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Fターム[2G059BB10]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 測定対象 (10,253) | 固体 (1,815) | シート状、膜状のもの (723)

Fターム[2G059BB10]に分類される特許

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【課題】本発明は、高分子フィルムの薬品透過性を簡便に評価する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】高分子フィルムの薬品透過性の評価方法であって、高分子フィルムの片面に薬品を接触させたのち、該高分子フィルム表面の該薬品を接触させた面と反対側の面についてフーリエ変換赤外分光光度計により該薬品の固有の吸収波数を含む全反射吸収スペクトルを測定することにより、該高分子フィルムにおける該薬品の透過性を評価することを特徴とする高分子フィルムの薬品透過性の評価方法とした。 (もっと読む)


本発明は、薄い流体フィルムの放射定量のための装置に関する。それは、放射手段を含むハウジング(1)と、放射線ガイドと、リフレクター(4)及び1以上の検知器(5)を有する。放射手段は、通常は赤外線ラジエーター(2)である。放射線ガイドは、放射線チューブ(3)、あるいは、放射線コーン(7)のいずれかである。リフレクター(4)は、非結像光学系のタイプである。1よりも多くの検知器(5)が存在する場合には、通常は少なくとも1つは参照検知器である。 (もっと読む)


【課題】金属又は半導体の原子又は分子1〜2層からなる量子構造を評価する方法、該評価方法を用いて量子構造を製造する方法、及び該製造方法によって製造される量子構造を提供する。
【解決手段】金属又は半導体が金属又は半導体の融点又は分解温度より高い温度の基板の表面に蒸着されることで形成された金属又は半導体の原子又は分子1〜2層からなる薄膜と基板とからなる積層体を高温に保持することで薄膜を構成する金属又は半導体を脱離させる過程において、波長及び偏光を制御した照射光を積層体の薄膜側の面に照射し、照射光が積層体で反射されることによって得られる反射光を検出することで求められる擬誘電関数の時間変化、及び照射光の波長から薄膜の量子構造を評価する、量子構造の評価方法、該評価による結果を製造工程にフィードバックして量子構造を製造する方法、及び該方法で製造される量子構造とする。 (もっと読む)


【課題】 輝線スペクトルを有するような波長依存性の高い光源を用いた場合であっても、試料(ミラー等の光学素子)の分光光学特性を高精度に計測することができる方法及びそのシステムを提供すること。
【解決手段】 この分光光学特性計測方法は、分光器によって波長分解された計測光を試料に照射し、試料を経由した計測光の強度を検出して試料の分光光学特性を計測する方法において、試料の分光光学特性計測時の波長分解能において計測光の波長ごとの光強度を予め計測するステップと、光強度が極大又は極小となる設定波長を選定するステップと、選定された設定波長の計測光で試料を経由した計測光の強度を検出するステップを有する。 (もっと読む)


【課題】コストを上げることなく、撮像素子のダイナミックレンジ内で、計測光の偏光計測を行うことができ、偏光計測の精度を高めることができる感度調整方法を実現する。
【解決手段】本発明の感度調整方法は、バイアス光として、無偏光をカメラへ照射するバイアス光照射工程と、計測光を、特定の偏光成分に限定して、撮像素子へ入射させる偏光成分限定工程と、特定の偏光成分の強度の計測値と、撮像素子のダイナミックレンジにおける上限閾値または下限閾値とを比較し、この比較結果に基づいて、計測値がダイナミックレンジ内になるように、既知の偏光または上記バイアス光の光量を調整する光量調整工程(S003〜S006)とを含むので、撮像素子のダイナミックレンジ内で、計測光の偏光計測を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】検出光の光路上にある透過体の透過率が変化する場合であっても、被検出物の表面状態の検出精度を向上させた検出装置を提供すること
【解決手段】本検出装置は、被検出物に向けて検出光を発光する発光部と、発光部から発光された検出光の光路上に設けられ、該検出光が透過する透過体と、被検出物で反射され、かつ、透過体を透過した検出光のうち、互いに特性の異なる第1検出光及び第2検出光を受光する受光部と、受光部に受光された第1検出光及び第2検出光の受光量の相対値に基づいて、被検出物の表面状態を検出する検出手段と、を備える。本検出装置によれば、当該構成を採用しない場合に比較して、検出光の光路上にある透過体の透過率が変化する場合であっても、被検出物における表面状態の検出精度を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】対象の形状と光学成分とを同時に取得できるイメージ分光器において、センサ近接場光の制御を可能にする装置を提供する。
【解決手段】イメージ分光器は、対象からの光を受ける対物レンズからの光を二次元平面で多数の微小区域に分割するマイクロレンズアレイと、各マイクロレンズアレイを透過した光から近接場光を得るスリットアレイを配置してあり、顕微鏡下での細胞の蛍光局所やフォトルミネッセンス、ラマンなどへの応用される。 (もっと読む)


