【課題】バリア金属層に電極金属層からの引っ張り応力等の応力が作用した場合においても、この応力がバリア金属層に局部的に集中するのを緩和することができ、逆方向電流（ＩＲ）を小さくすることができるショットキーバリアダイオード及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のショットキーバリアダイオード（ＳＢＤ）１１は、シリコン基板２の表面２ａにトレンチ３が形成され、このトレンチ３の内面に絶縁膜１２が形成され、この絶縁膜１２が形成されたトレンチ３内に導電体１３が埋め込まれ、シリコン基板２、絶縁膜１２及び導電体１３を覆うようにバリア金属層１４が形成され、バリア金属層１４のうち導電体１３の凹面１３ａの周縁部近傍上の領域に緩衝層１５が形成されている。 （もっと読む）

【課題】電界効果トランジスタにおいて、フィールドプレート終端での高電界の集中を緩和し、もって高耐圧半導体装置として利用可能とする。
【解決手段】本電界効果トランジスタ３０は、ＧａＮ系エピタキシャル基板３２の電子走行層上に、ゲート電極３８を挟んで配置されたソース電極３４及びドレイン電極３６を備え、ゲート電極３８及びソース電極３４はドレイン電極３６を囲み、ソース電極３４の上部に、ゲート電極３８の上方を通過してドレイン電極３６側に庇状に突き出したフィールドプレート１７０が形成され、ＧａＮ系エピタキシャル基板３２の表面層とフィールドプレート１７０との間に、誘電体膜４６が形成され、誘電体膜４６は、フィールドプレート１７０の直下領域においてフィールドプレート終端面と面一状態となるように切れ込み、その下端からドレイン電極３６に接続するようにドレイン電極３６に向かって延びている。 （もっと読む）

【課題】所望のパターンが形成でき、製造工程の迅速化を図ることが可能なパターン形成方法を提供する。
【解決手段】本実施形態のパターン形成方法は、下地１０の上に第１の膜１１を選択的に形成する工程と、前記第１の膜１１および前記第１の膜に覆われていない前記下地１０の上に、第２の膜１３を形成する工程と、前記第２の膜１３の平均結晶粒径を前記第２の膜１３の膜厚以上に調整する工程と、前記第１の膜１１のエッチャントを前記第２の膜１３の表面に晒し、前記第１の膜１１の上に形成された前記第２の膜１３を前記下地上から選択的に除去する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】隣接する膜パターンの間隔を制御することが可能なパターン付基板の作製方法を
提供する。また、膜パターンの幅の制御が可能で、特に、幅が細く且つ厚みのあるパター
ン付基板の作製方法を提供する。また、アンテナのインダクタンスのバラツキが少なく、
起電力の高い導電膜を有する基板の作製方法を提供することを課題とする。また、歩留ま
り高く半導体装置を作製する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】基板、絶縁膜又は導電膜上に珪素及び酸素が結合し且つ前記珪素に不活性な
基が結合する膜を形成した後、珪素及び酸素が結合し且つ前記珪素に不活性な基が結合す
る膜表面に印刷法を用いて組成物を印刷し、組成物を焼成して膜パターンを形成すること
を特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 表面保護膜中へのホットキャリアの侵入に起因する半導体装置の出力低下を抑制すること。
【解決手段】 本半導体装置１００は、窒化ガリウム系半導体からなる電子走行層１２と、電子走行層１２上に設けられ、窒化ガリウム系半導体からなる電子供給層１６と、電子供給層１６上に設けられ、窒化ガリウムからなるキャップ層１８と、キャップ層１８上に設けられたゲート電極２４と、電子供給層１６上にゲート電極２４を挟んで設けられたソース電極２０及びドレイン電極２２と、キャップ層１８上に設けられた表面保護膜３０と、キャップ層１８と表面保護膜３０との間に介在し、少なくともゲート電極２４とドレイン電極２２との間の領域に設けられたＡｌ_ｘＧａ_１−ｘＮ（０．５≦ｘ≦１）からなるバリア層５０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ゲート電極とソース電極との間のゲート寄生容量成分Ｃｇｓを低減することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板１１上に形成された動作層１２と、この動作層１２の表面上に、互いに離間して形成されたドレイン電極１３およびソース電極１４と、動作層１２の表面上において、ドレイン電極１３とソース電極１４との間に形成されたゲート電極１５と、動作層１２の表面上において、ドレイン電極１３とソース電極１４との間に、ゲート電極１５を覆うように形成された表面保護膜１９と、表面保護膜１９の表面上であって、少なくともゲート電極１５のドレイン側端部上を含む位置に形成されたソースフィールドプレート電極２０と、ソースフィールドプレート電極２０に接続されるとともに、ソース電極１４に電気的に接続され、これらの電極２０、１４のよりも狭い幅で表面保護膜１９上に形成された複数の配線２１を具備する。 （もっと読む）

