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Fターム[4G077PF13]の内容

Fターム[4G077PF13]に分類される特許

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【課題】 メニスカス生成領域の水平面内での温度分布の改善と、メニスカスの好適な観察とを可能とする引下げ装置を提供する。
【解決手段】 導電性材料からなる第一の環状の部材と光透過性材料からなる第二の環状の部材との積層体からアフターヒータを構成して第二の環状の部材を第一の観察窓とし、保温用の筒状アウターリングには引下げ軸について水平面内で点対称となるように第二の観察窓を配置し、アウターリングを引下げ軸中心に回転させ、第一の観察窓と第二の観察窓とが整列した状態にあるときに撮像手段によるメニスカスの観察を行う。 (もっと読む)


【課題】ルツボ内の溶融液面において、育成中結晶の外周近傍から外側に向けて流れる離心流(外向流)を形成し、結晶の有転位化を抑制する。
【解決手段】単結晶Cを引き上げる際、前記単結晶とルツボ3とを互いに逆方向に回転させ、前記単結晶の回転速度を、該単結晶と溶融液との固液界面における結晶外周の周方向線速度が150mm/s以上となるように制御し、前記ルツボの回転速度を、0〜5rpmの間で制御することによって、前記溶融液の液面にルツボ中央側から外側に向けて流れる離心流を形成する。 (もっと読む)


【課題】結晶性に優れ、異なる直径の単結晶を容易に育成することができる単結晶製造装置等を提供する。
【解決手段】単結晶引き上げ装置1は、底部21の周囲から立ち上がる筒状の壁部22と、壁部22上に設けられ、中央部に開口23aを有する円板状の蓋部23とから構成され、アルミナ融液300を保持するるつぼ20と、るつぼ20を壁部22から加熱する上部ヒータ30と、るつぼ20の下方に設けられ、るつぼ20を底部21から加熱する下部ヒータ35と、アルミナ融液300からサファイアインゴット200を引き上げる引き上げ棒40と、上部ヒータ30に電力を供給する上部ヒータ電源90と、下部ヒータ35に電力を供給する下部ヒータ電源95とを備えている。 (もっと読む)


【課題】引上げ中に生じた予想し得ない外乱がヒータ温度に与える影響を抑制することが可能な半導体単結晶の引上げ方法及び引上げ装置を提供する。
【解決手段】予め設定された温度プロファイルに基づいてヒータ18を制御しながら半導体単結晶11を引上げる。ヒータ18の温度プロファイルの設定に寄与する過去の単結晶の引上げデータをデータベースに蓄積し、この過去の単結晶の引上げデータから次に引上げる単結晶のヒータの温度プロファイルを第1評価機能に基づいて評価する。第1評価機能に基づいて次に引上げる単結晶のヒータ18の温度プロファイルを引上げ前に修正し、この修正された温度プロファイルに基づいてヒータ18を制御しながら単結晶11を引上げる。単結晶11の引上げ中に所定の引上げ長毎に上記修正された温度プロファイルを更に自動修正しこの自動修正された温度プロファイルに基づいてヒータ18を制御しながら単結晶11を引上げる。 (もっと読む)


