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Fターム[5C094AA41]の内容

要素組合せによる可変情報用表示装置 (81,180) | 目的 (21,550) | 保守(取付け、メンテナンス、交換) (328)

Fターム[5C094AA41]に分類される特許

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【課題】LTPSパネルにおいて、RGBスイッチ機能がないドライバを用いようとする場合、ドライバ設置領域にQD点灯検査回路を配置しようとしても、検査用トランジスタの幅を十分にとることができず、QD点灯検査を適切に行うことができない。
【解決手段】隣接する少なくとも1以上のトランジスタ毎に千鳥配置された複数のトランジスタを、ゲートメタルが複数のポリシリコン膜を横切ることにより形成し、前記複数のトランジスタを形成する部分の前記複数のポリシリコン膜の幅を、前記コンタクトと接続する部分よりも広く形成する。 (もっと読む)


【課題】シート検査が可能なように設計され、単純な構造の画素回路を採用しながらも、シート検査時の輝度偏差を防止できるようにした有機電界発光表示装置のマザー基板及びその検査方法を提供する。
【解決手段】複数の画素を含む複数の有機電界発光表示装置のパネルと、パネルの外郭領域に第1方向に形成されて外部から供給される検査用電源又は信号をパネルに伝達する複数のシート配線を含む第1配線グループと、パネルの外郭領域に第2方向に形成されて外部から供給される検査用電源又は信号をパネルに伝達する複数の他のシート配線を含む第2配線グループと、外部から供給されるシート検査信号からパネルの画素に備えられた駆動トランジスタの閾値電圧に相応する電圧を差し引いてパネルに供給する補償部と、を備え、第1及び第2配線グループに含まれたシート配線のうち、シート検査信号を伝達するシート配線は各パネルに連結する連結配線に接続される。 (もっと読む)


【課題】有機ELディスプレイパネルの製造途中段階において、構成要素の特性を劣化させることなく検査を実施し、発見された欠陥を修正する方法を提供する。
【解決手段】基板31を検査用照明手段26から検査用照明光で照射し、カメラ33で撮像して検査する。検査用照明手段26は、特性劣化に影響しない波長のみを透過するバンドパスフィルタを備えている。バンドパスフィルタは、使用する有機EL材料の吸光特性により、吸光しない波長のみを通すバンドパスフィルタを選定する。検査中は、常時低酸素状態となるよう、ハウジング23で密閉された窒素雰囲気エリア231を、窒素供給配管22から供給された清浄度の高い窒素で満たし、排気配管24から排気される。 (もっと読む)


【課題】表示明度の低下や視野角の挟角化の問題点が改善された多色のマイクロカプセル型電気泳動表示パネルの多面付けカラーフィルタ電気泳動方式前面板を提供する。
【解決手段】透明基板上に、2つ以上のカラーフィルタ層が形成され、カラーフィルタ層上およびカラーフィルタ層間上に連続した透明電極層を有し、かつ、少なくとも、前記カラーフィルタ層上の前記透明電極層上に、透明分散媒中に電気泳動粒子を分散した分散液を封入した、電圧の印加による電界変化で光学的反射特性が変化するマイクロカプセルをバインダー樹脂に分散したマイクロカプセル層が直接積層され、さらに、マイクロカプセル層に接着剤層を介して、導電層が形成された剥離性樹脂基板が積層されている多面付けカラーフィルタ電気泳動方式前面板であって、導電層が、透明電極層と対になる位置に連続して繋がって形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板の外形部分に発生した部分的な欠陥を容易に検出することができる表示パネル、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】カラーフィルタ基板及びアクティブマトリクス基板を備えるとともに、情報を表示する液晶パネル(表示パネル)において、カラーフィルタ基板には、その外周から所定の寸法内側に設けられるとともに、当該カラーフィルタ基板の外形を判定可能な判定用枠線30a、30b、30cが形成され、アクティブマトリクス基板には、その外周から所定の寸法内側に設けられるとともに、当該アクティブマトリクス基板の外形を判定可能な判定用枠線31a、31b、31cが形成されている。 (もっと読む)


【課題】表示ユニットをタイル状に配列した大画面表示装置のユニットの交換作業を容易かつ迅速に行なえるLED表示装置を提供する。
【解決手段】LED表示装置1は、複数のLEDモジュール7および上下両端に取付部が突設されている取付枠を有する複数のLEDユニット2,3と、LEDモジュール7の発光ダイオードを駆動する駆動装置4と、開口30に開口30の横方向にLEDユニット2,3を隣接して配設しているケース本体5と、ケース本体5にLEDユニット2,3の取付枠の取付部を着脱可能に固定している固定手段6,6Aとを具備している。 (もっと読む)


