【課題】占有面積の小さい抵抗体を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板上のフィールド酸化膜の上に導電性多結晶シリコンを形成し、その上を覆う絶縁膜に多結晶シリコン５に達するコンタクトホールを形成する。コンタクトホールの中にはタングステンサイドウォール９、シリコン酸化膜サイドウォール１０、抵抗体１１があり、抵抗体の上には電極１２を配置することで上下方向に縦長の抵抗体１１とする。 （もっと読む）

【課題】半導体基板上に形成するインダクタのインダクタンスを大きくすること。
【解決手段】半導体基板上に形成された少なくとも１層からなるコイル配線のコイル中央孔に別基板に形成されたコアを挿入する。コアをコイル中央孔に固定した後、別基板は分離する。コアは別基板に接合材を介してコア材（磁性体）の薄板を付着させて、パターニングする。半導体基板上に形成されたコイル中央孔は流動性接着剤が入っていて、コアを挿入した後に流動性接着剤が硬化してコアが固定される。コアが固定された後に接合剤の接着力を低下させて別基板を分離する。コア材はバルクと同じ高透磁率を有するので、非常に大きなインダクタンスを持つインダクタを形成できる。 （もっと読む）

システム及び方法が、電圧切り換え可能な誘電体材料に１つ以上の材料を付着させることを含む。特定の態様では、電圧切り換え可能な誘電体材料が、導電バックプレーン上に配置される。いくつかの実施形態では、電圧切り換え可能な誘電体材料が、付着に関する特性電圧が相違する複数の領域を含む。いくつかの実施形態は、マスキングを含み、取り除くことが可能なコンタクトマスクの使用を含むことができる。特定の実施形態は、電気グラフトを含む。いくつかの実施形態は、２つの層の間に配置される中間層を含む。 （もっと読む）

【課題】導電プラグの酸化を抑止し、コンタクト抵抗の安定化された信頼性の高い半導体装置を実現する。
【解決手段】下部電極１０１と上部電極１０３とで強誘電体膜１０２を挟持してなる強誘電体キャパシタ構造１００と、導電プラグ１１０との間に、酸化しても導電性を有する導電材料（例えば金属）からなる導電層１１２を形成し、ここでは、導電プラグ１１０の下地膜を導電層１１２（Ａｇ，Ｎｉ，Ｃｕ，Ｚｎ，Ｉｎ，Ｓｎ，Ｉｒ，Ｒｕ，Ｒｈ，Ｐｄ，Ｏｓから選ばれた少なくとも１種を材料として形成される。）とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、コンタクト抵抗の安定性を確保して、コンタクト抵抗にばらつきを抑えることを可能にする。
【解決手段】基板１１のシリコン領域１２上に第１金属シリサイド層１３を形成する工程と、前記基板１１上に前記第１金属シリサイド層１３を被覆する絶縁膜１４を形成する工程と、前記絶縁膜１４に前記第１金属シリサイド層１３に通じるコンタクトホール１５を形成する工程と、前記コンタクトホール１５の内面および前記絶縁膜１４上にシリサイド化される第２金属層１６を形成する工程と、前記第２金属層１６と前記コンタクトホール１５の底部のシリコンとを反応させて前記第１金属シリサイド層１３上に第２金属シリサイド層１７を形成する工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】 微細化に伴うコンタクト抵抗の増加を防止した、信頼性の高い素子特性を有する薄膜半導体装置を提供すること。
【解決手段】 透明絶縁性基板上に形成され、所定の間隔を隔てて第１導電型の不純物を含むソース領域及び第１導電型の不純物を含むドレイン領域を有する島状半導体層、前記ソース領域及びドレイン領域の間の島状半導体層上に形成されたゲート絶縁膜、前記ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極、前記島状半導体層及びゲート電極を覆う層間絶縁膜、及び前記ソース領域及びドレイン領域にそれぞれ接続する、前記層間絶縁膜に形成された第１及び第２のコンタクト孔内にそれぞれ埋め込まれた第１導電型の不純物を含む凸型ソース多結晶半導体層並びに第１導電型の不純物を含む凸型ドレイン多結晶半導体層を具備することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】上層側と下層側の導電プラグの接続抵抗が低減された、形成が容易な積層プラグ構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】不純物含有多結晶シリコンからなる第１の導電プラグと、金属からなる第２の導電プラグと、第１の導電プラグと第２の導電プラグを接続する接続導電層とを有する半導体装置であって、前記接続導電層は、第１の導電プラグの端部に接続する金属シリサイド層と、この金属シリサイド層に積層され、第２の導電プラグの端部に接し且つ第２の導電プラグを構成する金属と同種の金属からなる金属層とを有する。 （もっと読む）

