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Fターム[4M112CA27]の内容

圧力センサ (26,807) | 素子の構造 (8,535) | ビーム(梁)型、重錘型素子 (4,892) | 抵抗 (420)

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【課題】低背小型化しても実装後の検出感度を高く維持することができる加速度センサ装置を提供する。
【解決手段】重り部11と、重り部11を囲繞する枠状の固定部13と、一方端が固定部13に連結され、且つ他方端が重り部11に連結される梁部12と、梁部12に設けられる抵抗素子15と、を有するセンサ素子20と、センサ素子20が載置される基板1と、固定部13の下面と基板1の上面との間に複数箇所に分かれた状態で介在され、センサ素子20と基板1とを複数箇所で接合する接着剤8と、を備え、固定部13の下面には、接着剤8が付着する領域を囲むようにして溝部7が設けられている (もっと読む)


【課題】カバー板を備えた半導体センサの製造方法において、ウェハ状態でカバーウェハを搭載した後にカバーウェハを加工して電極パッドを露出させる際にカバーウェハの詳細な位置合わせを必要とせず、かつ、配線パターン及び電極パッドの損傷及びカバーウェハの残渣物の発生を防止する。
【解決手段】複数の半導体センサ領域を備え半導体センサ領域にセンサ部28及び電極パッド16が形成された半導体ウェハ2d上に少なくとも電極パッド16に対応する位置に凹部24bをもつカバーウェハ24aを搭載する(A)。カバーウェハ24aの半導体ウェハ2dとは反対側の面を研削又は研磨することによりカバーウェハ24aの厚みを薄くするとともに凹部24bの底部を開口させて電極パッド16を露出させる(B)。半導体センサ領域を半導体ウェハ2dから切り出して半導体センサ1を固片化する(C) (もっと読む)


【課題】ピエゾ抵抗部とそのコンタクトホールとのアライメント精度を向上させる。
【解決手段】半導体層の表面に絶縁層を形成し、前記絶縁層に複数のコンタクトホールを形成し、前記コンタクトホールが形成された前記絶縁層の表面に通孔を有する保護膜を形成し、前記通孔から露出している前記絶縁層を貫通させて前記半導体層に不純物を注入することにより複数の前記コンタクトホールの間にピエゾ抵抗部を形成する、ことを含むMEMS製造方法。 (もっと読む)


【課題】感度が高く感度の温度依存性が低いMEMSを提供する。
【解決手段】シリコンウエハの2つの主面の一方側からの加工により、可撓部と前記可撓部の変形または変位を検出するための検出手段とを形成し、前記シリコンウエハの2つの前記主面の他方に所定の金属材料に比べて前記シリコンウエハに熱膨張係数が近い連結材料からなる第二ウエハを直接接合し、前記第二ウエハをエッチングすることにより環状の間隙を形成するとともに前記間隙に囲まれ前記連結材料からなる連結部を形成し、前記間隙に表れる前記シリコンウエハの前記他方の主面と前記第二ウエハの端面とに犠牲膜を形成し、前記連結部および前記犠牲膜の表面に前記金属材料を堆積させることにより前記金属材料からなる錘部を形成する、ことを含むMEMS製造方法。 (もっと読む)


【課題】 本発明によれば製造コストを抑え、かつ信頼性の高い物理量センサ及びその製造方法を提供することができる。
【解決手段】 本発明に係る物理量センサの製造方法は、半導体基板上に開口を有するマスクを形成する工程と、前記開口により露出した前記半導体基板に、熱拡散法により複数のピエゾ抵抗素子を形成する工程と、前記ピエゾ抵抗素子を形成した後、前記マスクを除去する工程と、前記半導体基板上に、前記ピエゾ抵抗素子の少なくとも一部を覆う絶縁層を形成する工程と、前記ピエゾ抵抗素子の形成領域内における前記絶縁層を開孔してコンタクトホールを形成する工程と、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】単一の応力センサを備える半導体装置において、検出できる応力の範囲を広げる。
【解決手段】中空かつ上面が開放された形状の外郭部BDと、外郭部BD内に配置された厚肉の錘部WGと、外郭部BD内において錘部WGを梁状に支えるように、外郭部BDと錘部WGとを連結する薄肉の可撓部DFと、錘部WGと可撓部DFとの境界または外郭部BDと可撓部DFとの境界に配置されたピエゾ素子PD1と、錘部WGの表面に配置され、外部からの給電により帯電される第1電極板EP1と、外郭部BDの内部に配置され、外部からの給電により帯電される第2電極板EP2とを有する半導体装置であって、外郭部BDと錘部WGと可撓部DFとは同一の半導体基板1からなる一体的な部材であり、第1電極板EP1と第2電極板EP2とは同一面内に無く、各電極板EP1,EP2が互いに対向するようにして配置されている。 (もっと読む)


