説明

Fターム[2H025AC08]の内容

フォトレジストの材料 (104,520) | 露光エネルギーの種類 (10,978) | その他の高エネルギー線 (6,993) | レーザー光 (3,455)

Fターム[2H025AC08]に分類される特許

141 - 160 / 3,455


【課題】本発明は、多層レジスト法(特には2層レジスト法及び3層レジスト法)において、レジスト上層膜であるフォトレジスト層より下層を形成するために用いられ、該下層形成後はアルカリ現像液に不溶又は難溶となるレジスト下層膜材料であって、耐ポイゾニング効果が高く、環境への負荷の少ないレジスト下層膜を提供する。
【解決手段】リソグラフィーで用いられる多層レジスト法において、レジスト上層膜であるフォトレジスト層より下層を形成するために用いられ、該下層の形成後はアルカリ現像液に不溶又は難溶となるレジスト下層材料であって、該レジスト下層材料は、少なくとも、熱酸発生剤を含み、該熱酸発生剤は、100℃以上の加熱により下記一般式(1)で示される酸を発生するものであることを特徴とするレジスト下層材料。
RCOO−CHCFSO (1) (もっと読む)


【課題】印刷汚れ及び版面汚れが少なく、且つ印刷耐久性が高い凸版印刷用版材及びその製造方法を提供する。
【解決手段】凸版印刷用版材10は、版材の凹部11及び凸部12側面がフッ化炭素基を含む膜物質の形成する撥水撥油性被膜13で被覆されている。凸版印刷用版材10は、(1)バック露光工程と、(2)凸部12を形成する部分を被覆するマスク材17を選択的に除去する工程と、(3)露光工程と、(4)マスク材17が除去された部分を水溶性樹脂の被膜20で被覆する工程と、(5)現像工程と、(6)仕上げ露光工程と、(7)凹部11及び凸部12の表面に撥水撥油処理液を接触させ、撥水撥油性被膜13を印刷面側の表面全体に形成する撥水撥油処理工程と、(8)樹脂の被膜が可溶な洗浄液で水溶性樹脂の被膜20を洗浄除去する洗浄工程とを有する方法により製造される。 (もっと読む)


【課題】露光の際、効果的に反射を防止し、さらに段差基板上に塗布される際にも表面が平滑な膜を形成できるとともに、上層に塗布されるレジストとのインターミキシングが抑制され、さらに、露光部がアルカリ現像液により容易に除去可能な下層膜用重合体を提供する。
【解決手段】下層膜用重合体は、2以上のポリマー鎖が酸の作用により切断可能な官能基を含む連結基で結合されており、且つ吸光性基を有する繰り返し構造単位を少なくとも1種含有する架橋ポリマーからなる。この下層膜用重合体において、酸の作用により切断可能な官能基はアセタール構造を有しているのが好ましい。 (もっと読む)


【課題】保存安定性に優れており、且つ、レジスト膜との密着性及びレジストパターンの再現性に優れると共に、現像等に用いられる現像液に対して十分な耐性を有し、レジスト除去時の酸素アッシングに対して十分なマスク性(エッチング耐性)を有するシリコン含有膜を形成できる多層レジストプロセス用シリコン含有膜形成用組成物等を提供する。
【解決手段】本組成物は、式(1)の化合物(a1)30〜80質量部、式(2)の化合物(a2)5〜60質量部、並びに、式(3)の化合物(a3)及び式(4)の化合物(a4)のうちの少なくとも一方5〜50質量部〔但し、化合物(a1)〜(a4)の合計を100質量部とする。〕に由来するポリシロキサンと、溶媒と、を含有する。
(もっと読む)


【課題】乾燥塗膜の指触乾燥性に優れ、高感度であり、特に高温加湿時の絶縁抵抗の高い硬化皮膜を形成できる光硬化性樹脂組成物、そのドライフィルム及び硬化物、並びにこれらによりソルダーレジスト等の硬化皮膜が形成されてなるプリント配線板を提供する。
【解決手段】(A)下記一般式(I)で示される構造を1分子中に5個以上15個以下含む感光性オリゴマー、(B)カルボキシル基含有樹脂、及び(C)光重合開始剤を含有することを特徴とするアルカリ現像性の光硬化性樹脂組成物が提供される。好適には、さらに(D)熱硬化性成分を含有し、好ましくはさらに着色剤(F)を含有するアルカリ現像性の光硬化性樹脂組成物。
(もっと読む)


【課題】パターン転写性(特に、RIEでのレジスト曲がり耐性)に優れた下層膜を形成する可能なレジスト下層膜形成用組成物を提供する。
【解決手段】2つ以上のフェノール性水酸基、及び、アルキルチエニル基を有する芳香族環を繰り返し構造単位として含むノボラック樹脂(A)と、有機溶剤(B)と、を含有するレジスト下層膜形成用組成物。 (もっと読む)


