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Fターム[3C049AA07]の内容

3次曲面及び複雑な形状面の研削、研磨等 (13,165) | 装置の構造(工具) (4,425) | 工具の種類 (1,832) | 砥粒を用いるもの(ラップ加工) (311)

Fターム[3C049AA07]に分類される特許

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【課題】光学要素を仕上げるため、特に、マイクロレンズを経済的に製造する。
【解決手段】表面を研磨性液体スラリー14にて被覆する手段と、気体又は液体の何れかの流体ジェット31をスラリーに対して衝突させ、基板表面20に高せん断加工領域を形成し、これにより該表面の形状を所定の形状及び(又は)滑らかになるように変化させる手段とを備えている。該表面20は、該表面上を流動するスラリー層を滝状に流すか又はスラリーを加工領域に衝突させ又は基板20をスラリー内に浸漬させることにより、被覆することができる。ジェット流体を分配するノズル26は、仕上げるべき表面から所定の距離にて及びある角度を成して正確に配置される。ノズル先端26を基板表面20から第一の距離に配置することにより粗除去機能が提供され、ノズル26を基板表面20により近い位置に配置することにより、精密な除去機能が提供される。 (もっと読む)


【課題】1平方インチ当たり40ギガビット以上のような高記録密度での使用に供される磁気ディスクとして構成しても、サーマルアスぺリテイ障害を起こすことがなく、耐衝撃性にも優れた磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを提供する。携帯電話、デジタルカメラ、携帯型「MP3プレイヤ」、PDA等の携帯情報機器や、「カーナビゲーションシステム」など車載用機器にも搭載できるように、例えば、外径30mm以下の小型磁気ディスクとして構成しても、安定した動作を実現できる磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを提供する。
【解決手段】磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、ガラスディスクの端面部を鏡面加工する鏡面加工工程を有し、この鏡面加工工程においては、端面部に対して研磨手段を摺接させて端面部の表面を鏡面研磨した後に、この鏡面状態を保持しつつ、端面部を化学処理し、表層部に存在するクラックを除去する。 (もっと読む)


【課題】超音波加工で、被加工物に微細溝あるいは微細な窪み形状を、高能率で安価に加工することができ、しかも凹形加工部の加工精度を維持しつつ工具寿命の延長を可能にする超音波加工用工具の提供。
【解決手段】強度及び剛性が互いに異なるように形成された硬質部1a及び軟質部1bが一定断面形状で延在されてなり、延在方向片端が前記超音波ホーン2に固定される固定端とされている超音波加工用工具1を提供する。 (もっと読む)


【課題】複雑形状の工作物を均一な鏡面にラップするために砥粒を長時間浮遊させるラップ剤、好ましくは気化熱冷却効果をさらに奏するラップ剤、及びこれを含んだラッピング加工方法及びラッピング装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
ラッピング装置2に使用されるラップ剤27は、水と水溶性ポリマーと有したラップ剤媒体と、砥粒と、を含む。水溶性ポリマーは、ポリエチレンオキシド(PEO)、ポリアクリルアミド(PAA)、またはアクリル酸金属塩であり、砥粒はダイヤモンドまたはアルミナからなる。ラップ剤27は、水に水溶性ポリマーを5重量パーセント以下の濃度で混ぜ合わせた後に、砥粒を混ぜ合わせることによって生成される。さらに、水に低級アルコールをさらに添加することが好ましい。 (もっと読む)


【課題】可視光及び赤外光を用いて窒化物半導体基板の端部を認識できる窒化物半導体基板及び窒化物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る窒化物半導体基板1は、窒化物半導体からなる基板であって、基板は、表面10と、表面10の反対側の裏面20と、基板の表面10側の縁が面取り加工されて形成される第1のエッジ部とを備え、第1のエッジ部の平均表面粗さに対する表面10の平均表面粗さの比が0.01以下である。 (もっと読む)


【課題】複雑形状の工作物を均一な鏡面に加工するために、複雑形状の局所的な部位に適合可能なラップ端子の製造方法を提供する。さらに、ラップ端子を微小スペース内で十分に摺動させるラッピング工具を備えたラッピング装置を提供する。
【解決手段】
予め放電加工又は研削加工が施されたラッピング加工前の工作物4の加工予定部4aに離型剤40を塗布する。補強骨材42を用意し、補強骨材42の端部を離型剤40が塗布された加工予定部4aに当接させながら固定する。その後、加工予定部4a及び補強骨材端部に向けて合成樹脂41を注入して、固化させて、加工予定部4aからラップ端子15を離型する。ラッピング装置2は、上記方法によって作製されたラップ端子15と弾性支持部14との間に超音波振動子19aと共振体19bとを含んだ超音波振動部19が設けられたラッピング工具1を備える。 (もっと読む)