【課題】結晶育成時におけるタンタル酸リチウム単結晶の曲がりを抑制してその生産性が改善されたタンタル酸リチウム単結晶の育成方法を提供すること。
【解決手段】この育成方法は、坩堝3に収容された原料の溶融液10に種結晶8を接触させ上記種結晶を回転させつつ上方に引き上げることでタンタル酸リチウム単結晶11を育成する方法であって、タンタル酸リチウム単結晶の直胴部を育成するとき該単結晶の回転方向を5〜800分の一定間隔で反転させることを特徴とする。この育成方法によれば、結晶育成中におけるタンタル酸リチウム単結晶がX軸方向へ曲がる現象を抑制できるため、育成されたタンタル酸リチウム単結晶インゴットからウエハーを得る場合、直径不良のウエハーが発生し難くなる。従って、ウエハーの取得可能枚数を増大できるためウエハーの生産性が大幅に向上してコスト削減に寄与できる効果を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体単結晶の直径変動を低減し、その直径制御の操作量である引上げ速度の変動を抑制し、設定通りの半導体単結晶を引上げて、高品質な半導体単結晶を製造する。
【解決手段】半導体原料をヒータ18により融解してるつぼ13に半導体融液14を貯留し、予め設定された温度プロファイルに基づいてヒータ18を制御しながら半導体単結晶11を引上げる。ヒータ18の温度プロファイルの設定に寄与する過去の半導体単結晶11の引上げデータをデータベースに蓄積し、この過去の半導体単結晶11の引上げデータから次に引上げる半導体単結晶11のヒータ18の温度プロファイルを特定の評価機能に基づいて評価する。この特定の評価機能に基づいて次に引上げる半導体単結晶11のヒータ18の温度プロファイルを引上げ前に修正し、この修正された温度プロファイルに基づいてヒータ18を制御しながら半導体単結晶11を引上げる。 (もっと読む)


【課題】結晶形状の捩れを発生させること無く、且つフラットな成長界面でファセットの発生を抑制し、歪が無い長尺のガーネット結晶を再現性良く育成できる酸化物単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】炉体内のルツボに単結晶用原料を入れて加熱溶融した後、原料融液に種結晶を接触させて成長結晶を回転させながら引き上げる回転引き上げ法により酸化物単結晶を育成する酸化物単結晶の製造方法において、成長結晶の引き上げは、20rpm以下の初期回転速度(ω)で開始し、引き続き、成長結晶の結晶径を増大させ、結晶の界面反転を確認した後、回転速度(ω)を下記式(1)で示される範囲内に低下させて肩部を形成することを特徴とする酸化物単結晶の製造方法。ω×(L/L)>ω>ω×(L/L1/4・・・(1)(式中、ωは界面反転後の結晶の回転速度、ωは初期回転速度、Lは初期融液深さ、Lは育成中の融液深さである) (もっと読む)


【課題】シリコン単結晶の引上げ開始時点から引き上げ継続中まで、シリコン単結晶の引上げ工程の全域に渡って、シリコン融液の液面位置を正確に検出し、高品質な結晶特性をもつシリコン単結晶を製造することが可能なシリコン単結晶の製造装置、シリコン単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】引上げの初期段階では、第一の演算部24による、遮熱部材17の実像と鏡像との間隔に基づいてシリコン融液13の液面位置を設定し、シリコン単結晶が例えば直胴部に移行する段階で、今度は第二の演算部25に切り替えて、高輝度帯(フュージョンリング)FRの像に基づいてシリコン融液13の液面位置を設定する。 (もっと読む)


【課題】ネック部に拡径部と縮径部とを交互に形成して、品質の安定した単結晶を引き上げ可能とし、且つ、種結晶から直胴部への転位化を防止することのできる単結晶引上装置及び単結晶引上げ方法を提供する。
【解決手段】育成されるネック部の径を測定するネック径測定手段と、前記ネック径測定手段から得られたネック部の測定値と、記憶手段に予め記憶したネック部径の狙い値との差分に基づき、種結晶の補正された第一の引上速度を出力する第一の引上速度補正手段21,22と、前記第一の引上速度の上限を第一の制限値に制限した、第二の引上速度を出力する第二の引上速度補正手段23と、少なくとも前記引上速度の上限が前記第一の制限値に制限されている間、ルツボの回転数を低下させるルツボ回転数補正手段24,25とを備える。 (もっと読む)


