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Fターム[5F083PR34]の内容

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Fターム[5F083PR34]に分類される特許

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【課題】鉛を含有せず、かつ膜剥がれ等の問題がなく、圧電特性の劣化のない圧電素子の製造方法、液体噴射ヘッド及び圧電素子を提供する。
【解決手段】酸化ジルコニウムからなる絶縁体膜55上にジルコニウムからなる密着層56を形成する工程と、密着層56上に第1電極60を形成する工程と、第1電極60上にビスマスを含む複合酸化物からなる圧電体層70を形成する工程と、圧電体層70上に第2電極80を形成する工程と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】ライナー膜をストッパ膜とした平坦化処理工程を設けることなくゲート電極上の段差を解消できるようにした不揮発性半導体記憶装置の製造方法および不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】上端がキャップ膜と第2ゲート電極のシリコン層6との接触界面にほぼ一致するか低くなるようにメモリセルトランジスタの積層ゲート電極MG間および選択ゲート電極の積層ゲート電極SGD間に積層ゲート間絶縁膜8,9を形成する工程と、ライナー膜10を形成する工程と、選択ゲート電極SGD間のライナー膜10上に、第1の絶縁膜11を形成する工程と、ライナー膜10およびキャップ膜をエッチング処理する工程と、第1の絶縁膜11および積層ゲート間絶縁膜8,9をエッチングして第1の絶縁膜11の上面を第2ゲート電極6の上面高さとほぼ一致させる工程と、第2ゲート電極のシリコン層6の上部にシリサイド層7を形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】しきい値電圧の制御が困難な酸化物半導体を活性層に用いたトランジスタに安定した電気的特性を付与し、信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】一対の第1の領域、一対の第2の領域及び第3の領域を有する酸化物半導体膜と、酸化物半導体膜と接して設けられる一対の電極と、酸化物半導体膜上のゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜を介し、一対の電極の間に設けられたゲート電極と、を有し、一対の第1の領域は一対の電極と重畳し、第3の領域はゲート電極と重畳し、一対の第2の領域は一対の第1の領域及び第3の領域の間に形成され、一対の第2の領域及び第3の領域には窒素、リン、または砒素のいずれかの元素が含まれており、該元素の濃度は、第3の領域より一対の第2の領域のほうが高い構成とする。 (もっと読む)


【課題】新たな構造の半導体装置を提供し、書き込み後の当該半導体装置のメモリセルのしきい値電圧のばらつきを小さくし、動作電圧を低減する、または記憶容量を増大する。
【解決手段】酸化物半導体を用いたトランジスタと、酸化物半導体以外の材料を用いたトランジスタとをそれぞれ有する複数のメモリセルと、複数のメモリセルを駆動する駆動回路と、駆動回路に供給する複数の電位を生成する電位生成回路と、複数のメモリセルへのデータの書き換えが終了したか否かを検知する書き込み終了検知回路と、を有し、駆動回路は、データバッファと、複数のメモリセルのそれぞれに複数の電位のうちいずれか一の電位をデータとして書き込む書き込み回路と、メモリセルに書き込まれたデータを読み出す読み出し回路と、読み出されたデータと、データバッファに保持されたデータとが一致するか否かをベリファイするベリファイ回路と、を有する。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置の提供。
【解決手段】酸化物半導体材料を用いたトランジスタ162と、酸化物半導体以外の半導体材料を用いたトランジスタ160を組み合わせて用いることにより、書き込み回数にも制限が無く、長期間にわたる情報の保持ができる、新たな構造の半導体装置を実現することができる。さらに、酸化物半導体以外の半導体材料を用いたトランジスタと酸化物半導体材料を用いたトランジスタとを接続する接続電極130bを、当該接続電極と接続する酸化物半導体以外の半導体材料を用いたトランジスタの電極129より小さくすることにより、新たな構造の半導体装置の高集積化を図り、単位面積あたりの記憶容量を増加させることができる。 (もっと読む)


【課題】実施形態によれば、十分な消去速度が得られる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、半導体装置は、基板と、第1の積層体と、メモリ膜と、第1のチャネルボディと、第2の積層体と、ゲート絶縁膜と、第2のチャネルボディとを備えている。前記選択ゲートの側面と前記第2の絶縁層との間に段差部が形成されている。前記段差部を被覆する部分の前記第2のチャネルボディの膜厚は、前記第2の絶縁層間に設けられた部分の膜厚よりも厚い。 (もっと読む)