【課題】研磨コストを低減することが可能な球状体の研磨装置、球状体の研磨方法および球状部材の製造方法を提供する。
【解決手段】研磨装置は、回転盤研磨面10Aを有する回転盤10と、回転盤研磨面10Aに対向する固定盤研磨面を有する固定盤とを備えている。回転盤研磨面10Aは固定盤研磨面に対して対向する状態を維持しつつ、相対的な回転が可能となっている。回転盤研磨面10Aには、上記回転に沿った周方向に延在する溝部11が形成されている。溝部11が形成された回転盤10は、球状体である素球よりも高い硬度を有するダイヤモンド粒子からなる砥粒を含む砥粒層18と、砥粒層18上に形成され、砥粒層18よりも低い硬度を有する保持層19とを含んでいる。そして、溝部11は深さ方向において保持層19を貫通し、砥粒層18に至るように形成されている。 (もっと読む)


【課題】ヒゲ状体が発生しても、成長する前にヒゲ状体が剥がれ落ちるようにしたウエハノッチ部の研磨パッドを提供する。
【解決手段】研磨加工を進めるうちに、ノッチ部22によって研磨パッド1の外周縁部11の繊維の一部が掻き取られて、外周縁部11が毛羽立ち、ヒゲが伸びたようなヒゲ状体16、17ができ始める。ヒゲ状体16、17が研磨パッド1の中心側に向かって成長し始めると、ヒゲ状体16、17の根本が切り込み部145、155に達し、ヒゲ状体16、17は研磨パッド1から剥がれ落ちる。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板の外径端面加工において面取り研削加工と研磨加工を同時に行うことのできる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】ガラス基板の外径端面部分の研磨において、粘弾性流体に研磨剤を加えた研磨液を用いることにより、ガラス基板の外径端面部分の研磨は、面取り加工を含む研削仕上の後に、この研削仕上に用いる工具と同一の砥石1を使用して行うことができ、また、ガラス基板の外径端面部分の研磨及び面取り加工は、砥石1及びガラス基板を交換することなく、交互に連続して行うことができる。 (もっと読む)


【課題】 ワイヤが長寿命であり、且つ加工精度が高く、信頼性の高いワイヤソー装置を提供すること。
【解決手段】 ワイヤソー装置1は、1本のワイヤ2を巻きつける3個の多溝ローラー3a、3b、3cを有し、各多溝ローラーに、例えば約120ミクロンの直径を有するワイヤ2を巻き付けるワイヤ列を構成し、このワイヤ列のワイヤ2をワイヤ駆動モータ4により駆動されるドライブ側多溝ローラー3aの駆動により往復運動させるようになっている。またワイヤ2を巻き取り、送り出すボビン5a、5bを持っている。被切断物9と多溝ローラー3b、3cの間のワイヤ2に摺動板18である炭素繊維複合材料を接合した超音波振動子13を接触させる。炭素繊維複合材料の繊維方向はワイヤの走行方向と一致させている。そして超音波振動子13の振動方向は切断方向と一致させる。 (もっと読む)


【課題】磁気ディスク用基板の外周端部及び内周端部の品質ばらつきを処理バッチ間で小さくすること。
【解決手段】本発明の磁気ディスク用基板の製造方法は、円環状のガラス基板の外周端面及び/又は内周端面に対してブラシ研磨方法により鏡面研磨を行う端面研磨工程を有する磁気ディスク用基板の製造方法であって、前記端面研磨工程において、複数のバッチ間で、スラリーの比重が一定になるように、スラリー中に含まれる研磨剤の重量を制御することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】単結晶ダイヤモンドの{110}面等を研磨するに際して、作業者の負担が少なく且つ熟練を要することなく高い寸法精度で研磨が行われるようにする。
【解決手段】研磨に伴ってラップ盤32に接近する単結晶ダイヤモンド10の変位量Xを変位センサ52によって検出し、その変位量Xが予め設定された目標値targetXに達したら単結晶ダイヤモンド10の研磨を自動的に停止するため、研磨方向や個体差等による研磨速度のばらつきに拘らず、常に高い精度で予め設定された目標値targetXだけ単結晶ダイヤモンド10が研磨されるようになる。しかも、作業者は単結晶ダイヤモンド10を保持部46に取り付けて目標値入力キー62により目標値targetXを入力するとともに研磨開始スイッチ64をON操作するだけで良いため、作業者の負担が大幅に軽減されるとともに研磨時間が短縮されて作業効率が向上する。 (もっと読む)


【課題】ワークの加工面に対する研磨工具の相対的な走査を伴う研磨加工において、加工面に規則的なうねりが形成されることを防止して、加工面精度の向上を実現する。
【解決手段】ワーク16の加工面16aの上を、自転するポリッシャを相対的に移動走査させて行う研磨加工方法において、加工点Pwにおけるポリッシャの自転運動のベクトル(回転速度Vp)の方向(たとえば、ワーク16のX軸に対する角度θ)を、移動走査を行う度に変更し、角度θが一定の場合に加工面16aに発生する規則的なうねりを防止して、加工面16aの形状精度を向上させる。 (もっと読む)


