光導波路と、支持材と、検出器とを含む粒子分析器。光導波路は、放射源から空間的に分離されたビームを方向付けて、サンプル流量測定領域中で測定ビームを生成する。支持材は、相互に対する固定相対位置で光導波路のそれぞれを維持し、測定領域内に測定ビームの配置を維持する。検出器は、測定領域を通って流れる粒子と相互作用する、測定ビームから生成される光を感知する。支持材および検出器のうちの少なくとも１つを中核流サンプルシステムに連結することができる。連結は、サンプル相互作用から生じる光学的放射を検出器に伝えるように構成される、光導波路デバイスを使用することができる。
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【課題】偏光プローブを用いて高精度に軸方位および位相差を測定できる位相差測定装置を提供すること。
【解決手段】試料Ｓの前段の偏光子４１をＰＥＭ４２と一体として回転させる回転機構５を設け、試料Ｓの後段の偏光プローブ２の透過軸に対して、偏光子４１の透過軸の方位角を変更することで、偏光プローブ２で集光される近接場光の光強度信号を取得するので、偏光プローブ２に対して試料Ｓを回転させることも、試料Ｓに対して偏光プローブ２を回転させることも不要となる。また、偏光プローブ２を用いて近接場光を集光することで、試料Ｓの測定面に生じる近接場光を光の波長以下のオーダーの面内空間分解で測定することができる。従って、偏光プローブ２を用いて試料Ｓの軸方位および位相差を高精度に測定することができる。 （もっと読む）

一態様において、本発明は、柔軟型基板と、該基板上に配置された光学素子と、を備えた光学センサーを提供する。柔軟型基板が、光学素子に作用する変形部を有し、該変形部が、少なくとも部分的に光学素子を囲む基板変形領域内に設けられる。本発明の目的は、ロールツーロール製造に適合する光学センサー構造を提供することである。
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【課題】測定対象に含まれる散乱物質の影響を極力除外し、目的物質の成分濃度を正確に測定する。
【解決手段】測定対象の状態を第１磁界状態として測定対象に対して光を照射し、そのときの測定対象からの光の状態を検出する第１ステップと、測定対象の状態を第１磁界状態とは異なる第２磁界状態として測定対象に対して光を照射し、そのときの測定対象からの光の状態を検出する第２ステップと、上記第１ステップにおける検出結果と、上記第２ステップにおける検出結果に基づいて目的成分の濃度を演算する第３ステップと、を有する。第１および第２ステップにおいては、測定対象およびリファレンスについてスペクトルを取得し、第３ステップにおいては、第１ステップにおいて測定された光量と、第２ステップにおいて測定された光量との差分Δをスペクトルとして取得しつつ目的成分を演算する。 （もっと読む）

【課題】細胞のような透明で微細な被写体を高い分解能で簡易に観察する。
【解決手段】試料Ａを載置する載置面６ａを有する光学結晶６と、該光学結晶６に向けて第１の電磁波Ｌ_２を試料Ａ側から照射する第１の照射系４と、光学結晶６に向けて第２の電磁波Ｌ_１を照射する第２の照射系５と、第２の電磁波Ｌ_１を検出する検出系７とを備え、第１の電磁波Ｌ_２は、パルス状のテラヘルツ波であり、第２の電磁波Ｌ_１は、テラヘルツ波よりも波長が短いパルス状の電磁波であり、第１の電磁波Ｌ_２の照射領域と第２の電磁波Ｌ_１の照射領域の少なくとも一部が重なるように、第１の照射系４と第２の照射系５とが配置され、検出系７は、その合焦位置が光学結晶６の載置面６ａ近傍と一致するように配置されている観察装置１を提供する。 （もっと読む）

