【課題】微細なパターンの配線分離を行うことができる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】基板に素子分離領域を形成し第１及び第２の拡散領域に分ける工程と、前記基板上に被加工対象膜を形成する工程と、前記被加工対象膜上にハードマスク層と第１レジスト層を形成する工程と、前記第１レジスト層に第１パターンを形成する工程と、前記第１パターンをマスクとして前記ハードマスク層をエッチングする工程と、前記ハードマスク層上に第２レジスト層を形成する工程と、前記第２レジスト層に前記第１パターンを分離する第１スペース幅を有する第２パターンを形成する工程と、前記第２レジスト層に形成された前記第２パターンをマスクとして寸法変換エッチングを行うことにより前記ハードマスク層に第１スペース幅から縮小された第２スペース幅を有する第３パターンを形成する工程と、前記ハードマスク層に形成された第３パターンを用いて前記被加工対象膜をエッチングする工程と、を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 （もっと読む）

【課題】磁気ヘッドで使用されている厚いＡｌ_２Ｏ_３膜の上にルテニウム膜を形成したウエハの加工において、高い選択比が得られるドライエッチング方法提供する。
【解決手段】ＮｉＣｒ膜１５の上に、Ａｌ_２Ｏ_３膜１４、ルテニウム膜１３、ＳｉＯ_２膜、１２、レジストマスク１１を積層したウエハのエッチングにおいて、塩素と酸素を含む処理ガスを用いてルテニウム膜１３をプラズマエッチング処理し（図１（ｃ））、引き続きルテニウム膜１３をマスクとしＢＣｌ_３ガス主体の塩素ガスおよびアルゴンガスを含む混合ガスを用いてＡｌ_２Ｏ_３膜１４をプラズマエッチング処理する（図１（ｄ）。 （もっと読む）

【課題】アモルファスカーボン膜をハードマスク形状に加工する際、ボーイングやパターンの細りの起こらないアモルファスカーボンハードマスクの形成方法を提供する。
【解決手段】アモルファスカーボン膜１３を加工する際、途中まで加工した後（１６）、露出したアモルファスカーボン膜の側壁に酸化膜からなる保護膜１２ｂを形成する。特に、この保護膜を、アモルファスカーボン膜を加工する際の中間マスク層１２ａをスパッタリングすることで形成する。 （もっと読む）

【課題】２回のマスク工程によるライン線幅の臨界寸法の不均一性を改善させることができる半導体素子の微細パターン形成方法の提供。
【解決手段】被エッチング層２０１上に第１エッチング阻止膜２０２を形成し、阻止膜上に第２エッチング阻止膜２０３を形成し、阻止膜上に第１犠牲膜を形成し、第１犠牲膜を選択的にエッチングして、第１犠牲パターンを形成し、第１犠牲パターンを含む阻止膜の上面に沿って第２犠牲膜２０９を形成し、第１犠牲パターンが露出するように、第２犠牲膜と、阻止膜とをエッチングし、第１犠牲パターンを除去し、第２犠牲膜と、阻止膜とをエッチングして、第２犠牲パターンを形成する。第２犠牲パターンをエッチングバリア層として、第１エッチング阻止膜をエッチングし、第２犠牲パターンと、第１エッチング阻止膜とをエッチングバリア層として、被エッチング層をエッチングする。 （もっと読む）

【課題】酸化シリコンなどの被エッチング膜を部分的にドライエッチングする際、有機マスクのリフトオフを防止する。
【解決手段】酸化シリコンなどからなる被エッチング膜１２に界面膜１３を積層する。界面膜１３は、アモルファスシリコンや炭素含有シリコン化合物で構成されている。界面膜１３上に有機マスク２０を設け、無水または加湿したＨＦ（反応剤）とＯ_３（酸化剤）を含むエッチングガスを供給する。界面膜１３は、反応剤単独との反応性が被エッチング膜１２より低く、Ｏ_３との酸化反応を経て反応剤と間接的に反応しエッチングされる。 （もっと読む）

