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Fターム[5F043DD21]の内容

ウェットエッチング (11,167) | 方法 (1,636) | リフトオフ法 (107) | レジスト層以外のスペーサー層を用いるもの (34)

Fターム[5F043DD21]に分類される特許

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【課題】AgまたはAgまたはAg合金からなる反射膜を、反射率を低下させず、均一な膜厚でパターニングすること。
【解決手段】スパッタや蒸着などによって、第1絶縁膜16aの全面に反射膜19を形成し、リフトオフ法によって反射膜19上に所定のパターンのバリアメタル膜23を形成する。次に、銀エッチング液を用いて、反射膜19をウェットエッチングする。ここで、バリアメタル膜23は銀エッチング液によってウェットエッチングされないため、マスクとして機能し、上部にバリアメタル膜23が形成された領域の反射膜19はウェットエッチングされずに残る。これにより、第1絶縁膜16a上に所望のパターンの反射膜19を均一な厚さで形成することができる。 (もっと読む)


【課題】チャネル領域の低抵抗化を図りながら、ノーマリオフを実現する。
【解決手段】半導体装置を、キャリア走行層3及びキャリア供給層5を含む窒化物半導体積層構造と、窒化物半導体積層構造の上方に設けられ、活性化領域10と不活性領域10Aとを有するp型窒化物半導体層6と、p型窒化物半導体層の不活性領域上に設けられたn型窒化物半導体層7と、p型窒化物半導体層の活性化領域の上方に設けられたゲート電極13とを備えるものとする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、微細パターンの形成工程に関する。
【解決手段】微細パターンの形成方法は、c面六方晶系半導体結晶を設ける段階から始まる。上記半導体結晶上に所定のパターンを有するマスクを形成する。次いで、上記マスクを用いて上記半導体結晶をドライエッチングすることで上記半導体結晶上に1次微細パターンを形成し、上記1次微細パターンが形成された半導体結晶をウェットエッチングすることで上記1次微細パターンが水平方向に延びた2次微細パターンを形成する。ここで、上記ウェットエッチング工程から得られた2次微細パターンの底面と側壁は夫々固有の結晶面を有することができる。本微細パターンの形成工程は、半導体発光素子に非常に有益に採用されることができる。特に微細パターンが求められるフォトニック結晶構造または表面プラズモン共鳴原理を用いた構造に有益に採用されることができる。 (もっと読む)


【課題】所望のパターンが形成でき、製造工程の迅速化を図ることが可能なパターン形成方法を提供する。
【解決手段】本実施形態のパターン形成方法は、下地10の上に第1の膜11を選択的に形成する工程と、前記第1の膜11および前記第1の膜に覆われていない前記下地10の上に、第2の膜13を形成する工程と、前記第2の膜13の平均結晶粒径を前記第2の膜13の膜厚以上に調整する工程と、前記第1の膜11のエッチャントを前記第2の膜13の表面に晒し、前記第1の膜11の上に形成された前記第2の膜13を前記下地上から選択的に除去する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】チップ面積の削減が可能な側壁加工プロセスを用いた半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】実施形態の半導体装置の製造方法は、基板301上に被加工膜302を形成し、被加工膜の上に芯材膜304を形成し、芯材膜の一部であって被加工膜の加工時まで残存させる残存部分とそれ以外の芯材膜である除去予定部分との間が所定距離の間隙となるように芯材膜をパターニングする。パターニングの後に芯材膜の側面に側壁305を形成して除去予定部分および残存部分の側面を側壁で覆うとともに残存部分と除去予定部分との間の所定距離の間隙を側壁で閉塞する。さらに、側面が側壁で覆われた残存部分の上面を覆うようにレジスト306を形成し、レジストの形成後にウェットエッチングを行うことにより除去予定部分を除去し、ウェットエッチングの後にレジストを除去する。レジストを除去した後に側壁および残存部分をマスクとして被加工膜を加工する。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコンからなる太陽電池ウエハに均一なテクスチャー構造を形成する。
【解決手段】フッ化水素を含む薬液31中で、ピラミッドのテクスチャー構造が形成された型1を、ウエハ10に接触させる。アクチュエータ22は、制御装置8からの駆動信号を受けて上下方向に周期的に伸縮する。これにより、アクチュエータ22は、本体部23に対して取付部21を周期的に上下動させ、型1とウエハ10との接触と離間とを周期的に繰り返させる。 (もっと読む)


