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Fターム[5B018GA02]の内容

記憶装置の信頼性向上技術 (13,264) | 目的 (2,614) | エラー訂正 (431)

Fターム[5B018GA02]に分類される特許

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【課題】復号の処理速度が速いメモリカード3を提供する。
【解決手段】メモリカード3は、1個のメモリセルに記憶する、読み出し単位であるページが異なる3ビットのデータを、8個の閾値電圧分布に基づく確率を用いた反復計算により復号を行うときに、ハードビット読み出しのための7個の基準電圧のそれぞれと、ソフトビット読み出しのための、それぞれの基準電圧よりも低い電圧および高い電圧からなる複数の中間電圧と、からなる7組の電圧セットのうち、読み出すページに属する1ビットデータの読み出しに必要な電圧セットの電圧を選択し、選択した前記電圧セットの電圧を読み出し電圧として前記メモリセルに印加する制御を行うワード線制御部21と、対数尤度比を記憶する対数尤度比テーブル記憶部22と、読み出したデータを対数尤度比を用いてECCフレーム単位で復号をする復号器1と、を有する。 (もっと読む)


【課題】1枚の汎用のメモリモジュールのみで高度なエラー訂正を実現し、信頼性の高いメモリシステムを提供すること。
【解決手段】nビット入出力の第1〜第8半導体メモリを有するメモリモジュールと、外部装置から受け取る4×nビットのデータに基づいて、3×nビットの誤り検出訂正符号を生成し、4×nビットのデータをnビットずつ第1〜第4半導体メモリのそれぞれに格納し、3×nビットの誤り検出訂正符号をnビットずつ第5〜第7半導体メモリのそれぞれに格納するメモリ制御部とを具備する。メモリ制御部は、第1〜第4半導体メモリに格納された4×nビットのデータを読み出すとき、第5〜第7半導体メモリに格納された3×nビットの誤り検出訂正符号に基づいて、第1〜第4半導体メモリのうちの1つの半導体メモリの誤り訂正、又は2つの半導体メモリの誤り検出を実行する。改行しないで書き始める。スペース入れない。クレーム1を書き下す。 (もっと読む)


【課題】本発明は、少なくとも2種類以上のデータ長のデータに対して冗長データを付加し、誤り訂正を行なうメモリ制御装置において、メモリを最大限有効に使用することを目的としている。
【解決手段】上記課題は、少なくとも2種類以上のデータ長のデータに対して冗長なデータを付加した誤り訂正データをアドレス空間で分割し格納するメモリデバイス200と、該誤り訂正データを読み出して誤り訂正を行なうメモリコントローラ20と、
前記誤り訂正データは前記メモリデバイス200からデータと冗長データを連続的に読み出す手段を有することによりなされる。 (もっと読む)


【課題】エラー訂正不能と判定された場合に、ECC処理の再実行を効率的に行なうことを実現し、リード処理効率を向上できるデータ記憶装置を提供することにある。
【解決手段】実施形態によれば、データ記憶装置は、リードモジュールと、誤り検出訂正モジュールと、コントローラとを具備する。リードモジュールは、不揮発性メモリからアクセス対象のデータ及び当該データを特定する指定データを読み出す。誤り検出訂正モジュールは、前記リードモジュールにより読み出されたデータ及び前記指定データに対する誤り検出訂正処理を実行する。コントローラは、前記誤り検出訂正モジュールによる誤り訂正が不能である場合に、前記指定データの修正処理を実行し、修正処理後の指定データに基づいた再度の誤り検出処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】メモリセルの保持電流が基準電流以上(データの誤りが発生しない)の場合において、消費電流の発生を削減する。
【解決手段】メモリセルが正しいデータを保持できなくなる限界を示す第1基準電流と、第1基準電流より基準値を高くした第2基準電流とを切り替えていずれか一方を基準電流として、メモリセルの保持電流と前記基準電流とを比較することによってデータを読み出すメモリセルアレイ1と、メモリセルアレイ1から読み出されたデータの誤り検出を行う誤り検出回路2と、保持電流が第2基準電流を下回るまで、所定の期間毎にデータの誤り検出を行うように誤り検出回路2を制御する制御部(ホスト機器4、誤り検出動作要求回路5)と、誤り検出回路2が誤りを検出した場合、メモリセルアレイ1より読み出されたデータに対して誤り訂正処理を施す誤り訂正回路3と、を備える。 (もっと読む)