【課題】対象上の色層にむらがないことについての客観的な情報を提示する方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明は、表面特性測定方法に関し、当該方法では、被検査表面(5)の第1の領域に放射線を放射し、次に、第1の領域へ放射が行われ第1の領域により反射された少なくともいくらかの放射線を検出し、この反射した放射線に固有の測定値が出力される。さらに別の方法ステップでは、表面(5)の第2の領域に放射線を放射し、再度、第2の領域へ放射が行われ第2の領域により反射された放射線の少なくともいくらかの放射線を検出し、この放射線に固有の第2の測定値が出力される。最後に、第1の測定値と第2の測定値との間の関係に固有の結果値が、出力される。 (もっと読む)


【課題】サンプル測量に適した反射式散乱計。
【解決手段】反射式散乱計は放物面鏡、光源、第1反射鏡、第2反射鏡、及び受信器を包含する。放物面鏡は光軸と放物表面を具え、サンプルは放物表面の焦点に位置し、且つサンプルの法線方向は光軸に平行である。光源はコリメートビームの生成に適し、第1反射鏡はコリメートビームを放物表面に向けて反射し、且つ放物表面はコリメートビームをサンプルに向けて反射し、第1回折ビームを生成する。続いて放物表面が第1回折ビームを第2反射鏡に向けて反射し、且つ該第2反射鏡が第1回折ビームを受信器に向けて反射する。 (もっと読む)


【課題】
差動SMP法を発展させ、異なる三つの偏光状態における複素振幅反射率比の位相差及び大きさを短時間で測定できるようにする。
【手段】
A〜D中、三つの偏光状態の合計12種の光強度に基づき位相差及び大きさを測定する。
(A)P±αの偏光について偏光間位相をγA1及びγA2に調整した合計4種類の偏光を入射させたときの反射光に含まれる合計4種類のS偏光;(B)P偏光を入射させたときに、反射光のP偏光とS偏光の偏光間位相差をγB1及びγB2に調整した偏光のうち、S±αに振動する合計4種類の偏光;(C)S±αの偏光について偏光間位相をγC1及びγC2に調整した合計4種類の偏光を入射させたときの反射光に含まれる合計4種類のP偏光;(D)S偏光を入射させたときに、反射光のP偏光とS偏光の偏光間位相差をγD1及びγD2に調整した偏光のうち、P±αに振動する合計4種類の偏光。 (もっと読む)


本発明は、印刷機において色調整を行う方法に関し、被印刷物(09)に印刷機の印刷プロセス進行中に継続的に印刷を行い、少なくとも1つの印刷インキを、複数のインキ帯域(22;22A;22B;22C;22D)で被印刷物(09)に塗布し、被印刷物(09)に塗布される少なくとも1つの印刷インキに関して、印刷機内で印刷プロセス中に、色濃度を表す測定値を求め、特定の印刷インキに関する選択されたインキ帯域(22;22B)で求められる色濃度の測定値と、同じ印刷インキの別の少なくとも1つのインキ帯域(22;22A;22C)で求められる色濃度の測定値との間の関係を形成し、異なるインキ帯域(22;22A;22B;22C;22D)の間の色濃度に関する測定値の関係を形成し、それも、印刷機の特定のインキ装置(07)に関して設けられるインキ帯域(22;22A;22B;22C;22D)の多数が、それぞれインキ装置(07)から供給される印刷インキの色濃度に関する測定値を提供し、該測定値が、各インキ帯域(22;22A;22B;22C;22D)において前調節された目標値の少なくとも予め規定された割合に到達する場合にだけ、前記色濃度に関する測定値の関係を形成する。
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【課題】 簡易な構成により、光源の光量変動や輝度ムラによる影響を取り除いて、検出された測定対象を透過する光の透過率を高精度に求める。
【解決手段】 シート材9の幅方向に沿って、シート材9の一方の端縁から他方の端縁に至るまでの範囲に光を照射する面光源部3と、シート材9を介して面光源部3からの出射光を受光できる位置に設置されて、シート材9を透過する光を検出する検出用撮像部1と、シート材9を介さずに面光源部3からの出射光を受光できる位置に設置され、面光源部3の出射面4の光量を測定する補正用撮像部2とを備える。 (もっと読む)


【課題】非破壊、非接触で効率的にかつ高精度で透明導電膜の抵抗率を計測すること。
【解決手段】事前に行われた検査条件選定方法により選定された波長を有するP偏光の照明光を該方法により選定された入射角で、製造ラインを搬送される透光性基板上に製膜された透明導電膜に膜面側から照射する光照射装置3と、透明導電膜において反射された反射光を検出する光検出装置2と、検出した光の強度に基づいて該波長についての反射光の光量に係る評価値を算出し、評価値と抵抗率とが予め関連付けられている相関特性を用いて、算出した評価値から抵抗率を求める情報処理装置7とを具備する抵抗率検査装置を提供する。 (もっと読む)


