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Fターム[5F004BA06]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 装置の基本構成 (5,904) | 平行平板型 (3,176) | 電極形状 (513)

Fターム[5F004BA06]に分類される特許

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【課題】被処理基板に面内均一なプラズマ処理を行わせることができるとともに、プラズマの逆流を確実に防止して冷却板の損傷及び被処理基板の汚染を防ぐことができるプラズマ処理装置用電極板を提供する。
【解決手段】厚さ方向に貫通する複数の通気孔11が設けられるとともに、各通気孔11は、放電面21に開口する噴出側孔部22と、その反対面に開口する導入側孔部23とを厚さ方向の中間部で連結してなり、噴出側孔部22は、導入側孔部23との連結部24から放電面21に向かうにしたがって相互に離間する方向に傾斜する複数の細孔25により構成され、導入側孔部23は、連結部24における横断面積と同じか又はそれより小さい横断面積を有し、各細孔25の長さ方向に対して交差する方向に形成されている。 (もっと読む)


【課題】電極層の全域を適切に温度制御することができる電極ユニットを提供する。
【解決手段】プラズマエッチングを基板に施す処理室17を備える基板処理装置10は、半導体ウエハWを載置し、且つ処理室17内に高周波電圧を印加するサセプタ12と対向するように配置されている上部電極ユニットとしてのシャワーヘッド29を備え、該シャワーヘッド29は、処理室17側から順に配置された、電極層32、加熱層33及び冷却層34を有し、加熱層33は電極層32を全面的に覆うとともに、冷却層34は加熱層33を介して電極層32を全面的に覆い、加熱層33及び冷却層34の間には伝熱シートが配置される。 (もっと読む)


【課題】整合器や伝送線路の発熱やパワーロス、さらには整合器や伝送線路の組み付けの違いによるインピーダンスの変動による電流差が生じにくい基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置100は、高周波電力を発生させる高周波電源6と、高周波電源6から高周波電力が供給されてプラズマを生成させるためのプラズマ生成電極2と、高周波電源6とプラズマ生成電極2との間に介在し、伝送路9のインピーダンスと負荷のインピーダンスとを整合させる単一の整合器7と、整合器7とプラズマ生成電極2との間に介在し、これらの間のインピーダンスを調整するインピーダンス調整回路8とを具備し、整合器7は、プラズマとインピーダンス調整回路8とを一つの負荷としてインピーダンスの整合をとり、インピーダンス調整回路8によりインピーダンスを調整することにより、整合器の出力インピーダンスがプラズマのインピーダンスよりも高い所定の値に調整される。 (もっと読む)


【課題】改良されたチャンバ洗浄機構、装置、および方法を提供する。
【解決手段】エッチング処理のさらなる調整を可能にするために利用されてもよい。一実施形態において、プラズマを生成するよう構成されたプラズマ処理チャンバ100は、基板を受けるよう構成された内側下部電極131と、内側下部電極の外側に配置された外側下部電極135とを備えた下部電極アセンブリ130を備えている。プラズマ処理チャンバは、上部電極111を備え内側下部電極と外側下部電極との真上に配置された上部電極アセンブリ110を、さらに備える。 (もっと読む)


【課題】磁気記録媒体のような被エッチング材料の表裏両面へのプラズマ処理を行う際、基板の材質に関わらず被エッチング材料両表面に効率よくバイアスを印加し、両面処理ができるプラズマエッチング装置及びその方法を提供する。
【解決手段】略円環状の被エッチング材料に高周波電力を印加する一対の導電体を有し、略円環状の被エッチング材料の内縁を一対の導電体で挟持することで、略円環状の被エッチング材料の両面をエッチングするプラズマエッチング装置において、前記一対の導電体の一方に設置された導電体接続部材により、該略円環状の被エッチング材料の両面が電気的に導通するようにした。 (もっと読む)


【課題】DCバイアス電圧に応答した制御を含む真空プラズマプロセッサを提供する。
【解決手段】十分な電力を有するAC電気エネルギーを電極の少なくとも1つに供給することによって室内のガスをプラズマに励起して、電極の少なくとも1つを介してガスに供給されたAC電気エネルギーにより(a)供給されたAC電気エネルギーの周波数におけるプラズマ励起AC電場を第1電極アセンブリと第2電極アセンブリとの間に存在させ(b)DCバイアス電圧を室内のガスがプラズマに励起されるのに応答して電極の少なくとも1つに発生させ、DCバイアス電圧の指示に応答してプラズマ励起AC電場を制御する。 (もっと読む)


【課題】保護ポリマーコーティングを、プラズマ処理チャンバのシリコンまたはシリコンカーバイド電極上に形成する方法が提供される。
【解決手段】ポリマーコーティングは、プラズマ成分およびガス反応物への露出に対して、下にある電極表面への保護となる。この方法は、チャンバ102をクリーニングするプロセス中、またはチャンバ102内で半導体基板10をエッチングするプロセス中に実施することができる。 (もっと読む)


