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Fターム[2G028FK01]の内容

抵抗、インピーダンスの測定 (8,300) | 測定方法 (815) | 被測定量を電圧に変換 (342)

Fターム[2G028FK01]に分類される特許

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【課題】本発明は、トランスポンダが存在する端末の磁場内におけるトランスポンダと端末との結合係数を評価できる方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る電磁トランスポンダと端末との結合係数を評価する方法によれば、前記トランスポンダの抵抗性負荷の2つの値に関して得られる前記トランスポンダの発振回路の電圧の比率を、一又は複数の閾値と比較し、比較結果に基づき、前記結合係数を評価する。更に本発明では、前記発振回路の両端間に設けられている整流器によって与えられる直流電圧を、前記抵抗性負荷の前記2つの値の夫々に関して測定する。 (もっと読む)


【課題】簡易な検出回路によって直流回路の絶縁不良を高感度かつ安全に検出すること。
【解決手段】この絶縁抵抗測定装置1は、直流電源回路2の対地絶縁抵抗を測定する装置であって、直列電源4の正極3A及び負極3Bに接続するための接続端子6A,6Bと、接続端子6A,6Bと接地電位との間に接続され、接続端子6A,6Bと接地電位との間の接続を切り換えるスイッチ素子7A,7Bと、接続端子6A,6Bのそれぞれと接地電位との間にスイッチ素子7A,7Bを介して接続された抵抗素子8A,8Bと、抵抗素子8A,8Bにおける電圧降下を検出する電圧検出部9と、を備える。 (もっと読む)


【課題】外部電磁界と検出コイルとの間に強い磁気結合があっても誤動作や誤検出を防止でき、外部から電磁波の照射を受けても誤動作を防止できる低コストの近接センサを提供する。
【解決手段】近接センサは、金属体との相対位置に応じてインピーダンスが変化する検出コイル1と、検出コイル1が接続されるコイル端子ta,tbを有するとともに、少なくとも一部の回路が集積回路で構成され、検出コイル1のインピーダンス値に応じて金属体の有無又は相対位置に関わる検出信号を生成する検出回路2と、検出コイル1の両端間に逆並列接続されたダイオード3a,3bからなり、検出コイル1の両端間に発生する電圧が所定のクランプ電圧を超えると、両端電圧をクランプ電圧に制限する双方向クランプ回路3とを備える。 (もっと読む)


【課題】比較的早い段階において、コンデンサの寿命を正確に予測する。
【解決手段】基準抵抗R22は、平滑コンデンサC11(コンデンサ)と直列に電気接続する。電圧生成部222(電圧生成回路・測定装置)は、平滑コンデンサC11と基準抵抗R22との直列回路に印加するバイアス付き交流電圧を生成する。電圧測定部223は、平滑コンデンサC11の両端電圧を測定する。抵抗算出部224(測定装置)は、電圧生成部223が測定した両端電圧に基づいて、平滑コンデンサC11の等価直列抵抗Rを算出する。寿命算出部242(寿命算出装置)は、抵抗算出部224が算出した等価直列抵抗Rに基づいて、平滑コンデンサC11の寿命を判定する。 (もっと読む)


【課題】絶縁抵抗の低下と装置故障とを区別することが可能な絶縁抵抗検出装置を提供する。
【解決手段】負荷回路10の絶縁抵抗Riを検出する絶縁抵抗検出装置50において、第1端が前記負荷回路10に接続されたカップリングコンデンサC1と、前記カップリングコンデンサC1の第2端に接続され、この第2端に周期波形を出力する矩形波生成回路51と、前記周期波形のピーク点を含む一部を取り出して増幅する波形整形回路54と、前記波形整形回路54より出力される波形の波高値である参照信号V1と、前記周期波形の波高値である基準信号V2に基づいて、前記負荷回路10の絶縁抵抗Riを求めるマイコン55と、を有する。そして、V1≧V2の領域では、参照信号V1を用いて絶縁抵抗Riを求め、V1<V2の領域では、参照信号V1と基準信号V2の平均値を用いて絶縁抵抗Riを求める。 (もっと読む)


