【課題】本発明は、有機高分子等の半導体薄膜形成材料が単結晶でなく、多結晶であっても、印刷方法により金属電極上に安定で良好な有機半導体薄膜を簡便に形成することができ、性能の優れた有機半導体素子を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明の金属電極は、下記式（１）で表される化合物を含有する溶液を用いて形成された表面処理層を有することを特徴とする。
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【課題】メモリ素子及びその動作方法を提供する。
【解決手段】メモリセルを含み、該メモリセルは、バイポーラメモリ要素及び双方向スイッチング要素を含み、該双方向スイッチング要素は、該バイポーラ・メモリ要素の両端に連結され、該双方向スイッチング要素は、第１スイッチング要素及び第２スイッチング要素を含み、該第１スイッチング要素は、該バイポーラ・メモリ要素の一端に連結され、第１スイッチング方向を有することができ、該第２スイッチング要素は、該バイポーラ・メモリ要素の他端に連結され、第２スイッチング方向を有することができ、該第２スイッチング方向は、該第１スイッチング方向に反対方向でありうる。 （もっと読む）

【課題】高耐圧半導体素子の層間絶縁膜とその上層に形成される金属膜との密着性を向上させた高耐圧半導体素子の製造方法及びその構造を提供する。
【解決手段】半導体基板1の表面にＭＯＳ部２を形成し、このＭＯＳ部２を有する前記半導体基板上に層間絶縁膜３を形成し、前記層間絶縁膜上にシリコン膜４を形成し、所定温度の酸化雰囲気内で、成膜した前記シリコン膜４を酸化させて酸化シリコン膜５を形成し、前記酸化シリコン膜５及び前記層間絶縁膜３を貫通する開口を形成し、前記酸化シリコン膜上と前記開口内に金属膜６を被着させ、かつ該金属膜６の上層に電極膜７を形成する、各工程を有する。 （もっと読む）

【課題】高耐圧でかつ低オン電圧動作が可能な窒化物系ダイオードを提供する。
【解決手段】窒化物系ダイオード１０は、シリコン基板１１の（１１１）面上に形成されたバッファ層１２と、アンドープのＧａＮからなるチャネル層１３と、チャネル１３層上に形成されたアンドープのＡｌＧａＮからなる電子供給層１４と、電子供給層１４上に形成されたカソード電極１５およびアノード電極１６とを備える。窒化物系ダイオード１０はさらに、電子供給層１４を、チャネル層１３に達する深さまで部分的に除去したメサ１８を備え、メサ１８の一方の側面部１８ａにアノード電極１６が接触している。アノード電極１６がメサ１８の側面部１８ａに接触することで、アノード電極１６と２次元電子ガス層１７とが電気的に接続されている。 （もっと読む）

【課題】 スイッチング速度の低下やオン抵抗の増大を抑制しつつ、オフ耐圧を改善可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】
半導体層１１および１２は、基板１０上に形成され、第１の電極１０１、第２の電極１０２および絶縁膜１４は、それぞれ、半導体層１１および１２上に形成され、絶縁膜１４は、第１の電極１０１と第２の電極１０２との間に配置され、フィールドプレート電極１７Ａおよび１７Ｂは、複数であり、かつ、絶縁膜１４上に点在し、第１の電極１０１および第２の電極１０２は、半導体層１１および１２を介して電気的に接続されており、前記第１の電極と前記第２の電極との間の電圧印加時における電流の方向と垂直方向の各フィールドプレート電極の長さ、および、前記電流の方向と垂直方向に隣接する各フィールドプレート電極間の距離が、それぞれ、第１の電極１０１と第２の電極１０２との間の距離以下であることを特徴とする半導体装置。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体を用いた整流特性の良い非線形素子（例えば、ダイオード）を提供する。
【解決手段】水素濃度が５×１０^１９／ｃｍ^３以下である酸化物半導体を有する薄膜トランジスタにおいて、酸化物半導体に接するソース電極の仕事関数φｍｓと、酸化物半導体に接するドレイン電極の仕事関数φｍｄと、酸化物半導体の電子親和力χが、φｍｓ≦χ＜φｍｄの関係になるように構成する。また、薄膜トランジスタのゲート電極とドレイン電極を電気的に接続することで、さらに整流特性の良い非線形素子を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】製造コストを低く、炭化珪素基板の裏層部に、電極形成用の複数の溝を形成する半導体素子の製造技術を提供する。
【解決手段】炭化珪素基板１３の裏層部の転移の存在する箇所に対応して、複数のエッチピット２４をウエットエッチングにより形成する。炭化珪素基板とオーミック接触するカソード電極３２をスパッタ法により形成する。炭化珪素基板１３の表層部にｐ層１６を形成し、アノード電極３４をスパッタ法により形成し、ジャンクション・バリア・ショットキーダイオードとする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、歩留まりを向上できる半導体素子の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る半導体素子の製造方法は、半導体基板上に第１の絶縁膜を形成する工程と、前記第１の絶縁膜の一部をエッチングして複数段の段部を形成する工程と、前記第１の絶縁膜上に前記段部を覆うように導電層を形成する工程と、前記導電層の前記段部を覆う部分をエッチングする工程と、を備えることを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】 窒化物半導体に対するコンタクト抵抗が低い電極を有する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 窒化物半導体層上に炭素を含有する炭素含有層を形成する炭素含有層形成工程Ｓ４と、炭素含有層上にチタンを含有するチタン含有層を形成するチタン含有層形成工程Ｓ６を有する半導体装置の製造方法。チタン含有層と窒化物半導体層との間にＴｉＮとＴｉＣの全率固溶体Ｔｉ（Ｃ，Ｎ）の層が形成される。これにより、チタン含有層が、その境界部全体で窒化物半導体層に対してオーミック接続される。 （もっと読む）