【課題】メモリへのデータ書込み処理に要する時間の短縮により、システム全体の速度性能の改善をはかる。
【解決手段】メモリ書込み制御装置3は、リードデータからエラー訂正用検査ビットに基づきエラー訂正が必要なビット位置を特定し、CPU1から出力されるライト位置指定信号に基づきライト要求データをマージして補正前のライトデータを生成する。そして、そのライトデータからエラー訂正用検査ビットを生成して検査ビット付きライトデータを出力し、エラー訂正が必要なビット位置が特定されると、特定されたビット位置のエラー訂正の要否を示す補正データを生成し、補正前のエラー訂正用検査ビット付きのライトデータから補正後のエラー訂正用検査ビット付きのライトデータを生成してメモリ2に書き込む。 (もっと読む)


【課題】
実施形態は、消費電流を低減可能なメモリシステムを提供する。
【解決手段】
本実施形態のメモリシステムは、前記NAND型フラッシュメモリと前記入出力部との間、および前記NAND型フラッシュメモリと前記入出力バッファ部との間に設けられた複数のデータバスと、入力される選択信号に基づいて、所望の前記データバスを選択するスイッチと、前記NAND型フラッシュメモリ、前記入出力部、及び前記スイッチを制御して、少なくとも前記入出力バッファ部から前記NAND型フラッシュメモリにデータを書き込むとき、選択された前記データバスを介して、前記NAND型フラッシュメモリと前記入出力バッファ部との間を接続し、残りのデータバスを介して、前記NAND型フラッシュメモリと前記入出力バッファ部との間を接続しない前記選択信号を前記スイッチに出力する制御部とを含む。 (もっと読む)


【課題】エラー訂正処理時間の短縮、消費電力の削減、およびエラー訂正用データの削減を図る。
【解決手段】メモリインターフェイスと、ホストからのコマンドに従ってメモリインターフェイスを制御する制御部と、を具備し、メモリインターフェイスは、メモリへの書き込みが2値書き込みの場合、データに対してiビットの第1エラー訂正ビット数を設定し、多値書き込みの場合、データに対してjビット(i<j)の第2エラー訂正ビット数を設定するエラー訂正ビット数設定部161と、エラー訂正ビット数設定部により、第1エラー訂正ビット数が設定された場合、kバイトの第1エラー訂正コードを生成してデータに付加し、第2エラー訂正ビット数が設定された場合、l(k<l)バイトの第2エラー訂正コードを生成してデータに付加するエラー訂正コード生成付加部162と、を備える。 (もっと読む)


【課題】チャネル間誤り訂正処理の効率化を実現し、リード動作の効率を向上できるデータ記憶装置を提供することにある。
【解決手段】実施形態によれば、データ記憶装置は、チャネルコントローラと、誤り訂正コントローラと、追加訂正モジュールとを具備する。チャネルコントローラは、複数チャネルの各不揮発性メモリに対してデータの書き込み、読み出しを制御する。誤り訂正コントローラは、リード動作時に、前記チャネルコントローラにより読み出されるデータの中で指定の訂正対象に対して、チャネル間誤り訂正符号データを使用してチャネル間誤り訂正処理を実行する。追加訂正モジュールは、前記チャネルコントローラにより前記チャネル間誤り訂正処理に必要なデータを読み出す訂正読み出し動作中に、前記チャネルコントローラによるエラー検出に基づいて追加訂正対象を指定し、当該追加訂正対象を前記誤り訂正コントローラに通知する。 (もっと読む)


