【課題】画像を取込む時の短い時間だけランプ電流を増大させて紫外線強度を上げ、探傷精度を向上させた紫外線探傷灯を提供する。
【解決手段】紫外線探傷灯８は、蛍光物質を散布した被検査体２の表層部に紫外線を照射し、カメラ９で表層部の探傷を行う蛍光探傷試験に用いるものであり、灯具１１に収納した放電管２２と、この放電管２２を点灯させるための安定器２４とを備え、整流器２６およびコンデンサ２７からなるパルス電力制御手段２５を備えるとともに、パルス電力制御手段２５が、定格より低い電力で駆動する放電管２２に、コンデンサ２７で蓄えたパルス電流を重ね合わせて、高強度の紫外線を瞬間的かつ断続的に発生させる。 （もっと読む）

【課題】 孔内の上下左右いずれの面においても正確なひび割れ幅等の情報を得ることができ、注入材の注入状況も正確に検査することができる検査具を提供する。
【解決手段】 この検査具は、棒状レンズ１０と伝送路１１とミラー１３を収納し、ミラー１３からの光を出射させ、ミラー１３へ反射光を入射させるための窓１４を有し、孔２０内の１つの壁面からの距離と該１つの壁面に対向する他の壁面からの距離が等しい中心線上にミラー１３が配置されるようにミラー１３を支持し、孔２０内へ挿入されるチューブ１５と、チューブ１５内に取り付けられ、その中心線上に棒状レンズ１０が配置されるように棒状レンズ１０および伝送路１１を支持する支持リング１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】異なる大きさの傷を一回の作業で全て把握できる探傷試験用磁粉を提供する。
【解決手段】粒の大きさの異なる磁粉に、蛍光塗料３０２と、それぞれの大きさに対応する異なる色の着色料を塗布して、溶剤１０５に混ぜた。この探傷試験用磁粉混合液１０１を用いることで、従来では傷の大きさに応じて二度以上の手間を必要とした磁粉探傷試験が、一回の手間で済む。 （もっと読む）

【課題】
周期構造物の構造を早くかつ正確に把握する方法を提供する。
【解決手段】
仮想周期構造物を設定して、前記設定された仮想周期構造物を多数の層に分けて、リープマン−シュウィンガー積分方程式をＭ次内挿法で離散化させて前記仮想周期構造物に対する反射率または透過率に対する物理量を計算する工程を含む、周期構造物分析方法に対するもので、Ｍ次内挿法を用いてより早い時間内により正確な非破壊検査ができる。 （もっと読む）

【課題】透光性を有する材料を含む板状体の内部に存在する欠陥を、高精度に検出することを可能にする。
【解決手段】板状体２の欠陥を検出する欠陥検出装置は、透光性を有する材料を含んだ板状体２の一の面３３に光を入射させる投光装置５と、板状体２で反射した光の反射光を用いて板状体２を撮像する撮像装置３と、を有している。そして、投光装置５から出射した光の光路上に光透過率が９２％以下の拡散体６が配置されている。 （もっと読む）

【課題】ゲル状物の表面に形成されたなだらかな凹凸であっても検出することができるゲル状物の表面凹凸検査方法を提供する。
【解決手段】検査位置４１に液晶パネル７１を設け、バックライト７２からの光を液晶表示部７３でマスクして縞模様の照明をシャーレ２の底面１１側から照射したり、面発光した状態の照明をマスクすることなくシャーレ２の底面１１側から照射できるように構成する。制御装置７４は、液晶パネル７１を全面発光した状態でシャーレ２の平面画像を取得して画像解析することで、シャーレ２の分離壁１３の延在方向を検出した後、検出した分離壁１３の延在方向に合わせた縞模様を液晶パネル７１に表示して、寒天３表面４での凹凸を検査する。 （もっと読む）

支持基板（１６）に取り付けられたパッケージ形マイクロ電子デバイス（１４）の１つ又は２つ以上の周縁（１３ａ）に沿うフィレット形成具合の自動化検査システム及び方法であって、かかるシステム（１０）は、フィレット形成を制御するフィードバックループを有する。より詳細には、システム（１０）は、アンダーフィル材料（２２）を支持基板（１６）上に小出しするよう構成された小出しシステム（１８）を有する。システム（１０）は、フィレット（１２）の測定可能な属性の値を求め、例えばフィレット（１２）の寸法形状が正しいかどうかを判定するよう構成された自動化光学検査（ＡＯＩ）システム（１９）を更に有する。フィードバックループ（６６）が小出しシステム（１８）と自動化光学検査システム（１９）との間に設けられる。
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【課題】外部から直接目視できない構造体の内部や狭部の内表面に存在する欠陥を検出することができる磁粉探傷装置を提供する。
【解決手段】磁粉探傷装置１は、蛍光磁粉液を伝送し、この蛍光磁粉液を先端から放出する導管５と、光源２から放射される紫外線を伝送し、この紫外線を先端から出射する光ファイババンドル３と、試験体の検査対象部の画像を伝送するファイバスコープ６とが１本のケーシングに内挿されたケーブル部１０を備える。 （もっと読む）

【課題】画質欠陥を検出する際の時間を短縮化する。
【解決手段】検出対象となる画像上の各画素について、画素の濃度値と画像全体の濃度の平均値または画素周辺の所定の領域内での濃度の平均値との差分の絶対値を算出し、算出された各画素の差分の絶対値に基づき、画像上にて絶対値が所定値以上である画素が所定の面積以上の大きさを有する領域を形成する画素群を抽出し、抽出された画素群の中から所定の基準を満たす画素群を画質欠陥部として検出する。 （もっと読む）

【課題】速やかに、正確な検査データを得ることができ、現場での調査作業の効率および検査データの品質の向上を図り、検査データの把握、検討評価が容易な鋼構造物の亀裂調査方法および亀裂調査装置を提案する。
【解決手段】調査対象部を正対するカメラ（２）により撮像して、外観画像を記録し、調査対象部に対し、スリット光投光器（３）を、その光軸（３ａ）が、カメラ（２）の視野中心（２ａ）と所定の傾斜角（θ）となるように設置し、スリット光投光器（３）よりスリット光を投射してカメラ（２）により撮像し、調査対象部の断面形状画像を記録し、磁粉を内在し、透明シートに覆われた磁気シート（１）を、調査対象部の表面に貼付した後、調査対象部を磁化させて、磁粉の配向を変化させ、磁気シート（１）表面に生ずる明暗の状態をカメラ（２）により撮像し、表面亀裂画像を記録するようにした。 （もっと読む）