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Fターム[5F031HA50]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 処理時の固着、保持 (16,861) | ステージ、チャック、サセプタ (15,090) | 処理装置本体との取付け (86)

Fターム[5F031HA50]に分類される特許

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【課題】熱処理される半導体ウェーハの支持に関し、コストが増大することなくスリップ欠陥の発生を抑制することができるようにする。
【解決手段】熱処理される半導体ウェーハWを裏面Wから複数のピン6によって水平に支持するものであって、ピン6として平面形状の上面を有するものを用いるとともに、ピン6の上面6aを半導体ウェーハWの裏面Wに対して傾斜させた状態として、ピン6の上面6aと側面6cとがなす角部6dの上に半導体ウェーハWを載せて支持する。 (もっと読む)


【課題】キャリアとベアリングとの耐摩耗性を向上させることによって、生産性の更なる向上を可能としたインライン式成膜装置を提供する。
【解決手段】キャリア4に保持された基板Wを複数のチャンバの間で順次搬送させながら成膜処理を行うインライン式成膜装置であって、キャリア4を非接触状態で駆動する駆動機構20と、駆動機構20により駆動されるキャリア4をガイドするガイド機構21とを備え、ガイド機構21は、キャリア4に設けられたガイドレール29に係合された状態で、駆動機構20により駆動されるキャリア4を鉛直方向にガイドする主ベアリング28と、キャリア4を挟み込んだ状態で、駆動機構20により駆動されるキャリア4を水平方向にガイドする副ベアリング30とを有して、これらベアリング28,30とキャリア4との何れかの接触面に、コルモノイ系合金による耐摩耗処理が施されている。 (もっと読む)


【課題】 裏面相互接続構造と製造方法を提供する。
【解決手段】 集積回路構造を形成する方法であって、前記方法は、半導体ウエハの端から前記半導体ウエハの中に延びる第1ノッチを含む半導体ウエハを提供するステップ、及び前記半導体ウエハの上に、第2ノッチを含むキャリアウエハを設置するステップを含み、前記キャリアウエハを設置するステップは、前記第1ノッチの少なくとも一部を前記第2ノッチの少なくとも一部と重ねる方法である。 (もっと読む)


【課題】移動体の位置情報を高精度で計測する。
【解決手段】 露光ステーション200では、ウエハを保持するステージWFS1の位置情報は、計測アーム71Aを含む第1の微動ステージ位置計測系により計測され、計測ステーション300では、ウエハを保持するステージWFS2の位置情報は、計測アーム71Bを含む第2の微動ステージ位置計測系により計測される。露光装置100は、ステージWFS2が計測ステーション300から露光ステーション200へ搬送される際、このステージWFS2の位置情報を計測可能な第3の微動ステージ計測系を有する。第3の微動ステージ計測系は、複数のYヘッド96,97を含むエンコーダシステムとレーザ干渉計76a〜76dを含むレーザ干渉計システムとを含む。 (もっと読む)


【課題】本発明は、貼合部材を保護するとともに、貼合部材をしっかり保持できる真空貼合装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る真空貼合装置は、貼合部材を貼合することに用いられ、前記貼合部材の位置を調整するアライメントアセンブリと、前記アライメントアセンブリに連接固定され、且つ少なくとも2つのチャック部材を備えるチャック機構と、前記チャック機構に対向して設置されるチャックヘッドと、前記チャック機構及び前記チャックヘッドを収容する密封室と、を備え、前記少なくとも2つのチャック部材が前記密封室内で相対運動することによって、前記貼合部材を保持又は解放する。 (もっと読む)