共通基板と、共通基板上に配置された複数の被制御電子デバイスと、共通基板上に形成された複数の導体を有する配線層とを含む電子装置。複数のチップレットが共通基板上に位置し、各チップレットは共通基板とは別の独立した基板を有し、各独立した基板は、底面と、その反対に位置する上面とを有し、チップレットの底面に1つ又は複数の接続パッドが形成され、各チップレットは被制御電子デバイスのうちの1つ又は複数の被制御電子デバイスの機能を制御するための回路部を含む。チップレットは、チップレットの上面よりも共通基板に近いチップレットの底面を用いて共通基板に接着され、各接続パッドは、複数の導体のうちの1つに電気的に接続される。
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【課題】陽極、陰極及び有機化合物層からなる発光素子の欠陥部を検査して修理することにより、良質な画像表示を行うことができる発光装置の作製方法を提供する。
【解決手段】欠陥部を有する発光素子に逆バイアスの電圧を印加すると、欠陥部において、電流が流れる。この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することにより欠陥部を修理するという発光装置の作製方法である。 (もっと読む)


表示エリア内に複数の制御電極を有するディスプレイ基板を設けることと、コントローラーに応答して、電流を制御電極に提供する複数のチップレットを配置することであって、各チップレットは、別個の基板を有し、少なくとも1つのピクセル接続パッドが制御電極に電気的に接続され、制御電極に提供される電流に応答して発光する1つ又は複数のテスト発光器が、チップレット内に形成されることと、チップレット内に形成されたテスト発光器のうちの1つ又は複数に電流を通して、発光させるようにチップレットを制御することと、テスト発光器が発した光を検出することであって、欠陥のあるチップレット又はチップレット相互接続を特定することと、欠陥のあるチップレット又はチップレット相互接続を交換又は修理することと、制御電極に接続された表示エリア内の基板上に有機発光ダイオードを形成することとを含むディスプレイを製造する方法。
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【課題】第1基板(アレイ基板)と第2基板(カラーフィルタ基板)で液晶層を挟んでな
る横電界方式の液晶表示パネルの製造時に、カラーフィルターに設けられた内面シールド
層と、アレイ基板上のコモン引き回し配線との電気的接続が確実になされているか否かを
、汎用のテスターを用いて簡単に検査できるようにした液晶表示パネルを提供すること。
【解決手段】第1透明基板11の表示領域12の周縁領域に形成されるコモン引き回し配
線は、切除部Xが設けられていることにより、第1のコモン引き回し配線16と第2のコ
モン引き回し配線17とからなる。第1コモン引き回し配線16は、導電接続部19Aを
介して、第2コモン引き回し配線17は導電接続部19B〜19Dを介して、それぞれ内
面シールド層と電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】複数のモニタの設置あるいは撤去作業を効率的に行えるモニタ吊下装置を提供する。
【解決手段】複数のモニタを吊り下げるための吊下部材41を支持するフレーム4と、当該フレーム4に支持された吊下部材41を昇降させる制御機構としてのハンドルを具備する吊下装置を実現した。これにより、作業時間を短縮して効率的に複数のモニタの設置・解体作業を行うことができ、例えば天候の変化にも迅速に対応することができ機材の損傷などを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】TFT基板を含む基板において、検査用の配線回路を配置するための面積を可及的に低減する。
【解決手段】
表示装置の製造方法は、TFTアレイ検査を行った後に、TFT基板及び対向基板が互いに対向すると共に第1パッド44及び第2パッド46の間で導電部材48が狭持されるように、第1基板31と第2基板32とを貼り合わせて、複数の第1パッド44及び第2パッド46を導電部材48を介して互いに導通させる工程と、第2基板32の検査用端子47から、第2パッド46、導電部材48、及び第1パッド44を介して、複数の配線に第2検査用信号を供給して、表示パネルの表示状態を検査するパネル点灯検査を行う工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】アクティブ型表示パネルの画素に含まれる発光素子の容量を正確に測定することができる検査方法を提供する。
【解決手段】表示パネル30が、発光素子36と駆動TFT35のうち、駆動TFT35だけが実装された状態であるときに、駆動TFT35をONにした状態で、当該駆動TFT35のゲート周りの容量を測定するON状態容量測定ステップ(S11)と、表示パネル30が、発光素子36と駆動TFT35の両方が実装された状態であるときに、駆動TFT35をOFFにした状態で、駆動TFT35と発光素子36とを含む画素31の容量を測定する画素容量測定ステップ(S12)と、ON状態容量測定ステップ(S11)で得られた容量と画素容量測定ステップ(S12)で得られた容量とから、発光素子36の容量を算出する算出ステップ(S13)とを含む。 (もっと読む)


