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【課題】本発明は、結晶成長に再利用可能な反応容器を提供すべく、結晶成長に用いられた反応容器の再生方法、再生反応容器および、これを用いた結晶の製造方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、原料、溶媒および鉱化剤の存在下で超臨界および/または亜臨界状態において結晶成長を行う結晶の製造方法に用いられた反応容器に、前記結晶の製造方法において生じた前記反応容器の変形および/または変質を修復する修復工程を施し再生反応容器とすることを特徴とする、反応容器の再生方法に関する。 (もっと読む)


【課題】アモノサーマル法で成長させたアズグロウン状態の窒化物単結晶の結晶品質をそのままの状態で評価できるようにすること。
【解決手段】反応容器内で成長温度を500℃以上にして窒化物単結晶を成長させた後に、成長温度から降温しながら窒化物単結晶に対して表面処理を施し、表面処理が施された窒化物単結晶の表面を評価する。 (もっと読む)


【課題】ホモエピタキシャルLED、LD、光検出器又は電子デバイスを形成するために役立つGaN基板の形成方法の提供。
【解決手段】約10/cm未満の転位密度を有し、傾角粒界が実質的に存在せず、酸素不純物レベルが1019cm−3未満の窒化ガリウムからなる単結晶基板上に配設された1以上のエピタキシャル半導体層を含むデバイス。かかる電子デバイスは、発光ダイオード(LED)及びレーザーダイオード(LD)用途のような照明用途、並びにGaNを基材とするトランジスター、整流器、サイリスター及びカスコードスイッチなどのデバイスの形態を有し得る。また、約10/cm未満の転位密度を有し、傾角粒界が実質的に存在せず、酸素不純物レベルが1019cm−3未満の窒化ガリウムからなる単結晶基板を形成し、該基板上に1以上の半導体層をホモエピタキシャルに形成する方法及び電子デバイス。 (もっと読む)


【課題】防食性に優れている反応容器を用いて窒化物半導体結晶を効率良く育成し、育成後の反応容器の再利用を図りやすくすること。
【解決手段】反応容器内で超臨界および/または亜臨界状態の溶媒存在下にて窒化物半導体結晶の成長を行い窒化物半導体結晶を製造する際に、該反応容器内の空間に対して露出している、該反応容器及び該反応容器内で使用される部材の表面の少なくとも一部を、Pt、Ir、Ag、PdおよびRhからなる群より選択される少なくとも1種の貴金属を含む材料で構成し、且つ表面粗さ(Ra)を0.08μm〜3.0μmとする。 (もっと読む)


【課題】結晶性が良好な窒化物単結晶を速い速度で成長させる方法を提供する。
【解決手段】シード、窒素元素を含有する溶媒、周期表13族金属元素を含む原料物質、および前記溶媒の1.5〜15mol%の量の鉱化剤を入れたオートクレーブ内の温度および圧力を、前記溶媒が超臨界状態および/または亜臨界状態となるように制御して前記シードの表面にアモノサーマル法により窒化物単結晶を成長させる。 (もっと読む)


【課題】 低濃度の窒素及び低い拡張欠陥密度を含む単一結晶ダイヤモンドの製造方法を提供することである。
【解決手段】 本発明は、低濃度の窒素を含むダイヤモンドの結晶完全性を改良する方法に及ぶ。詳細には、本発明の方法は、高温及び高圧、代表的には2100から2500℃の間の温度及び6〜8GPaの圧力で、成長したダイヤモンドを熱処理するステップを含む。 (もっと読む)


【課題】アモノサーマル法により窒化物結晶を成長させる際に、反応容器の破損を防いで再利用を可能にするとともに、品質が高い結晶が得られる窒化物結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】反応容器に原料とアンモニア溶媒を充填して密閉した後、バルブを有する耐圧性容器内に該反応容器を設置し、さらに該耐圧性容器と該反応容器の間の空隙に第二溶媒を充填して前記耐圧性容器を密閉した後、該反応容器中で超臨界および/または亜臨界アンモニア雰囲気において窒化物結晶を成長させる。その際に、バルブを介して、前記反応容器の外側と内側の圧力差が小さくなるように調整する。 (もっと読む)


【課題】表面状態や断面形状が良好なIII族窒化物半導体の厚膜結晶を成長させることができる下地基板を提供する。
【解決手段】第1結晶成長面と前記第1結晶成長面と同じ方向に面している第2結晶成長面を有する下地基板であって、前記第1結晶成長面の周縁の50%以上に下向きの段差を介して前記第2結晶成長面が連接しており、前記段差の高さが0.1〜5mmである。 (もっと読む)