【解決手段】式(1)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物。


(R1は水素原子、メチル基又はトリフルオロメチル基、Xは一般式(X−1)〜(X−3)で表されるいずれかの構造を表す。(X−1)の中でR2a、R2b、R3a、R3bは一価の有機基、R4はアルキル基、(X−2)の中でR5a、R5b、R6a、R6b、R7a、R7bは一価の有機基、(X−3)の中でR8a、R8b、R9a、R9bは一価の有機基で、繰り返し単位(1)の−(C=O)−O−結合にR2a〜R3b、R5a〜R7b、R8a〜R9bのいずれかが連結する。)
【効果】この高分子材料は波長200nm以下の放射線に対して優れた透明性を有し、樹脂の構造の選択により撥水性、滑水性、脂溶性、酸分解性、加水分解性など各種性能の調整が可能であり、かつ入手及び取り扱いが容易な原料からの製造が可能である。 (もっと読む)


【課題】凹凸の大きい遮光性レリーフ層を有するフォトマスクに適用する場合であっても、表面平滑性に優れた透明保護膜を形成しうるフォトマスク用ハードコート組成物、該組成物を用いてなるハードコート層を有するフォトマスクを提供すること。
【解決手段】重合性化合物(A)と、フッ素含有化合物及び/又はシリコン含有化合物(B)と、重合開始剤(C)と、を含有し、フッ素含有化合物及び/又はシリコン含有化合物(B)の含有量が組成物の総量に対して0.1質量%〜3.0質量%である、紫外線硬化型或いは熱硬化型のフォトマスク用ハードコート組成物、並びに、パターニングしてなる遮光性レリーフ層上に、前記フォトマスク用ハードコート組成物を塗設してなるハードコート層と、を有するフォトマスク。 (もっと読む)


【課題】液浸露光フォトレジスト膜において、アルカリ可溶性樹脂と併用するSi原子及び/又はF原子を有する化合物の働きを、更に高めたフォトレジスト膜用トップコート組成物、及び該レジスト膜用トップコート組成物を用いたパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】成分(A)アルカリ可溶性樹脂、成分(B)Si原子及び/又はF原子を有する化合物、成分(C)沸点175℃未満の溶剤、及び、成分(D)下記式(1)で表される添加剤を含有することを特徴とするレジスト膜用トップコート組成物、及びパターン形成方法。


(前記式(1)において、R1及びR2はそれぞれ独立に炭素数4〜6のアルキル基を表し、Xは炭素数1〜4のアルキレン基又は−(C=O)−Y−(C=O)−基を表し、Yは炭素数1〜4のアルキレン基を表す。) (もっと読む)


【解決手段】(A)式(1)の繰り返し単位を有する高分子化合物、(B)酸の作用によりアルカリ現像液に可溶となる高分子化合物、(C)高エネルギー線の露光により酸を発生する化合物、(D)有機溶剤を含有するレジスト材料。


【効果】本発明により、環状アセタール構造を有する新規高分子添加剤を用いたレジスト材料が提供される。この高分子材料は撥水性、滑水性、脂溶性、酸分解性、加水分解性など各種性能の調整が可能である。 (もっと読む)


【課題】水の後退角が大きいレジスト膜を与えることが可能な重合体、及び、これを配合したフォトレジスト組成物を提供する。
【解決手段】1分子内に少なくとも2個のトリフルオロメチル基と、式(1)で表される1価の不飽和環状基と、水酸基とを有する単量体に由来する構造単位を含有する重合体。酸の作用によりアルカリ可溶性に変化するフォトレジスト樹脂、酸発生剤、及び、前記重合体を含有するフォトレジスト組成物。


(もっと読む)


【課題】液浸露光の際にフォーカス精度の悪化を抑制できるレジストパターンの形成方法を提供する。
【解決手段】被加工膜12上にフッ素含有ポリマーを添加した下層膜13を形成し、この下層膜をベークし、上記下層膜上に中間膜14を形成し、この中間膜14上にレジスト膜15を形成する。上記レジスト膜をベークし、レジスト保護膜16を形成し、このレジスト膜を液浸露光した後、上記レジスト膜を現像してレジストパターンを形成する。 (もっと読む)


【課題】
現像処理において現像浴槽内に蓄積する現像カスを著しく低減可能にし、長期間安定的に処理をすることができる現像液を提供する。また、感光性組成物を用いた平板印刷版の現像性及び耐刷性を良好なものとする現像液を提供する。
【解決手段】
式(I)で表わされるアニオン界面活性剤とキレート剤とを含むネガ型感光性平板印刷版用の現像液であって、現像液はアニオン界面活性剤を1.0質量%〜10質量%の範囲で含み、かつキレート剤を0.05質量%〜1.0質量%の範囲で含み、pHが11〜12.5である現像液。
【化1】
(もっと読む)