【課題】本発明は、少ない工程で多層配線化を実現し、小面積で高機能な機能回路を有する配線基板及び半導体装置を提供する。またこのような高機能な機能回路を表示装置と同一基板上に一体形成した半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、絶縁表面を有する基板上に、第1の配線と、第2の配線と、第3の配線と、第1の層間絶縁膜と第2の層間絶縁膜と、第1のコンタクトホールと第2のコンタクトホールを有し、前記第2の配線の幅を前記第1の配線の幅より広いか、あるいは前記第3の配線の幅を前記第1の配線の幅もしくは前記第2の配線の幅より広く、且つ前記第2のコンタクトホールの直径を前記第1のコンタクトホールの直径より大きく形成することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】低コストで高スループットなプリント技術を使用した不揮発性メモリセルを提供する。
【解決手段】同一水平レベルにおいて所定の距離で離間している第1及び第2の半導体アイランドであって、第1の半導体アイランド2が制御ゲートを構成し、第2の半導体アイランド3がソース端子及びドレイン端子を構成する、当該第1及び第2の半導体アイランドと、第1の半導体アイランド2の少なくとも一部の上のゲート誘電体層4と、第2半導体アイランドの少なくとも一部の上のトンネリング誘電体層5と、ゲート誘電体層4とトンネリング誘電体層5の少なくとも一部の上のフローティングゲート7と、制御ゲート2並びにソース端子及びドレイン端子に電気的に接触する金属層と、を備える。一つの効果的な実施形態では、不揮発性メモリセルを、「全プリント」加工技術を使用して製造することができる。 (もっと読む)


【課題】動作特性に対する信頼性を向上させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】シリコンを含む基板7と、前記基板7上に設けられた積層体6と、を有する半導体装置1であって、前記積層体6は、少なくとも前記積層体6の側壁の前記基板側にフッ素を含む抑制領域13を有している。前記抑制領域13は、基板7上に設けられた絶縁膜2の前記側壁側に設けられ、フッ素濃度は、チャネル領域11のフッ素濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】チタン酸ストロンチウム膜を容量絶縁膜として用いたキャパシタにおいて、静電容量が大きく、リーク電流が小さいキャパシタを形成する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、下部電極を形成後、下部電極上に中間窒化チタン膜及び非晶質チタン酸ストロンチウム膜が互いに接するように積層された積層膜を形成する。次に、第1の熱処理を行うことにより、中間窒化チタン膜及び非晶質チタン酸ストロンチウム膜を結晶質チタン酸ストロンチウム膜に変換する。次に、結晶質チタン酸ストロンチウム膜上に上部電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】電気特性の変動が生じにくく、且つ電気特性の良好な半導体装置、およびその作製方法を提供することである。
【解決手段】基板上に下地絶縁膜を形成し、下地絶縁膜上に第1の酸化物半導体膜を形成し、第1の酸化物半導体膜を形成した後、第1の加熱処理を行って第2の酸化物半導体膜を形成した後、選択的にエッチングして、第3の酸化物半導体膜を形成し、第1の絶縁膜および第3の酸化物半導体膜上に絶縁膜を形成し、第3の酸化物半導体膜の表面が露出するように絶縁膜の表面を研磨して、少なくとも第3の酸化物半導体膜の側面に接するサイドウォール絶縁膜を形成した後、サイドウォール絶縁膜および第3の酸化物半導体膜上にソース電極およびドレイン電極を形成し、ゲート絶縁膜およびゲート電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】環境負荷が小さく且つクラックの発生が抑制された圧電セラミックス膜を形成することができる圧電セラミックス膜形成用組成物、圧電素子の製造方法及び液体噴射ヘッドの製造方法を提供する。
【解決手段】圧電セラミックス膜形成用組成物は、ビスマス及び鉄を含む金属錯体混合物と、ポリエチレングリコールと、ターピネオールと、溶媒と、を含む。ポリエチレングリコールと、沸点の高いターピネオールとを含むことにより、鉄酸ビスマス系の圧電材料からなりクラックの発生が抑制された圧電セラミックス膜を形成することができるものとなる。また、圧電特性の良好な圧電セラミックス膜を形成することができるものとなる。さらに、鉛の含有量を抑えられるため、環境への負荷を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】トランジスタの数を少なくした構成の記憶素子を用いた一時記憶回路を提供する。
【解決手段】一時記憶回路は複数の記憶素子を有し、複数の記憶素子それぞれは、第1のトランジスタと、第2のトランジスタとを有し、第1のトランジスタはチャネルが酸化物半導体層に形成され、ゲートに入力される制御信号によってオン状態を選択された第1のトランジスタを介して、データに対応する信号電位を第2のトランジスタのゲートに入力し、ゲートに入力される制御信号によって第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、第2のトランジスタのゲートに当該信号電位を保持し、第2のトランジスタのソース及びドレインの一方を第1の電位としたとき、第2のトランジスタのソースとドレイン間の状態を検出することによってデータを読み出す。 (もっと読む)


【課題】占有面積が小さく、高集積化、大記憶容量化が可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の制御ゲート、第2の制御ゲート及び記憶ゲートを有するトランジスタを用いる。記憶ゲートを導電体化させ、該記憶ゲートに特定の電位を供給した後、少なくとも該記憶ゲートの一部を絶縁体化させて電位を保持させる。情報の書き込みは、第1及び第2の制御ゲートの電位を記憶ゲートを導電体化させる電位とし、記憶ゲートに記憶させる情報の電位を供給し、第1または第2の制御ゲートのうち少なくとも一方の電位を記憶ゲートを絶縁体化させる電位とすることで行う。情報の読み出しは、第2の制御ゲートの電位を記憶ゲートを絶縁体化させる電位とし、トランジスタのソースまたはドレインの一方と接続された配線に電位を供給し、その後、第1の制御ゲートに読み出し用の電位を供給し、ソースまたはドレインの他方と接続されたビット線の電位を検出することで行う。 (もっと読む)


