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Fターム[5F041CA58]に分類される特許

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【課題】駆動電圧が低い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、n形半導体層と、電極と、p形半導体層と、発光層と、を備えた半導体発光素子が提供される。前記p形半導体層は、前記n形半導体層と前記電極との間に設けられる。前記p形半導体層は、前記電極に接するp側コンタクト層を含む。発光層は、前記n形半導体層と前記p形半導体層との間に設けられる。前記p側コンタクト層は、前記n形半導体層から前記p形半導体層に向かう第1方向に対して垂直な平面を有する平坦部と、前記平坦部から前記電極に向かって突出した複数の突起部と、を含む。前記複数の突起部の前記第1方向に沿った高さは、前記発光層から放出される光の主波長の1/4の長さよりも小さい。前記複数の突起部の前記平面内における密度は、5×10個/cm以上、2×10個/cm以下である。 (もっと読む)


【課題】低減された酸素濃度のp型窒化ガリウム系半導体層を有するIII族窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体素子11は、基板13、n型III族窒化物半導体領域15、発光層17、及びp型III族窒化物半導体領域19を備える。基板13の主面13aは、該第1の窒化ガリウム系半導体のc軸に沿って延びる基準軸Cxに直交する面Scから50度以上130度未満の範囲の角度で傾斜する。p型III族窒化物半導体領域19は、第1のp型窒化ガリウム系半導体層21を含み、第1のp型窒化ガリウム系半導体層21の酸素濃度は5×1017cm−3以下である。第1のp型窒化ガリウム系半導体層21のp型ドーパント濃度Npdと酸素濃度Noxgとの濃度比(Noxg/Npd)が1/10以下である。 (もっと読む)


【課題】信頼性を向上させた発光素子用エピタキシャルウェハ、及び発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子用エピタキシャルウェハは、n型基板1上に、少なくともP(燐)系結晶のn型クラッド層3、AlGa(1−x)As、又はGaAsなどのAs(砒素)系結晶で形成した量子井戸構造を有する発光層5、及びp型クラッド層7が順次積層された化合物半導体と、n型クラッド層3と発光層5との間に、発光層5を構成するAlGa(1−x)As層とは異なるAlGa(1−x)As層4とを有している。 (もっと読む)


【課題】単層で発光波長が相違する複数の発光を出射するIII族窒化物半導体単層を備えたIII族窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】基体と、基体上に形成され、ドナー不純物とアクセプター不純物が添加され且つガリウムを必須の構成元素として含むガリウム含有III族窒化物半導体層である多波長発光III族窒化物半導体層と、を備え、多波長発光III族窒化物半導体層は、窒素を含む第V族元素よりガリウムを含む第III族元素を化学量論的に富裕に含み、原子濃度が6×1017cm−3以上5×1019cm−3以下の範囲の珪素と、原子濃度が5×1016cm−3以上3×1018cm−3以下の範囲のマグネシウムと、合計の原子濃度が1×1017cm−3以下の範囲の遷移金属元素と、を含み、且つ、バンド端発光とは別に、波長400nm以上750nm以下の波長帯域において波長が異なる3個以上の光を同時に出射することを特徴とするIII族窒化物半導体素子。 (もっと読む)


【課題】化合物系半導体発光素子の発光効率を低下させることなく、静電破壊に対する耐圧を付与する。
【解決手段】本発明の化合物系半導体発光素子は、基板と、該基板上に形成された半導体積層構造とを有する化合物系半導体発光素子であって、半導体積層構造は、基板側から順に、n型層、発光層、およびp型層を含むものであり、p型層に接するp側電極と、n型層に接するn側電極とを有し、n型層は、半導体積層構造を構成する他の層よりも表面粗さが粗いリークパス層を1層以上有し、該化合物系半導体発光素子の上面からの平面視において、リークパス層の面積は、半導体積層構造を構成する他の層の面積よりも小さいことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高輝度化を図ることができる半導体発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体発光素子は、第1導電形の第1半導体層と、第2導電形の第2半導体層と、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層と、を有する構造体と、前記構造体の前記第2半導体層の側に設けられ、金属部と、前記金属部を貫通する複数の開口部と、を有する第1電極層と、前記第2半導体層と、前記第1電極層と、の間に設けられた中間層と、前記第1半導体層と導通する第2電極層と、を備える。前記複数の開口部のそれぞれの円相当直径は、10ナノメートル(nm)以上、5マイクロメートル(μm)以下である。前記中間層の厚さは、10nm以上、200nm以下である。 (もっと読む)