【課題】腐食性が極めて強い不活性ガスや水素及び酸素ガス等の高密度プラズマに完全な耐腐食性を有するとともに、水分を全く放出せず、しかも、安定した整流状態のガス放出が得られる無数のガス放出穴を有するAl合金系材料のシャワープレートを提供すること。
【解決手段】Al合金系材料の薄板に、溝の深さが0.02〜0.5mmで、横巾が0.02〜10mmで、長さが3〜30mmで、無数の溝と溝との間隔が0.1乃至2mmの範囲内の角状溝を形成し、次いで、表面粗さが0.1s以内のAl保護膜を生成させたシートを積層してシャワープレートを形成した。 (もっと読む)


【課題】基板のエッジ領域に導入するエッジガスが基板のセンタ領域に拡散することを抑制する。
【解決手段】 基板のセンタ領域とその周りのエッジ領域に向けてガスを別々に供給するガス導入部を構成する上部電極200を設ける。上部電極はセンタガスのガス孔212を複数設けたセンタガス導入部204と,エッジガスのガス孔214を複数設けたエッジガス導入部206とを備え,エッジガス導入部のガス孔に連通するガス孔232が形成されたガス孔形成板230をエッジガス導入部の下面に取り付けることによって,エッジガス噴出口の垂直位置を調整できるようにした。 (もっと読む)


【課題】マスクをプラズマから保護することができ、形成する穴部の側壁を基板の表面に対して垂直にできるプラズマエッチング方法を提供する。
【解決手段】上方にパターニングされたシリコン酸化膜が形成されてなる被処理基板におけるシリコン層を第1の処理ガスによりエッチングして穴部を形成するプラズマエッチング方法において、一酸化炭素ガスを含む第2の処理ガスによりシリコン酸化膜の表面に保護膜を堆積させる第1の堆積ステップS11と、第1の処理ガスによりシリコン層をエッチングする第1のエッチングステップS12と、穴部の側壁に第2の処理ガスにより保護膜を堆積させる第2の堆積ステップS13と、第1の処理ガスによりシリコン層を更にエッチングする第2のエッチングステップS14とを有し、第2の堆積ステップS13と第2のエッチングステップS14とを少なくとも2回ずつ交互に繰り返す。 (もっと読む)


【課題】 誘導結合方式のように電磁界強度が強い場合にも異常放電することなく、試料全面にわたって均一なプラズマ処理が可能なプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】
処理室1と、第1誘電体の真空窓4と、誘導コイル9と、高周波電源13と、ガス供給手段と、被処理体3を載置する試料台20とを備えたプラズマ処理装置において、ガス供給手段は、真空窓4の下方に近接して設置され、中央部にガス放出口を備えた第2誘電体のガス放出板6と、真空窓4とガス放出板6との隙間に設けられ、第1及び第2誘電体よりも比誘電率の高い第3の誘電体の島状の部材とを有する。 (もっと読む)


【課題】基板をエッチングまたはコーティングする
【解決手段】誘電体基板(100)は第1の真空蒸着ステーション(102)で、10−5Ωcm≦ρ≦10−1Ωcmが抵抗率(ρ)について成り立つ材料の層でコーティングされ、しかも、結果として生じる面積抵抗率Rが0≦R≦10−4Ωδの範囲内におさまるようにコーティングされる。次いで、コーティングされた誘電体基板(104)にステーション(105)で反応性高周波プラズマ処理工程が施される。 (もっと読む)


【課題】反応器チャンバ内部のパーティクル汚染度を低減するプラズマ反応器の構成部品を提供する。
【解決手段】反応器150のプラズマ処理チャンバ152において、プラズマ閉じ込めリング(不図示)、チャンバ壁172、チャンバライナ(不図示)及び/又はシャワーヘッド154のプラズマ露出面は、ポリマーの付着を促進する表面粗さ特性を持つプラズマ溶射された被膜160を備え得る。更に、基板支持体168のプラズマ露出面は、プラズマ溶射された被膜(不図示)も備え得る。高密度プラズマを閉じ込める実質的に全ての面がポリマーの付着を促進する表面粗さ特性を持つことができ、反応器内のパーティクル汚染は実質的に減少され得る。 (もっと読む)


【課題】処理ガスの供給を交互に切り換える際に,これらの処理ガスが混ざり合うことなく,過渡現象を従来以上に抑制する。
【解決手段】ウエハのプラズマ処理中に少なくとも2種類以上の処理ガス(例えばCガスとCガス)を交互に切り換えて処理室内に供給する際に,切り換える処理ガスを供給する各ガス供給路については,そのガス供給路に設けられたマスフローコントローラ(MFC)の下流側の開閉バルブを開いたまま,マスフローコントローラに所定流量とゼロ流量を繰り返して設定することによって,各処理ガスの供給を交互にオンオフする。 (もっと読む)


