【課題】光特性ムラを短時間で高精度に測定することができる光特性ムラ測定装置を提供する。
【解決手段】撮像部１１０は、ＬＥＤ実装基板２００−１に配列されたＬＥＤ光源２１１を同時に撮像すると共に、各測定点Ｐから入射された光の特性値として、ＸＹＺ表色系のｘ値及びｙ値をそれぞれ検出する。パーソナルコンピュータは、光放射角に応じて定められた角度補正マトリクスを用いて、それぞれのＬＥＤ光源２１１に対応する光特性値を、基準となる放射角に対応する値に補正する。ＬＥＤ光源２１１の特性値を放射角に応じて補正するため、複数のＬＥＤ光源２１１を同時に撮像するにも拘わらず、正確な光特性値を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で、複数の異なる種類の光ファイバを用いて測定を行なえる光スペクトラム測定装置を提供する。
【解決手段】光バンドパスフィルタの中心波長を変化させ、被測定光の光スペクトラムを測定する光スペクトラム測定装置であって、異なる種類の光ファイバに対応した複数個の光コネクタと、分岐側の各光ファイバが複数個の光コネクタとそれぞれ接続し、バンドル側が光バンドパスフィルタの光入力端に接続したバンドル光ファイバと、を備えた光スペクトラム測定装置。 （もっと読む）

【課題】フォトデバイスにパルス光を照射して検査する際に、パルス光の光強度を適切に設定する技術を提供する。
【解決手段】フォトデバイスを検査する検査方法である。この検査方法は、(a) フェムト秒レーザーから出射されるパルス光の光強度を変更しつつ、フォトデバイスの受光面に前記パルス光を照射することによって、前記フォトデバイスから発生する電磁波の電界強度を検出器にて検出する工程と、(b) 前記(a)工程において検出された電磁波の電界強度が最大となるときの前記パルス光の最大時光強度を取得する工程と、(c) 前記(b)工程において取得された前記最大時光強度に基づいて定められる光強度のパルス光を前記フォトデバイスに照射することによって、前記フォトデバイスにて発生する前記電磁波パルスの電界強度を前記検出器にて検出する工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】光出力が急激に低下する期間よりも前に、その劣化の兆候の検出が可能となる半導体レーザの劣化兆候検出装置を提供する。
【解決手段】半導体レーザ２０１の光出力に関する情報を取得する受光部２０３と、レーザの発振閾値以下での発光パターンの強度分布を取得する受光部２０２と、時間Ｔ１におけるレーザの光出力に関する情報と、発光パターンの強度分布に関する情報を保持する保持部２０４と、Ｔ１＜Ｔｎである少なくとも１回以上の時間Ｔｎにおけるレーザの光出力に関する情報と、時間Ｔ１におけるレーザの光出力に関する情報とを比較し大きな変化がない場合において、レーザの時間Ｔｎにおける発振閾値以下での発光パターンの強度分布に関する情報と、時間Ｔ１における発光パターンの強度分布に関する情報とを比較することにより、レーザの光出力急激低下兆候の有無を判定する判定部２０５と、判定部からの信号を出力する出力部２０６と、を有する。 （もっと読む）

【課題】 光干渉素子の干渉特性の調整を行うことなく、光干渉素子に入力される入力光の特性を精度よく測定することができる、光干渉素子の入力光の特性測定方法を提供する。
【解決手段】 光干渉素子の入力光の特性測定方法は、入力カプラと、前記入力カプラに接続された複数の半導体アームと、前記半導体アームの出力を干渉させる出力カプラと、を備える光干渉素子の入力光の特性測定方法であって、前記複数の半導体アームのうち、１つを除く他のすべての半導体アームに光吸収特性を生じさせる制御を行う第１ステップと、前記第１ステップの後に、前記出力カプラから出力される前記入力光の特性を測定する第２ステップと、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 エキスパンドウエハ上の発光素子の光学特性の検査の効率化を高め、単位時間あたりの検査個数を増大させる検査装置と検査方法を提供すること。
【解決手段】 複数個のウエハチャックを備えたウエハチャックステージと；各ウエハチャックにロードされたエキスパンドウエハ上の発光素子の位置を測定する位置測定装置と；各エキスパンドウエハのそれぞれに対応して設けられたフォトディテクタ及びプローブと；各エキスパンドウエハ上の発光素子が順次対応するプローブの下方に来るようにウエハチャックステージをＸＹ軸方向に移動させる手段と、プローブが発光素子の電極位置に対応する位置に来るように各プローブを移動させる手段と、プローブを対応するそれぞれの発光素子の電極と接触させる手段とを備える制御装置を有している検査装置及び当該検査装置を用いる検査方法を提供することによって解決する。 （もっと読む）