【課題】発光効率の高い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】n型GaN層を含むn型半導体層と、n型半導体層と接続されたn側電極と、p型GaN層と、p型GaN層と積層されたp型GaNコンタクト層と、を含むp型半導体層と、p型半導体層に接続されたp側電極と、n型半導体層とp型半導体層との間に設けられ複数の井戸層を含む発光部と、発光部とp型半導体層との間に設けられ、0.001〜0.05の第1Al組成比のAlGaNを含み0.5〜5nmの厚さの第1層と、第1層とp型半導体層との間に設けられ、0.1〜0.2の第2Al組成比のAlGaNを含む第2層と、第1層と発光部との間においてp型半導体層に最も近いp側井戸層に接し、厚さが3〜8nmで、Inz1Ga1−z1N(0≦z1<1)を含み、p型不純物濃度が第1層よりも高い中間層と、を備えた半導体発光素子が提供される。 (もっと読む)


【課題】光出力を高めつつ、信頼性が改善された発光素子を提供する。
【解決手段】放出光を放出可能な発光層と、第1電極と、前記発光層と前記第1電極との間に設けられた第1の層と、前記第1の層と前記第1電極との間に設けられた第2の層と、前記第1の層と前記発光層との間に設けられたクラッド層と、を備えた発光素子が提供される。第1の層は、第1導電形の第1の不純物濃度を有し、前記第1電極から注入されたキャリアを前記発光層の面内方向に拡散可能とする。第2の層は、前記第1の不純物濃度よりも高い第1導電形の第2の不純物濃度を有し、第1の面が前記第1の層と接触し、前記第1の面とは反対側の第2の面が前記第1電極の形成領域と非形成領域とを有し、平均ピッチが前記放出光の波長以下とされた網状または複数の島状の凸部が前記非形成領域に設けられている。前記クラッド層は、第1導電形を有する。 (もっと読む)


【課題】特性を向上できる赤外LED用のエピタキシャルウエハおよび赤外LEDを提供する。
【解決手段】赤外LED用のエピタキシャルウエハ1cは、主表面11aと、主表面11aと反対側の裏面11bとを有するAlxGa(1-x)As層(0≦x≦1)を含むAlyGa(1-y)As基板(0≦y≦1)と、AlxGa(1-x)As層の主表面11a上に形成され、かつ活性層を含むエピタキシャル層20とを備える。AlxGa(1-x)As層において、主表面11aのAlの組成比xは、裏面11bのAlの組成比xよりも低い。AlxGa(1-x)As層において、主表面11aの不純物濃度は、裏面11bの不純物濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】バンドギャップがより大きく、紫外領域で発光する可能性があるβ−Ga単結晶において、所定の抵抗率及びキャリア濃度を有するβ−Ga単結晶を提供する。
【解決手段】β−Ga単結晶において、Si濃度を1×10−5〜1mol%に変化させることにより、抵抗率が2.0×10−3〜8×10Ωcm、キャリア濃度が5.5×1015〜2.0×1019/cmの範囲に制御するドーパントの添加濃度に応じて抵抗率を可変することができる。 (もっと読む)


【課題】Al含有率が低いAlGaN層やGaN層を用いた超格子歪緩衝層を平坦性良く形成すると共に、該超格子歪緩衝層上に平坦性および結晶性が良好な窒化物半導体層を形成した窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】基板と、基板上に形成されたAlNからなるAlN歪緩衝層と、AlN歪緩衝層上に形成された超格子歪緩衝層と、超格子歪緩衝層上に形成された窒化物半導体層とを備える窒化物半導体素子であって、超格子歪緩衝層は、AlGa1−xN(0≦x≦0.25)よりなり、且つ、p型不純物を含む第1の層と、AlNよりなる第2の層とを交互に積層して超格子構造を形成したものであることを特徴とする、窒化物半導体素子である。 (もっと読む)


【課題】第二n型半導体層表面に起因する発光層およびp型半導体層の不良が生じにくく、かつ、高い出力の得られる半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】基板11上に第一n型半導体層12cを積層する第一工程と、前記第一n型半導体層12c上に前記第一n型半導体層12cの再成長層12dと第二n型半導体層12bと発光層13とp型半導体層14とを順次積層する第二工程とを具備し、前記第二n型半導体層12bを積層する工程において、前記再成長層12d形成時よりも少量の前記Siをドーパントとして供給することにより第二n型半導体層第一層を形成する工程(1)と、前記Siを前記工程(1)よりも多く供給することにより第二n型半導体層第二層を形成する工程(2)と、をこの順で行うことを特徴とする半導体発光素子1の製造方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】高い発光効率及び高い降伏電圧Vrを備えるとともに、降伏電圧Vrのロット間ばらつきが低減された半導体発光装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】第1のクラッド層と、平均ドーパント濃度が第1のクラッド層よりも低い第2のクラッド層と、平均ドーパント濃度が2×1016cm−3〜4×1016cm−3であって(AlGa1−yIn1−xP(0<x≦1、0≦y≦1)からなる活性層と、第3のクラッド層と、Ga1−xInP(0≦x<1)からなる第2導電型半導体層と、有し、第2のクラッド層の層厚をd(nm)とし、第2のクラッド層の平均ドーパント濃度をNd1(cm−3)とした場合に、d≧1.2×Nd1×10−15+150の関係式を満たすこと。 (もっと読む)


