触させ、円盤電極４４を電流計４７を介してガード電極５２に接続し、ガード電極５２を接地させて、円環電極４３と円盤電極４４の間に電圧を印加し、電流計４７の検出結果から基板２３表面の高抵抗薄膜の抵抗値が測定される。ポリアセタール樹脂の抵抗値は高く、表面は平坦なので、基板２３の表面に触針を接触させながら移動させて、触針６３の変位を測定して基板２３の表面の凹凸も正確に測定することができる。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性に基づいて等価回路の各素子定数を推定する際に、素子定数の一部を任意の値に固定して、他の残りの素子定数を推定することができる等価回路解析装置及び等価回路解析方法を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置は、測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性を測定する測定部と、複数の電気素子を組み合わせた所定の等価回路の各素子定数を任意の値に設定する操作が可能な設定ボタン１３ｂと、素子定数Ｃを固定する操作が可能な固定ボタン１４ｂと、測定部の測定した測定対象物の周波数特性に基づいて、固定ボタン１４ｂによって固定された素子定数Ｃを変更せずに、他の素子定数Ｒ，Ｌの推定を行う推定部とを備えるものである。 （もっと読む）

【課題】より短い測定時間で、より正確な共振周波数を得る。
【解決手段】極値探索部５１は、被測定回路１２を測定して得られた周波数とインピーダンスとを示す測定点から、極大値または極小値である極値を探索する。算出部５２は、周波数を示す第１の軸とインピーダンスを示す第２の軸とが直交する平面上に配置された測定点のうち、極値および極値の周波数より高い周波数の測定点であって、隣接する測定点を結ぶ直線と極値の周波数より低い周波数の測定点との平面上の位置の関係から共振周波数を算出する。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の周波数特性から推定した等価回路の素子定数に誤差があったときに、この誤差を無くすためにいずれの素子定数をどのように変化させればよいかということを測定者が判断する必要が無く、簡便な操作で正確な素子定数を得ることができる等価回路解析装置を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置１は、タッチパネル１０と、ＤＵＴ９０の複素インピーダンスの周波数特性を測定して、タッチパネル１０にグラフで表示させる測定部２と、ＤＵＴ９０の周波数特性に基づいて等価回路の各素子定数を推定する推定部３と、等価回路の周波数特性を算出してそのグラフ及び各素子定数を表示させる理論特性演算部５と、タッチパネル１０に表示されている等価回路のグラフの部位に接触してから、その接触位置をタッチパネル上で移動させる移動操作に対応させて、等価回路の素子定数を変更する素子定数変更処理部６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】従来の検査装置では、厚さに変化があるような製造工程中の電極シートの電気抵抗を正確に測定することが難しいという問題点があった。
【解決手段】連続して水平方向に搬送される電極シートＳの上面に回転接触する少なくとも二つのローラ状の電極子１と、電極子昇降手段２と、電気絶縁性を有し且つ電極子１の下側で電極シートＳの下面を受けるガイド体３と、電極シートＳに接触した電極子１間の通電により電極シートＳの面内方向の電気抵抗を測定する面内抵抗測定手段５０Ａと、電極シート１の厚さを測定する厚さ測定手段４を備えた検査装置Ｃ１とした。厚さに変化があるような製造工程中の電極シートＳでも、その面内方向の電気抵抗を正確に測定することができ、製造工程中に配置するインライン式の装置として非常に好適である。 （もっと読む）

【課題】測定コストの上昇の抑制とハムノイズの除去とを行いつつ、充電状態を揃えて絶縁抵抗を測定する。
【解決手段】ｍ個のコンデンサ１１に試験電圧Ｖを同時に印加する電圧出力部２と、各コンデンサ１１に流れる電流Ｉを検出して検出信号ＳＩを出力する電流検出部３と、各検出信号ＳＩの１つを選択して特定検出信号ＳＩｓとして出力する信号切替部４と、特定検出信号ＳＩｓの波形データＤｗを出力する１つのＡ／Ｄ変換部６と、波形データＤｗで示される電流値と試験電圧Ｖとから各コンデンサ１１の絶縁抵抗ＩＲを算出する処理部６とを備え、処理部６は、信号切替部４を切替制御して、（Ｔｃ×ｍ／ｎ）以上であるＴｃの最小の倍数を時間ｋとしたときに、ｎ個のポイントの時間間隔が（Ｔｃ／ｎ＋ｋ）となり、各検出信号ＳＩの１個目のポイントがすべて異なる時間で、かつ期間（Ｔｃ／ｎ＋ｋ）内に含まれるように信号切替部４を制御する。 （もっと読む）

