本発明は、当該顕微鏡システムの物体平面（１）に配置可能な物体を結像するための顕微鏡システムに関し、顕微鏡システムは、少なくとも１つの結像光路（２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ）を形成するためのいくつかの光学素子を含む結像システム（２６）を備える。上記光学素子は、結像光路（２ａ〜２ｄ）が順次通過し、物体平面（１）を中間像（Ｐ）に結像する複数の光学レンズ（４〜８、１１、１３、１４）を含む。光学レンズ（４〜８、１１）は、前記中間像（Ｐ）における前記物体平面（１）の像が、最大で０．９倍、好ましくは、最大で０．８倍、好ましくは、最大で０．６倍、最も好ましくは、最大で０．５倍に縮小されるように構成されている。 （もっと読む）

【課題】 標本の大きさや重さに影響されることなく標本の観察位置合わせを確実に行うことができる光学顕微鏡を提供する。
【解決手段】 ステージ９上の標本２の観察像を取得する対物レンズ３を含む観察光学系の光路上に、対物レンズ３を該対物レンズ３の光軸Ｏと直交する面に沿って移動可能にした移動調整機構６を設け、この移動調整機構６により対物レンズ３を移動させて標本２の観察位置を移動させる。 （もっと読む）

【課題】オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】標本の特定部位に刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光学系２０と、刺激用レーザ光の光強度を計測する光検出器４２と、光検出器４２からの計測値を補正する光量補正回路４３と、光量補正回路４３からの検出値を積算する積算回路４４と、積算回路４４からの検出積算値を表示する表示装置６とを備えるレーザ顕微鏡装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 主ビームのサイズを減らすことなくサイドローブを除去することを可能にし、数十nmのサイズを有する物体を歪むことなく観察することができる共焦点自己干渉顕微鏡を提供する。
【解決手段】既存の共焦点顕微鏡における自己干渉光学系に代えて、試片からの反射又は蛍光ビームを偏光する第１の偏光板111、上記第１の偏光板を通過したビームを偏光方向により２つのビームに分離する第１の複屈折波長板116、上記第１の複屈折波長板で分離された２つのビームを偏光する第２の偏光板112、上記第２の偏光板を通過した２つのビームを偏光方向により４つのビームに分離する第２の複屈折波長板117、及び上記第２の複屈折波長板で分離された４つのビームを偏光する第３の偏光板113とを有する自己干渉光学系で構成した。 （もっと読む）

【課題】 顕微鏡において、標本を動かさずに、標本の観察視野を移動調整する。
【解決手段】 本発明の顕微鏡は、第１対物レンズ、第２対物レンズ、反射用ミラー、角度調整機構、およびシフト機構を備える。第１対物レンズは、標本側に位置する。第２対物レンズは、標本の中間像を第１対物レンズと共に形成する。反射用ミラーは、第１対物レンズと第２対物レンズとの光路上に傾斜配置される。角度調整機構は、反射用ミラーを傾斜方向に回動調整する。シフト機構は、第２対物レンズを、反射用ミラーの回動軸の軸方向にシフト調整する。この構成では、角度調整機構およびシフト機構によって、観察視野を２次元方向に移動できる。 （もっと読む）

【課題】
入射光の進行方向と反対方向に放射される第２高調波を検出することができるレーザ顕微鏡を提供すること。
【解決手段】
本発明にかかるレーザ顕微鏡は、レーザ光源１０と、レーザ光源１０からのレーザ光に入射位置に応じた位相差を与える位相板１２と、位相板１２を透過した光を試料３０に集光する対物レンズ１６と、試料３０からレーザ光の進行方向と反対方向に放射された第２高調波と試料３０で反射した基本波とを分離する基本波カットフィルタ２２と、基本波カットフィルタ２２により基本波から分離された第２高調波を検出する光検出器１９とを備えるものである。 （もっと読む）