【課題】誤り制御符号化(ECC)の符号化率の動的調節方法、装置、およびシステムを提供する。
【解決手段】ビット誤り率モニタ106は、ECCエンジン104から受信した訂正不能コードワード信号に少なくとも部分的に基づいて、ビット誤り率を動的に決定する。ビット誤り率に基づいて、符号化率変更トリガがECCエンジン104へ送られ、所定の所望の範囲内に出力誤り率を維持するには符号化率を増減させる。ビット誤り率の変更に呼応して、誤り制御符号化の符号化率(ECC符号化率)を、第1の符号化率から第2の符号化率へ変更する段階を備える。 (もっと読む)


【課題】動作速度を低下させることなくシステムの信頼性を向上させることが可能なメモリシステムおよびその動作方法を提供する。
【解決手段】不揮発性メモリシステム2は、ブロック(ページ)単位でデータのアクセスが行われるNAND型フラッシュメモリ21(第1の不揮発性メモリ)と、ワード単位でデータのランダムアクセスが行われるNVRAM22(第2の不揮発性メモリ)と、NAND型フラッシュメモリ21およびNVRAM22の動作の制御を行うNVMコントローラ23(制御部)とを備えている。NVRAM22のデータに適用されるエラー訂正コードECC2が、NAND型フラッシュメモリ21内に保持されている。NVRAM22に対するアクセス速度の低下が回避されつつ、このNVRAM22におけるデータ保持特性が改善される。 (もっと読む)


【課題】リード要求のデータサイズとメモリのアクセス単位が一致していない場合でも高速にデータを読み出す。
【解決手段】メモリコマンド出力制御部90が、CPU10のリード要求に基づいてメモリ装置30からアクセス単位ごとにデータを読み出し、リード予備データ保持部60が、読み出されたデータのうち最後のアクセス単位のデータを保持する。CPU10から次のリード要求があった場合に、データ選択制御部70は、リード要求の対象となっているデータのうちリード予備データ保持部60に保持されていないアクセス単位のデータのみをメモリコマンド出力制御部90を介してメモリ装置30から読み出し、メモリ装置30から読み出したデータとリード予備データ保持部60の保持データをCPU10に返す。同一のアクセス単位を重複してメモリ装置30から読み出す必要がなく、これにより高速なデータ読み出しが可能である。 (もっと読む)


【課題】IPC機能を実現するコントローラの実装の容易化を図ることができるデータ記憶装置を提供することにある。
【解決手段】実施形態によれば、データ記憶装置は、チャネルコントローラと、IPCモジュールと、データコントローラとを具備する。チャネルコントローラは、複数チャネルの各不揮発性メモリに対してデータの入出力を制御する。IPCモジュールは、前記各不揮発性メモリに記憶されるデータを使用して、チャネル間の誤り検出訂正処理が可能な符号化データを生成する。データコントローラは、前記チャネルコントローラにより前記符号化データを前記各チャネルに並列に書き込むときに前記符号化データを論理ブロック単位で管理し、前記符号化データに含まれるパリティデータを前記論理ブロック中において同一チャネルの各プレーンに割り当てて管理する。 (もっと読む)


【課題】読み出しの処理時間を短縮することができるメモリシステムを得ること。
【解決手段】データと、2段階以上の誤り訂正処理により段階毎に定義された所定のサイズの前記データである単位データ毎に生成された各段階の誤り訂正符号と、を記憶する半導体記憶部、を備える。そして、半導体記憶部から読み出されたデータと当該データに対応する前記各段階の誤り訂正符号とに基づいて誤り訂正処理を行う誤り訂正処理部と、誤り訂正処理部による誤り訂正処理により誤り訂正が不可であったか否かを示す段階毎の誤り訂正履歴情報を前記単位データ毎に記憶する誤り訂正履歴情報記憶部と、を備える。さらに、読み出し対象の単位データに対応する前記誤り訂正履歴情報が訂正不可である段階の誤り訂正処理を実施せずに次段階の誤り訂正処理を実施するよう誤り訂正処理部を制御する。 (もっと読む)