【課題】Ｏリングをシール部材に用いた処理室で、半導体基板上の金属シリサイド形成を行う熱処理工程において、処理室に酸素等不純物ガスを引込まない半導体装置の製造方法及び半導体製造装置を提供する。
【解決手段】処理室２０に連通する第１の排気管３２と、第１の排気管３２の排気を遮断するためのバルブ３３と、第１の排気管３２より排気量の小さな第２の排気管３４と、を有し、第２の排気管３４をバルブ３３と処理室２０との間に前記第１の排気管３２から分岐して設け、バルブ３３を閉じることにより、処理室２０を大気圧より高い圧力の状態に維持する。 （もっと読む）

シリサイド形成金属を含むインクを用いて、コンタクト形成方法、そのコンタクト及び局所相互接続を含むダイオード及び／又はトランジスタ等の電気デバイスとその形成方法に関する。コンタクト形成方法は、露出したシリコン表面上にシリサイド形成金属インクを堆積させるステップと、インクを乾燥させ、シリサイド形成金属前駆体を形成するステップと、シリサイド形成金属前駆体及びシリコン表面を加熱して、金属スイサイドコンタクトを形成するステップとを含む。任意選択的に、露出したシリコン表面に隣接する誘電体層上に、金属前駆体インクを選択的に堆積させて、金属含有相互接続を形成できる。更に、１つ又は複数のバルク導電性金属を、残りの金属前駆体インク及び／又は誘電体層上に堆積させてもよい。かかる印刷したコンタクト及び／又は局所相互接続を用いて、ダイオード及びトランジスタ等を作製できる。 （もっと読む）

【課題】プラグまたは局所配線による接続で低い接続抵抗と十分に小さい拡散層リーク電流を実現し、更に深さが異なる接続孔や開口断面の断面の形状や大きさが異なる接続孔または局所配線穴を用いる場合でも、十分に小さい拡散層リーク電流と低い接続抵抗を実現する製造方法を提供する。
【解決手段】基体上の絶縁膜に開口した、表面がシリコンを主成分とする層が底部に露出している第１の開口部（接続孔または局所配線穴）の群と、表面が第１の金属珪化物を主成分とする層が底部に露出している第２の開口部の群と、表面が第１の金属を主成分とする層が底部に露出している第３の開口部の群のうちの、少なくとも２群の各開口部の底部に、第２の金属珪化物を主成分とする層また第２の金属を主成分とする層を、化学気相成長法によって同時に形成する。
【効果】従来以上に高集積、高性能の半導体装置が実現される。 （もっと読む）

【課題】無線信号から生成できる電流値及び電圧値の範囲内で駆動できるメモリを搭載した半導体装置を提供することを課題とする。また、半導体装置製造後にデータの書き込みを行える追記型のメモリを提供することも課題とする。
【解決手段】絶縁表面を有する基板上にアンテナと、アンチヒューズ型のＲＯＭと、駆動回路とを形成する。アンチヒューズ型のＲＯＭを構成する一対の電極の間に、シリコン膜とゲルマニウム膜との積層を設ける。この積層を有するアンチヒューズ型のＲＯＭは、書き込み電圧のバラツキを低減することができる。 （もっと読む）

【課題】基板と複数のマイクロ電子デバイスを備える集積回路デバイス及びその方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一つのマイクロ電子デバイス150に電気的に接触する導電性相互接続部を備える第１の層と、第１の層のラインに対して直角に整列された導電性のラインを備える第２の層であってかつ第２の層のラインが第１の層のラインと電気的に接触している第２の層と、第２の層のラインに対して直角に整列された導電性のラインを備える第３の層であってかつ第３の層のラインが第２の層のラインと電気的に接触している第３の層とを備え、第１の層を第２の層に相互接続し、かつ第３の層を第２の層に相互接続する複数のバイア224等を備える。 （もっと読む）

【課題】外部から曲げ等の物理的な力が加わり応力が生じた場合であってもトランジスタ等の素子の損傷を抑制する半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】基板上に設けられ、チャネル形成領域と不純物領域とを具備する半導体膜と、チャネル形成領域の上方にゲート絶縁膜を介して設けられた第１の導電膜と、第１の導電膜を覆って設けられた第１の層間絶縁膜と、第１の層間絶縁膜上に、少なくとも不純物領域の一部と重なるように設けられた第２の導電膜と、第２の導電膜上に設けられた第２の層間絶縁膜と、第２の層間絶縁膜上に、開口部を介して不純物領域と電気的に接続するように設けられた第３の導電膜とを設ける。 （もっと読む）

【課題】界面破壊現象が発生しない炭素ナノチューブ配線の形成方法及びこれを利用した半導体素子配線の形成方法が開示されている。
【解決手段】基板上に酸化金属膜を形成した後、前記酸化金属膜上に前記酸化金属膜の表面を露出させる開口を含む絶縁膜パターンを形成する。前記開口に露出された前記酸化金属膜を炭素ナノチューブの成長が可能な触媒金属膜パターンに形成する。前記触媒金属膜パターンから炭素ナノチューブを成長させて炭素ナノチューブ配線を形成する。前述した炭素ナノチューブ配線の形成方法は、前記絶縁膜パターンと触媒金属膜パターンとの間で炭素ナノチューブが成長する現象を防止することができる。 （もっと読む）