【課題】基板の周囲を整流部材で囲んだ状態でプラズマ処理を行う基板処理装置において、基板の搬入出の際にパーティクル等による基板の汚染を生じ難くすること。
【解決手段】チャンバ2の載置台3上に基板Gを載置し、その基板Gを整流部材9で囲繞した状態で、チャンバ2内に処理ガスのプラズマを形成して基板Gにプラズマ処理を行う基板処理装置1において、整流部材9は、角筒状をなす4つの側板9a、9bからなり、少なくとも基板搬入出口31に対応する位置に存在する可動部材としての側板9aが、載置台3に対する基板Gの搬入出が可能なように退避位置に移動可能に設けられ、側板9aは、回転軸47を回転させることにより、処理の際の処理位置と退避位置との間で回動するように構成され、回転軸47と側板9aとが連結部材45で結合され、連結部材45の回転により側板9aを回動させる。 (もっと読む)


【課題】シリコン球状体の上の半球部分のみならず下の半球部分にもテクスチャー形状を形成できるシリコン球状体用の加工電極装置及び加工方法を提供する。
【解決手段】電極2上に載置して真空雰囲気内でテクスチャーを加工される加工電極装置は、シリコン球状体14の表面に対して、磁力線が少なくとも45°の角度になるように構成した磁石組み込み電極を有する。加工方法は、前記処理基板に、シリコン球状体の表面に対して、磁力線が少なくとも45°になるように構成した磁石12を組み込み、反応性イオンエッチング法により、エッチングガスとしてμテクスチャーを形成する際に反応に寄与するフッ素系ガスと、マスク材をより効率的に形成しテクスチャー形成を促す塩素系ガスと、シリコン球状体の表面を酸化させまたマスク材のポリマーの大きさを制御する酸素ガスとを含むガスを使用して、シリコン球状体の表面に微細なμテクスチャーを加工する。 (もっと読む)


【課題】電極板の洗浄回数を減らすことができ、洗浄から次の洗浄までのプラズマエッチング時間を一層長くして、効率良くプラズマ処理を行うことができるプラズマ処理装置用電極板を提供する。
【解決手段】電極板3は、厚さ方向に貫通する通気孔11が複数設けられてなり、通気孔11は、放電面3aに開口して設けられる小径の第1穴部21と、その反対面3b側に開口して設けられ第1穴部21より穴径が大きい大径の第2穴部22とが互いに連通して形成されており、第1穴部21と第2穴部22との接続部には、第1穴部21の開口を取り囲むようにリング状の凹溝部23が設けられ、凹溝部23の内周壁面と第1穴部21の内壁面とで形成される立壁部24が設けられている。 (もっと読む)


【課題】試料の温度分布を所望の値に制御することができるとともに、信頼性の高い、長寿命のプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】真空処理室と、該真空処理室に配置された試料台を備え、前記真空処理室内にプラズマを生成して、前記試料台に載置した試料にプラズマ処理を施すプラズマ処理装置において、前記試料台107は、円柱状の基材部201と、該基材部上に配置されヒータ電極膜を備えた誘電体膜部202と、前記誘電体膜部上に配置され吸着用電極膜を備えたセラミクス板209と、前記誘電体膜部とセラミクス板を接着する第1の接着層207と、前記第1の接着層の側面を被覆する耐熱性の第2の接着層211と、前記第2の接着層および誘電体膜部の側面を被覆する保護部材212を備えた。 (もっと読む)


【課題】 最大ガス流量に関する自由度に富み、電極カバー部材の薄型化も可能であり、かつ、ガス導入時の処理室内におけるガス挙動の経時的な変化も発生し難いガス吐出機能付電極を提供すること。
【解決手段】 複数のガス穴54を有するベース材52と、ベース材52の複数のガス穴54のそれぞれに対して1対1で対応するガス穴53を複数有し、ベース材52に固定されて被処理体をプラズマ処理する処理空間に面して配置される電極カバー部材51と、を含み、電極カバー部材51のガス穴径を、ベース材52のガス穴径よりも大きくする。 (もっと読む)


【課題】複数の伸縮可能な部材を用いて温調制御の対象物との接触圧力を可変に制御する。
【解決手段】少なくとも一部が温調制御の対象物に接触する、伸縮可能な縦ベローズ215と、縦ベローズ215に連結され、伸縮可能な横ベローズ220と、縦ベローズ215及び横ベローズ220の内部空間に流す液体を制御する制御部310と、を備えることを特徴とする温調機構200が提供される。 (もっと読む)


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