【課題】測定用信号の供給開始時における測定用プローブや測定対象体の破損を防止する。
【解決手段】抵抗測定用信号S1を出力する直流電圧出力部12と、抵抗測定用信号S1が一対の導体パターン101に供給されているときに生じる電気信号に基づいて各導体パターン101間の抵抗値Rを測定する抵抗測定部13と、各導体パターン101間の静電容量値Cを測定する静電容量測定部15と、制御部18とを備え、直流電圧出力部12は、抵抗測定用信号S1の電圧値を変更可能に構成され、制御部18は、抵抗測定部13による抵抗値Rの測定に先だって静電容量測定部15に静電容量値Cを測定させると共に、抵抗測定用信号S1の出力開始時において、測定された静電容量値Cの容量値が大きいほど抵抗測定用信号S1の電圧値の増加速度が小さくなるように直流電圧出力部12を制御する出力制御処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】生体への負荷を防ぎつつ、任意のタイミングで精度良く生体のインピーダンスを測定する。
【解決手段】生体Aに配置される電極対2aと、蓄積された電荷を分割して、生体Aが応答を示さないパルス幅を有しかつ生体Aが応答を示さない時間間隔を空けた複数の電圧パルスを電極対2aに供給する電圧パルス発生部3と、該電圧パルス発生部3により生体Aに供給された異なる2つの電圧パルスの電圧値を測定する電圧測定部4と、該電圧測定部4により測定された電圧値に基づいて、生体Aのインピーダンスを算出するインピーダンス算出部7とを備えるインピーダンス測定装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】負荷部の動作を適切に動作させた状態で平滑コンデンサの容量を推定することが可能な技術を目的とする。
【解決手段】電子装置は、電力供給部31と、容量推定部11とを備える。電力供給部31は、平滑コンデンサ6を有し、交流電源26からの電力に基づいて負荷部200に供給電圧を供給する。容量推定部11は、電力供給部31の動作モードを通常モードから容量推定モードに変化させて、その後、平滑コンデンサ6の放電により降下し続ける供給電圧の電圧値が、負荷部200の適正入力範囲の下限値を下回らないまでに、平滑コンデンサ6の容量を推定するために必要な、供給電圧に関する測定を行い、かつ電力供給部31の動作モードを容量推定モードから通常モードに戻す。 (もっと読む)


【課題】漏電を短時間に検出することが可能な漏電検出装置を提供する。
【解決手段】接地部に対して電気的に絶縁された高圧直流電源の漏電を検出する漏電検出装置において、測定回路30は定電流交番回路32と演算制御回路31からなり、定電流交番回路32の出力側にブリーダー抵抗を設け、定電流交番回路32は所定のサンプリング周期で定電流Ioの注入、引き抜きを交互に行い、演算制御回路31は、所定の関係式から絶縁抵抗値を算出する。ブリーダー抵抗の抵抗値Rmは、定電流値Ioとブリーダ抵抗値Rmの積が定電流交番回路32の最大駆動電圧値以下になるように設定される。演算制御回路は次式で算出される抵抗値RCxを絶縁抵抗値の測定値とする。
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【課題】本発明は、電極探針と被測定物との接触面積及び接触面の間隔それぞれをより高い精度で維持できる4探針プローブ及びそれを用いた抵抗率測定装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る4探針プローブ10は、本体部11とその先端に形成された超硬ボール10a、10b、10c、10dを有する電極探針と、電極探針が4本摺動可能に保持された軸受ガイド12とを具備し、軸受ガイド12は、粉末を用いた焼結加工によって形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】抵抗素子の抵抗値について基準値に対するばらつきを検出する回路を提供する。
【解決手段】第1の抵抗と、第2の抵抗と、第1の抵抗に電流を供給する第1の電流源回路と、第2の抵抗に電流を供給する第2の電流源回路と、電流の供給により第1の抵抗に生じる電位差と第2の抵抗に生じる電位差とを比較する電圧比較回路と、第1及び第2の電流源回路の少なくとも一方の電流供給量をディジタル的に調整する制御回路と、を備え、制御回路の調整値と電圧比較回路の比較結果から第1の抵抗と第2の抵抗の抵抗値の比率を検出できるようにした。 (もっと読む)


