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Fターム[5F045DP19]の内容

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【課題】成長する金属薄膜の成膜速度や膜質のバラツキが生じるとの課題があった。
【解決手段】液体原料又は固体原料を貯留する液体原料タンク315と、液体原料又は固体原料をガス状態にするガス化機構315、310と、ガス化機構315、310と処理室201との間に設けられたMFC318とを有し、コントローラ280は、液体原料又は固体原料をガス状態にして供給する際、ガス化機構315、310及びMFC318を制御して原料ガスの流量を制御する。 (もっと読む)


【課題】反応室内のSiC基板の配列領域に積極的にガスを供給し、ガス流れを最適化することで、基板上での原料ガスを消費しやすくし、基板面内でのガス流れを均等化し、積層された基板間の下方方向への流れ落ちを抑制するSiC縦型熱処理装置の提供。
【解決手段】炭化珪素膜を成長させることを可能とする反応室とその中に配置されたボートを有し、且つそのボートには、複数枚の基板14が平行に縦積みで配置され、反応室内に設けられたガス供給ノズル60,70の基板の配列領域に設けられた第一のガス供給ノズルから少なくともシリコン原子含有ガスを供給し、ガス供給ノズルとは異なる箇所であって、基板の配列領域に設けられた第二のガス供給ノズルから少なくとも炭素原子含有ガスを供給して、基板上に炭化珪素膜を成膜する縦型基板処理装置において、反応室内の基板の配列領域に積極的にガスを供給し、ガス流れを最適化するための壁体300を設ける。 (もっと読む)


【課題】所望の膜厚分布を有する薄膜を堆積可能な成膜方法を提供する。
【解決手段】少なくとも第1の原料ガスおよび第2の原料ガスを基板に対して交互に供給することにより、第1の原料ガスと第2の原料ガスとの反応により生じる反応生成物質の薄膜を基板に堆積する成膜方法が開示される。この方法は、基板が収容される処理容器内にガスを供給することなく処理容器内を真空排気するステップと、処理容器内に不活性ガスを所定の圧力まで供給するステップと、処理容器内の真空排気を停止した状態で、不活性ガスが所定の圧力に満たされた処理容器内に第1の原料ガスを供給するステップと、第1の原料ガスの供給を停止するとともに処理容器内を真空排気するステップと、処理容器内に第2の原料ガスを供給するステップと、第2の原料ガスの供給を停止するとともに処理容器内を真空排気するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】 基板を降温させる際の放熱を促進させて基板処理の生産性を向上させたり、成膜時における処理室内での異物の発生を抑制して基板処理の品質を向上させたりする。
【解決手段】 基板を処理する処理室と、処理室内に収容され、複数枚の基板を鉛直方向にそれぞれが間隔を成すように保持する基板保持体と、処理室内で基板保持体を下方側から支持する断熱部と、処理室内で基板の収容領域を囲うように設けられる加熱部と、加熱部を加熱する加熱部と、少なくとも処理室内の断熱部の収容領域に所定のガスを供給するガス供給系と、を備える。 (もっと読む)


【課題】低温で高品質な生成膜の生成を可能とし、デバイスの性能の向上を図ると共に歩留りの向上を図る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】処理室に基板を搬入する工程と、処理室及び基板を所定の温度に加熱する工程と、処理室に所定のガスを給排するガス給排工程とを含み、ガス給排工程は、シラン系のガスと水素ガスとを処理室に供給する第1の供給工程と、少なくともシラン系のガスを処理室から除去する第1の除去工程と、塩素ガスと水素ガスとを処理室に供給する第2の供給工程と、少なくとも塩素ガスを処理室から除去する第2の除去工程とを、所定回数繰返して実行させる。 (もっと読む)