生産ロット情報センシング部の誤作動の有無を判定するステップと、前記生産ロット情報センシング部が誤作動した場合に誤作動を警告するステップと、前記生産ロット情報センシング部が誤作動しない場合、前記生産ロット情報センシング部を介して生産ロット情報を読み取るステップと、前記読み取られた生産ロット情報を用い、バイオセンサストリップを介して試料の成分を測定するステップとを含む方法によりバイオセンサを測定することができる。 (もっと読む)


【課題】 離れた場所または隔離されている場所に置かれた被検体の分光透過率或いは分光反射率を同時測定可能で、さらに測定点数と被検体間の距離による制限がなく、測定を遠隔地で集中管理できる装置の提供。
【解決手段】 ファイバーにより投光、受光を行わせ、センサーとなる高速型分光器にLAN機能を設け、離れた空間、狭い空間、隔離された空間に置かれた被検体の分光透過率、分光反射率を被検体の数、大きさ、互いに置かれている距離に制限なく同時に多点で高速に測定し、遠隔監視を可能とする。 (もっと読む)


【課題】顔料など微粒子を用いた色材の散乱異方性を評価する。
【解決手段】コンピュータ100は測定装置200に対して測定を指示し、測定条件(後方散乱の測定角度θ1、前方散乱の測定角度θ2)を指定する。測定装置200は測定条件に応じて分光光度計203、204を移動させ、面積率100%の単色カラー色材層からなるサンプル面205に垂直に光源201から光を照射させ、各測定点の分光特性値を測定する。コンピュータ100は分光特性値を基に前方散乱強度と後方散乱強度を決定し、散乱強度比率(前方散乱強度/後方散乱強度)を算出し、散乱強度比率が所定の値以上のとき散乱異方性があると判定する。 (もっと読む)


【課題】従来よりも小さなトナーパターンによりトナー位置検出を可能とする。
【解決手段】支持部材17の反射特性とトナーパターンPP1の反射特性の差に基づきトナーパターンの位置を検出する方法であって、検出光を放射する検出光用の発光部E1〜E5を、支持部材に検出光のスポットを照射でき、且つ、副方向に直交する方向において隣接するスポットの間が、上記直交する方向におけるトナーパターンの大きさ以下となるように、副方向に交わる1方向に配置して照射手段とするとともに、受光部D1〜D5を支持部材17および/またはトナーパターンPP1による検出光の反射光を受光できるように、照射手段に対応させ、且つ、支持部材17に対向させて1方向に配列して受光手段とし、照射手段の発光部E1〜E5を発光させ、受光手段の受光部D1〜D5の出力に基づきトナー位置を演算的に検出する。 (もっと読む)


製造システム700によって製造されている間にシート材料の特性を非接触で特徴付ける、in-situ時間領域分光法(TDS)に基づく方法200。時間領域分光システム100及び該システム100用の較正データが提供される。較正データは、シート材料の水分含有量の関数として、シート材料を通る透過電力又はシート材料からの反射電力に対するデータを含む。製造システム700によって処理されている間に、シート材料サンプル130上のサンプル位置に、送信機111からTHz放射又は近THz放射の少なくとも1つのパルスが向けられる。検出器110により、サンプル位置からの少なくとも1つの透過パルス又は反射パルスに関連する透過放射又は反射放射が同時に検出され、サンプルデータが取得される。同時データであるサンプルデータが較正データと合わせて処理され(207、208、209)、キャリパー、坪量及び水分含有量から選択されるシート材料サンプル130の少なくとも1つ、概して複数の特性が確定される。
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【課題】本発明は、皮膚外用剤の紫外線の透過特性及び/又は反射特性を精度良く測定することが可能な皮膚代替膜、該皮膚代替膜を製造するために用いられる金型、該皮膚代替膜の製造方法及び該皮膚代替膜を用いた皮膚外用剤の評価方法を提供することを目的とする。
【解決手段】厚さが0.1mm以上5mm以下であり、波長が290nm以上400nm以下の光の分光透過率が50%以上100%以下であるポリメタクリル酸メチル、ポリエチレン又はナイロンの皮膚代替膜は、表面は、面取りされている粗さが付与されており、算術平均粗さSaが13μm以上30μm以下である。 (もっと読む)


【課題】より高いレベルでの有機EL素子の計測を実行することが可能な有機EL素子の計測方法を提供する。
【解決手段】発光測定手段は、有機EL素子を発光させた状態で、透光性基板側から光を照射し、試料で反射した光の偏光状態を測定する。また非発光測定手段は、有機EL素子を発光させない状態で、透光性基板側から光を照射し、試料で反射した光の偏光状態を測定する。発光算出手段はモデルを用いたフィッティングにより、発光測定手段により測定した光の偏光状態に基づき、膜の光学定数を算出する。同様に、非発光算出手段は、非発光測定手段により測定した光の偏光状態に基づき、膜の光学定数を算出する。最後に出力手段は、発光算出手段及び非発光算出手段により算出した光学定数間の差または変化率を出力する。 (もっと読む)


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