【課題】より効率良く光学装置を製造できる光学装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】 複数の光学素子１を備える光学素子シート６を、配線パターン３が形成された基板シート７に接合する工程と、上記接合する工程の後に、光学素子シート６を切断することにより、複数の光学素子１どうしを分離する工程と、上記接合する工程の後に、基板シート７を切断することにより、光学素子１と接合している配線基板を形成する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】酸化ガリウム基板上の半導体層と酸化ガリウム基板の主面との界面におけるオフセット電圧を低減可能な窒化物系半導体素子を提供する。
【解決手段】III族窒化物結晶層１５は、酸化ガリウム基板１３の主面１３ａを覆う。III族窒化物結晶層１５は、III族構成元素としてアルミニウムを含むと共にアルミニウム以外の少なくとも２種の構成元素を含むIII族窒化物からなる。半導体積層１７は、窒化ガリウム半導体層２５を含む。第１の電極１９は、半導体積層１７の主面１７ａ上に設けられる。第２の電極２１は、酸化ガリウム基板１３の裏面１３ｂ上に設けられる。III族窒化物結晶層１５のバンドギャップＥ（１５）は窒化ガリウム半導体層のバンドギャップＥ（ＧａＮ）より大きい。III族窒化物結晶層１５のバンドギャップＥ（１５）は４．８エレクトロンボルトより小さい。 （もっと読む）

【課題】耐圧を向上できる半導体装置および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、ＧａＮ層１０と第１の絶縁層１３と第２の絶縁層１４と電極層とＦＰ電極１７とを備えている。ＧａＮ層１０は、高欠陥領域１０ａと、高欠陥領域１０ａよりも欠陥密度の低い低欠陥領域１０ｂとを含み、主表面１０ｃを有する。第１の絶縁層１３は、ＧａＮ層１０の主表面１０ｃにおける高欠陥領域１０ａを覆うように形成されている。第２の絶縁層１４は、ＧａＮ層１０の主表面１０ａにおける低欠陥領域１０ｂの上に形成され、開口部が形成されている。電極層は、開口部の内部に、ＧａＮ層１０の主表面１０ａに接触するように形成されている。ＦＰ電極１７は、電極層に接続するとともに、第２の絶縁層１４に重なるように形成されている。第１の絶縁層１３の厚みＨ１３は、第２の絶縁層１４の厚みＨ１４よりも大きい。 （もっと読む）

半導体ｐ−ｉ−ｎダイオードおよび半導体ｐ−ｉ−ｎダイオードを形成する方法を開示する。一形態において、一の導電型（ｐ＋またはｎ＋の一方）を有するようにドープされた領域と、ｐ−ｉ−ｎダイオードへの電気コンタクトの間に、ＳｉＧｅ領域が形成される。ＳｉＧｅ領域は、コンタクト抵抗を低減する働きをすることができ、順バイアス電流を増加させることができる。ドープされた領域は、ドープされた領域がＳｉＧｅ領域とダイオードの真性領域との間に存在するように、ＳｉＧｅ領域の下方を伸びている。ｐ−ｉ−ｎダイオードは、シリコンから形成することができる。ＳｉＧｅ領域の下方のドープされた領域は、付加されたＳｉＧｅ領域によって逆バイアス電流が増加することを防止する働きをすることができる。一実施形態では、メモリアレイ内の上向きのｐ−ｉ−ｎダイオードの順バイアス電流が、下向きのｐ−ｉ−ｎダイオードの順バイアス電流に実質的に一致するように、ＳｉＧｅは形成される。これらのダイオードが３Ｄメモリアレイの読み出し／書き込み材料に用いられた場合に、より良いスイッチング結果を達成することができる。
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【課題】応答特性を向上できる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、ＧａＮ層１０と第１および第２の絶縁層１３、１４と電極層とＦＰ電極１７とを備える。ＧａＮ層１０は、高欠陥領域１０ａと、高欠陥領域１０ａよりも欠陥密度の低い低欠陥領域１０ｂとを含み、主表面１０ｃを有する。第１の絶縁層１３は、ＧａＮ層１０の主表面１０ｃにおける高欠陥領域１０ａを覆うように形成される。第２の絶縁層１４は、ＧａＮ層１０の主表面１０ａにおける低欠陥領域１０ｂの上に形成され、開口部が形成される。電極層は、開口部の内部に、ＧａＮ層１０の主表面１０ａに接触するように形成される。ＦＰ電極１７は、電極層に接続するとともに、第２の絶縁層１４に重なるように形成される。第１の絶縁層１３は、第２の絶縁層１４を構成する材料の誘電率よりも小さい誘電率を有する材料を含む。 （もっと読む）