【課題】 モニタのみで観察する観察者の意思どおりにモニタ上の標本を移動させ、注目位置を見失ったり観察チャンスを逃したりしてしまう不都合を防止する。
【解決手段】 通過する光を奇数回結像させる対物レンズ４と、該対物レンズ４を標本Ａに対して光軸に交差する方向に移動させる移動機構５と、該移動機構５を操作する操作部１５，２０と、対物レンズ４を介して取得された光に基づいて標本Ａの画像を取得する画像取得装置１１と、該画像取得装置１１により取得された画像を表示する画像表示装置２２とを備え、操作部１５，２０が、画像表示装置２２の作動状態に応じて移動機構５による対物レンズ４の移動方向を逆転させる観察装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】 高解像度の検査を可能とする極端紫外線顕微鏡を提供する。
【解決手段】
極端紫外線を発光する光源１２と、光源１２が発光した極端紫外線を集光して試料２に照射し、試料２が反射した極端紫外線波長領域の試料反射光を集光する、複数の多層膜からなる反射素子から構成される結像光学系１３と、光源１２と結像光学系１３との間に配置され、極端紫外線波長領域の光の一部を反射し、一部を透過する、複数の多層膜からなる半透鏡１４と、試料２からの試料反射光が結像光学系１３により集光されて半透鏡１４を介して入射され、試料反射光による像を検出する像検出部１５と、像検出部１５が検出した像を表示する表示部１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】 分光検出系の小型化を実現できるとともに、多重染色された標本の蛍光測定を効率よく行なうことができる走査型蛍光顕微鏡を提供する。
【解決手段】 レーザ光源ユニットからのレーザ光を標本上で２次元走査し、標本からの蛍光を共焦点ピンホールを通して分光ユニット１６に入射させる。分光ユニット１６は、複数の受光部１７ａを有し、これら受光部１７ａにより受光した光強度に応じた出力を発生する多チャンネル光検出器１７と、共焦点ピンホールを通った蛍光の光路上に配置され、且つ多チャンネル光検出器１７の各受光部１７ａに対応して設けられる分光波長範囲の異なる複数の分光用素子１８を有し、これら分光波長範囲の異なる複数の分光用素子１８は、多チャンネル光検出器１７の各受光部１７ａに対して任意に交換可能とする。 （もっと読む）

【課題】 色収差レンズの調整を安価且つ容易に実現し、サンプルの屈折率や厚さの情報がなくても、透明膜や段差サンプルの観察において色収差レンズの再設定なしにＡＦ機能を提供する。
【解決手段】 制御部１３３は、対物レンズ１０５により生じる、顕微鏡光源１１０で発光させる観察用の照明光とＬＤ１２０で発光させるＡＦ用の測定光との色収差の補正が必要か否かの判定を行うと共に、当該判定の結果に応じ、色収差補正レンズ１２５を移動させて色収差を補正する。 （もっと読む）

【課題】 フィルタ等の光学部品を用いることなく、低コストで、低い出射強度においてもレーザ光を高精度に安定化させる。
【解決手段】 レーザ光源と、該レーザ光源から発せられるレーザ光を強度変調するレーザ変調装置と、レーザ光の光量を測定する光量測定部と、該光量測定部により測定された光量信号Ｓ_１を増幅する可変増幅部２７と、該可変増幅部２７で増幅された光量信号Ｓ_１に基づいてレーザ変調装置を制御する制御部２９と、光量測定部により測定された光量信号Ｓ_１に応じて、制御部２９に入力される増幅された光量信号Ｓ_２が所定の信号レベルとなるように、可変増幅部２７の増幅率Ｓ_３を設定する増幅率設定部２８とを備えるレーザ装置を提供する。 （もっと読む）

試料を検査する方法および装置を提供する。本装置は、第１照明源と、第１照明源から受け取った光エネルギを実質的に垂直な角度で前記試料に向かうように誘導する、中央掩蔽を提示する反射屈折対物レンズと、前記反射屈折対物レンズによって生じる前記中央掩蔽内に配置され、第２照明源からの追加照明を受け取って、前記試料に向けて追加照明の進路を変える、プリズムや反射面等の光学装置と、を含む。本方法は、第１照明源を用いて、前記試料の表面を各種の角度で照光することと、第２照明源を用いて前記表面を照光することとを含み、前記第２照明源による照光は、実質的に垂直な入射角度で行われ、また、反射、散乱、および回折されたすべてのリグを結像させることを更に含む。
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【課題】 検査対象の検査をより正確に行うことのできる共焦点型検査装置を提供する。
【解決手段】 検査対象２に対向して配置された対物光学系５と；対物光学系５を介して検査対象２に輝点光１０ａを投光する投光部１０と；輝点光１０ａで検査対象２を二次元に走査する二次元走査系２０と；対物光学系５を介して検査対象２から戻ってくる投光された輝点光１０ａを結像する結像光学系６と；結像光学系６を介した光を受光する受光部４０と；検査対象２と受光部４０との間の光路中に配置された第１の臨界角プリズム１００とを備える共焦点型検査装置。 （もっと読む）

【課題】 ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行なう機能を付加し、ニポウディスク方式特有の高速な画像処理により、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察できる共焦点顕微鏡を実現する。
【解決手段】 顕微鏡ユニットとニポウディスク方式の共焦点スキャナユニットから構成され、試料に照射される画像計測用光ビームの戻り蛍光を結像させた共焦点画像により前記試料の観察を行なう共焦点顕微鏡において、
前記共焦点スキャナユニットと一体に形成され、前記試料に刺激を与える刺激用光ビームのスポットを前記試料上に結像させる刺激用光ビーム出力手段を備える。 （もっと読む）