【課題】製膜される膜の膜質を安定させることができる真空処理装置を提供する。
【解決手段】内部で製膜処理が行われる真空容器と、製膜処理が施される基板Sが載せられる基板テーブル12と基板Sおよび基板テーブル12における温度分布を所定の範囲内に制御する基板ヒータ13と、基板テーブル12の基板Sと接する面における複数の箇所の温度を測定する温度測定部23−1から温度測定部23−9と、基板Sが基板テーブル12に載せられて、基板Sの温度分布を均一化させる温度安定化期間が終了する前に、基板Sに対して製膜処理を開始させる制御部6と、が設けられ、制御部6は、複数の箇所における温度の間での温度差に基づいて、安定化期間の長さを制御することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】成膜を行なう半導体製造装置において、基板の処理における加熱を行なう際の、処理対象物を保持する部材における熱応力の集中を抑制する。
【解決手段】処理対象物を保持する、回転可能なサセプタ3と、サセプタ3の外周部に設置され、サセプタ3とともに回転可能なフレーム23と、フレーム23を支持するサセプタ支持部21と、サセプタ支持部21を固定する架台22とを備えている。サセプタ支持部21と架台22とが互いに対向する領域において、架台22に対するサセプタ支持部21の位置を固定するように、サセプタ支持部21と架台22との一方の表面に凹部21bが形成され、サセプタ支持部21と架台22との他方の表面には凹部21bに挿入固定される凸部22bが形成される。凹部21bおよび凸部22bは、サセプタ3の中心から外周側へ向かう径方向に対して交差する方向に延びるように形成されている半導体製造装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】
プラズマ処理システムの加工室において基板を保持する基板ホルダーと共に使用する磁気クリップを提供する。
【解決手段】磁気クリップは、締め付け面及び磁石をそれぞれが有する第1の本体部材及び第2の本体部材を含む。第1の本体部材は、基板ホルダーと機械的に接続されるように構成される。第2の本体部材は、閉位置と開位置との間で第1の本体部材に対して移動するようにヒンジによって第1の本体部材と枢着される。閉位置では、第1の締め付け面と第2の締め付け面との間に基板の縁領域が位置決めされる。開位置では、縁領域は解放される。第2の本体部材の磁石は、第2の本体部材が閉位置にあるときに第1の本体部材の磁石を磁気的に引き付け、第1の締め付け面及び第2の締め付け面に対する基板の縁領域の移動を拘束する力を加える。 (もっと読む)


【課題】、生産コストの高騰や、装置の大型化を招来することなく、サセプターの品質や生産性を飛躍的に向上させることができるCVD装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 炭素質基材5を支持部材により支持した状態で、内部にガスを導入することにより、炭素質基材5の表面にSiC被膜を形成するCVD装置において、上記支持部材は、上記炭素質基材5が載置されて炭素質基材の下部を支持する下部支持部材6と、上記炭素質基材5の上部を支持する上部支持部材13とを有し、この上部支持部材13は上記炭素質基材5の外周縁に設けられると共に、この上部支持部材13にはV字状の溝13dが形成され、このV字状の溝13dにより構成される炭素質基材配置空間17内には、十分な遊びを有する状態で上記炭素質基材5が配置されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】支持具に支持される基板間のピッチを縮小し、処理枚数を増大させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】熱処理装置10は、基板72を処理する反応炉40と、反応炉40内で基板72を支持する支持具30とを有し、支持具39は、基板72と接触する支持板58と、支持板58を支持する支持片66とを有し、支持片66はスケルトン構造であり、支持板58には少なくとも一つの貫通孔84が設けられ、支持片66は貫通孔84とは重ならないように構成されている。 (もっと読む)


【課題】 押印装置における処理能力の改善。
【解決手段】 基板チャックと、基板チャックが固定され且つXY面に平行に移動可能なステージとを有し、基板チャックに保持された基板上のレジストにモールドを押し付けてレジストのパターンを基板に形成する押印装置であって、XY面に平行な方向には剛性を、XY面に垂直な方向には弾性をそれぞれ有し、且つ基板チャックをステージに固定するフレクシャを有するものとする。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理に先立ち、被処理材の表面に形成されたマスクに損傷を与えることなく、被処理材をトレイに接着させることができる接着装置を提供する。
【解決手段】基板14の上方に配置される閉環状のシール部材37と、基板14とシール部材37の間に配置され基板14と面接触する分圧シート38と、シール部材37の上に配置され、分圧シート38とシール部材37との間に与圧室を形成する蓋30Bと、与圧室に気体を注入するための気体注入口36と、蓋30Bをシール部材37に押圧するクランプ30Cとを設ける。これにより、分圧シート38が基板14に面接触するため、マスクに損傷を与えることなく、被処理材をトレイに接着させることができる。 (もっと読む)


【課題】ろう付け部分に剥離等の断線が生ずることを抑制することが可能な載置台構造を提供する。
【解決手段】処理装置20の処理容器22内に設けられて被処理体Wを載置するための載置台構造において、平面方向に延びる1又は複数の導電部材62が内部に設けられた誘電体よりなる載置台60と、処理容器の底部より起立されて上端部に載置台を支持する円筒体状の支柱56と、載置台の下面側に設けられた端子収容凹部と、導電部材に導通されると共に端子収容凹部内に露出されている上部端子と、支柱内に挿通される給電棒86A〜86Dと、給電棒の上端に設けられ、前記端子収容凹部内に嵌合されると共に前記上部端子にろう付けされて給電棒の引っ張り方向に対して前記端子収容凹部に係合される下部端子88A〜88Dを備えた。 (もっと読む)