半導体材料薄片製造用の成形装置は成形型枠及び担体バンドを有する。成形型枠は、溶融半導体材料を保持するよう側壁を有する構成とし、側壁のうちの出口側壁は、半導体材料薄片の産出位置に配置する。出口側壁には、出口スリットを設ける。成形装置は、さらに、出口スリットの位置で、溶融半導体材料に対して局部的な相対的に増大した、外力を加えて、前記出口スリットで溶融半導体材料に対する外圧を局部的に増大させる局部的力印加手段を備える。 (もっと読む)


異なる構造の薄膜(1)に対するアモルファス又は結晶性構造の結晶(3)の転移は、結晶に薄膜を適用し、それを結晶化するためにそれを焼き鈍しするための加圧(6)及び加熱(7)の組合せによって達成され得る。特徴的に、ブロック(5)は、薄膜を屈曲させ、組立体のクラックを開始し、圧力が取り除かれた際に薄膜を開放するように端部に配置され、それによって結晶(3)を取り除き又はそれを破壊するための複雑な方法を取り除く。この方法は、いくつかの膜に使用される結晶(3)が結晶化されることを可能にし、達成される良好な製造率を可能にし、費用を削減する。
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【課題】多種のオプトエレクトロニクスデバイスの製造工程におけるエピタキシャル成長用基板として使用される低転位の窒化物バルク単結晶およびその製造方法を提供する。
【解決手段】窒化ガリウムの六方格子のc軸に垂直な面の断面積が100mm以上、結晶の厚さが1.0μm以上、C面の表面転位密度は10/cm以下であり、またさらに加工可能な表面積が好ましくは100mm以上である非極性のA面あるいはM面プレートを少なくとも1つ作るのに十分な大きさがある窒化物バルク単結晶であって、その製法は、第一基板3を銀からなるマスク層4により部分的に覆うことにより横成長にさせやすい表面6を形成したあと、XIII族元素含有フィードストックをアンモニア含有超臨界溶媒に溶解させ、前記表面6上から横方向に成長が進行し、横方向成長の結果として、前記マスク層4上にガリウム含有窒化物のバルク単結晶7が形成される。 (もっと読む)


【課題】Naフラックス法によるGaN結晶育成において、雑晶の発生を抑制することができるIII族窒化物半導体結晶の製造方法、およびIII族窒化物半導体製造装置を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体製造装置は、窒素溶解手段10と、電磁ポンプ11と、配管12と、配管12に連結接続し、種結晶18が配置された育成用配管13と、育成用配管13の外側に配置された温度制御装置14aとを有している。窒素溶解手段10により窒素を溶解させた混合融液17は、電磁ポンプ11により配管12内を結晶しない温度、圧力で循環する。温度制御装置14aによる温度制御とバルブ12v1、v2による圧力制御によって育成用配管13内のみが結晶育成可能な状態にする。混合融液17が軸方向に流動した状態でGaN結晶が育成するため、雑晶の発生が抑制される。 (もっと読む)


【課題】ストロンチウムドープマンガン酸ランタン微粒子、その製造方法及び用途を提供する。
【解決手段】ストロンチウム、ランタン及びマンガン化合物の混合水溶液をアルカリ水溶液でpH6程度に調製し、亜臨界ないし超臨界状態の水を媒体として、380〜450℃で水熱反応させて、一次粒子径が50nm以下であり、結晶化度が高いストロンチウムドープマンガン酸ランタン微粒子を製造する。
【効果】固体酸化物燃料電池等で使用される電極材料等として利用可能な、高温処理を必要としない、高結晶性で、かつ粒子径が50nm以下のストロンチウムドープマンガン酸ランタン微粒子、その製造方法及びその応用製品を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】冷却設備を用いることなく容器を冷却し、高純度のアンモニアを高い精度で該容器に充填することができる液化アンモニアの充填方法を提供する。
【解決手段】凝縮器にガスアンモニアを供給する供給工程と、凝縮器においてガスアンモニアを液化アンモニアにする液化工程と、凝縮器において生じた液化アンモニアを容器に供給して、容器内に液化アンモニアを充填する充填工程と、容器への液化アンモニアの出入りを停止した状態で、アンモニア充填装置内に存在する総アンモニア量M1と容器以外のアンモニア充填装置内に存在するアンモニア量M2を求める計測工程と、計測工程において求めたM1とM2の差と、容器内への液化アンモニア予定充填量(MC)との差(M1−M2−MC)に相当する量の液化アンモニアを容器から排出する充填量調整工程と、を含むことを特徴とする液化アンモニアの充填方法。 (もっと読む)