【課題】発光素子の欠陥部におけるショートを検査して修理することにより、良質な画像表示を行うことができる発光装置の作製方法を提供する。
【解決手段】欠陥部を有する発光素子に逆バイアスの電圧を印加すると、欠陥部において、電流が流れる。この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】従来、大きく重い構造であった為、設置やメンテナンスの際に仮設足場を組み、重機を使う必要があり、設置やメンテナンスを行うことが困難だった問題を解決し、設置作業やメンテナンス作業を効率的に行える表示モジュールを得ることを目的とする。
【解決手段】複数の発光表示素子を有する表示ユニット1が配置された表示パネル2と、表示パネル2に分離可能に接続されたマウントパネル3とを備え、マウントパネル3は表示モジュール20の設置箇所に設けられた設置金具10、11に係合する係合金具4を有した。 (もっと読む)


【課題】電気的な検査と光学的な検査が可能で、かつ、コンパクトな液晶表示装置を提供すること。
【解決手段】本発明に係る液晶表示装置1は、複数の画素に対応して、画素電極と、前記画素電極に接続されたスイッチング素子が形成された第1の基板2と、液晶層を介して前記第1の基板の少なくとも一部を覆う第2の基板3と、第1の上流側スイッチ端子と、複数の第1の検査端子を含む第1の端子群5と、第2の上流側スイッチ端子と、下流側スイッチ端子と、第2の検査端子を含む第2の端子群6と、上流側スイッチ回路86と、上流側スイッチ回路86の下流側に接続される下流側スイッチ回路87と、を有し、第1の上流側スイッチ端子及び第2の上流側スイッチ端子は上流側スイッチ回路86に接続され、下流側スイッチ端子は下流側スイッチ回路87に接続される。 (もっと読む)


【課題】ユーザーによって簡単かつ正確に欠陥のあるセグメントを検出できる液晶ディスプレイを提供する。
【解決手段】本発明は、記号を表示する導電性セグメントと、さらに、他のセグメントによってカバーされない表示領域の少なくとも一部分を覆う少なくとも1つの対照セグメントとを有する液晶ディスプレイに関する。この液晶ディスプレイによって、簡単に欠陥のあるセグメントを視覚的にチェックすることができる。この目的のために、チェックが実行され、そこでは、全てのセグメントおよび存在する全ての対照セグメントが、ディスプレイが完全に機能している時に一様な表示となるように駆動され、そうでないときには欠陥のあるセグメントが、残りの表示画面に対して反転表示となる。 (もっと読む)


【課題】歩留まりを改善した表示駆動用基板を提供する。
【解決手段】表示領域12にマトリクス状に設けられた複数の画素回路11と、表示領域12の各行に設けられ、対応行の各画素回路11に共通に接続されたゲート線と、各ゲート線に接続されたゲートドライバ13と、前記各ゲート線の延長部に設けられたゲートドライバ接続端子15とを備える表示駆動用基板10が、集合基板1上に複数形成されている。表示駆動用基板10は、さらに、電気的に接続された状態から電気的に切断された状態へ変更できる切断部14を備えてもよい。 (もっと読む)


【課題】本発明は、電気的検査を正確に行うことができる表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】表示装置は、複数の画素電極10と、複数のデータ配線26と、複数の走査配線28と、を含む。複数の画素電極10は、有効表示領域12内の複数の有効画素電極14と、有効表示領域12外の複数のダミー画素電極16と、を含む。複数のダミー画素電極16は、第1ダミー画素電極22と、第2ダミー画素電極24と、を含む。複数の有効画素電極14及び第1ダミー画素電極22のそれぞれは、いずれかの走査配線28に入力される走査信号によって、いずれかのデータ配線26の電圧とそれ以外の電圧に切り替わるように制御される。第2ダミー画素電極24は、走査信号による制御から切断されている。 (もっと読む)


【課題】参照配線や参照幹線に不良があった場合であっても、表示欠陥を防止できる基板、この基板を備える表示パネル、表示パネルの修正方法を提供すること。
【解決手段】参照配線113aに不良の有無を検出する工程と、不良が検出された場合には不良参照配線113sを特定して不良箇所Sを特定する工程とを有するとともに、不良が断線である場合には、不良参照配線113sと予備配線124とを短絡する工程と、不良参照配線113sが伝送する信号と同じ信号を伝送する所定の参照配線113mと予備配線124とを短絡する工程とを有し、不良が他の導体との短絡である場合には、不良参照配線113vの不良箇所Uの前後両側の箇所を切断する工程と、不良参照配線113vと予備配線124とを短絡する工程と、不良参照配線113vが伝送する信号と同じ信号を伝送する所定の参照配線113wと予備配線124とを短絡する工程とを有する。 (もっと読む)


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