【課題】基板を基板保持具に搭載して縦型熱処理炉に搬入し、熱処理を行う熱処理装置において、縦型熱処理炉からアンロードされた基板保持具に搭載された基板を速やかに降温させること。
【解決手段】前面から、当該前面に対向する後面の気流形成用の排気口63aに向って横方向の気流が形成されたローディングエリアS2内にて、熱処理炉2の下方側のアンロード位置におけるウエハボート3Aと前記排気口63aとの間に、アンロードにより高温に加熱された雰囲気を吸引排気するための熱排気用の排気口71が形成された排気ダクト7B,7Cを設ける。アンロードされた高温状態のウエハボート3A近傍の雰囲気は排気ダクト7B,7Cから排気されるので、上方側への熱拡散が抑えられ、横方向の気流がウエハボート3A及びウエハ群に供給されて、熱処理後のウエハを速やかに降温させることができる。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化を抑制し、装置内に収納する基板を増加することができる基板処理装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置は基板処理装置本体とポッドを搬送する搬送機構22を備え、基板処理装置本体にポッドを搬入出する搬入出部と、基板処理装置本体内においてウエハを収容するポッドを移送するポッド移送装置と、この搬入出部とポッド移送装置とを離間させるようにして設けられ、基板処理装置本体内に搬入されたポッドを収納するバッファ棚とを有し、搬送機構22はポッド移送装置に向けて伸縮する伸縮部202と、伸縮部202の伸縮動作に伴って伸縮部202の伸縮する長さよりも大きくなるようにポッドを移動させる移動部210・220とを有する。 (もっと読む)


【課題】基板保持具に棚状に積載された複数枚の基板に対して、互いに反応する複数種類の処理ガスを順番に供給して成膜処理を行うにあたり、処理ガスを切り替える時の雰囲気を容易に置換すること。
【解決手段】Zr系ガスやOガスなどの処理ガスを反応管12内に供給するためのガス吐出口52の各々形成された第1のガスインジェクター51a、51bとは別に、反応管12の長さ方向に沿うようにスリット50の形成された第3のガスインジェクター51cを設けて、処理ガスを切り替える時には、このスリット50から反応管12内にパージガスを供給して当該反応管12内の雰囲気を置換する。 (もっと読む)


【課題】成膜容器の圧力を測定するための圧力計に耐熱性を要求せず、かつ、設置面積を低減可能な成膜装置を提供する。
【解決手段】成膜容器11内に保持されている基板に原料ガスを供給することによって、基板に膜を成膜する成膜装置において、成膜容器11に原料ガスを供給する供給機構と、成膜容器11からガスを排気する排気機構25と、成膜容器11から排気機構25にガスが流れる排気流路55の途中に設けられており、原料ガスを含む生成物を析出させることによって、原料ガスを捕捉するトラップ部30と、成膜容器11とトラップ部30との間で排気流路55に合流するように接続されており、排気流路55にパージガスを供給するパージガス供給部50と、パージガス供給部50から排気流路55にパージガスが流れるパージガス供給流路52の途中に設けられた圧力計51とを有する。 (もっと読む)


【課題】低誘電率、低エッチングレート、高絶縁性の特性を備える絶縁膜を形成する。
【解決手段】処理容器内の加熱された基板に対して、所定元素含有ガスと、炭素含有ガスと、窒素含有ガスとを供給することで、基板上に所定元素を含む所定厚さの炭窒化層を形成する工程と、処理容器内の加熱された基板に対して、所定元素含有ガスと、酸素含有ガスとを供給することで、基板上に所定元素を含む所定厚さの酸化層を形成する工程と、を交互に繰り返すことで、基板上に、炭窒化層と酸化層とが交互に積層されてなる所定膜厚の酸炭窒化膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】ガス排出路の下流端に堆積した材料の逆流の問題が克服または軽減される熱処理炉と、この逆流の問題を克服または軽減するように従来の熱処理炉に(場合によっては本来設置されていたライナーの交換品として)設置されうるライナーとを提供する。
【解決手段】中心軸を有する略ベルジャー形の外側反応管と、複数の基板を保持したウェーハボートを収容するための開端式内側反応管とを備える熱処理炉であって、内側反応管は外側反応管内にほぼ同軸に配設され、これにより内側反応管の外壁と外側反応管の内壁との間にガス流路が画成され、内側反応管の外壁と外側反応管の内壁の少なくとも一方に、当該壁からガス流路内に半径方向に突出する流れデフレクタが設けられる熱処理炉。 (もっと読む)