【課題】変形及び転位が抑制され、且つテール部が省略されたシリコン単結晶を製造し得る、シリコン単結晶製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン単結晶製造方法は、磁場中心L2における磁束密度が1000ガウス以上2000ガウス以下である水平磁場を印加しつつシリコン単結晶2の直胴部4を成長させた後、融液32の液面に対するシリコン単結晶の相対的な引上げ速度を0mm/分にし、その後、シリコン単結晶の見かけの重量が減少するまで、その停止状態を維持し、さらに停止状態を維持して、融液に接するシリコン単結晶の成長面全体をシリコン単結晶の引上げ方向と反対方向に凸形状にした後、融液から単結晶を切り離す。 (もっと読む)


【課題】水平磁場印加チョクラルスキー法(HMCZ法)によるシリコン単結晶製造における種付け工程において、シリコン融液表面温度を安定して測定することで、適正な種付け温度に合わせることができ、絞りの失敗や不適正な絞りに起因するコーン育成時の有転位化を従来に比べて大幅に抑制することができ、これによって生産性を向上させることができるシリコン単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン単結晶の製造方法であって、種結晶をシリコン融液に着液する前に、予め二次元温度計によりシリコン融液表面温度分布を測定して融液表面温度が他の領域より低温となる低温領域となり得る範囲19を特定し、その後、放射温度計によってシリコン融液表面の表面温度を測定して測定温度により種結晶のシリコン融液3の着液時の融液温度を調節する際に、放射温度計による温度測定点を低温領域となり得る範囲19外に設定する。 (もっと読む)


【課題】成長方向(垂直方向)及び水平方向のいずれの部分においても結晶配向方位の傾きの小さいフッ化金属単結晶体の製造方法を提供する。
【解決手段】チョクラルスキー法などの坩堝中の原料溶融液面に上方から種結晶体を接触させ、該種結晶体と同じ結晶配向方位を有する結晶を成長させて、該種結晶体に由来する棒状部(a)、該棒状部よりも径の大きな円柱状の直胴部(b)、及び棒状部(a)と直胴部(b)とを繋ぐ拡径部(c)とを有する単結晶体を得るフッ化金属単結晶体の製造方法において、前記拡径部(c)の高さhと、直胴部(b)の直径rとの比h/rが0.35以下、好ましくは0.25以下となるように拡径部(c)を形成する。 (もっと読む)


【課題】育成中に有転位化が発生したシリコン単結晶から、ロス無く効率的に単結晶部を得ることができるシリコン単結晶の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ルツボ内の原料融液に種結晶を融着後、該種結晶を上方に引き上げてシリコン単結晶を育成するチョクラルスキー法によるシリコン単結晶の製造方法であって、シリコン単結晶の直胴部を育成中に有転位化が発生した場合、前記シリコン単結晶の直胴部の有転位化が発生した位置から引き上げ軸下方に、前記直胴部の直径の0.5倍以上で、かつ、前記直胴部の直径以下の長さの結晶をさらに引き上げて、該引き上げたシリコン単結晶を原料融液から切り離すシリコン単結晶の製造方法。 (もっと読む)


【課題】冷却体の冷却能を低下させることなく、シリコン単結晶の製造時におけるCOP等の結晶欠陥の低減を図ることができ、かつ、シリコン単結晶に転位が発生した場合でも、クラックや割れの発生を抑制することができるシリコン単結晶の製造方法及びそれに用いられるシリコン単結晶引上装置を提供する。
【解決手段】ルツボ14の外周囲に設けられ、ルツボ14を加熱するヒータ18と、ルツボ14の上方に設けられ、シリコン単結晶Igの外周を包囲し、シリコン単結晶Igへの輻射熱を遮蔽する熱遮蔽体20と、熱遮蔽体20とシリコン単結晶Igとの間の空間領域に設けられ、シリコン単結晶Igを冷却する冷却体60と、シリコン単結晶Igの転位の発生を評価する評価手段70と、を備え、評価手段70により転位の発生を確認した場合には、前記シリコン単結晶Igを昇温させるために、前記冷却体60を上昇させる。 (もっと読む)