【課題】環境負荷が小さく且つクラックの発生が抑制された圧電セラミックス膜を形成することができる圧電セラミックス膜形成用組成物、圧電素子の製造方法及び液体噴射ヘッドの製造方法を提供する。
【解決手段】圧電セラミックス膜形成用組成物は、カリウム、ナトリウム、及びニオブを含む金属錯体混合物と、シリコーンオイルと、溶媒と、を含み、金属錯体混合物と溶媒との総量100容量部に対してシリコーンオイルを5容量部以下含む。所定量のシリコーンオイルを含むことにより、圧電セラミックス膜を形成する際の焼成工程における熱膨張が抑制されて、圧電セラミックス膜の残留応力を低減させることができる。これにより、クラックの発生が抑制されたニオブ酸カリウムナトリウム系の圧電材料からなる圧電セラミックス膜を形成することができるものとなる。さらに、鉛の含有量を抑えられるため、環境への負荷を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】分極特性を向上させる強誘電体素子とその製造方法を提供する。
【解決手段】強誘電体素子は、基板1と、この基板1上に形成された拡散防止層2と、拡散防止層2の上に形成された下部電極層3と、下部電極層3の上に形成された強誘電体膜4と、強誘電体膜4の上に形成された上部電極層5とから構成されている。強誘電体膜4の化学溶液法を用いた製造方法は、基板1の主面に下部電極層3を形成する下部電極形成工程と、この下部電極層3上に強誘電体4の前駆体膜を形成する前駆体形成工程と、前駆体膜を加熱して結晶化させることで強誘電体膜4を形成する結晶化工程と、強誘電体膜4を一定の温度まで冷却する冷却工程と、を少なくとも含み、結晶化工程において、前駆体膜に応力を印加した後に結晶化させる。 (もっと読む)


【課題】ソフトエラー率を有意に低下させる半導体素子およびその作製方法に関する。
【解決手段】半導体基板(100)には、第1の型の不純物でドープされた第1ウェル領域(104)の下に第1の型の第1ドープ領域(102)がある。第1ウェル領域は、第1ドープ領域と電気的に接続されている。第1ウェル領域と第1ドープ領域(102)との間に分離領域(206)を形成する。分離領域は第2ウェル領域と電気接続されている。分離領域および第2ウェル領域は、第1の不純物型と反対の型の第2の不純物型でドープされている。前記方法はさらに、第1ウェル領域内および分離領域下に第2ドープ領域を形成する工程をさらに有し得る。第1の型の不純物を有する第3ドープ領域を、分離領域の上に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】電気特性の変動が生じにくく、且つ電気特性の良好な半導体装置の作製方法を提供することである。
【解決手段】基板上にゲート電極を形成し、ゲート電極上にゲート絶縁膜を形成し、酸化物半導体膜を形成し、第1の酸化物半導体膜を形成した後、加熱処理をして第2の酸化物半導体膜を形成し、第1の導電膜を形成し、厚さの異なる領域を有する第1のレジストマスクを形成し、第1のレジストマスクを用いて第2の酸化物半導体膜および第1の導電膜をエッチングして第3の酸化物半導体膜および第2の導電膜を形成し、第1のレジストマスクを縮小させて、第2のレジストマスクを形成し、第2のレジストマスクを用いて第2の導電膜の一部を選択的に除去することでソース電極およびドレイン電極を形成する半導体装置の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】オフ電流の極めて小さい酸化物半導体膜を用いたトランジスタを提供する。また、該トランジスタを適用することで、消費電力の極めて小さい半導体装置を提供する。
【解決手段】基板上に加熱処理により酸素を放出する下地絶縁膜を形成し、下地絶縁膜上に第1の酸化物半導体膜を形成し、基板を加熱処理する。次に、第1の酸化物半導体膜上に導電膜を形成し、該導電膜を加工してソース電極およびドレイン電極を形成する。次に、第1の酸化物半導体膜を加工して第2の酸化物半導体膜を形成した直後にソース電極、ドレイン電極および第2の酸化物半導体膜を覆うゲート絶縁膜を形成し、ゲート絶縁膜上にゲート電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】ノイズによるデータ信号への影響を抑制する半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】記憶回路を具備し、記憶回路は、それぞれが電界効果トランジスタであり、1個目の電界効果トランジスタ111a−1のソース及びドレインの一方にデジタルデータ信号が入力され、k個目(kは2以上n(nは2以上の自然数)以下の自然数)の電界効果トランジスタのソース及びドレインの一方がk−1個目の電界効果トランジスタのソース及びドレインの他方に電気的に接続されるn個の電界効果トランジスタと、それぞれ一対の電極を有し、m個目(mはn以下の自然数)の容量素子の一対の電極の一方が、n個の電界効果トランジスタのうち、m個目の電界効果トランジスタのソース及びドレインの他方に電気的に接続され、少なくとも2つの容量素子における容量値が異なるn個の容量素子112aー1〜112aーnとを備える。 (もっと読む)


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