本発明は、流体が偏光ビームで引き起こす光学回転の量を測定することにより、流体を同定する方法を関する。本発明はさらに、流体が引き起こすことになる回転の量に影響を及ぼすために、流体中での任意選択の光学活性マーカーの使用を提供する。本発明は、流体の使用の前、間、および／または後で流体を同定するための、都合のよい信頼性ある手段を提供する。本発明の別の目的は、野外で迅速に機能性流体を分析する方法を提供することである。本発明の別の目的は、訓練を受けていない人物によって、また正確な測定なしに、野外で迅速に機能性流体の属性を試験する方法を提供することである。 （もっと読む）

【課題】ウェハ上の回折構造体の格子型パラメータを決める。
【解決手段】半導体ウェハ１２ａ上の回折構造体１２ｃからの回折の前に、必要な場合は、分光反射率計６０または分光エリプソメータ３４を使って構造体の下に位置する膜１２ｂの膜厚と屈折率とをまず測定する。そして、厳密なモデルを使って回折構造体１２ｃの強度またはエリプソメトリックな特徴的パラメータを計算する。次に、偏光放射線および広帯域放射線を用いた分光散乱計を使って回折構造体１２ｃを測定して回折構造体１２ｃの強度またはエリプソメトリックな特徴的パラメータを得る。この特徴的パラメータをデータベース内の特徴的パラメータと適合させて構造体の格子型パラメータを判定する。 （もっと読む）

【課題】小型かつ安価な偏光画像撮像装置を提供する。
【解決手段】偏光画像撮像装置１０は、光を出射する光源１６と、構造上静的に構成され、光源１６からの出射光を入射する第１偏光子１８と、構造上静的に構成され、第１偏光子１８からの出射光の偏光方向を変換して対象物に照射する第１変換部２４と、構造上静的に構成され、対象物からの出射光の偏光方向を変換する第２変換部３０と、構造上静的に構成され、第２変換部３０からの出射光を入射する第２偏光子３２と、第２偏光子３２からの出射光による画像を撮像する撮像部３４と、第１変換部２４および第２変換部３０における偏光方向の変換を、それぞれ独立して電気的に可変に制御する制御部を備える。 （もっと読む）

【課題】周囲温度の変化に起因する膨張、収縮で偏光板の透過率の変化を判定し、透過率の変化で、受光部の出力誤差が大きいと判定されれば、トナー像の濃度検出を行わず、不適切な濃度検出を排除する。
【解決手段】濃度測定装置は、発光部と、偏光板と、受光部と、これらを支持する筐体と、温度検出体と、制御部と、計時部と、受光部の出力が、所定の許容誤差の範囲から外れる周囲温度の温度変化と、所定の許容誤差の範囲から外れてから所定の許容誤差の範囲内に回復するまでの時間とを予め測定結果に基づく時間データと、温度測定履歴を記憶する記憶部と、を備え、制御部は、温度測定履歴と時間データに基づき、受光部の出力が所定の許容誤差の範囲から外れる時点と、その時点以後、所定の許容誤差の範囲内に回復するまでの時間を判定し、所定の許容誤差の範囲外と判定される期間にトナー像の濃度検出を行わない。 （もっと読む）

【課題】 高精度に偏光特性を計測することが可能な計測方法及び計測装置を提供する。
【解決手段】 偏光特性を計測する計測方法において、マスクのパターンの像を前記像面に投影し、光源の波長以下の幅の第１（２）スリットを像面において移動させながら第１（２）スリットを透過した光を検出して、第１（２）スリットの移動方向における第１（２）光強度分布を取得する。そして、第１光強度分布の最大値及び最小値となる位置をそれぞれ決定して、第２光強度分布のうち該決定されたそれぞれの位置における光強度を用いて指標値を算出し、指標値と偏光特性との関係を表す情報を用いて、該算出された指標値に対応する偏光特性を求める。 （もっと読む）

【課題】偏光状態が異なる複数の照射光が観察部位に照射されたときのそれぞれについて、観察部位からの戻り光の偏光状態が異なる複数の画像を得ること。
【解決手段】撮像システムは、偏光状態が異なる複数の照射光を観察部位に順次照射する照射部と、偏光状態が異なる複数の光をそれぞれ透過する複数の戻り光偏光フィルタをそれぞれ含む複数の偏光フィルタユニットを有し、観察部位からの戻り光を、複数の偏光状態ごとに透過する偏光フィルタ部と、偏光フィルタ部が透過した戻り光を、複数の偏光状態ごとに受光する受光部とを備える。 （もっと読む）