【課題】ＭＯＳ型デバイスのゲート絶縁膜の破壊を防止すると共に、信頼性を向上させた、窒化物系半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】ドレイン電極２６とゲート電極２８との間に設けられたＳＢＤ金属電極３０がＡｌＧａＮ層２０とショットキー接合されている。また、ＳＢＤ金属電極３０とソース電極２４とが接続されており、電気的に短絡している。これにより、ゲート電極２８にオフ信号が入ると、ＭＯＳＦＥＴ部３２がオフ状態となり、ＭＯＳＦＥＴ部３２のドレイン側の電圧がドレイン電極２６の電圧値と近くなる。ドレイン電極２６の電圧が上昇すると、ＳＢＤ金属電極３０の電圧値が、ＭＯＳＦＥＴ部３２のドレイン側の電圧値よりも低くなるため、ＳＢＤ金属電極３０によってＭＯＳＦＥＴ部３２のドレイン側とドレイン電極２６とが電気的に切断される。 （もっと読む）

【課題】ゲートリーク電流の増加が抑制された信頼性の高い電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】 ゲート電極は、第１金属層１６および第２金属層１７を含み、
第２金属層１７は、第１金属層１６よりも導電率が高く、
第１金属層１６の上方に、第２金属層１７が積層され、
ソース電極１８およびドレイン電極１９は、半導体層１２〜１４上にオーム性接触し、
ゲート電極は、ソース電極１８およびドレイン電極１９の間に配置され、かつ、第１金属層１６により半導体層上にショットキー性接触し、
半導体層上におけるソース電極１８およびゲート電極の間、ならびに、ゲート電極およびドレイン電極１９の間は、絶縁膜１５Ａにより覆われ、
かつ、
第２金属層１７下面の全体が第１金属層１６上面の上方に重なっているか、または、第１金属層１６の厚みが絶縁膜１５Ａの厚み以上であることを特徴とする電界効果トランジスタ。 （もっと読む）

【課題】不良を抑制しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。または、良好な特性を維持しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。
【解決手段】平坦な表面に第１の絶縁膜を形成し、第１の絶縁膜上に第１のマスクを形成し、第１のマスクにスリミング処理を行うことにより、第２のマスクを形成し、第２のマスクを用いて第１の絶縁膜にエッチング処理を行うことにより、第２の絶縁膜を形成し、第２の絶縁膜を覆うように第１の導電膜を形成し、第１の導電膜および第２の絶縁膜に研磨処理を行うことにより、等しい厚さの第３の絶縁膜、ソース電極およびドレイン電極を形成し、第３の絶縁膜、ソース電極およびドレイン電極上に酸化物半導体膜を形成し、酸化物半導体膜上にゲート絶縁膜を形成し、ゲート絶縁膜上の第３の絶縁膜と重畳する領域にゲート電極を形成する半導体装置の作製方法である。 （もっと読む）