【課題】適用が容易で、標準のクリーニング手順との組合せが可能である、希ガスプラズマ反応を用いて水の残留物を除去する、改善した反応チャンバクリーニング処理を提供する。
【解決手段】水分子を破壊して電子励起した酸素原子を形成できる高エネルギーのＥＵＶフォトン（Ｅ＞２０ｅＶ）を放射する希ガスプラズマ（例えば、Ｈｅ）が、吸着された水を除去するために用いられる。該方法は、材料に吸収された水分子の光分解を引き起こすのに充分なエネルギーを有する、極端紫外及び／又は真空紫外のフォトンを放射して、酸素、水素及び／又は水酸基のラジカルを放出させることが可能である希ガスプラズマに対して該表面を露出することと、反応チャンバからラジカルを除去することとを含む。 （もっと読む）

希ガスフッ化物、たとえば、二フッ化キセノン（ＸｅＦ_２）を含むエッチャントによって犠牲層をエッチングするステップを含む、電気機械デバイスを作製する方法。エッチングプロセスの効率は、種々の方法で増加する可能性があり、また、エッチングプロセスのコストは減少する可能性がある。未使用エッチャントが、エッチングプロセス中に、単離され、再循環されてもよい。エッチング副生成物は、エッチングプロセス中にエッチングシステムから収集され除去されてもよい。エッチャントの成分は、単離され、一般的な付加的エッチャントに対して使用されてもよい。エッチャントまたはエッチングされる層のいずれかまたは両方が、特定のエッチングプロセスについて最適化されてもよい。
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【課題】微細なパターンを形成することが可能な半導体素子の微細パターン形成方法を提供する。
【解決手段】第１補助パターン１０８をマスクとして下部反射防止膜をエッチングして下部反射防止膜パターン１０６ａを形成し、前記下部反射防止膜パターンと前記第１補助パターン１０８の表面に絶縁膜１１０を形成し、下部のハードマスク膜１０４と絶縁膜１１０上に第２補助膜を形成し、前記第２補助膜が前記下部反射防止膜パターン１０６ａ間の前記ハードマスク膜１０４上に残留して第２補助パターン１１２ａとなるようにエッチングし、前記第１補助パターン１０８の上部、および前記絶縁膜１１０を除去し、前記ハードマスク膜１０４をエッチングしてハードマスクパターンを形成し、前記ハードマスクパターンをエッチングマスクとしてエッチング対象膜１０２をエッチングする半導体素子の微細パターン形成方法。 （もっと読む）

【課題】ビア底の銅拡散バリア絶縁膜をドライエッチングで除去した後、ビア底にたまったポリマーをウエット・エッチングで除去すると、ロット内の一部のウエハで下層の銅配線が消滅する現象が起こる。
【解決手段】ビア底の銅拡散バリア絶縁膜をドライエッチングで除去した後、ビア底にたまったポリマーをウエット・エッチングで除去する間、非酸化性乾燥ガス雰囲気で保管することにより、ポリマーが雰囲気中の酸素や水分を取り込むことを防止するものである。 （もっと読む）

【課題】基板上に形成された有機膜をエッチングするにあたり、良好なエッチング形状を得ること。
【解決手段】シリコン含有膜をプラズマによりエッチングして当該膜上のパターンマスクのパターンを転写する工程と、前記パターンマスクを除去して前記シリコン含有膜の表面を露出させる工程と、プラズマ中の酸素の活性種により前記シリコン含有膜のパターンを介して前記有機膜の表面をエッチングし、凹部を形成する工程と、その後、前記シリコン含有膜をスパッタして前記凹部の内壁面にシリコン含有物からなる保護膜を形成する工程と、凹部を、プラズマ中の酸素の活性種により前記シリコン含有膜のパターンを介して更に深さ方向にエッチングする工程と、を行うことで、凹部の側壁を酸素の活性種から保護しながらエッチングを行うことができるため良好なパターン形状が得られる。 （もっと読む）