【課題】簡易な工程により主面の平坦度を高く維持することが可能な半導体ウェーハ及びその製造方法を提供すること
【解決手段】半導体ウェーハ1は、平坦面である主面10と周縁部20に形成された第1の面取り面21とを備え、半導体ウェーハ1をその厚み方向の断面で視た場合に、主面10と第1の面取り面21との間に半導体ウェーハ1の径方向外側に向かって傾斜する第2の面取り面22を更に備える。 (もっと読む)


【課題】反り、割れによる破損等も無く、効率よく安定的な研磨が出来る研摩方法の提供。
【解決手段】厚さ500μm以下で、且つ破壊靭性が10MPa・√m以下である薄膜脆性材料を両面研磨する方法において、それぞれの研磨面の研磨量の合計を100μm以内とし、一方の面を固定して他方の面の研磨を行い、各1回での研磨面の研磨量の割合として、一方の面2aの研摩量:他方の面2bの研摩量を20:1〜1:20の範囲とすることを特徴とする、薄膜脆性材料の表面研磨方法。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェーハの表裏面を保持することなく半導体ウェーハの周辺部を研磨する。
【解決手段】半導体ウェーハ周辺部の研磨方法は、表裏面をフリーな状態にして所定の間隔をあけて鉛直方向に保持された複数の半導体ウェーハ14を、研磨スラリー11を保持し回転する研磨ローラ13に接触回転させてウェーハの周辺部を研磨する。研磨装置は、研磨スラリーが貯留されて上方が開放したタンク12と、ローラの一部がスラリーの液面より上部に存在してかつ水平にタンクに設けられた研磨ローラと、研磨ローラと平行に設けられウェーハ周辺部形状に相応した形状の複数の周溝16aが所定の間隔をあけて形成された周溝にウェーハ周辺部を収容することにより研磨ローラとともに複数の半導体ウェーハを鉛直状態に保持する複数の回転ローラ16と、研磨ローラを回転駆動する第1ローラ回転手段と、複数の回転ローラを回転駆動する第2ローラ回転手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】単結晶ウェハの結晶軸に対する切断角度を所望の角度に調整することが可能な単結晶ウェハの製造方法に関する。
【解決手段】水晶ランバードから水晶の結晶軸に対して所望の切断角度を狙って切り出され、初期研磨が施された水晶ウェハの初期切断角度測定を行う(ステップS4)。初期切断角度測定により水晶ウェハの切断角度が規格値の許容範囲外であった場合(ステップS5でNo)には、ステップS8に示すように、予め確認された段差の形状と切断角度補正研磨前後の切断角度のシフト量との関係を示すデータに基づいて、初期切断角度測定で測定された水晶ウェハの切断角度の規格値との差を補正し得る段差形状を決定し、次に、ステップS9に示すように、ステップS8で決定された形状の段差を水晶ウェハに形成する。そして、段差が形成された水晶ウェハを所定量研磨する切断角度補正研磨を行う(ステップS10)。 (もっと読む)


本発明は、研磨面(16)を有する弾力性のあるクッション(12)を支持する球状表面(14)を有する剛体ベース(11)を備え、剛体ベース(11)の直径は50乃至65mm、球状表面(14)の曲率半径は54乃至60mm、クッション(12)の厚さは13乃至16mm、クッション(12)の圧縮抵抗は10%の圧縮で実質的に0.0816乃至0.1530kgf/cm(0.08乃至0.15bar)、70%の圧縮で実質的に0.5608乃至0.8158kgf/cm(0.55乃至0.8bar)である光学表面(21)を磨くためのツール(10)に関する。また、本発明は、光学表面、特に眼科用レンズ、さらに具体的にはフリーフォームレンズを磨くためのそのようなツールの使用方法に関する。 (もっと読む)


【課題】高い研磨速度で、被研磨面の表面粗度に優れたサファイア基板を作製することのできるサファイア基板用研磨液組成物、それを用いたサファイア基板の研磨方法を提供する。
【解決手段】サファイア基板用研磨液組成物は、サファイア基板を研磨するときに使用され、アルカノールアミン化合物とパーフルオロアルキル基を有するフッ素系化合物の少なくとも一方と、シリカ粒子、及び水を含有してなる。本発明のサファイア基板用研磨液組成物を用いてサファイア基板を研磨することにより、研磨速度を向上させ、被研磨面の表面粗度を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェーハの取り代を低減して、半導体材料のカーフロスを削減して安価に半導体ウェーハを得る。
【解決手段】結晶性インゴットから薄円板状の半導体ウェーハを切り出すスライス工程と、切り出された前記半導体ウェーハの端面を、研削により面取りする第1面取り工程と、前記半導体ウェーハの両面を同時に粗研削から仕上げ研削まで一気に高速加工する固定砥粒研削工程と、研削された前記半導体ウェーハの一方の面を仕上げ研磨する片面仕上げ研磨工程と、仕上げ面取りした前記半導体ウェーハの両面を同時に研磨する両面研磨工程と、両面研磨した前記半導体ウェーハの端面を、研磨により仕上げ面取りする第2面取り工程と、を具える。 (もっと読む)


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