【課題】精度良く二次電池の劣化状態を検知することができ、且つ経年劣化等の影響を回避できる二次電池の内部抵抗値算出装置及び内部抵抗算出方法を提供する。
【解決手段】バッテリ１と並列関係となるようにコンデンサ３３を接続し、第１抵抗３２及び第１スイッチ３１の直列回路を間に接続する。更に、第１抵抗３２とコンデンサ３３との間に第２スイッチ３４を介して第２抵抗３５の一端を接続し、第１スイッチ３１及び第２スイッチ３４を相補的に切り替える。第１スイッチ３１がオンのときはバッテリ１からコンデンサ３３へ充電がされ、時定数τ_chg はバッテリ１の内部抵抗値Ｒｂ、第１抵抗３２の抵抗値Ｒ１、コンデンサ３３の内部抵抗値Ｒｃ及び容量Ｃを用いてτ_chg ＝（Ｒｂ＋Ｒ１＋Ｒｃ）Ｃと表される。コンデンサ３３の放電時の時定数τ_dchg＝（Ｒ１＋Ｒｃ）Ｃとの演算に基づきバッテリ１の内部抵抗値Ｒｂが求まる。 （もっと読む）

【課題】積分型の電流電圧変換回路を有する電気測定装置において、積分用コンデンサ固有の誘電吸収現象による測定誤差を排除する。
【解決手段】演算増幅器２１の一方の入力端子２１ａと出力端子２１ｃとの間の帰還回路に積分用コンデンサ２２を有する積分型の電流電圧変換回路２０と、直流電圧源１０とを含み、直流電圧源１０と演算増幅器２１の一方の入力端子２１ａとの間に被測定抵抗体Ｒｘを接続し、コンデンサ２２に充電される電荷に応じて演算増幅器２１の出力端子２１ｃに現れる出力電圧Ｖｏに基づいて被測定抵抗体Ｒｘが備える所定の素子特性を測定する電流測定装置において、直流電圧源１０より被測定抵抗体Ｒｘに所定の電圧を印加して被測定抵抗体Ｒｘの素子特性を測定した後に、積分用コンデンサ２２を素子特性測定時とは逆方向に充電する逆充電用の直流電流源４０を備える。 （もっと読む）

【課題】同じ試料についての等価回路のパラメータを測定したときに他の測定装置と同じ値のパラメータ値を測定する。
【解決手段】処理部６は、試料８の各周波数でのインピーダンスＺ_ｂおよび位相θ_ｂを示す測定周波数特性データＤ_Ｆｂを取得する周波数特性データ取得処理と、取得した測定周波数特性データＤ_Ｆｂで示されるインピーダンスＺ_ｂにインピーダンス補正係数ｍを乗算して補正インピーダンスＺ_ｂ１に補正し、かつ測定周波数特性データＤ_Ｆｂで示される位相θ_ｂに位相補正値ｎを加算して補正位相θ_ｂ１に補正して補正周波数特性データＤ_Ｆｂ１を算出する周波数特性データ補正処理と、補正周波数特性データＤ_Ｆｂ１に基づいて試料８の等価回路の各パラメータのパラメータ値Ｄ_Ｌｂ１，Ｄ_Ｃｂ１，Ｄ_Ｒｂ１を算出し、パラメータ補正値ｋ_Ｌ，ｋ_Ｃ，ｋ_Ｒを乗算して補正するパラメータ補正処理とを実行する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の周波数特性から推定した等価回路の素子定数に誤差があったときに、素子定数をどのように変化させると測定対象物をよく近似できるかということを測定者に容易に知らせることができる等価回路解析装置を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置１は、タッチパネル１０に測定対象物の周波数特性のグラフ３１を表示させる測定部と、その周波数特性から等価回路の素子定数RCLを推定する推定部と、素子定数を変更させる増減ボタン１４〜１６と、推定部の推定した素子定数、及び増減ボタン１４〜１６で変更した素子定数で周波数特性を算出してグラフ３２を表示させる理論特性演算部と、等価回路の周波数特性の傾向を変更させたいときに何れの素子定数の大小を変化させたらよいかを示すガイド情報を記憶するガイド情報記憶部と、タッチパネル１０で選択されたグラフ３２の部位のガイド表示３５を表示させるガイド情報処理部を備える。 （もっと読む）