【課題】裏面電極／半導体基板の間のエネルギー障壁が低く、半導体デバイスのオン抵抗が低減され、裏面電極の露出面の耐腐食性が良好で、かつ、裏面電極と半導体基板との密着性が良好で、裏面電極の材料コストを抑えることが可能な半導体デバイスを提供する。
【解決手段】裏面電極３００は、Ｓｉ基板１０１側から順にＴｉシリサイド層３０１とＴｉ層３０２とＮｉ層３０３とＡｇ層３０４とＡｕ層３０５とが積層された積層構造、又はＳｉ基板１０１側から順にＴｉシリサイド層３０１とＮｉ層３０３とＡｇ層３０４とＡｕ層３０５とが積層された積層構造を有する。裏面電極３００は、Ｓｉ基板１０１にＴｉ層３０２とＮｉ層３０３とＡｇ層３０４とを順次成膜した後にシンター処理を行ってＴｉシリサイド層３０１を生成し、その後Ａｕ層３０５を成膜して製造されたものであることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】不良を抑制しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。
【解決手段】平坦な表面上に絶縁膜を形成し、絶縁膜上にマスクを形成し、マスクにスリミング処理を行い、マスクを用いて絶縁膜にエッチング処理を行い、絶縁膜を覆うように導電膜を形成し、導電膜および絶縁膜に研磨処理を行うことにより、導電膜および絶縁膜の厚さを等しくし、導電膜をエッチングして、導電膜より厚さの小さいソース電極およびドレイン電極を形成し、絶縁膜、ソース電極、およびドレイン電極と接する酸化物半導体膜を形成し、酸化物半導体膜を覆うゲート絶縁膜を形成し、ゲート絶縁膜上の絶縁膜と重畳する領域にゲート電極を形成する。 （もっと読む）

【課題】耐圧向上や短チャンネル効果の抑制を可能とする半導体装置およびその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明にかかる半導体装置は、半導体基板であるＳｉＣ基板１上に形成された、バッファ層２と、バッファ層２上に形成された、バッファ層２よりもバンドギャップが小さいチャネル層３と、チャネル層３上に形成された、チャネル層３よりもバンドギャップが大きいバリア層４と、バリア層４上に互いに離間して形成された、ソース、ドレイン電極７、８と、ソース、ドレイン電極７、８下から、バリア層４を通ってチャネル層３中にそれぞれ達する、不純物領域５とを備え、不純物領域５の下端は、バッファ層２に達しない。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体層を用い、電気特性の優れた薄膜トランジスタを備えた半導体装置
を提供することを課題の一とする。また、同一基板上に複数種類の薄膜トランジスタの構
造を作製して複数種類の回路を構成し、増加する工程数が少ない半導体装置の作製方法を
提供することを課題の一とする。
【解決手段】絶縁表面上に金属薄膜を成膜した後、酸化物半導体層を積層し、その後、加
熱処理などの酸化処理を行うことで金属薄膜の一部または全部を酸化させる。また、論理
回路などの高速動作を優先する回路と、マトリクス回路とで異なる構造の薄膜トランジス
タを配置する。 （もっと読む）

【課題】閾値電圧の絶対値及びヒステリシスが小さい有機薄膜トランジスタを製造しうる有機薄膜トランジスタ絶縁層用樹脂組成物を提供すること。
【解決手段】本発明の有機薄膜トランジスタゲート絶縁層用樹脂組成物は、フッ素原子を含む基を有する繰り返し単位を有する高分子化合物（Ａ）、及びフッ素樹脂である活性水素化合物（Ｂ）を含有する。 （もっと読む）