【課題】 抵抗素子、配線および接続電極における抵抗値の管理を容易に行うことができる加速度検出装置を提供する。
【解決手段】 基板11の第1領域12の第1領域12を囲繞する第2領域13との間に設けられ、可撓性を有する第3領域14に、第1および第3抵抗素子R1,R3と、第2および第4抵抗素子R2,R4と、第1領域12を挟んで配置する。スイッチ部3によって、第1抵抗素子R1と第2抵抗素子R2とを電気的に接続し、かつ第3抵抗素子R3と第4抵抗素子R4とを電気的に接続する第1接続状態と、第1抵抗素子R1と第4抵抗素子R4とを電気的に接続し、かつ第2抵抗素子R2と第3抵抗素子R3とを電気的に接続する第2接続状態とを選択的に切り替える。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、配線とピエゾ抵抗素子間において安定した電気的なコンタクトを有する小型な加速度センサを提供することにある。
【解決手段】 本発明に係る加速度センサは、開口を有するフレーム部と、フレーム部の開口内に配置された錘部と、フレーム部と錘部とを接続する少なくとも一対の梁部と、梁部に形成され、かつ梁部の一端がフレーム部と接続する領域と、梁部の他端が錘部と接続する領域のそれぞれに配置された検出部と、検出部の両端に形成された接合部と、梁部上に形成され、検出部の少なくとも一部を覆う絶縁層と、接合部の形成領域内における絶縁層を開孔して形成された、少なくとも1つのコンタクトホールと、コンタクトホールを介して接合部と電気的に接続する配線と、を備え、接合部の幅が検出部の幅よりも大きいことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ピエゾ抵抗部の上に圧電層を備えるMEMSの電気的特性を向上させる。
【解決手段】半導体層に不純物を注入することにより前記半導体層にピエゾ抵抗部を形成し、前記半導体層の表面に結合している絶縁層の表面の平坦な領域に下層電極となる導電層を形成し、前記下層電極となる導電層の表面の平坦な領域に圧電層を形成し、前記圧電層の表面に上層電極となる導電層を形成し、前記下層電極となる導電層と前記圧電層と前記上層電極となる導電層とをエッチングすることにより圧電素子を形成する、ことを含むMEMS製造方法。
(もっと読む)


【課題】 本発明は、配線とピエゾ抵抗素子間における電気的なコンタクト不良を防ぎ、かつ小型な加速度センサを提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明に係る加速度センサは、開口を有するフレーム部と、フレーム部の開口内に配置された錘部と、フレーム部と錘部とを接続する少なくとも一対の梁部と、梁部に形成され、かつ梁部の一端がフレーム部と接続する領域と、梁部の他端が錘部と接続する領域のそれぞれに配置された検出部と、検出部の少なくとも一方の端部から延伸して形成された複数の端子部と、梁部上であって、検出部の少なくとも一部を覆う絶縁層と、絶縁層を開孔して形成された、少なくとも1つののコンタクトホールと、コンタクトホールを介して端子部と電気的に接続する配線と、を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】錘部、梁部及びピエゾ抵抗素子の破損や特性変化を防止し、加速度センサ装置の信頼性を向上する。
【解決手段】加速度センサ装置は、錘部11、この錘部11の周囲に離間して配置された台座部12、及び、錘部11と台座部12とを可撓的に接続する複数の梁部13を有する加速度センサチップ10と、錘部11の変位を規制するために加速度センサチップ10上に設けられるストッパ板20とを備えている。ストッパ板20は、梁部13に対向する位置に凹部25を有しているので、梁部13に衝撃を与えることなく錘部11の変位を制限することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】加速度センサパッケージの薄型化を図ると共に、加速度センサチップの可撓部の破損を防止する手段を提供する。
【解決手段】加速度センサパッケージが、縁部に複数のパッドが形成されたパッド形成面を有する加速度センサチップと、接続端子が形成された端子形成面を有する制御チップと、加速度センサチップおよび制御チップを収容する収容凹部と、収容凹部の底面のパッドに対応する位置に配置された底面端子とを有するケース体と、を備え、加速度センサチップのパッドを、ケース体の底面端子に電気的に接続すると共に、加速度センサチップのパッド形成面と反対側の裏面に、制御チップの端子形成面と反対側の裏面を接合する。 (もっと読む)


【課題】低背小型化しても実装後の検出感度を高く維持することができる加速度センサ装置を提供する。
【解決手段】錘部11と、錘部11を囲繞する枠部13と、一方端が錘部11に連結され且つ他方端が枠部13に連結された可撓性を有する梁部12と、梁部12に設けられる抵抗素子15と、を有するセンサ素子20と、センサ素子20が搭載される基板1と、基板1の主面1Aで、且つ枠部13の直下領域に設けられる複数個の凸部7と、枠部13の下面と凸部7の上面との間に介在され、センサ素子20と基板1とを接続する接着剤8と、を備えた構成とする。 (もっと読む)


