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Fターム[5F043AA03]の内容

ウェットエッチング (11,167) | 被エッチング体 (2,299) | 半導体基板 (704) | Ga−As系 (35)

Fターム[5F043AA03]に分類される特許

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【課題】発光デバイスからの光抽出を向上させること。
【解決手段】発光デバイスは、n型領域とp型領域の間に配置された発光層を有する半導体構造体を含む。多孔質領域は、発光層とn型領域及びp型領域のうちの1つに電気的に接続したコンタクトとの間に配置される。多孔質領域は、吸収性のコンタクトから離れる方向に光を散乱させ、これによりデバイスからの光抽出を向上させることができる。幾つかの実施形態において、多孔質領域は、GaN又はGaPのようなn型半導体材料である。 (もっと読む)


【課題】半導体基板を溶液に浸漬しないで半導体基板表面に転写部の形状を転写できる仕組みを提供すること。
【解決手段】転写部の形状を半導体基板の表面に転写する半導体製造装置が、半導体基板の表面に溶液を投下し、触媒として作用する転写部の表面を溶液が投下された半導体基板の表面に接触するべく水平移動する。
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【課題】半導体基板を溶液に浸漬しないで半導体基板表面に転写部の形状を転写できる仕組みを提供すること。
【解決手段】転写部の形状を半導体基板の表面に転写する半導体製造装置が、傾斜した半導体基板の表面近傍に、溶液の触媒として作用する転写部を配置し、転写部が配置された半導体基板の表面近傍を流れるように半導体基板の表面に溶液を供給する。
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【課題】過剰なエッチングを抑制するとともに半導体表面の突起物を除去する半導体光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体光素子の製造方法は、エッチストップ層13及び複数の半導体層を含み、半導体光素子のための半導体積層10を半導体基板11の主面11aにエピタキシャル成長させる半導体積層成長工程と、半導体積層10の最表面から突出する突起物の先端部が露出するように、最表面にマスク層を形成するマスク層形成工程と、マスク層を用いて、ウェットエッチングにより突起物をエッチングするウェットエッチング工程と、ウェットエッチングの後に、ドライエッチングにより突起物を除去するドライエッチング工程と、突起物を除去した後に、最表面からマスク層を除去するマスク層除去工程と、マスク層を除去した後に、半導体積層10に半導体光素子のための加工を行う加工工程と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハ上に形成されたエピタキシャル層の層厚測定用試料を簡便に製造できる層厚測定用試料製造装置を提供する。
【解決手段】エピタキシャル層3が形成されたウエハ片1を、そのエピタキシャル層3の一部を残してエピタキシャル層3をエッチングして層厚測定用試料を製造し、エッチング後のウエハ片1上に段差として残ったエピタキシャル層3の層厚を測定するための層厚測定用試料製造装置10において、ウエハ片1を挟み込む開閉自在の2枚の樹脂板11,12と、これら2枚の樹脂板11,12の一方に設けられ、ウエハ片1上に形成されたエピタキシャル層3の一部をエッチングから保護すべくエピタキシャル層3の一部と密着するエッチング防止ゴム13とを備えたものである。 (もっと読む)


【課題】エッチングにより、適切に、エッチング対象物の表面に凹凸形状を形成して粗面化を行うことができるエッチング液組成物を提供する。
【解決手段】エッチング液組成物は、エッチング対象物の表面16をエッチングして凹凸形状を形成するエッチング液組成物であって、過酸化水素水と、有機酸とを含む。 (もっと読む)


【課題】エッチングにより、適切に、エッチング対象物の表面に凹凸形状を形成して粗面化を行うことができるエッチング液組成物を提供する。
【解決手段】エッチング液組成物は、エッチング対象物の表面16をエッチングして凹凸形状を形成するエッチング液組成物であって、有機酸、有機酸塩、無機酸、無機酸塩、キレート剤、界面活性剤、糖アルコール類、フェノール類、アゾール類、および複素環化合物からなる群から選択される少なくとも一つと、酢酸と、フッ化水素酸と、硝酸とを含む。 (もっと読む)