【課題】誘導加熱を用いて基板を熱処理する熱処理装置において、基板の温度均一性を高くし、かつ効率を高くすること。
【解決手段】複数の基板Sに熱処理を施す熱処理装置1は、熱処理が施される複数の基板を収容する誘電体からなる処理容器22と、複数の基板Sを上下に配列した状態で保持し、処理容器22内へ挿脱される基板保持部材24と、処理容器22の外周に巻回される誘導加熱コイル104と、誘導加熱コイル104に高周波電力を印加する高周波電源110と、処理容器内22で、複数の基板Sにそれぞれ重ね合うように設けられ、誘導加熱コイル104に高周波電力を印加することにより発生した誘導電流が流れて発熱する、スパイラル状部を有する誘導発熱体Nとを具備する。 (もっと読む)


【課題】ノズルを縦型反応管に適正に取り付ける方法を提供する。
【解決手段】マニホールド209にノズル20を取り付けるに際して、保持治具10をノズル20の上下両端部に取り付け、ノズル20の水平部をマニホールド209の取付口210に処理室201側から挿入し、上下の保持治具10の前端面を処理室201の内周面に当接させることでノズル20と処理室201の内周面とのクリアランスおよび平行を自動的に保持する。ノズル20を保持治具10で位置決めした状態で、ノズル20の水平部を取付口210に設置された継手211に固定し、その後、上下の保持治具10をノズル209から取り外す。 (もっと読む)


【課題】表面ラフネスの精度をさらに改善でき、進展するコンタクトホールやラインなどの微細化に対応可能なアモルファスシリコンを成膜できる成膜装置を提供すること。
【解決手段】下地を有した被処理体1を収容する処理室101と、処理に使用するガスを供給する処理ガス供給機構114と、加熱装置133と、排気機構132と、コントローラ150とを具備し、処理室101に、被処理体1を複数収容するとともに、コントローラ150が、下地を加熱し、加熱した下地にアミノシラン系ガスを流し、下地の表面にシード層を形成する工程と、下地を加熱し、加熱した下地の表面のシード層にアミノ基を含まないシラン系ガスを供給し、アミノ基を含まないシラン系ガスを熱分解させることで、シード層上にアモルファスシリコン膜を形成する工程とが実施されるように処理ガス供給機構114、加熱装置133及び排気機構132を制御する。 (もっと読む)


【課題】原料ガスの供給量の変動を防止し、原料ガスの重合反応により成膜されるポリイミド膜を連続して安定に成膜できる成膜装置を提供する。
【解決手段】基板にポリイミド膜を成膜する成膜装置において、第1の原料ガスを基板に供給するための第1の気化器21と、第2の原料ガスを基板に供給するための第2の気化器41と、第1の気化器の内部の圧力を測定するための第1の圧力計側部M1と、第2の気化器の内部の圧力を測定するための第2の圧力計側部M11と、第1の圧力計側部M1により測定した第1のデータに基づいて第1の原料ガスの供給量を算出し、第2の圧力計側部M11により測定した第2のデータに基づいて第2の原料ガスの供給量を算出し、算出した第1の原料ガスの供給量と算出した第2の原料ガスの供給量とがそれぞれ一定になるように、第1の気化器21及び第2の気化器41を制御する制御部60とを有する。 (もっと読む)


