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Fターム[5F110AA02]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | 目的 (20,107) | 動作の高速化 (3,617) | 寄生容量低減 (412)

Fターム[5F110AA02]に分類される特許

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【課題】リフレッシュ動作の回数を減らすことで、消費電力を抑える。また、先に書き込んだデータを破壊することなく、データを読み出す。
【解決手段】ソースまたはドレインの一方となる第1の電極と、ソースまたはドレインの他方となる第2の電極と、第1のチャネル形成領域に絶縁膜を介して重畳して設けられた第1のゲート電極と、を有する第1のトランジスタと、ソースまたはドレインの一方となる第3の電極と、ソースまたはドレインの他方となる第4の電極と、第2のチャネル形成領域が第2のゲート電極と第3のゲート電極との間に絶縁膜を介して設けられた第2のトランジスタと、を有するメモリセルを複数有し、第1のチャネル形成領域及び第2のチャネル形成領域は、酸化物半導体を含んでおり、第2の電極は、第2のゲート電極に直接接続されている記憶装置とする。 (もっと読む)


【課題】大電力の制御を行う、高耐圧の半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲート電極と、ゲート電極上のゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上の、ゲート電極と重畳する酸化物半導体層と、酸化物半導体層と接し、端部をゲート電極と重畳するソース電極及びドレイン電極と、を有し、ゲート電極と酸化物半導体層が重畳する領域において、ゲート絶縁層は、ドレイン電極と端部を重畳する第1の領域と、前記第1の領域と隣接する第2の領域と、を有し、第1の領域の静電容量は第2の領域の静電容量より小さいトランジスタを提供すること。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い表示装置を提供する。
【解決手段】酸化物半導体を有するトランジスタを有し、酸化物半導体の下に設けられた絶縁膜と、酸化物半導体の上に設けられた絶縁膜とを有する。平坦性を持たせるため、有機材料を含む絶縁膜をさらに設ける。シール材は、有機材料を含む絶縁膜と重なることはなく、絶縁膜と接している。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタを具備する画素において、開口率の向上を図る。
【解決手段】第1のトランジスタと、第1の画素電極とを有する第1の画素を有し、第2のトランジスタと、第2の画素電極とを有する第2の画素を有し、走査線として機能することができる配線を有し、第1のトランジスタは、酸化物半導体層を有し、酸化物半導体層はゲート絶縁膜を介して、配線と重なり、酸化物半導体層は、配線より幅の広い領域を有する表示装置又は液晶表示装置である。 (もっと読む)


【課題】ソース電極およびドレイン電極間におけるオフリーク電流の低減を課題とする。
【解決手段】本発明の一態様は、ゲート電極101と、前記ゲート電極を覆うように形成されたゲート絶縁膜102と、前記ゲート絶縁膜上に形成され、前記ゲート電極の上方に位置する半導体層104と、前記半導体層上に形成された第2の絶縁膜108aと、前記第2の絶縁膜の上面と側面、前記半導体層の側面および前記ゲート絶縁膜の上に形成された第1の絶縁膜108bと、前記第1の絶縁膜上に形成され、前記半導体層と電気的に接続されたシリコン層105,106と、前記シリコン層上に形成されたソース電極107aおよびドレイン電極107bと、を有する薄膜トランジスタを具備し、前記ソース電極と前記ドレイン電極は、前記第1の絶縁膜上で互いに電気的に分離されており、前記半導体層は、前記ソース電極および前記ドレイン電極それぞれと接しない半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】微細化による電気特性の変動が生じにくい半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の領域と、第1の領域の側面に接した一対の第2の領域と、一対の第2
の領域の側面に接した一対の第3の領域と、を含む酸化物半導体膜と、酸化物半導体膜上
に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に第1の領域と重畳した第1の電極と、を
有し、第1の領域は、CAAC酸化物半導体領域であり、一対の第2の領域及び一対の第
3の領域は、ドーパントを含む非晶質な酸化物半導体領域であり、一対の第3の領域のド
ーパント濃度は、一対の第2の領域のドーパント濃度より高い半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】シリコンエピタキシャル層の支えの喪失を防止した、局所SOI構造の形成方法の提供。
【解決手段】SiGe混晶層31SG1〜31SG4とシリコンエピタキシャル層31ES1,31ES2,31ES3および31ES4が積層された構造において、
それぞれ、Nウェル31NW及びPウェル31PWがSiGe混晶層31SG1〜31SG4側に突き出る構造を形成し、SiGe混晶層31SG1〜31SG4をエッチングにより除去する際に、支えとなるようにする。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いるトランジスタにおいて、電気特性の良好なトランジスタ及びその作製方法を提供する。
【解決手段】下地絶縁膜上に形成される酸化物半導体膜と、当該酸化物半導体膜とゲート絶縁膜を介して重畳するゲート電極と、酸化物半導体膜に接し、ソース電極及びドレイン電極として機能する一対の電極とを備えるトランジスタであり、下地絶縁膜は、酸化物半導体膜と一部接する第1の酸化絶縁膜と、当該第1の酸化絶縁膜の周囲に設けられる第2の酸化絶縁膜とを有し、トランジスタのチャネル幅方向と交差する酸化物半導体膜の端部は、第2の酸化絶縁膜上に位置するものである。 (もっと読む)