【課題】ヒートシンクに生じる不具合を低減すること。
【解決手段】半導体装置は、第1面及び第2面を有し、第1面と第2面とを貫通するバイアホールを有する半導体基板と、第1面上に、バイアホールの開口と少なくとも部分的に重複するように形成された配線又は電極と、第2面上に形成され、バイアホールの開口と少なくとも部分的に重複する開口を有する応力緩衝層と、応力緩衝層上からバイアホールの内壁面に沿って延在し、配線又は電極と電気的に接続されたヒートシンクと、を備える。バイアホールの第2面における開口の大きさは、第1面における開口の大きさよりも大きい。応力緩衝層の熱膨張係数は、ヒートシンクの熱膨張係数未満である。 (もっと読む)


【課題】本発明は光電素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明による光電素子であって、表面及び表面と垂直する法線方向を有する基板と、基板の表面に位置して表面と接触する第一半導体層と、第一半導体層と基板の表面の間に位置する少なくとも一つの空洞構造とを有し、少なくとも一つの空洞構造は幅と高さを有し、幅は空洞構造における表面に平行する方向の最大寸法であり、高さは空洞構造における法線方向に平行する方向の最大寸法であり、高さは幅より小さい。 (もっと読む)


【課題】特殊な技術を用いることなく、LEDの光取り出し面を構成する半導体膜の表面を、効率よくエッチングして粗面化(凹凸化)することが可能なエッチング液組成物および該エッチング液組成物を用いたエッチング方法を提供する。
【解決手段】無機酸と、金属化合物とを含む組成とする。
さらに、有機酸、有機酸塩、無機酸塩、界面活性剤のいずれかを含む組成とする。
さらに、無機酸として、塩酸、リン酸、硫酸、硝酸のいずれかを含む組成とする。
また、金属化合物として、鉄系化合物を用いる。
有機酸および有機酸塩として、モノカルボン酸、ポリカルボン酸、オキシカルボン酸、ホスホン酸、スルホン酸およびその塩からなる群より選ばれる少なくとも1種を用いる。
本発明のエッチング液組成物を用いて、AlGaInP膜、AlGaAs膜、GaAsP膜のいずれか半導体膜をエッチングし、表面を粗面化する。 (もっと読む)


【課題】厚みのある半導体基板に対し、正確な位置でのへき開を可能とするような十分な深さのガイド溝を形成する半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体基板の製造方法は、インジウムリン化合物半導体またはガリウムヒ素化合物半導体からなる基板本体の表面に、開口幅が略40um以下である開口部が形成されたマスクを、その開口部が基板本体のへき開線に沿って延びるように転写する工程と、基板本体の表面に臭素系のエッチング液を用いてウエットエッチング処理を施すことによって、縦断面で略V字型を有するガイド溝を形成する工程と、ガイド溝に反応性ガスを用いてドライエッチング処理を施すことによって、底部の縦断面形状を略V字型に保持したままガイド溝の溝深さを深くする工程と、を含むものである。 (もっと読む)


【課題】GaAsを材料として用いた基板の基板厚さのばらつきを抑制することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】GaAs基板29上に、AlGaAsからなる基板厚制御層18を形成する工程と、基板厚制御層18上にGaAsからなるバッファ層17を形成する工程と、このバッファ層17上に電界効果トランジスタ16を形成する工程と、次亜塩素酸ナトリウム水溶液を用いて、GaAs基板29を、基板厚制御層18が露出するまで研磨する工程と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】エピタキシャル成長前の表面処理(エッチング処理、洗浄処理、乾燥処理)において、半導体ウェハの表面パーティクル数が増大するのを効果的に抑制し、表面パーティクル数が少ない半導体ウェハを実現できる技術を提供する。
【解決手段】ウェハカセットを、当該ウェハカセットの前面を構成する前方支持体と、前方支持体に対向配置され、当該ウェハカセットの背面を構成する後方支持体と、収容される半導体ウェハを下方に案内する上溝部を有し、前方支持体と後方支持体を上部で連結する上側部フレームと、上溝部に対応して設けられ、収容される半導体ウェハを支持する下溝部を有し、前方支持体と後方支持体を下部で連結する下側部フレームとを備えた構成とする。上側部フレームと下側部フレームの間が開口し、側部周縁が開放された状態で半導体ウェハを収容可能となっている。 (もっと読む)