【課題】エピタキシャル膜成長を行う際に、基板表面へのエッチングダメージを軽減して、良質なエピタキシャル膜を得る技術を提供する。
【解決手段】表面に絶縁体面と半導体面とを有する基板を処理室内に搬送する工程と、前記処理室内に搬送された基板に対し、水素含有ガスと塩素含有ガスとを供給し、前記基板の前記半導体面をエッチングするエッチング工程と、前記エッチングされた基板に対し、水素含有ガスを供給して基板表面の残留塩素を除去する第1パージ工程と、前記残留塩素を除去された基板に対しシリコン含有ガスを供給し、前記基板の半導体面にシリコン含有膜を形成する成膜工程とを備え、前記エッチング工程と第1パージ工程とを含む工程を連続して2回以上実施するよう半導体装置の製造方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】基板(特にSiCエピタキシャル膜が形成された基板)の生産効率を向上させると共にガス供給口への膜の形成を抑制する。
【解決手段】複数の基板14が縦方向に並んで配置される反応室と、反応室を覆うように設けられ、処理室を加熱する加熱部と、反応室内に複数の基板14に沿うように設けられ、複数の基板14が配置される方向に向けて第1ガスを噴出する第1ガス供給口68を有する第1ガス供給管60と、反応室内に複数の基板14に沿うように設けられ、複数の基板14が配置される方向に向けて第2ガスを噴出する第2ガス供給口72を有する第2ガス供給管70と、少なくとも第2ガスが第1ガス供給口へ向かう流れを抑制する第1遮蔽部と、を具備する熱処理装置。 (もっと読む)


【課題】基板の表面における酸二無水物及びジアミンのそれぞれのガスの供給量の変動を防止し、酸二無水物とジアミンとの重合反応により成膜されるポリイミド膜を連続して安定に成膜できる成膜装置を提供する。
【解決手段】内部の圧力が圧力調整可能に設けられており、固体状態の第1の原料を気化させ、気化した第1の原料ガスを基板に供給するための第1の気化器21と、内部の圧力が圧力調整可能に設けられており、液体状態の第2の原料を気化させ、気化した第2の原料ガスを基板に供給するための第2の気化器41と、第1の気化器21の内部の圧力と第2の気化器41の内部の圧力とを調整することによって、第1の原料ガスの供給量と第2の原料ガスの供給量との比が一定になるように、第1の気化器21及び第2の気化器41を制御する制御部60とを有する。 (もっと読む)


【課題】処理ガスを基板面内に十分拡散させて、面内均一性、面間均一性を向上させることのできる基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数の基板200を積層して収容する処理室201と、該処理室内へ原料ガスを供給する原料ガス供給部240cと、前記処理室内へ改質ガスを供給する改質ガス供給部240bと、前記処理室内へ不活性ガスを供給する不活性ガス供給部240a、240dと、前記処理室内を排気する排気部246と、を備えた基板処理装置において、前記原料ガスと前記改質ガスを互いに混合しないように交互に複数回供給して基板上に膜を形成する際に、前記排気を停止した状態で前記原料ガスを供給する原料ガス供給工程を行い、その後、前記処理室内を調圧しつつ前記排気を再開し、かつ、前記原料ガスの供給を停止した状態で前記不活性ガスを供給する膜厚分布制御工程を行い、さらにその後、前記改質ガスを供給する改質ガス供給工程を行う。 (もっと読む)


【課題】バッチ式の縦型炉を用いてプラズマアシストALD法により窒化膜を形成する際、炉底部付近でのローディング効果を抑制する。
【解決手段】反応容器102内に複数段にウエハを載置可能なボート101と、前記反応容器の側面に沿ってRF電極106で挟まれたプラズマ空間105と、該プラズマ空間から前記反応容器内の前記各段のウエハに略均等にガスを供給可能な供給口F1,F2と、を備えたバッチ式の縦型炉100を用いて、窒化すべきガスの導入、吸着、パージ、プラズマ励起された窒化ガスの導入による前記窒化すべき吸着ガスの窒化およびパージ、を1サイクルとして所定の膜厚までサイクルを繰り返すプラズマアシストALD法において、前記窒化すべきガス導入時のキャリアガス量よりも前記窒化ガス導入時のキャリアガス流量を少なくし、特に窒化ガスとしてのNH3とキャリアガスとしてのN2の流量比をNH3の50に対してN2を3以下とする。 (もっと読む)


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