【課題】 限界値（０．２ないし０．５７の範囲にある）の間にあり、比較的一様な水準の条件付けを示しながら、３５０ｎｍないし２０００ｎｍのスペクトル域にわたり測定値をもたらすことができる偏光計を提案すること。
【解決手段】 本発明は波長域にわたり入射光ビームを発するのに適した光源と、偏光状態生成器（ＰＳＧ）と、偏光状態分析器（ＰＳＡ）と、検出器とを備える広スペクトル域の分光偏光計システムに関する。ＰＳＧとＰＳＡは光ビームの偏光を変調するそれぞれの手段を有する。本発明によれば、偏光を変調するＰＳＧの手段は各測定波長においてｍ個（ｍ＞４）の偏光状態の列を生成するのに適し、偏光を変調するＰＳＡの手段は各測定波長においてｎ個（ｎ＞４）の偏光状態の列を決定するのに適し、検出器手段は各波長においてＮ個（ただし、１６＜Ｎ≦ｎｘｍ）の測定値の列を取得してそれからサンプルのミューラー行列の偏光計分光測定値を抽出するのに適している。本発明はまた拡張された分光偏光測定方法に関する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＳＰＲ光学系において、マッチングオイルを使用せずに、金属薄膜を形成した安価な透明基板を使用でき、容易に基板を交換できるＳＰＲ計測用チップを提供することを目的とする。
【解決手段】ＳＰＲ光学系３１０で使用されるＳＰＲ計測用チップ２００であって、ＳＰＲ計測用の金属薄膜２０３を有する透明基板２０２と、透明基板２０２の金属薄膜２０３とは反対側の面に、透明な弾性粘着シート２０１をさらに備え、透明な弾性粘着シート２０１は、透明基板２０２に直接形成され、プリズム３０３および透明基板２０２の屈折率と同じであることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】単一の光検出手段を回転させて測定する構成でありながらも、各測定角度位置での光量ばらつきを抑えることができ、Ｓ／Ｎ比を高く保って測定精度を担保できる粒子物性測定装置１を提供する。
【課題を解決するための手段】
照射光学系機構２として入射側偏光子２４及び入射側１／４波長板２５を有するとともに、受光光学系機構３としてセル４を中心に複数の角度位置に回転可能な出射側１／４波長板３３及び出射側偏光子３４を有する粒子物性測定装置１において、各測定角度位置での検出光強度の補正パラメータをそれぞれ記憶している補正パラメータ記憶部５５を設け、前記各測定角度位置での各偏光角度それぞれにおける検出光強度である試料検出光強度及び前記補正パラメータに基づいて前記粒子の形状に係る物性を算出するようにした。 （もっと読む）