【課題】検査対象となる光源からの光の光学特性が正確に検査できることで、検査効率の向上を図ることができると共に、高い検査信頼性を得ることができる。
【解決手段】検査装置は、検査対象となるＬＥＤからの光を採光部２により取り込み、ＬＥＤの光学的な検査を分光器により行うためのものである。採光部２は、ＬＥＤに向けて光を取り入れるための開口部が設けられていると共に、取り入れた光を分光器へ出力する光ファイバ４が基端部に設けられたカップ状のケース部２１と、ＬＥＤから開口部を通じて光ファイバ４へ至るまでの光軸を含む範囲以外の範囲を遮蔽する環状に形成された遮蔽部材２２１がケース部２１内の奥行き方向に沿って１０枚配置され、光軸に対して斜行して開口部に入射する光を制限する光調整部とを備えている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、積分球を用いて光源の光学性能を容易且つ正確に測光することのできる光源の検査装置の提供を目的とするものである。
【解決手段】本発明の光源の検査装置は、検査対象である光源を取付可能な取付部と、外部に向けて光線を出射するための出射ポートとが設けられた積分球、この出射ポートに対向する積分球内周面の一定範囲の被測光領域の反射光線を出射ポートから測光する測光手段、及び上記被測光領域と上記取付部との間に配設されるバッフルを備える。光源の出射光線が直接被測光領域に入射することをバッフルによって防止し、この被測光領域を測光手段が測光することができるので、取付部の光源の取付状態による測光結果の差異を少なくすることができ、光源の光学性能を容易且つ正確に測光することができる。 （もっと読む）

【課題】段差のあるスイッチ面や表示面の発光部の輝度を容易に測定する。
【解決手段】撮像部２８で、輝度を測定すべき点を含むワーク１０の画像を撮影し、合焦度合演算部５０で検出した画像の合焦状態に基づいて、ワーク１０の前面に焦点を合わせ、テンプレートマッチング演算部１２０で、ワーク１０のレイアウト画像の中の輝度測定点を含む領域をテンプレートとして、焦点が合った画像の中から、テンプレートに対応する領域を探し、輝度測定点に対応する点の輝度を測定する。 （もっと読む）

【課題】検査手段に到達したワークに対し、検査工程を中断することなく連続的に検査を行なって、全体としての作業効率の向上を図る。
【解決手段】ワーク搬送検査装置は複数のワーク収納孔４を有する搬送テーブル２を備え、搬送テーブル２の周縁に沿って、分離供給部６と、方向判別部７と、方向変換部８と、検査部９と、分離排出部１０とが設けられている。各ワーク収納孔４は搬送テーブル２の外縁から内側に向って搬送方向に直交して延びる第１孔４ａと、搬送テーブル２の外縁に沿って第１孔４ａと直交して延びる第２孔４ｂとを有し、Ｔ字形形状を有する。分離供給部６はワークＷを第１孔４ａ内に収納し、第１孔４ａ内のワークＷは方向変換部８によって外方へ移動した後、９０°回転して第２孔４ｂ内に収納される。検査部９は第２孔４ｂ内に収納されたワークＷのうち搬送テーブル２の外縁方向を向く面に対して特性検査が行なわれる。 （もっと読む）

【課題】実仕様に合致したより正確な光量検査を効率よく行う。
【解決手段】複数のステージ２１が設けられ、複数のステージ２１を移動させるインデックステーブル２と、ステージ２１上に搭載され、半導体チップとしてのＬＥＤ素子チップ５が内部に収容されて通電可能とされるソケット６と、半導体ウエハ４を個片化した後の複数のＬＥＤ素子チップ５のうち、これよりも数が少ない一または複数のＬＥＤ素子チップ５を、インデックステーブル２の複数のステージのうち、これよりも数が少ない一または複数のステージ２１上の各ソケット６に移送するピッカー７１と、一または複数のステージ２１に一または複数のＬＥＤ素子チップ５を搭載して一または複数のＬＥＤ素子チップ５を検査する検査手段を有している。 （もっと読む）

【課題】発光素子の正面から出射される光と発光素子の側面から出射される光とを同時に検査する。
【解決手段】発光装置１００に設けられたＬＥＤ素子１０３の正面１０３ａ及び側面１０３ｂから出射される光の輝度及び色度を測定して、出射光の色むらの有無を検査する発光装置の検査装置２００であって、発光装置１００に対向して配置され、ＬＥＤ素子１０３の正面１０３ａから出射される光と、ＬＥＤ素子１０３の側面１０３ｂから出射される光とを分離して投影できる位置に設置される拡散部材１と、拡散部材１に投影された光を受光する受光器２と、受光器２による受光結果に基づいて光の輝度及び色度を算出する制御装置３と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】複数の被測定装置（ＤＵＴ）の光学的性質を測定することが可能である発光部品測定システムおよびその方法を提供する。
【解決手段】各ＤＵＴ２は、最初の光線を出力するために電気を受け取ることが可能であり、各最初の光線は、第１の波長範囲を有する。発光部品測定システム１は、濾波装置１４および検出装置１６を備える。濾波装置１４は、前記最初の光線の対応する第３の波長を濾波することができてかつ同時に複数の第１の濾波済光線２４を出力することができる第１の濾波部分１４２を備える。各第１の濾波済光線２４は、それぞれ第２の波長範囲を有する。前記検出装置１６は、濾波装置１４から出力される光線を受光してそれに応じて光データを生成する。 （もっと読む）