【課題】スクラッチの発生が少なく平坦な被加工面を得ることができ、しかも、基本的に触媒のみを交換できるようにすることで、安価かつ耐久性の良い研磨具を提供する。
【解決手段】表面に金属配線302を形成した光透過性の支持定盤300と、表面の少なくとも基板と接触する部分が触媒306からなり、光及びイオン電流の少なくとも一方を通過させるための複数の貫通穴304aを内部に有する触媒パッド308を有する。 (もっと読む)


エピタキシャルリフトオフを用いる、フレキシブル光電(PV)デバイス等の感光性デバイスの製造方法が開示される。同様に、成長用基板を有する構造を含むフレキシブルPVデバイスを製造する方法が開示され、この方法では、保護層の選択的エッチングにより、再利用に好適な平滑な成長用基板が得られる。 (もっと読む)


【課題】剥離面がナノオーダーの平坦性を持つ化合物半導体エピタキシャルフィルムを得る条件を備えた半導体ウェハ及びこれを用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体ウェハ100は、半導体基板(例えば、GaAs基板101及びバッファ層102)と、この上に形成された剥離層103と、この上に形成された化合物半導体エピタキシャル層104とを有し、剥離層103の厚さを20nm以上200nm未満にしたものである。また、半導体装置の製造方法は、前記半導体ウェハを用意する工程と、エッチングマスクにより、化合物半導体エピタキシャル層をパターニングし、エッチング溝を形成する工程と、剥離層をエッチングし、化合物半導体エピタキシャル層を剥離することによって得られた化合物半導体エピタキシャルフィルムを基板上にボンディングする工程とを有するものである。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体結晶内部からの光取り出し効率を向上させることにより、光出力を高めた半導体発光装置の製造方法および半導体発光装置を提供することを目的とする。
【解決手段】発光層2と、Ga(1−x)AlAs層(0≦x<0.8)を含み発光層から放出された光を外部に取り出す表面層8と、を有する半導体積層体を、0℃未満の液温に保持した硝酸水溶液に浸漬して表面層の表面を粗面化することを特徴とする半導体発光装置の製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】AlGaAs/InGaP界面の遷移層の形成を抑制する。
【解決手段】ヒ素化合物からなる第2半導体と、リン化合物からなる第3半導体とを含み、前記第2半導体と前記第3半導体とが接触しており、前記第2半導体が第1原子を第2濃度で含有し、かつ第2原子を含有し、前記第1原子が前記第2半導体に第1伝導型のキャリアを発生させ、前記第2濃度が、前記第2半導体にドープする前記第1原子の量を増加するに従い増加するキャリア数が飽和し始める前記第1原子の濃度以上の濃度であり、前記第2原子が前記第2半導体におけるフェルミ準位と電荷中性準位との差を小さくする半導体基板提供する。 (もっと読む)


【課題】窒化物系半導体素子の製造方法において、サファイア基板上の窒化物系半導体層を含むウエハの反りを改善して、支障なくサファイア基板のレーザリフトオフを行ない得る方法を提供する。
【解決手段】窒化物系半導体素子の製造方法は、サファイア基板1上に1層以上の窒化物系半導体層2を形成する工程と、窒化物系半導体層上にサファイアより小さな熱膨張係数の導電性支持基板3の第1主面を接合する工程と、導電性支持基板の第1主面に対向する第2主面上にその導電性支持基板より大きな熱膨張係数の反り抑制基板4が加熱を含む方法で接合される工程と、その後に窒化物系半導体層からサファイア基板がリフトオフ法で除去される工程とを含む。 (もっと読む)


本発明の実施形態は、一般に、エピタキシャルリフトオフ(ELO)膜、およびそのような膜の製造方法に関する。実施形態は、数多くのエピタキシャル成長基板または面がタイル状に配列された共通の支持基板上に、複数のELO膜またはスタックを同時かつ別個に成長させる方法を提供する。その後、ELO膜は、ELOプロセス中にエッチングステップによってエピタキシャル成長基板から取り除かれる。支持基板上に配置されたエピタキシャル成長基板を含むタイル状成長基板は、ELO膜をさらに成長させるために再使用することができる。一実施形態では、支持基板上に離して配置された2またはそれ以上のガリウムヒ素成長基板を含むタイル状成長基板が提供され、支持基板が、約5×10−℃−から約9×10−℃−までの範囲内の熱膨張係数を有する。 (もっと読む)


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