【課題】検査中に発生した接触状態の悪化についての検出確度を向上させる。
【解決手段】第1検出部8は、測定処理前の接触検査処理において定電流Ic1を供給するために電流供給プローブ3aおよび電圧検出プローブ4a間に電圧を所定電圧値Vc1を上限として印加可能で、かつ測定処理後の接触検査処理において定電流Ic2を供給するために両プローブ3a,4a間に電圧を所定電圧値Vc1よりも低電圧の所定電圧値Vc2を上限として印加可能に構成され、第2検出部9は、測定処理前の接触検査処理において定電流Ic3を供給するために電流供給プローブ3bおよび電圧検出プローブ4b間に電圧を所定電圧値Vc3を上限として印加可能で、かつ測定処理後の接触検査処理において定電流Ic4を供給するために両プローブ3b,4b間に電圧を所定電圧値Vc3よりも低電圧の所定電圧値Vc4を上限として印加可能に構成されている。 (もっと読む)


【課題】第1及び第2非接地電源が存在する場合における絶縁抵抗の検出精度を向上させる。
【解決手段】第1非接地電源14の接地部に対する第1絶縁抵抗RL1を検出する第1絶縁抵抗検出部51と、第2非接地電源12の接地部に対する第2絶縁抵抗RL2を検出する第2絶縁抵抗検出部52とを別々に備え、異なるタイミングで第1絶縁抵抗RL1、R2を計測する構成とする。 (もっと読む)


【課題】誘電体の対象物に向けて電磁波を送信して反射波を受信することにより、対象物中の誘電率を算出するとき、対象物の反射特性から高速に行うことができ、かつ数値として得ることのできる装置及び方法を提供する。
【解決手段】対象物に電磁波を送信して得られる電磁波の反射波を受信する、複数の送信アンテナと複数の受信アンテナを備える。受信した反射波に基づいて、対象物表面に平面波の電磁波が入射したときの複素反射率を算出する。算出された複素反射率から、送信した電磁波の一部が対象物内へ入ることを想定した電磁波の伝播の式の満たすべき条件に基づいて、対象物の複素誘電率を算出する。複数の送信アンテナと複数の受信アンテナは一方向に列を成してリニアアレイアンテナを構成する。 (もっと読む)


【課題】電解コンデンサの静電容量の測定に関し、高周波領域等における静電容量を容易に測定する。
【解決手段】高周波領域又は大電流放電開始直後の電解コンデンサの測定方法であって、静電容量を測定すべき電解コンデンサ(4)に充電区間と放電区間とを設定して充放電を一定周期で繰り返し、放電区間では抵抗を含む放電回路(10)で電解コンデンサを放電させ、電解コンデンサの複数の放電区間で端子電圧及び電流を観測し、放電区間における一定時間ΔTsと電流iとの乗算値の積算値Σi・ΔTs、静電容量Cによる電圧降下Vcにより、式(C=Σi・ΔTs/Vc)から電解コンデンサの静電容量Cを算出し、一定時間ΔTsを所定時間ずつずらし静電容量Cの算出にスムージングを施している。 (もっと読む)


本発明の一実施例による絶縁抵抗測定回路は、バッテリーのプラス端子及び第2
ソース(source)抵抗に連結される第1ソース抵抗と、前記バッテリーのマイナス
端子及び前記第1ソース抵抗に連結される前記第2ソース抵抗と、を含むソース抵抗部と
、前記第1ソース抵抗の電圧を第1電圧としてセンシングし、前記第2ソース抵抗の電圧
を第2電圧としてセンシングする電圧センシング部と、前記第1電圧及び前記第2電圧間
の差を前記第1電圧及び前記第2電圧の合計で除した値により前記バッテリーの絶縁抵抗
を測定する絶縁抵抗測定部と、を含む。 (もっと読む)