【課題】 検査精度を向上するための作業を簡素化するサンプル検査装置を提供する。
【解決手段】 サンプル検査装置１は、等間隔で配置される複数の第１チャック１２と、少なくとも１組の隣接する第１チャック１２の間に少なくとも１つ配置される第２チャック１３と、第１チャック１２及び第２チャック１３が表面上に一列に配置されるテーブル１１と、検査位置Ｐ１となった第１チャック１２または第２チャック１３に配置されたサンプルを検査して検査結果を出力する検査部１４と、を備える。テーブル１１は、隣接する第１チャック１２の間隔である第１間隔と、隣接する第１チャック１２及び第２チャック１３の間隔である第２間隔と、のそれぞれで駆動されることで、第１チャック１２及び第２チャック１３のそれぞれが検査位置Ｐ１になり得る。 （もっと読む）

【課題】発光素子検査装置およびその検査方法が開示される。
【解決手段】本発明の実施形態に係る発光素子検査装置は光放出面上に蛍光体物質を含む少なくとも１つ以上の発光素子と、可視光線を発光素子に照射する第１照明ユニットと、紫外線を発光素子に照射する第２照明ユニットと、発光素子から反射された可視光線を撮像して少なくとも１つ以上の第１映像データを生成し、発光素子から反射された紫外線を撮像して少なくとも１つ以上の第２映像データを生成する映像撮像ユニットと、第１映像データおよび第２映像データを用いて発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無を判断する判断ユニットとを備える。 （もっと読む）

【課題】 発光素子の検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 光を放出する少なくとも一つの発光セルを備える発光素子の特性を検査する検査装置であり、発光素子が搭載されるテーブルと、発光素子に電流を供給するプローブとが設けられたプロービングユニットと、発光素子の映像を獲得する映像獲得ユニットと、獲得された映像の輝度情報から少なくとも一つの発光セルの発光如何を検出して、発光素子のオープン／ショート不良を判定する判定ユニットと、を備える発光素子の検査装置。 （もっと読む）

【課題】照明光源が発光した光を受光して光学測定を行うときに、照明光源に熱のダメージを与えることなく正確に光学測定を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の光学測定装置は、ＬＥＤ８に対して電源部７が駆動電流を供給することでＬＥＤ８を発光させる発光部２と、ＬＥＤ８が発光した光Ｌを受光してＬＥＤ８の光学測定を行う測光部５と、発光部２と測光部５との間を接続し、発光部２の発光タイミングと測光部５の測定タイミングとを同期させるためのトリガ信号ｔｒｉｇを伝送するトリガ信号伝送部２０と、を備えている。これにより、光学測定を正確に行うことができ、ＬＥＤ８に対して作用する熱のダメージを軽減することができる。 （もっと読む）

【課題】生産ラインの環境の影響を受けることなく、また、装置を複雑な構成にすることなく、ワーク（発光装置）から照射された光の測定を行うことができる積分球装置及び光測定方法を提供すること。
【解決手段】積分球装置１は、光を反射する球内面を有する球面拡散反射体２と、発光装置Ｗからの光を入射するように前記球面拡散反射体の光入射口１０に設けた拡散板と、この拡散板から入射した前記発光装置Ｗの光が前記球面拡散反射体の球面内に設けた光検出位置５に直接入射しないように当該球面拡散反射体内に設置した遮光板４と、を備え、前記拡散板は、前記光入射口から前記球面拡散反射体内に向かって凸状となる半球面形状に形成された半球面形状拡散板３である構成とした。 （もっと読む）

【課題】発光デバイスの発光の良否を正確に判定する。
【解決手段】検査装置（８）は、発光デバイスが配された面を含む範囲をカメラ（７）が撮影することにより取得される、発光デバイスからの照射光の像を含む画像データを受理する画像受理手段と、受理された画像データの各画素の階調値から、発光デバイスの発光の良否を判定する手段と、判定の結果を出力する出力手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】不良品の光モジュールの特定が可能で、試験信号の正常通過も可能な試験装置を提供する。
【解決手段】 送信部と受信部とのうち少なくとも一方が不良な光モジュールが、直列に接続された一連の光モジュール中に少なくとも１つ存在する場合に、電気信号路から迂回路に切り換えるとともに迂回元である第１の光モジュールおよび迂回先である第２の光モジュールを選択することで、その不良な送信部および受信部を迂回させる迂回制御部と、迂回路における電気信号の伝達長を、試験信号の伝送速度と、迂回制御部によって選択された第１の光モジュールおよび第２の光モジュールの組み合わせとに応じた伝達長に調整する調整部とを備える。 （もっと読む）