【課題】生産コストの増大を抑えつつ、配線の側壁に沿ってスリットが形成されることを防止できるようにした半導体装置の製造方法、及び半導体装置を提供する。
【解決手段】配線１０と、配線１０間に設けられた絶縁膜１６と、配線１０の真上にのみ設けられたＳｉＮ膜１５と、ＳｉＮ膜１５上から絶縁膜１６上にかけて設けられたＳｉＮ膜２１と、ＳｉＮ膜２１上に設けられた層間絶縁膜２２と、を備え、絶縁膜１６及び層間絶縁膜２２と、ＳｉＮ膜１５及びＳｉＮ膜２１との間にはエッチングの選択性があることを特徴とする。このような構成であれば、ビアホールｈの形成位置が配線１０の真上から多少ずれた場合でも、絶縁膜１６の削れを小さくすることができ、配線１０の側壁に沿ってスリットが形成されることを防ぐことができる。 （もっと読む）

【課題】
ＳｉＣやＧａＮ等の半導体ウエハの外周部のベベリング加工を、プラズマＣＶＭを用いて高能率で行うことができ、しかも半導体ウエハに微小クラックや残留応力等の加工変質層を発生させることがない結晶学的にも優れた半導体ウエハ外周部の加工方法及びその装置を提供する。
【解決手段】
半導体ウエハ１の外周部に対して所定のギャップ３を設けてリング電極２を配し、不活性ガスに反応ガスを混合した大気圧近傍のプロセスガスをギャップに供給するとともに、半導体ウエハとリング電極間に高周波電圧を印加して、半導体ウエハの外周部近傍に局在し且つその全周にわたって略均一にプラズマを発生させ、プラズマ中で生成した反応ガスに基づく中性ラジカルと半導体ウエハ外周部を構成する原子とのラジカル反応によって生成した揮発性物質を気化させて除去し、ベベリング加工を行う。 （もっと読む）

【課題】被処理基板中の構造体に熱ストレスが加わり難いドライクリーニング方法を提供すること。
【解決手段】 酸化銅、及び有機汚染物質の少なくともいずれか一方が基板表面に形成、もしくは付着した被処理基板をチャンバ内に設置する工程（ステップ１）と、チャンバ内の雰囲気を有機化合物ガス雰囲気として被処理基板の基板表面にガスクラスターイオンビームを照射し、基板表面に形成、もしくは付着した酸化銅、及び有機汚染物質の少なくともいずれか一方を除去する工程（ステップ２）とを具備する。 （もっと読む）

【課題】微細化による配線のＥＭ耐性の劣化を抑制することができる構造を備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板１０の絶縁膜１１に形成され、上面に凹部１２ｃを有する第１の配線１２ｂと、絶縁膜１１及び第１の配線１２ｂの上に形成され、凹部１２ｃを露出すると共に側壁が順テーパー形状の接続孔１４ｃと配線溝１４ｂとを有する第２の絶縁膜１４と、接続孔１４ｃ及び凹部１２ｃに埋め込まれ、第１の配線１２ｂと接続するビア１９ｂと、配線溝１４ｂに形成され、ビア１９ｂと接続する第２の配線１９ａとを備える。 （もっと読む）

【課題】空気の層に基づくパッシベーションの膜の不整合性による不連続性の問題を解決し、高耐圧特性に優れたトランジスタの提供を課題とする。
【解決手段】ＩＩＩ−Ｖ族窒化物からなる半導体層と、その上に、ソース／ドレイン電極と、両サイドを前記ソース/ドレイン電極に挟まれ、かつゲート電極を備えるＩＩＩ−Ｖ族窒化物からなる半導体よりも高い誘電率を有する誘電体膜とが形成されており、前記ゲート電極が、前記誘電体膜の一部を窒化したものであり、さらにセカンドメタルで被覆されていることを特徴とするヘテロ接合電界効果型トランジスタ。 （もっと読む）