【課題】
差動ＳＭＰ法を発展させ、異なる三つの偏光状態における複素振幅反射率比の位相差及び大きさを短時間で測定できるようにする。
【手段】
Ａ〜Ｄ中、三つの偏光状態の合計１２種の光強度に基づき位相差及び大きさを測定する。
（Ａ）Ｐ±α_Ａの偏光について偏光間位相をγ_Ａ１及びγ_Ａ２に調整した合計４種類の偏光を入射させたときの反射光に含まれる合計４種類のＳ偏光；（Ｂ）Ｐ偏光を入射させたときに、反射光のＰ偏光とＳ偏光の偏光間位相差をγ_Ｂ１及びγ_Ｂ２に調整した偏光のうち、Ｓ±α_Ｂに振動する合計４種類の偏光；（Ｃ）Ｓ±α_Ｃの偏光について偏光間位相をγ_Ｃ１及びγ_Ｃ２に調整した合計４種類の偏光を入射させたときの反射光に含まれる合計４種類のＰ偏光；（Ｄ）Ｓ偏光を入射させたときに、反射光のＰ偏光とＳ偏光の偏光間位相差をγ_Ｄ１及びγ_Ｄ２に調整した偏光のうち、Ｐ±α_Ｄに振動する合計４種類の偏光。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波信号の出力効率を向上させ、また、高速かつ高信頼性を有するテラヘルツ計測装置を提供する。
【解決手段】レーザ光ビーム１１Ａを出射するフェムト秒レーザ発生装置１１と、レーザ光ビーム１１Ａをｓ波プローブ光ビーム１１Ｂ及びｓ波プローブ光ビーム１１Ｂと偏光方向の異なるｐ波ポンプ光ビーム１１Ｃに２分岐させる分岐部と、ｐ波ポンプ光ビーム１１Ｃが入射することによりテラヘルツ波１１Ｄを出射する非線形結晶１９Ａと、非線形結晶１９Ａから出射し被測定物１００を透過したテラヘルツ波１１Ｅとｓ波プローブ光ビーム１１Ｂとの光軸を一致させるシクロオレフィンミラー２２と、光軸が一致したテラヘルツ波１１Ｅとｓ波プローブ光ビーム１１Ｂとの入射により、光学変調された光信号を検出するバランスディテクタ２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】非破壊、非接触で効率的にかつ高精度で透明導電膜の抵抗率を計測すること。
【解決手段】事前に行われた検査条件選定方法により選定された波長を有するＰ偏光の照明光を該方法により選定された入射角で、製造ラインを搬送される透光性基板上に製膜された透明導電膜に膜面側から照射する光照射装置３と、透明導電膜において反射された反射光を検出する光検出装置２と、検出した光の強度に基づいて該波長についての反射光の光量に係る評価値を算出し、評価値と抵抗率とが予め関連付けられている相関特性を用いて、算出した評価値から抵抗率を求める情報処理装置７とを具備する抵抗率検査装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】導波効率の高い近接場光導波路を提供する。
【解決手段】誘電体層と、誘電体層内に分散された金属ナノ粒子群を有し、金属ナノ粒子の粒径が４ｎｍから１００ｎｍの範囲にありかつ金属ナノ粒子の中心間の距離と金属ナノ粒子の直径との比が１．１から３．８の範囲にある。金属ナノ粒子は、内部に金属コアと外周部に有機物からなるシェルを有するコアシェル構造のナノ粒子であって、前記金属コアとして金（Ａｕ）または銀（Ａｇ）から形成される。 （もっと読む）

【課題】単純な構成で路面の状態を判別することができるとともに装置の小型化を図り、自動車等の車両に容易に装着して走行中においても路面の状態を検出する。
【解決手段】２つのレンズ２１ａ，２１ｂを有するレンズアレイ２と、レンズアレイ２の各レンズ２１ａ，２１ｂを透過した光束に応じて領域分離され、透過軸が直交する少なくとも２つの偏光子領域４１ａ，４１ｂを有する偏光フィルタ４と、偏光フィルタ４の各偏光子領域４１ａ，４１ｂを通過した光を受光して被写体像を撮影する複数の固体撮像素子６２ａ，６２ｂを有する固体撮像ユニット６とを備えた撮像装置１００で垂直偏光画像と水平偏光画像を撮影し、撮影した垂直偏光画像と水平偏光画像の偏光比によって路面状態を判別する。 （もっと読む）

【課題】複数種類の受光素子を使用することなく、複数色のトナーの付着量を高精度に検出することのできる技術を提供する。
【解決手段】互いに波長が異なる照明光を所定の対象物に照射可能であり、それぞれが互いに異なる色のトナーに対応づけられている複数の光源の照明光による前記所定の対象物からの鏡面反射光をそれぞれ受光し、前記複数の光源の内のいずれかの光源の照明光による前記所定の対象物からの鏡面反射光の受光量に基づいて、該光源に対応づけられている色のトナーの前記所定の対象物への付着量を判定する。 （もっと読む）