【目的】
多点電圧・電流プローブ法による2次元、3次元異方性物質の主軸電気抵抗率測定方法により2次元、3次元異方性物質の主軸電気抵抗率、および主軸角を測定する。
【構成】
測定試料の中央部付近に点状の正の電流源印加点を設け、同時に等角3軸上に異なる負の電流印加点を設けて、正と負の電流印加点に電流を加えると、電流は、2次元、および3次元の異方性物質の特性を反映して流れ、物質に特有の電場を構成する。そこで、2次元異方性物質にあっては、2次元異方性物質の表面上の異なる等角3軸の表面の電圧降下を測定し、等角3軸上の測定電気抵抗率から、その主軸電気抵抗率、および主軸角を理論式を用いて、同時に一回の測定操作で測定する。また、3次元異方性物質では、同方法を拡張して適用し、3次元異方性物質の主軸電気抵抗率、および主軸角を、同時に一回の測定操作で精度よく分離、測定することができる。 (もっと読む)


【課題】プローブの接触不良に起因した電圧の急激な経時的変動のみを確実に検出する。
【解決手段】測定対象体2に電流供給プローブ3a,3bを介して測定電流I1を供給する電流供給部5と、測定対象体2の両端に接続された電圧検出プローブ4a,4bを介して入力した電圧(入力電圧)V2を測定する電圧測定部6と、電圧V2の電圧値を予め規定された積分区間に亘って積分すると共にこの積分によって得られた積分値に基づいて積分区間における電圧V2の平均電圧値を算出して、平均電圧値と測定電流I1の電流値とに基づいて測定対象体2の抵抗Rを算出する処理部8とを備え、処理部8は、積分区間において電圧V2の電圧値についての微分値Bを単位時間毎に算出しつつ予め規定された基準値Aと比較して、その比較の結果を出力する。 (もっと読む)


【課題】直列に接続された既知の容量からなる第1の蓄電器と未知の容量からなる第2の蓄電器を、第3の蓄電器に充電された電荷で充電し、第3の蓄電器の一部の電荷と第1および第2の蓄電器の全電荷を放電することを繰り返すことにより第2の蓄電器の容量を計測する場合において、第3の蓄電器の容量を最適化する。
【解決手段】コンデンサCaおよびCbは、それぞれ、一方の端部が既知の容量からなるコンデンサCsと、未知の容量からなるコンデンサCxとを直列に接続し、一方の端部を接地した回路の他方の端部に接続され、かつ、他方の端部が接地されており、その回路の他方の端部に、自らの充電電圧を印加して、コンデンサCxおよびCsに電荷を充電する。端子P3は、コンデンサCbの充電を制御する。本発明は、タッチセンサに適用することができる。 (もっと読む)


【課題】1回のクリップ作業で注入コイルおよび検出コイルを測定対象回路にクリップさせつつ測定精度を確保する。
【解決手段】第1巻線13に交流電圧V1を印加して測定対象回路5に検査用交流信号Vxを注入する電圧注入部41と、検査用交流信号Vxの注入により測定対象回路5に流れる交流電流Ixを第2巻線23で検出する電流測定部42と、検査用交流信号Vxの電圧値および交流電流Ixの電流値に基づき測定対象回路5の抵抗値Rxを算出する処理部43と、巻線13,23を収容する1つのクランプ型ハウジング31とを備え、電圧注入部41は基準信号Srに同期した信号を交流電圧V1として印加し、電流測定部42は検査用交流信号Vxの注入に起因して第2巻線23に流れる検出電流I1を電圧信号Vb2,Vc2に変換して基準信号Srで同期検波し、これによって得られた差分信号Vfに基づいて交流電流Ixの電流値を測定する。 (もっと読む)


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