【課題】低背小型化しても実装後の検出感度を高く維持することができる加速度センサ装置を提供する。
【解決手段】重り部11と、重り部11を囲繞する枠状の固定部13と、固定部13の下面に開口部7aを有するようにして固定部13に設けられる孔部7と、一方端が固定部13に連結され、且つ他方端が重り部11に連結される梁部12と、梁部12に設けられる抵抗素子15と、を有するセンサ素子20と、センサ素子20が載置される主面1Aを有する基板1と、基板1の主面1Aと固定部下面の開口部7a周囲との間に介在され、一部が孔部7に埋入された状態でセンサ素子20と基板1とを接合する接着剤8と、を備えた構成とする。 (もっと読む)


【課題】製造が容易であり、フレームからの応力影響を抑制することのできる加速度センサを提供する
【解決手段】半導体基板からなるフレーム1と、フレーム1の内側に配置され加速度の作用により変位する錘部2と、錘部2を片持ち梁構造でフレーム1の内側面に連結するビーム3と、ビーム3に形成され錘部2に加速度が作用したときの錘部2の変位によりビーム3に生じる応力を抵抗値変化として検出するピエゾ抵抗4と、フレーム1に配置されピエゾ抵抗4からの信号を取り出す電極5と、を備える加速度センサにおいて、フレーム1とビーム3との間にビーム構造からなる応力緩和用ビーム6を形成するようになした。 (もっと読む)


【課題】MEMS(Micro-electromechanical systems)チップ内部と周囲をゲル材料で充填、覆い安価な樹脂パッケージ化する。
【解決手段】ダイパッド部41上に固定された加速度センサチップ50における錘部52は、この周囲が低弾性のゲル状の樹脂部材61で覆われているが、外部から加わる加速度に対しては容易に変異するので、加速度を正確に検出できる。しかも、加速度検出に必要な部分以外は樹脂部材62で樹脂封止されているので、通常の樹脂パッケージと同等の長期信頼性が得られる。 (もっと読む)


【課題】 設計自由度の高いセンサを提供する。
【解決手段】 枠体と、前記枠体の内側に前記枠体と間隔を空けて設けられた乗載体と、
可撓性を有し、前記乗載体を支持するように前記枠体と前記乗載体との間に設けられる梁部と、前記乗載体に設けられた重錘と、前記枠体の前記梁部との接続部に設けられ、前記乗載体の変位に起因する前記枠体の変位を検出する変位検出素子とを含んでセンサを構成する。 (もっと読む)


【課題】半導体素子に生じる応力を低減することが可能な半導体素子の実装構造を提供する。
【解決手段】半導体素子1は、当該半導体素子1の外周形状に基づいて規定した仮想三角形の3つの頂点に対応する3箇所で接着剤(例えば、弾性率が1MPa以下のシリコーン樹脂などのシリコーン系樹脂など)からなる接着部2により基板に固着されている。ここにおいて、半導体素子1は、基板3側とは反対側の表面側(上記一表面側)において全てのパッド19が1辺に沿って配置されており、当該1辺の両端の2箇所と、当該1辺に平行な辺上の1箇所との3箇所とに頂点を有する仮想三角形の各頂点に接着部2が位置しており、各パッド19にボンディングワイヤを安定してボンディングすることができる。 (もっと読む)


【課題】パッケージへの実装時や実装後の温度変化に起因したセンサ素子への応力を低減することが可能で、且つ、センサ素子の厚み方向の両側それぞれに所望のギャップ長を確保することが可能なセンサモジュールを提供する。
【解決手段】一面が開放された箱状のパッケージ3と、パッケージ3の内底面3aに固着されたセンサ素子1と、センサ素子1よりも平面サイズが大きくセンサ素子1と協働する半導体素子2とを備える。センサ素子1は、第1の仮想三角形の3つの頂点に対応する3箇所において、球状の第1のスペーサ52を混合した第1の第1のダイボンド材51からなる第1の接着部5によりパッケージ3の内底面3aに固着され、半導体素子2は、第2の仮想三角形の3つの頂点に対応する3箇所において、球状の第2のスペーサ62を混合した第2のダイボンド材61からなる第2の接着部6によりセンサ素子1に固着される。 (もっと読む)


【課題】ダイシングに伴う収率の低下が抑制される加速度センサの製造方法を提供する。
【解決手段】単結晶シリコン基板10の主表面側に拡散抵抗配線15を形成し、シリコン窒化膜19aを形成した後に、シリコン窒化膜19a上に接合用金属層17を形成するとともに、接合用金属層17と上部キャップ30との間に隙間が形成される部位とスクライブ線との間の所定位置にダイシング時の水流が隙間へ到達するのを防ぐための障壁17aを形成し、その後、第1のキャップを上記金属層を介して半導体基板に接合し、さらに第2のキャップを半導体基板の裏面側に接合する。 (もっと読む)


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