【課題】異なる酸化度の酸化銅が混在している状態において、一方のみを選択的に溶解させることのできる酸化銅用エッチング液及びそれを用いた酸化銅用エッチング方法を提供すること。
【解決手段】本発明の酸化銅用エッチング液は、キレート剤と酸化剤と界面活性剤とを少なくとも含み、該キレート剤が、α,ω−ジアミン酢酸、α,ω−ジアミンコハク酸、α,ω−ジアミンプロピオン酸、1,2−ジアミノプロパン四酢酸、クエン酸、イソクエン酸、フマル酸、アジピン酸、コハク酸、グルタミン酸、リンゴ酸、酒石酸、及びこれらの塩からなる群より選ばれた少なくとも一種を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】フォトリソグラフィを用いたエッチング方法は、スパッタリングまたは蒸着などの方法により、クロム(Cr)および金(Au)などからなる膜を成膜し、レジストの塗布、硬化処理、露光、さらに現像およびレジスト膜の除去などの工程を必要とし、そして現像液や膜を除去するための溶液などを必要とし工程が複雑である。簡略なエッチング方法を実現する。
【解決手段】転写体10は、基材1と、基材1上にパターン形成された剥離層2と、剥離層2上に形成された接合膜3とを備える。このような転写体10を用いることで、フォトリソグラフィを用いることなく、被転写体20の表面25に、レジストからなるエッチングマスクを形成するので、従来のようにクロム(Cr)および金(Au)などからなる膜を成膜することなく、現像液などを用いることもなく、エッチングすることができ、被転写体20の表面25に、凹部21を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】 酸化亜鉛系結晶からなる薄膜のエッチングにおいて、最適なエッチング速度でエッチング処理を施すことができ、配線パターンの粗密やパターン形状に依存せず、サイドエッチングや異方性エッチングを抑制し、且つエッチング残渣の発生を抑制するエッチング方法を提供すること。
【解決手段】 酸化亜鉛系結晶からなる薄膜を、エッチング液を用いてエッチングするエッチング方法であって、成膜基板上に前記薄膜を形成し、該薄膜の表面全体を亜鉛及び/又は亜鉛酸化物を構成成分とする炭化物系化合物からなる被膜によって被覆した後エッチング処理を施し、エッチング処理の途中から前記薄膜と前記エッチング液の相対関係を動的状態とすることを特徴とする酸化亜鉛系結晶からなる薄膜のエッチング方法とする。 (もっと読む)


本発明は、新規な組成物と、これらの組成物を、半導体およびMEMSデバイスの製造中に保護層として用いる方法とを提供する。この組成物は、溶媒系中に分散または溶解したシクロオレフィン共重合体を含有し、酸エッチングおよびその他の処理および取扱い中に、基板を保護する層を形成するために用いることができる。保護層は、感光性であっても非感光性であってもよく、保護層の下に、プライマー層を用いても用いなくてもよい。好ましいプライマー層は溶媒系中に塩基性ポリマーを含む。 (もっと読む)


【課題】異なる酸化度の酸化銅が混在している状態において、一方のみを選択的に溶解させることのできる酸化銅用エッチング液及びそれを用いた酸化銅用エッチング方法を提供すること。
【解決手段】本発明の酸化銅用エッチング液は、α,ω−ジアミン酢酸、α,ω−ジアミンコハク酸、α,ω−ジアミンプロピオン酸、1,2−ジアミノプロパン四酢酸、クエン酸、イソクエン酸、フマル酸、アジピン酸、コハク酸、グルタミン酸、リンゴ酸、酒石酸、及びこれらの塩からなる群より選ばれた少なくとも一種以上のキレート剤を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】新規な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】SiN層にPおよびOを注入する工程と、前記SiN層に注入されたPおよびOをH2Oと反応させ、前記SiN層をエッチングする工程とを有する方法により、半導体装置を製造する。特に、半導体装置を形成するにあたり、狭スペースで高アスペクト比の溝サイドウォールを形成する工程や、埋め込み型ビット線を形成する工程に、上記のようにSiN層をエッチングすることができる。 (もっと読む)


【課題】精度良く加工された窒化物半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】窒化物半導体装置は、基板101の上に形成された第1の窒化物半導体層107と、第1の窒化物半導体層107の上に形成された欠陥導入層108と、欠陥導入層108の上に接して形成され、欠陥導入層108を露出する開口部を有する第2の窒化物半導体層109とを備えている。欠陥導入層108は、第1の窒化物半導体層107及び第2の窒化物半導体層109と比べて結晶欠陥密度が大きい。 (もっと読む)