【課題】第1のトランジスタと第2のトランジスタが、ぞれぞれのドレイン領域とソース領域を共有して同一の半導体基板上に形成される構成の半導体装置の製造において、それぞれのトランジスタのソース領域およびドレイン領域の直下に埋め込み絶縁膜を効率的に形成できる製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上にそれぞれのトランジスタのソース領域およびドレイン領域に対応してトレンチを形成し、前記トレンチをSiGe混晶層と半導体層を順次形成することにより充填し、さらに第1のトランジスタのソース領域および第2のトランジスタのドレイン領域直下のSiGe混晶層を、素子分離溝を介して選択エッチングにより除去し、第1のトランジスタのドレイン領域および第2のトランジスタのソース領域として共有される拡散領域直下のSiGe混晶層を、前記拡散領域に形成した孔を介して選択エッチングし、除去する。 (もっと読む)


【課題】素子面積の増大を抑制しつつ、駆動電流の高いON/OFF比と安定した特性を実現できる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁層と、絶縁層上に形成された半導体層と、半導体層に形成された部分空乏型のトランジスター10とを備え、トランジスター10は、半導体層上に絶縁膜を介して形成されたゲート電極14と、ゲート電極14両側下の半導体層に形成されたソース15又はドレイン16と、ボディーの下部に設けられた不純物層17,18とを有し、不純物層17,18は、ボディー領域の下部の両側端部に形成され、ソース15、ドレイン16とは接しない。 (もっと読む)


【課題】 可撓性を有するアクティブマトリクス型表示装置を実現する方法を提供することを課題とする。また、異なる層に形成された配線間の寄生容量を低減する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 第1の基板上に形成された薄膜デバイスと第2の基板とを接着して固定した後、第1の基板を取り除いて薄膜デバイスに配線等を形成する。その後、第2の基板も取り除き、可撓性を有するアクティブマトリクス型表示装置を形成する。また、第1の基板を取り除いた後、配線を活性層のゲート電極が形成されていない側に形成することにより、寄生容量を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】安定したボディ固定動作と共に、高集積化、低寄生容量化や配線容量の低減化を図ることができる、SOI基板上に形成される半導体装置を得る。
【解決手段】ソース領域1,ドレイン領域2及びゲート電極3で形成されるMOSトランジスタにおいて、ゲート一端領域及びゲート他端領域に部分分離領域11a及び11bが形成され、部分分離領域11aに隣接してタップ領域21aが形成され、部分分離領域11bに隣接してタップ領域21bが形成される。部分分離領域11a,11b、タップ領域21a,21b及び活性領域1,2の周辺領域は全て完全分離領域10が形成される。 (もっと読む)


【課題】SOI構造のDRAMの提供
【解決手段】
半導体基板1上に第1の絶縁膜2が設けられ、第1の絶縁膜2上に第2の絶縁膜3が選択的に設けられ、第2の絶縁膜3上より、第2の絶縁膜3が設けられていない領域上に延在して選択的に半導体層(6、7、8)が設けられ、半導体層の一部7の全周囲にゲート絶縁膜14を介し、第1の絶縁膜2上に包囲構造のゲート電極15が選択的に設けられ、ゲート電極15に自己整合し、直下に空孔を有する半導体層の一部8及び残りの半導体層の一部6にソースドレイン領域(10、11、12、13)が設けられた構造のMIS電界効果トランジスタと、ソース領域11上に電荷蓄積電極17が設けられ、電荷蓄積電極17の側面及び上部にはキャパシタ絶縁膜19を介してセルプレート電極(対向電極)20が設けられた構造のスタック型キャパシタとにより構成されたDRAM。 (もっと読む)


【課題】電気特性及び信頼性の高い薄膜トランジスタを有する半導体装置、及び該半導体
装置を量産高く作製する方法を提案することを課題とする。
【解決手段】半導体層としてIn、Ga、及びZnを含む酸化物半導体膜を用い、半導体
層とソース電極層及びドレイン電極層との間にバッファ層が設けられた逆スタガ型(ボト
ムゲート構造)の薄膜トランジスタを含むことを要旨とする。ソース電極層及びドレイン
電極層と半導体層との間に、半導体層よりもキャリア濃度の高いバッファ層を意図的に設
けることによってオーミック性のコンタクトを形成する。 (もっと読む)