【課題】Ｔａ−Ｗ系スパッタリングターゲットにおいて、面内の抵抗ばらつきが小さいと共に、下地膜との密着力に優れたＴａ−Ｗ合金膜を再現性よく得ることを可能にする。
【解決手段】Ｔａ−Ｗ系スパッタリングターゲットは、０．０５〜２質量％の範囲のＷを含有し、残部が実質的にＴａからなると共に、ターゲット全体としてのＷ含有量のばらつきが±２０％以内とされている。このようなＴａ−Ｗ系スパッタリングターゲットを用いて成膜したＴａ−Ｗ合金膜は、例えばＴＦＤ素子１の第１の電極３に適用される。ＴＦＤ素子１は第１の電極３／陽極酸化膜４／第２の電極５によるＭＩＭ構造を有し、液晶表示装置のスイッチング素子等に適用される。 （もっと読む）

【課題】順方向バイアスに対する順方向電流の特性を向上させた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、第１導電型の半導体層と、該半導体層の表面に所定の離間間隔を有して設けられた第２導電型の半導体領域と、該半導体層及び該半導体領域の表面上に設けられた金属層とを備え、該金属層は、前記半導体層との界面においてショットキー障壁を成し、前記半導体領域との界面においてオーミック接触を成す半導体装置において、前記第１半導体領域の横幅寸法は、前記半導体領域が隣接する前記ショットキー障壁の影響を受ける距離である。 （もっと読む）

【課題】耐圧特性を改善した半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板に形成された第１電極と、該第１電極の周囲に形成された環形状の第２電極と、該第１電極及び該第２電極に接続された抵抗体とを備える。前記抵抗体は、前記第１電極の周囲に渦巻き形状に配置されると共に、前記第２電極近傍の外周側の渦巻きの間隔が、前記第１電極に接続する内周側の渦巻きの間隔よりも広く配置されている。 （もっと読む）

【課題】 小型であるとともに、逆電流耐量が高い半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置であって、半導体基板１２と、半導体基板１２の上面に形成されている第１電極３０と、半導体基板の下面に形成されている第２電極３２とを有する。半導体基板１２は、第１導電型であり、第１電極３０とオーミック接続されている第１半導体領域２０と、第２導電型であり、第１半導体領域２０の下側に形成されており、第２電極３２とオーミック接続されている第２半導体領域２２、２４と、半導体基板１２の上面を含む範囲において第１半導体領域２０の周囲に形成されており、第１電極３０とオーミック接続されていない耐圧領域１６を有している。第１電極３０と第１半導体領域２０がオーミック接続されているコンタクト部５０に、半導体基板１２を上面側から平面視したときにコンタクト部５０が耐圧領域１６側に突出している凸部５０ａが形成されていることを特徴とする半導体装置。 （もっと読む）

【課題】終端構造の耐圧を向上させることにより、高耐圧なＳｉＣ半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、炭化珪素を含む第１エピタキシャル成長層２０と、第１エピタキシャル成長層２０の表層部に設けられた終端構造３０と、終端構造３０の上に設けられ、炭化珪素を含む第２エピタキシャル成長層４０と、第２エピタキシャル成長層４０の上に設けられた絶縁層５０とを備える。 （もっと読む）

【課題】機械的強度やチップ・クラックによる歩留の低下を抑制し、オン抵抗やパッケージ実装状態における熱抵抗が低い半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１と、半導体基板１の主面上に形成された半導体層３と、半導体基板１の裏面上に形成されたオーミック電極１２と、オーミック電極１２を介して半導体基板１の裏面上に形成され、半導体基板１よりも熱伝導率の高い金属材料からなる裏面電極１３とを備え、半導体基板１の裏面の一部には凹部１ａが形成され、裏面電極１３は、オーミック電極１２を介して、半導体基板１の裏面における凹部１ａの内部を埋め、半導体基板１の裏面において凹部１ａ以外の領域の少なくとも一部を覆っている。 （もっと読む）