【課題】ポジ型レジスト組成物の基材成分として有用な新規な高分子化合物、該高分子化合物のモノマーとして有用な化合物、前記高分子化合物を含有するポジ型レジスト組成物、および該ポジ型レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)(メタ)アクリロイルオキシ有機酸とビシクロラクトン化合物から誘導される特定の構成単位(a0)、および該構成単位(a0)に該当しない、ラクトン含有環式基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a2)を有し、かつその構造中に酸解離性溶解抑制基を含む高分子化合物(A1)を含有する。 (もっと読む)


【課題】レジスト組成物用の酸発生剤として有用である新規な化合物、該化合物の前駆体として有用である化合物、酸発生剤、レジスト組成物、およびレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】一般式(I)で表される化合物。一般式(b1−1)で表される化合物。式中、Qは二価の連結基又は単結合であり;Yは置換基を有していてもよいアルキレン基又は置換基を有していてもよいフッ素化アルキレン基であり;Xは置換基を有していてもよい炭素数3〜30の環式基を表し、該環構造中に−SO−結合を有する。Mはアルカリ金属イオンである。Aは有機カチオンである。
[化1]
(もっと読む)


【課題】塗布性に優れており、十分な定在波防止効果を備え、且つウエハー外周部における縞状欠陥の発生が十分に抑制された反射防止膜を形成できる上層反射防止膜形成用組成物及び上層反射防止膜を提供する。
【解決手段】本上層反射防止膜形成用組成物は、側鎖にOH基を有する3級炭素含有基を有する(メタ)アクリレート単位(1)及び側鎖にスルホン酸基を有する(メタ)アクリレート単位(2)を含む重合体(A)と、側鎖にスルホン酸基を有する(メタ)アクリレート単位(2)及び側鎖にパーフルオロアルキル基を有する(メタ)アクリレート単位(3)を含む重合体(B)と、水(C)と、を含有し、前記重合体(B)の含有量が、前記重合体(A)100質量部に対して、100〜300質量部である。 (もっと読む)


【課題】レジストパターン形成において、優れたリソグラフィー特性を示し、ディフェクトを低減できるポジ型レジスト組成物、該ポジ型レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法、および該ポジ型レジスト組成物の基材成分として有用な高分子化合物の提供。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、側鎖にオキシラン環を有する構成単位(a0)、前記構成単位(a0)に該当しない酸解離性溶解抑制基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a1)、およびラクトン含有環式基を含むアクリル酸エステルから誘導される構成単位(a2)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】感度、解像性、ラフネス特性、パターン形状及びアウトガス特性に優れた感活性光線性または感放射線性樹脂組成物及び該組成物を用いたパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】一般式(I)で表される化合物を含有する感活性光線性樹脂組成物。


式中、Arは、芳香族環を表し、−(A−B)基以外に更に置換基を有してもよい。nは、1以上の整数を表す。Aは、単結合、アルキレン基、−O−、−S−、−C(=O)−、−S(=O)―、−S(=O)−、及び−OS(=O)−から選択されるいずれか、あるいは2以上の組み合わせ(但し、−C(=O)O−を除く)を表す。Bは、3級若しくは4級炭素原子を含む、炭素原子数が4以上の炭化水素基を有する基を表す。nが2以上のとき、複数の−(A−B)基は同一でも異なっていてもよい。Mは、有機オニウムイオンを表す。 (もっと読む)


【課題】液浸露光フォトレジスト膜において、アルカリ可溶性樹脂と併用するSi原子及び/又はF原子を有する化合物の働きを、さらに高めたフォトレジスト膜の保護層用トップコート組成物、並びに該レジスト膜の保護層用トップコート組成物を用いたパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】成分(A)アルカリ可溶性樹脂、成分(B)Si原子及び/又はF原子を有する化合物、及び成分(C)下記式(1)で表される溶剤を含有することを特徴とするレジスト膜の保護層用トップコート組成物、並びにパターン形成方法。


(前記式(1)において、R1は炭素数2〜3のアルキレン基、R2は炭素数3〜4のアルキル基を表す。) (もっと読む)


【課題】新規なレジスト組成物、該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法、該ポジ型レジスト組成物用の成分、特に酸発生剤として有用な新規な化合物および酸発生剤を提供する。
【解決手段】トリフェニルメタンを骨格とする特定のフェノール化合物および該フェノール化合物における−OHの水素原子の一部が有機基で置換された置換フェノール化合物からなる群から選択され、一分子中に少なくとも2つの−OHを有する化合物における−OHのうち、少なくとも1つの−OHの水素原子が式(I)で表される基で置換され、少なくとも1つの−OHの水素原子が酸解離性溶解抑制基を含む特定の基で置換されている化合物を含有するレジスト組成物。
(もっと読む)


141 - 160 / 3,455