【課題】成膜工程における金属汚染を抑え、ウェーハ上に均一に成膜することができ、歩留の低下を抑え、半導体装置の信頼性の向上を図ることが可能なサセプタ、半導体製造装置および半導体製造方法を提供する。
【解決手段】サセプタ11は、ウェーハwの径より小さく、表面にウェーハwを載置するための凸部を有するインナーサセプタ12と、中心部に開口部を有し、インナーサセプタ12を開口部が遮蔽されるように載置するための第1の段部と、この第1の段部の上段に設けられ、ウェーハを載置するための第2の段部を有するアウターサセプタ13を備える。 (もっと読む)


動作ユニット(11)に対して電子回路板(12a)を位置決めする位置決め装置(10)が提供される。この装置(10)は、第1の動作位置と第2の動作位置との間で選択的に回転する回転部材(16)と、上記回転部材(16)に取り付けられる位置決め部材(17)とを備える。上記位置決め部材(17)は、上記回転部材(16)に取り外し可能に取り付けられるフレーム(24)と、各電子回路板(12a)が載せられるトランスピラン材料で形成されたストリップ(32)とを備え、上記ストリップ(32)は、上記フレーム(24)に枢着された1対の巻取り/巻戻しローラ(30、31)の間に巻き取られる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、装置の大型化を招くことなく被処理物の主面に対して斜めの方向からイオンを入射させることができる載置台およびプラズマアッシング処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマアッシング処理される被処理物を載置する載置台であって、高周波を印加することによりプラズマを発生可能とした電極と、前記電極の上に設けられ、前記電極の上面に対して前記被処理物を傾斜した状態で載置可能とした傾斜手段と、を備えたことを特徴とする載置台が提供される。 (もっと読む)


【課題】サセプタの支持面の横の温度勾配を小さくして支持面の端の領域を望ましい蒸着温度にする。また、サセプタを反応装置ハウジングの外で容易に清掃可能にする。
【解決手段】カップ状のサセプタは、カップの底によって形成されるサセプタ上部(2)と、カップの側壁によって形成されるサセプタ下部(3)を備える。サセプタ上部(2)は、少なくとも1つの基板のための支持面(4)を形成する平らなベースプレート(2’)を有する。サセプタ上部(2)は、その端がサセプタ下部(3)の末端部(3”)の上に置かれる。サセプタ上部(2)を加熱するための加熱ゾーン(A,B,C)が、ベースプレート(2’)の真下に配置される。サセプタ上部(2)をサセプタ下部(3)から分離してプロセスチャンバー(1)から取り外すことが可能であり、サセプタ上部(2)の端とサセプタ下部(3)の末端部(3”)の間の結合部が熱の伝導に対する障壁を形成する。 (もっと読む)


制御された雰囲気を保持するために少なくとも1つの隔離可能なチャンバを形成するフレームと、少なくとも1つの隔離可能なチャンバのそれぞれに位置する少なくとも2つの基板支持体であって、それぞれ上下に積層され、それぞれの基板を支えるために構成されている、少なくとも2つの基板支持体と、少なくとも2つの基板支持体と連通可能に結合している冷却ユニットであって、少なくとも2つの基板支持体および冷却ユニットが、少なくとも2つの基板支持体上に位置する各基板のそれぞれに同時伝導冷却を与えるように構成されている、冷却ユニットと、を有する基板処理ツール。
(もっと読む)


【課題】基板の平面度の劣化を抑制し、基板を良好に保持できる保持装置を提供する。
【解決手段】基板を保持する保持装置は、基板の一方の面を静電力で保持可能な第1面を有し、第1面の少なくとも一部が該第1面の法線方向に変形可能な保持部材と、第1面と略平行な平面内で互いに離れた少なくとも3つの位置に配置され、第1面に保持された基板の法線方向への移動を抑える支持部を有する支持部材とを備える。 (もっと読む)


【課題】ボルト止めによる破損を抑制し、信頼性の高い基板保持体及びその製造方法を提供する。
【解決手段】被処理基板載置領域14の外縁領域20に設けられた複数の貫通孔28を有するセラミックス基体12と、貫通孔28のそれぞれに挿入され、ボルト穴24を有する複数の円筒状金属ソケット22と、円筒状金属ソケット22及び貫通孔28の間に設けられ、円筒状金属ソケット22及びセラミックス基体12を接合する第1ロウ材と、セラミックス基体12の外周側壁に嵌めこまれた、セラミックス基体12より大きな熱膨張係数を有する金属リング26と、金属リング26及びセラミックス基体12の外周側壁の間に設けられ、金属リング26及びセラミックス基体12を接合する第2ロウ材とを備える。外縁領域20の表面側において円筒状金属ソケット22の端部が、外縁領域20の表面よりも高い。 (もっと読む)


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