【課題】相変化メモリ装置のメモリセル部における、相変化領域の上側ならびに下側の金属からの放熱を共に抑制し、熱効率の低下を最小限化して、大規模な相変化メモリ装置の量産を可能とすること。
【解決手段】相変化層の下側のコンタクトプラグからの放熱は、異種材料コンタクトプラグ１０４を採用して抑制する。すなわち、第２の導電材料に比べて比抵抗が大きい（逆に、熱伝導率は小さい）第１の導電材料からなる第１の導電材料プラグ１０６にヒータ電極１１０を接続することによって、放熱を抑制する。相変化層の上側の電極からの放熱は、引き出し電極１１６を用いた、相変化領域（ヒータ電極１１０の上面１１２の近傍）の直上に電極を設けない電極構造の採用によって抑制する。 （もっと読む）

【課題】半導体プロセスの微細化に伴い、信頼性の高い微細なゲート電極の形成がより困難なものとなっている。
【解決手段】ゲート電極１０５の上面に加え、ゲート電極１０５の側面に対しても金属シリサイド１１０を形成することで、ゲート電極１０５を所望の太さの幅に拡大しなくても、信頼性の高いゲート電極１０５を形成することができる。 （もっと読む）

【課題】画素の開口率を高める。
【解決手段】液晶装置１は、ＴＦＴアレイ基板１０上の互いに異なる層に夫々形成されており、第２層間絶縁膜４２を介して互いに電気的に絶縁された上部容量電極３００及び下部容量電極７１、サイドウォール９１、接続用導電膜９３、誘電体膜７５及びコンタクトホール８５を備えている。接続用導電膜９３によれば、コンタクトホールを形成する際のマージンを確保するために広げざるを得なかった下部容量電極７１及び上部容量電極３００の面積を低減でき、画素毎の開口領域の間隙に位置する非開口領域を低減することが可能である。これにより、画素における非開口領域の幅Ｗ１をサイドウォール９１の幅Ｗ２に応じて低減でき、非開口領域を狭めることによって画素における開口率を高めることが可能である。 （もっと読む）

【課題】相変化メモリ装置における良好な電気特性と良好な熱特性を両立させ、電極や配線の材料選択の自由度も高めて、大規模な相変化メモリ装置の量産を可能とすること。
【解決手段】ヒータ電極１１０と相変化層１１４の接触界面１１２の近傍で発生するジュール熱が、ヒータ電極１１０を介して下方に伝達され、下地の良導電性の金属コンタクトプラグから放熱されることを抑制するために、異種材料コンタクトプラグ１０４（１０６，１０８）を採用する。ヒータ電極１１０に接触する第１の導電材料プラグ１０６は、ヒータ電極１１０の構成材料と同種または同じ金属材料からなり、第２の導電材料プラグ１０８は、接地電位用プラグ１００や接地配線１０２と同種あるいは同じ金属材料からなる。両プラグ１０６，１０８は、共通のコンタクトホール内に積層形成される。 （もっと読む）

【課題】導電プラグの酸化を抑止し、コンタクト抵抗の安定化された信頼性の高い半導体装置を実現する。
【解決手段】下部電極１０１と上部電極１０３とで強誘電体膜１０２を挟持してなる強誘電体キャパシタ構造１００と、導電プラグ１１０（プラグを構成する導電物は例えばタングステン（Ｗ））との間に、シリサイド膜１１１を形成する。ここでは、導電プラグ１１０の下地膜をシリサイド膜１１１とする場合を例示する。 （もっと読む）

半導体デバイスおよびその製造方法が開示される。このデバイスは、１以上の導電性ゲート（１１）を具えた活性半導体領域（１Ａ）と、前記活性半導体領域（１Ａ）の周辺に位置し主としてフィールド酸化領域（３）よりなるコンタクト領域（１Ｂ）とを具える。周辺コンタクト領域（１Ｂ）上、および、少なくとも一部の活性半導体領域（１Ａ）上に、導電性ゲート（１１）の間にコンタクト窓（１９ａ）が形成された絶縁層（１７）が積層される。絶縁層（１７）上に積層された金属コンタクトパッド（２３）が、前記コンタクト領域（１Ｂ）に設けられる。この金属コンタクトパッド（２３）は、導電性のパターンを介して、絶縁層（１７）の下に埋設されているコンタクトストリップ（１５）に接触し、この導電性のパターンは、コンタクト窓（１９ｂ）充填物の複数個で構成されており、コンタクトパッド（２３）の実質的な領域を横切って延びている。このパターンは平行な一連のトレンチに充填されたもので構成されているのが好ましい。
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