【課題】キャリア濃度および発光出力を向上させたp型AlGaN層およびIII族窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】本発明は、マグネシウムをドープしたp型AlGa1−xN層であって、アルミニウム組成比xが0.23以上0.3未満の範囲であり、かつキャリア濃度が5×1017/cm3以上であるか、アルミニウム組成比xが0.3以上0.4未満の範囲であり、かつキャリア濃度が3.5×1017/cm3以上であるか、または、アルミニウム組成比xが0.4以上0.5未満の範囲であり、かつキャリア濃度が2.5×1017/cm3以上であることを特徴とするp型AlGaN層である。 (もっと読む)


【課題】信頼性を向上できる赤外LED用のエピタキシャルウエハおよび赤外LEDを提供する。
【解決手段】赤外LED用のエピタキシャルウエハ20bは、主表面11aと、主表面11aと反対側の裏面11bとを有するAlxGa(1-x)As層11(0≦x≦1)を含むAlyGa(1-y)As基板(0≦y≦1)10と、AlxGa(1-x)As層11の主表面11a上に形成され、かつ活性層を含むエピタキシャル層21とを備え、AlxGa(1-x)As層11において、裏面11bのAlの組成比xは、主表面11aのAlの組成比xよりも高く、かつ裏面11b側から主表面11a側に向けてキャリア濃度が変化している。 (もっと読む)


【課題】大電流が印加されることにより高い発光出力が得られる半導体発光素子を製造できる半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】基板11上に、第1n型半導体層12aと第2n型半導体層12bと発光層13とp型半導体層14とを順次積層する工程を具備し、第2n型半導体層12bを形成する工程において、基板11の温度を、前記発光層13を形成する際の前記基板11の温度未満の低温にして、前記第2n型半導体層12bに前記第1n型半導体層12aを超える高濃度でSiをドープする半導体発光素子1の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】 GaN基板上に結晶成長する各半導体層の平坦性が、半導体素子の寸法相当において向上した半導体基板を提供し、更には、この半導体基板を基礎として、特性の高性能化された半導体発光素子、半導体素子を提供する。
【解決手段】基板11と、この基板11上に積層された窒化物系III−V族化合物半導体単結晶層12と、基板11と窒化物系III−V族化合物半導体単結晶層12との間に設けられた、不純物元素を5x1017cm-3以上2x1019cm-3以下含有する層10とを備える。 (もっと読む)


【課題】半導体層の光取出し面の反対側の境界面に台形凸部半導体層を設けた光半導体装置においては、台形凸部半導体層の不純物濃度が均一であったので、電流は台形凸部半導体層の台形の根本に集中し、活性層の狭い領域でしか発光しなかった。
【解決手段】n型GaN層2、活性層3、p型GaN層4上に酸化シリコン層5及び台形凸部p型GaN層6’を設け、酸化シリコン層5及び台形凸部p型GaN層6’上に透明電極層7及び反射電極層8を設ける。台形凸部p型GaN層6’における不純物濃度もしくはキャリア密度は台形の底部から先端部へ向かって段階的もしくは連続的に増大している。この結果、電流は台形凸部p型GaN層6’の台形の側面、先端部からも活性層3へ注入され、活性層3の広い領域で発光する。 (もっと読む)


【課題】 ZnO系化合物半導体素子の活性層の結晶品質をn型ドーパントの拡散によって落とさない。
【解決手段】 ZnO系化合物半導体素子は、III族元素とともに窒素(N)がドープされたn型半導体層と、前記n型半導体層の上方に形成されたp型半導体層と、前記n型半導体層と前記p型半導体層との間に形成された活性層とを含む。III属元素と一緒に窒素を複合ドープすることにより、n型半導体層以外の他の層に対するIII属元素の拡散が抑制される。 (もっと読む)


【課題】光取り出し効率が高く、かつ動作電圧の低い窒化物半導体発光ダイオード素子を提供する。
【解決手段】n型窒化物半導体層と、n型窒化物半導体層上に設けられた窒化物半導体発光層と、窒化物半導体発光層上に設けられたp型窒化物半導体層と、p型窒化物半導体層上に設けられたIn含有窒化物半導体層と、In含有窒化物半導体層上に設けられた透明導電膜と、を含み、In含有窒化物半導体層は組成ゆらぎを有するようにInを含有する窒化物半導体発光ダイオード素子である。 (もっと読む)


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