【課題】他の結晶特性に影響することなくシリコン単結晶における巨視的ボイドの発生率をさらに減じる。
【解決手段】シリコンから成る単結晶9をるつぼ4に含まれた融液11から引き上げる方法において、引上げの間単結晶9は熱シールド2によって包囲されており、熱シールドの下端部3は融液の表面から所定の距離hに位置しており、ガス流10が、単結晶9と熱シールド2との間の領域を下方へ、熱シールド2の下端部3と融液11との間を外方へ、次いで熱シールド2の外側の領域において再び上方へ流れ、下端部3における熱シールド2の内径DHSが単結晶9の直径DSCよりも少なくとも55mmだけ大きく、下端部3における熱シールド2の半径方向幅BHSUが単結晶9の直径DSCの20%以下である。 (もっと読む)


【課題】特に多量のドーパントを添加した場合にあっても、結晶成長中のセル成長を未然に回避して低抵抗の単結晶シリコンを製造し得る手法について提案する。
【解決手段】チョクラルスキー法により単結晶シリコンを製造するに当たり、単結晶シリコンを引き上げ時における固液界面の高さを制御することによって、低抵抗率の単結晶シリコンを製造する。 (もっと読む)


【課題】酸化アルミニウムの融液からサファイア単結晶を成長させる際に、サファイア単結晶の尾部における凸状部の形成をより精密に抑制する。
【解決手段】肩部220は、種結晶210側から直胴部230側に向けて、徐々にその直径が拡大していく形状を有している。また、直胴部230は、上方から下方に向けてその直径Dがほぼ同じとなるような形状を有している。なお、直胴部230の直径Dは、所望とするサファイア単結晶のウエハの直径よりもわずかに大きな値に設定される。そして、尾部240は、上方から下方に向けて徐々にその直径が縮小していくことにより、上方から下方に向けて、尾部が凸状となる形状を有している。そして、尾部240の長さHと、直胴部230の直径Dとの比H/Dを、0.2≦H/D≦0.4とする。 (もっと読む)


【課題】ネック形成時の融液温度を、ネック部形成に適した温度となるよう適切に制御することによって、ネック部形成の成功率を向上させ、プロセスの効率化を図ったシリコン単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】チョクラルスキー法によるシリコン単結晶の製造方法であって、引き上げ工程は、所定の温度に設定された融液102に種結晶101を浸漬させた後、ネック部形成のための本引きを行う前に、ネック部を試し形成するためのネック試し引きを行うことを含み、このネック試し引きにより形成されたネック部の直径の変化およびネック試し引きの速度から、融液102の温度がネック部形成に適した温度であるかを判定する。 (もっと読む)


【課題】成長するシリコンインゴットの直径を正確に測定できるシリコンインゴットの成長を制御する方法及び装置を提供する。
【解決手段】カメラは成長するシリコンインゴットとシリコン融液との界面リングの画像を取得する。画像プロセッサは取得された画像から局所強度最大点を抽出し、次いで局所強度最大点を形成する画素の属性を含む画像データへデジタル化される。アナライザは、画像データを統計的に分析して、界面リングを統計的に再現する式のパラメータを導く。確率フィルタは、それぞれの画素が重み係数により重み付けされた式に対して統計分析を実行する。重み係数は界面リングを表さない画素により引き起こされるノイズの効果を弱める働きをする。統計分析は、更新されたパラメータを使用して繰り返して、ノイズの効果を徐々に弱めてシリコンインゴットの満足に正確な直径を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】歩留まりロスを十分に低減することができるシリコン単結晶の引き上げ方法を提供する。
【解決手段】融液中に種子結晶を浸漬し、前記種子結晶を前記融液から結晶引き上げ速度で引き上げることにより種子結晶に接する箇所で単結晶を結晶化させ、前記単結晶の直径を円錐部の形で目標直径にまで拡大することを有する坩堝中に含まれている融液からシリコン単結晶を引き上げる方法において、前記円錐部において前記単結晶の成長フロントの湾曲の反転が生じるように前記結晶引き上げ速度を制御することを有する、単結晶の引き上げ方法 (もっと読む)


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