【課題】ICP機能を実現するパリティデータを含む符号化データの格納処理の効率化を図ることができるデータ記憶装置を提供することにある。
【解決手段】実施形態によれば、データ記憶装置は、チャネルコントローラと、ICPモジュールと、データコントローラとを具備する。チャネルコントローラは、複数チャネルの各不揮発性メモリに対してデータの入出力を制御する。ICPモジュールは、前記各不揮発性メモリに記憶されるデータを使用して、チャネル間の誤り検出訂正処理が可能な符号化データを生成する。データコントローラは、前記チャネル制御手段により前記符号化データを前記各チャネルに並列に書き込むときに論理ブロック単位で管理し、かつ前記符号化データに含まれるパリティデータを前記論理ブロック中の1つのプレーンに割り当てて管理する。 (もっと読む)


【課題】 各種のデータ転送が可能な半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】 メモリセルアレイ10は、複数の不揮発性メモリセルが配置されている。RAM(Random Access Memory)30は、メモリセルアレイ10に書き込まれるデータ、又は読み出されたデータを保持する。制御部4は、RAMを用いた第1の動作モードと、RAMを用いない第2の動作モードを制御する。データ転送部17は、第2の動作モードにおいて、データの書き込み時、データバスDIRを介して入出力部40から供給されたデータをバッファ部12に転送し、バッファ部12に転送されたデータをエラー訂正部20に転送し、エラー訂正部20において、生成されたパリティデータをバッファ部12に転送する。 (もっと読む)


【課題】チェックビットの生成および症候群発生のための回路の量を少なくし、遅延及び所要電力をを小さくする。
【解決手段】パリティビット幅を選択するECC技術であって、チェックビットの生成に必要な一の最小の第1のチェックビット数と該第1のチェックビット数に基づく一の望ましいハミング距離のための症候群とを決定することと、一のハミングコードH−行列における最小重み付けコード数を増加させるべく、前記第1のチェックビット数より大きい一の第2のチェックビット数を利用することと、前記第2のチェックビット数に基づき、前記チェックビットおよび症候群を生成することと、を含む技術。 (もっと読む)


【課題】スループットを低下させることなくメモリチップの故障を防ぐことが可能な半導体記憶装置を提供すること。
【解決手段】夫々独立に動作可能な複数のメモリ領域を有する不揮発性半導体メモリと、複数のメモリ領域に対しデータのアクセスを実行し、アクセス可能状態になったらデータ転送要求を転送管理部に出力する複数のメモリインタフェースと、データを一時記憶する一時記憶バッファとを有する。ECC処理部は、一時記憶バッファと複数のメモリインタフェースとの間で転送中のデータを用いて不揮発性半導体メモリの複数のメモリ領域へ分散して書き込まれるデータあるいは複数のメモリ領域へ分散して書き込まれたデータに関するECC処理を実行する。転送管理部は、データ転送にかかるデータがECC処理を実行するか否かを判定し、ECC処理を実行すると判定したデータにのみECC処理部でのECC処理を実行させる。 (もっと読む)


【課題】データの信頼性を向上させるメモリシステムを提供する。
【解決手段】メモリシステムは、複数の物理量レベルによってdビット(dは、2以上の整数)のデータを記憶する複数のメモリセルを有し、所定数のメモリセルの特定のビットからなるページ単位でデータの読み書きをするメモリデバイスと、メモリデバイスを制御するメモリコントローラとを備え、メモリコントローラは、メモリデバイスのページに読み書きするページ・データを保持し、メモリデバイスとの間でページ・データを送受信するページ・バッファと、ページ・データに基づいて生成されたp(pは、2<p<2を満たす素数)の有限体Zp上の処理データに対する処理によってページ・データのエラーを検出し訂正するデータ処理部と、データ処理部の処理データをページ・データとしてページ・バッファにマッピングするマッピング部とを有する。 (もっと読む)


【課題】ミラーリング書き込み時間を短縮する。
【解決手段】実施形態に係わる不揮発性半導体メモリは、1チップ内に設けられる2つのメモリプレーンP1,P2を有する。2つのメモリプレーンP1,P2の各々は、メモリセルアレイ11と、書き込みデータを一時的に記憶するデータレジスタ12とを有する。制御回路22は、ミラーリング書き込みモードのとき、2つのメモリプレーンP1,P2内のデータレジスタ12に書き込みデータを同時に転送し、書き込み動作及びベリファイ動作をメモリプレーン毎に実行する手段を備える。 (もっと読む)


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