【課題】金属薄膜パターンの端部におけるバリ発生を確実に防止できる金属薄膜の製造方法および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、所定パターンの金属薄膜パターン8を形成するための方法であって、下地の上に、前記パターンのエッジに対応する位置近傍に壁面を有する段差パターン3を形成する工程と、段差パターン3を含む下地全体にレジスト4を塗布する工程と、塗布したレジスト4に対して、前記パターンの反転パターンとなるようにパターニングを施す工程と、レジスト4および段差パターン3を含む下地全体に金属薄膜5を形成する工程と、溶剤を塗布して、レジスト4および該レジスト4上に位置する金属薄膜5を除去する工程とを含む。 (もっと読む)


【解決手段】多孔質リフトオフ層は、半導体などの表面からの皮膜の除去を促進する。皮膜をパターン形成された多孔質層上に適用する。当該層は典型的には膜厚よりも大きい開口を含む。次いで、皮膜が求められていない領域から多孔質材料および皮膜を除去する。多孔質層は、乾燥させると孔隙が形成されるスラリーとして、または熱もしくは溶媒の適用により分離するフィールド内の不安定粒子として付与することができる。孔隙を通って進入するエッチング液によって皮膜を除去することができ、その孔隙では、皮膜が固体部分間のスペースを橋かけしていないため、エッチング液が皮膜の両表面を攻撃する。 (もっと読む)


【課題】簡便かつ安価な方法により、エッチング液(アルカリおよび酸)に対する良好な耐性、加工時の耐熱性、エッチング処理を施すウェハへの良好な密着性およびエッチング処理後の易除去性のすべてを兼ね備えるエッチング保護材およびその保護材を用いたデバイス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】ポリオレフィンフィルムの少なくとも片面の表面部にポリオレフィン樹脂を含む層を形成したフィルムからなるエッチング保護材であって、前記のポリオレフィン樹脂が、炭素数2〜4のアルケンからなるオレフィン成分(A)を主成分とし、(メタ)アクリル酸エステル成分(B)を2〜40質量%含むポリオレフィン樹脂であることを特徴とするエッチング保護材。 (もっと読む)


【課題】ウエットエッチングにより微細で高アスペクト比の構造を被加工材料に高精度に加工する。
【解決手段】水晶基板20の表面に耐蝕膜21を形成し、その上にフォトレジスト層22を形成しかつ加工しようとする溝の開口形状をパターニングし、露出した耐蝕膜を除去して水晶基板表面が露出するパターン開口24を形成する工程と、パターン開口内に露出した水晶表面をウエットエッチングして浅い凹部25を形成する第1ウエットエッチング工程と、凹部及びパターン開口の内面をCrの保護膜26で被覆し、かつ凹部底面の保護膜を除去して該底面の水晶面を露出させ、露出した凹部底面をウエットエッチングする第2ウエットエッチング工程とからなり、凹部が所望の溝の深さになるまで第2エッチング工程を繰り返し行う。 (もっと読む)


【課題】構造体を異方性エッチングする際の補正エッチングマスクを配置するスペースをより小さくできて、シリコンウェハ上により多くの構造体を配置できる構造体の作製方法、エッチングマスク付きシリコン基板を提供する。
【解決手段】構造体の作製方法、エッチングマスク付きシリコン基板において、単結晶シリコン基板100上に、凸部コーナーを持つ目標形状に対応する基本エッチングマスク103と、補正エッチングマスク107を形成する。補正エッチングマスク107の第1の部分は<110>方向に伸び、両方の端部が基本エッチングマスクに連結され、1つの端部が基本エッチングマスク103の凸部コーナーに連結される。第2の部分は、第1の部分の<110>方向に伸びる辺で第1の部分に接合し、第2の部分は1つの凸部コーナーを有し、開口部は、第1の部分と第2の部分が接合する境界を跨いで伸びる。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は半導体をその基板から分離する方法を提供することである。
【解決手段】 複数の棒状体を基板上に形成し、複数の棒状体上で半導体層をエピタキシー成長させ、更に、複数の棒状体の間の空隙にエッチング液を注入することによって、半導体層をその基板から分離する。複数の棒状体の間の空隙がエッチングの反応面積を大幅に増加させることができるため、本発明による方法によれば、エッチングによって半導体層を基板から分離する効率を向上させ、製造工程のコストを低減させることができ、しかも、基板に使われる材料も前記分離方法に制限されない。 (もっと読む)


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