【課題】SOI構造のDRAMの提供
【解決手段】
半導体基板1上に複数層の絶縁膜(2、3、4、5)が選択的に設けられ、絶縁膜5上より、絶縁膜5が設けられていない領域上に延在して選択的に半導体層(8、9、10)が設けられ、半導体層の一部9の全周囲にゲート絶縁膜16を介し、絶縁膜4上に包囲構造のゲート電極17が設けられ、ゲート電極に自己整合し、直下に空孔7を有する半導体層の一部10にドレイン領域(14、15)が、半導体層の一部8にソース領域(12、13)が設けられた構造のMIS電界効果トランジスタと、ソース領域12の側面に一部を接し、絶縁膜(3、5)中にトレンチが設けられ、トレンチの側面に電荷蓄積電極19が設けられ、電荷蓄積電極の側面及び上部にキャパシタ絶縁膜20を介してセルプレート電極21が設けられた構造のトレンチ型キャパシタと、により構成されたDRAM。 (もっと読む)


【課題】新規な電極構造を有する、横電界方式の液晶表示装置とその作製方法の提案。
【解決手段】絶縁表面を有する第1基板と、絶縁表面上の第1導電膜及び第2導電膜と、第1導電膜上の第1絶縁膜と、第2導電膜上の第2絶縁膜と、第1基板と対峙する第2基板と、第1基板と第2基板の間に位置する液晶層と、を有し、第1導電膜の一部は第1絶縁膜の側部にも位置し、なおかつ、第2導電膜の一部は第2絶縁膜の側部にも位置し、液晶層は、ブルー相を示す液晶を含んでいる液晶表示装置。 (もっと読む)


【課題】十分なキャパシタ容量が得られ、リーク電流や寄生容量を抑制した薄膜トランジスタ装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタを備え、そのゲート電極111、ソース電極131、ドレイン電極132、バス配線、画素電極133、ゲート絶縁膜121、層間絶縁膜122、半導体層141の全部もしくは一部が塗布法もしくは印刷法で形成されてなり、ゲート絶縁膜121および/もしくは層間絶縁膜122が連続膜から構成され、連続膜が薄膜部と厚膜部から構成されてなる。 (もっと読む)


【課題】TFTの特性劣化を抑制しつつクロス容量を低下することが可能な表示装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】基板11上にゲート電極12および第1配線層21を形成したのち、全面にゲート絶縁膜13を形成する。次に、ゲート絶縁膜13上に半導体層14Aを形成したのち、半導体層14A上に第1保護膜15を形成する。第1配線層に対向する領域の半導体層14および第1保護膜15の除去およびその他の領域をエッチングにより加工する。次いで、全面に第2保護膜23を形成および加工したのち、ソース・ドレイン電極17および第2配線層24を形成する。これにより、チャネル層14表面の損傷が防止されると共に、配線部20のクロス容量が低減される。 (もっと読む)


【課題】信号配線、ゲート配線の寄生容量を低下させ、感度の向上、ノイズの減少を図る放射線検出装置を提供する。
【解決手段】絶縁基板上に配置されたスイッチ素子と、スイッチ素子上に配置された放射線を電荷に変換する変換素子とを含み、スイッチ素子と変換素子とは接続されている画素を有し、画素は絶縁基板上に行列に二次元配列され、絶縁基板上に配置された行方向に配列された複数のスイッチ素子が共通に接続されるゲート配線と、列方向に配列された複数のスイッチ素子が共通に接続される信号配線と、を有し、スイッチ素子と変換素子の間に複数の絶縁層が配置され、ゲート配線又は信号配線の少なくとも一方が、複数の絶縁層に挟まれて配置されている。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタの寄生容量を低減することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】 絶縁基板と、前記絶縁基板上に形成されたゲート電極と、前記ゲート電極を覆う第1絶縁膜と、前記第1絶縁膜上に形成され、前記ゲート電極の直上に位置する第1領域と、前記第1領域を挟んだ両側に位置する第2領域及び第3領域と、前記第2領域に積層されるとともに前記第2領域よりも低抵抗な第4領域と、前記第3領域に積層されるとともに前記第3領域よりも低抵抗な第5領域と、を有する酸化物半導体層と、前記酸化物半導体層の前記第1領域を覆うとともに、前記第4領域の一部及び前記第5領域の一部をそれぞれ露出する第2絶縁膜と、前記第2絶縁膜から露出した前記第4領域に電気的に接続されたソース電極と、前記第2絶縁膜から露出した前記第5領域に電気的に接続されたドレイン電極と、を備えたことを特徴とする半導体装置。 (もっと読む)


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