サブリソグラフィの寸法を有するパターンを画定するための多様な技術を使用して、活性領域のフィーチャと位置合わせされた緊密なピッチのコンタクトを組み込む半導体構造体を製造する方法、ならびに自己整合の緊密なピッチのコンタクトおよび導電線を同時に製造する方法。活性領域のフィーチャと位置合わせされた緊密なピッチのコンタクト、ならびに任意的には位置合わせされた導電線を有する半導体構造体もまた、緊密なピッチのコンタクトホールならびに導電線用の位置合わせされたトレンチを備えた半導体構造体と同様に開示される。
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【課題】湾曲を軽減し上下比を改善するためにアドバンスドパターニングフィルム（ＡＰＦ）を用いてウェハをエッチングする方法である。
【解決手段】ＡＰＦ層を有するウェハを約１６２ＭＨｚで作動する電源を備えた処理チャンバ内に設置し、処理ガスをチャンバに供給し、１６２ＭＨｚ電源を用いてソース電力を印加し、バイアス電力をウェハに印加することを含む。処理ガスは水素ガス（Ｈ_２）、窒素ガス（Ｎ_２）、及び一酸化炭素ガス（ＣＯ）を含む。Ｈ_２：Ｎ_２の比は約１：１である。加えて、ウェハ温度を調節してエッチング特性を改善する。 （もっと読む）

【課題】高ｋ材料を高温でエッチングする方法を提供する。
【解決手段】一実施形態において、基板上の高ｋ材料をエッチングする方法は、高ｋ材料層をその上に有する基板をエッチングチャンバ内に設置し、少なくともハロゲン含有ガスを含むエッチングガス混合物からプラズマをエッチングチャンバ内に発生させ、プラズマの存在下で高ｋ材料層をエッチングしながらエッチングチャンバの内部表面の温度を約１００℃を越えて維持し、プラズマの存在下で高ｋ材料層をエッチングしながら基板温度を約１００℃〜約２５０℃に維持することを含んでいてもよい。 （もっと読む）

【課題】デュアルダマシン構造において、ビアのボトム径を一定以上確保するとともに、ビアのトップ径を一定以下の大きさとすることにより、ビア抵抗を抑え、ＥＭ耐性・ＳｉＶ耐性を確保するとともに、ＩＬＤ−ＴＤＤＢ耐性を確保した半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法が、前記層間絶縁膜に、フルオロカーボン系ガスおよびＮ_２ガスを含むエッチングガスを用いたドライエッチングによりビアホールを形成する工程と、つづいて前記層間絶縁膜に、前記ビアホールに接続する配線溝を形成し、当該層間絶縁膜に前記下層導電膜に接続するデュアルダマシン配線を形成するためのデュアルダマシン配線溝を形成する工程とを含み、前記ビアホールを形成する工程において、ビアホールをボーイング形状に形成し、および前記配線溝を形成する工程において、前記ビアホールが最大径となる近傍領域の位置までエッチングして、配線溝を形成するとともに、前記配線溝の下部に順テーパー形状のビアを形成する。 （もっと読む）

【課題】幅の異なるパターンを同時に容易に形成することができるパターン形成方法を提供する。
【解決手段】被加工膜１上に複数のライン状のパターンを形成する工程と、複数のライン状のパターンの各側壁に側壁膜を形成する工程と、被加工膜１上、及び複数のライン状のパターンの各側壁に形成された側壁膜間に、複数のライン状のパターンと主元素が同一の材料である材料膜を堆積する工程と、材料膜をエッチングし、側壁膜間でライン状のパターンとして孤立させると共に、被加工膜１上でライン状のパターンより幅の広いパターンを形成する工程と、材料膜をエッチングした後、側壁膜を除去する工程とを備える。 （もっと読む）