【課題】 明視野・暗視野観察を容易に切替え可能で、かつシステム構成が簡便なＸ線顕微鏡及び顕微鏡の提供。
【解決手段】
Ｘ線顕微鏡１は、Ｘ線を発するＸ線源１０、照明用斜入射ミラー２０、結像用斜入射ミラー３０、Ｘ線検出器４０及び移動手段５０を備えている。照明用斜入射ミラー２０は回転楕円面２１及び回転双曲面２２を有し、Ｘ線源１０から発せられたＸ線を回転楕円面２１及び回転双曲面２２のうち少なくとも一つにより反射して試料６０に照射する。結像用斜入射ミラー３０は試料６０に照射されたＸ線のうち入射領域３５に入射したＸ線を受光面４１の位置に結像させる。Ｘ線検出器４０は結像用斜入射ミラー３０により結像されたＸ線を受光面４１において検出する。移動手段５０は明視野観察を行う第１の位置と暗視野観察を行う第２の位置との間を、照明用斜入射ミラー２０を光軸Ｌ方向に移動させる。 （もっと読む）

【課題】 複数波長の超短パルスレーザ光を標本に照射して、複数波長の多光子蛍光を観察することができる、小型で、しかも、コストの低い多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】 単一波長の超短パルスレーザ光Ｌ１を出射するレーザ光源５と、該レーザ光源５からの超短パルスレーザ光Ｌ１を入射させ、超短パルスレーザ光Ｌ１のスペクトルを拡散させる光ファイバ８と、該光ファイバ８から出射されたスペクトル拡散された超短パルスレーザ光Ｌ２を走査するレーザ走査部１２と、走査された超短パルスレーザ光Ｌ２を標本Ａに集光させる対物光学系１５と、標本Ａにおける超短パルスレーザ光Ｌ２の集光位置から発せられた多光子蛍光Ｆを検出する光検出器１８と、超短パルスレーザ光に対する群速度分散を補償する分散補償光学系３１とを備える多光子励起走査型レーザ顕微鏡１を提供する。 （もっと読む）

【課題】スキャナの偏向制限を誤って設定しても、スキャナが過電流によって過熱したり、そのため破損したりすることを防止する。
【解決手段】レーザ走査型顕微鏡、好ましくはライン走査機能を持つ顕微鏡において、少なくとも１つのガルバノメータ・スキャナ５１を用いて、照射光をサンプルに沿って案内する顕微鏡であって、スキャナが機械的な偏向制限機能を備え、電流増加を測定する手段５２，５４が設けられ、スキャナ５１の電圧が、閾値に達した場合、閾値以下となるまでスイッチ・オフされ、有利には、スキャナのスイッチ・オン／オフを表示する光学的および／または音響的表示装置が設けられる顕微鏡。 （もっと読む）

【課題】照明光および／または試料光をそのスペクトル構成および／または強度に関して調節可能に変化させるための方法および装置を提供する。
【解決手段】本方法および装置では、第１偏光手段（Ｐｏｌ１）によって、異なる偏光の放射成分への空間的分離が実施され、第１分散手段（Ｄｉｓｐ１）によって、少なくとも１つの放射成分のスペクトル・空間的分割が行われ、スペクトル・空間的に分割された放射成分の少なくとも１つの部分の偏光状態が変えられ、照明光および／または検出光の反射が実施される。 （もっと読む）

【課題】 光学顕微鏡下において、その焦点位置をオーバーシュートや振動を起こすことなく高速、かつ、安定に変位させることを可能にする顕微鏡ステージ、および焦点位置計測装置・システムを提供すること。
【解決手段】 ピエゾ素子の電圧−伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。また、ピエゾ素子の伸長軸と、光学顕微鏡の光軸を厳しく平行にさせるために、ピエゾ素子の伸長軸は、自在に調整できる。光学顕微鏡下において、開口数１.３以上の対物レンズ型全反射光学系を用いて、焦点位置、つまり、対物レンズに対する顕微試料の位置を計測する。 （もっと読む）

レーザ・スキャン顕微鏡（ＬＳＭ）の１つのピンホールの位置および／またはサイズを調整するための装置であって、１つの別体の光源またはＬＳＭレーザによってピンホールの照射が行われ、光軸を横切るピンホールの変位が、１つの受像器において最大輝度が生じるまで行われ、かつピンホール位置の検出が行われ、この検出が複数の交換可能な光学部品の付属データとともに記憶される。
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