【課題】透明性、導電性且つ生産後のロール状態での保存性が良好な有機電子デバイス用電極の提供。
【解決手段】透明基材上に、導電性の金属細線パターンと、導電性ポリマー層を設けた有機電子デバイス用電極において、該金属細線パターンの金属細線の厚みをａとし、開口部における該導電性ポリマー層の厚みをｂとしたとき、以下式１〜式３で表される条件を満たし、且つ、導電性ポリマー層がπ共役系導電性高分子とポリアニオンとを含んでなる導電性ポリマーおよび下記ポリマー（Ａ）を有する有機電子デバイス用電極。０．２≦ａ≦２．０（式１）０．２≦ｂ≦２．０（式２）−０．２≦ｂ−ａ≦１．８（式３）
（もっと読む）

【課題】任意の方向に傾斜した開口部を形成可能な基板の製造方法、半導体装置の製造方法、およびこれを適用した半導体装置を備えた電気光学装置を提供すること。
【解決手段】本適用例の素子基板１０１の製造方法は、素子基板１０１上に設けられた半導体装置としてのＴＦＴ１１０を覆うと共に第１開口部としての孔１０４ａが設けられた第２絶縁膜としての層間絶縁膜１０４をマスクとして、素子基板１０１の面法線１０１ａと交差する一の方向からドライエッチングを第１絶縁膜としてのゲート絶縁膜１０３に施して、孔１０４ａに連通すると共にＴＦＴ１１０のドレイン電極１１０ｄに開口する第２開口部としての孔１０３ａを形成する。 （もっと読む）

【課題】ヘテロ接合バイポーラトランジスタのエミッタメサがより正確に形成できるようにする。
【解決手段】第１エミッタ電極１０７ｂの側部には、例えば酸化シリコンからなる庇部１０８が形成され、また、少なくともキャップ層１０６を含んで構成されたエミッタメサの露出している側面から庇部１０８の下部の領域のレッジ構造部１０５ａにかけて形成された、例えば窒化シリコンからなる被覆層１０９が形成されている。被覆層１０９が、庇部１０８の側面，庇部１０８の下面，エミッタメサの側部，およびレッジ構造部１０５ａの上にかけて形成されている。 （もっと読む）

【課題】ＩＧＢＴにおいて、Ｐ型コレクタ層におけるキャリア濃度の変化を抑制し、オン電圧のばらつきを低減可能な技術を提供することを目的とする。
【解決手段】半導体装置は、表面側にＭＯＳＦＥＴ構造１が形成されたＮ型半導体基板２と、Ｎ型半導体基板２の裏面に形成されたＰ型コレクタ層４とを備える。そして、Ｐ型コレクタ層４上にストライプ状に互いに離間して形成された、ＡｌとＳｉとのＡｌ合金からなるＡｌＳｉ電極７ａを含む積層構造の裏面電極７を備える。 （もっと読む）

【課題】半導体基板上の金属電極と半導体基板の界面に、現像残渣のない半導体装置を提供すること。
【解決手段】半導体基板上に、金属電極が設けられた半導体装置であって、金属電極は、半導体基板の上面視において、細線部と、細線部の電極の長手方向の両端に太線部と、細線部から太線部へ向けて線幅が漸増する線幅漸増部とからなり、細線部の側面と線幅漸増部の側面の境界領域に、曲率を有す円弧が付けられた形状であることを特徴とする半導体装置。 （もっと読む）

【課題】本発明は、高精細なパターニングが可能なパターン形成体の効率的な製造方法を提供することを主目的とする。
【解決手段】本発明は、基板上に形成され、表面が疎水性を示す疎水性層上にフォトレジストパターンを形成するフォトレジストパターン形成工程と、上記フォトレジストパターンが形成された上記疎水性層の表面にエネルギーを照射して親水化し、親水性領域を形成する親水化工程と、上記フォトレジストパターンを剥離し、上記疎水性層表面に、上記親水性領域と上記親水化工程にて上記フォトレジストパターンで覆われていた疎水性領域とがパターン状に形成された親疎水パターンを形成するフォトレジストパターン剥離工程とを有することを特徴とするパターン形成体の製造方法を提供することにより、上記目的を達成する。 （もっと読む）