【課題】OSCM分子からなる活性薄膜を高品質に且つ再現性の高い状態で成膜制御することにより、有機電子デバイス及び光電子工学デバイスの性能を向上させることが出来ると共に、前記薄膜をウエハー基板の直径が200mm〜300mm程度の大口径ウエーハにおいて成膜可能とし、工業的な規模での適用が可能な成膜形成を容易かつ低コストで実現することが出来る薄膜形成方法。
【構成】ステップa)薄膜形成の為に、一定量のOSCM分子を融解状態でキャリア表面に供給するステップ、及び
b)薄膜を凝固する為に、一定の温度プロファイルに基づいて冷却を行うステップ
からなり、
ステップa)を実施の際、キャリア表面の温度はOSCM分子の融点と一致するか、あるいは融点より高いことを特徴とし、
またステップb)は、以下の第1のパートと第2のパートからなる温度プロファイルに基づいて実施されることを特徴とするOSCM分子を用いた薄膜の形成方法。
−OSCM分子が冷却されて再結晶温度に近い温度となり、該OSCM分子における冷却速度は、融解状態の薄膜中に1つの種結晶のみが出現するのに十分な程度遅く設定される、OSCM分子の徐冷制御に対応する第1のパート、及び
−前記1つの種結晶を発端として少なくとも1つの単結晶領域が成長し、最終的には単結晶薄膜が得られる、OSCM分子の冷却制御に対応する第2のパート。 (もっと読む)


露出した{10−10}m面および露出した(000−1)窒素極性c面を有する多面体形状の窒化ガリウム結晶であって、露出した(000−1)窒素極性c面の表面積は10mmより大きく、露出した{10−10}m面の全表面積は(000−1)窒素極性c面の表面積の半分より大きいことを特徴とする窒化ガリウム結晶を提供する。GaNバルク結晶は、従来用いられているより高い温度と温度差で行う安熱法により、上方領域および下方領域をもつ高圧容器を有する耐圧窯を用いて成長された。高圧容器の下方領域の温度は550℃以上であり、高圧容器の上方領域の温度は500℃以上に設定され、下方領域および上方領域の間の温度差は30℃以上に保持される。c軸に沿って最長寸法を有し、露出した大面積のm面を有するGaN種結晶が用いられる。
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【課題】本発明は、ウェーハの周縁部まで均一に成膜することが可能な熱CVD方法および熱CVD装置を提供する。
【解決手段】熱CVD方法において、ウェーハw上に成膜を行うための反応室11内を、所定の圧力に制御し、所定の圧力に制御された反応室11に、上部より反応ガスを導入し、反応ガスをシャワーヘッド17において断熱膨張させることにより、反応ガスのガス流を加速させ、回転させながら加熱したウェーハw上に、加速された反応ガスのガス流を供給して、成膜を行う。 (もっと読む)


【課題】原料や種結晶としてリチウムガレートを用いることなく、水熱合成法によってリチウムガレート単結晶を得るリチウムガレート単結晶の製造方法、及びこの方法によって得られるリチウムガレート単結晶を提供する。
【解決手段】水酸化リチウム及び/又は炭酸リチウムを含んだアルカリ溶媒の存在下で、酸化ガリウム多結晶を原料にして、水熱合成法によりリチウムガレート単結晶を得るリチウムガレート単結晶の製造方法、及びこの方法によって得られたリチウムガレート単結晶である。 (もっと読む)


【課題】構造材料用セラミックス及び固体電解質として利用可能な高温処理を必要としない高結晶性かつ平均粒子径が10nm以下の正方晶安定化ジルコニア微粒子を提供する。
【解決手段】基本構造が一般式(1−x)ZrO・xY(式中のxは0.02〜0.1の数であり、YはSc,Y,Ybのいずれかを含む希土類金属である。)で表される安定化ジルコニア微粒子、及び、イットリウムなどの希土類金属イオンとジルコニウムイオンとの混合水溶液をアルカリ水溶液でpH8以上に調整し、亜臨界ないし超臨界状態の水を媒体として、300−400℃で短時間水熱反応させることにより製造してなる、一次粒子径が10nm以下であり、その粒子は残存水酸基が少なく、凝集のない、結晶化度が高い安定化ジルコニア微粒子。 (もっと読む)


【課題】ホウ化物単結晶の成長工程において不純物を除去し、結晶性に優れたホウ化物単結晶を製造することができるホウ化物単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】ホウ化物単結晶の製造方法は、浮遊帯域法により化学式XB(XはZr,Ti,Cr,Hf及びTaから選ばれる少なくとも1種である)で表されるホウ化物単結晶またはホウ化物多結晶から成る棒状体を、水素ガスを含む不活性ガスからなる雰囲気ガス9中で作製し、次に棒状体を原料棒6として用いて浮遊帯域法により化学式XB(XはZr,Ti,Cr,Hf及びTaから選ばれる少なくとも1種である)で表されるホウ化物単結晶を製造する。 (もっと読む)


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