【課題】トランジスタの寄生容量の容量値の低減を図ることにより、画素回路や周辺回路が実行する回路動作を確実に行うことができるようにした表示装置、及び、当該表示装置を有する電子機器を提供する。
【解決手段】画素（画素回路）を構成する画素トランジスタ８０、即ち、駆動トランジスタ及び書込みトランジスタの少なくとも一方としてＬＤＤ構造のトランジスタを用いる。そして、画素トランジスタ８０のＬＤＤ領域８７の幅Ｗ₁をチャネル領域８３の幅Ｗ₂よりも狭く設定することで、画素トランジスタ８０に付く寄生容量、即ち、ＬＤＤ領域８７−ゲート電極８１間に形成される寄生容量の容量値を小さくする。 （もっと読む）

【課題】寄生容量を小さくでき、応答速度低下を抑制することが可能なＴＦＴを提供する。
【解決手段】基材１１０上に配設した有機半導体層１５０と、有機半導体層１５０と接触し、対向してチャネル領域を形成するソース電極１２０及びドレイン電極１３０と、有機半導体層１５０と絶縁層１６０を介して設けられるゲート電極１４０と、ソース電極１２０と導電接続するソース電極配線部１２５と、ドレイン電極１３０と導電接続するドレイン電極配線部１３５と、ゲート電極１４０と導電接続するゲート電極配線部１４５と、からなるＴＦＴ１００であって、積層方向からみて、有機半導体層１５０が、ゲート電極１４０を含み、ゲート電極１４０が、ソース電極１２０とドレイン電極１３０とチャネル領域とからなる領域を含み、有機半導体層１５０の周縁でソース電極配線部１２５とドレイン電極配線部１３５との間にはゲート電極配線部１４５が配される。 （もっと読む）

【課題】微細化しても高い性能を実現可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】実施の形態の半導体装置は、半導体基板と、半導体基板上に形成されたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極と、ゲート電極の両側に形成された第１のゲート側壁と、半導体基板上に形成され、ゲート電極との間に第１のゲート側壁を挟むソース・ドレイン半導体層と、を備える。さらに、ゲート電極の両側に、第１のゲート側壁上およびソース・ドレイン半導体層上に形成され、第１のゲート側壁との境界がゲート電極の側面で終端し、第１のゲート側壁よりもヤング率が小さく、かつ、低誘電率の第２のゲート側壁、を備える。 （もっと読む）

【課題】Ｃdsubの低減化を通じて、出力容量Ｃossの低減化に寄与する半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１とこの半導体基板１上に埋め込み絶縁層を介して形成された第１導電型の半導体層とを有するＳＯＩ基板と、第１導電型の半導体層からなる活性領域３内に形成された素子領域と、素子領域の少なくとも１つに接続される外部取り出し用の電極(ドレインパッド９ｐ)とを有する半導体装置において、外部取り出し用の電極９ｐ下に位置する活性領域が、埋め込み絶縁層２に到達するように形成された絶縁分離領域１１で囲まれており、絶縁分離領域１１で分離された活性領域３と、外部取り出し用の電極９ｐとの間に絶縁体１３が配されたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来のゲートラスト法の問題点を解決し、さらなる微細化に対応できるゲート構造を実現する。
【解決手段】半導体領域１０１上から、ダミーゲート構造を除去してリセス１０７ａを形成した後、リセス１０７ａの底部の半導体領域１０１の表面上に界面層１０８を形成する。次に、界面層１０８上及びリセス１０７ａの側壁上に高誘電率絶縁膜１０９を形成すした後、リセス１０７ａ内部の高誘電率絶縁膜１０９上に、ゲート電極の少なくとも一部となる金属含有膜１１０を形成する。界面層１０８上に形成されている部分の高誘電率絶縁膜１０９の厚さは、リセス１０７ａの側壁上に形成されている部分の高誘電率絶縁膜１０９の厚さよりも厚い。 （もっと読む）

【課題】薄膜トランジスタの電流駆動能力を増大するとともに負荷である配線容量を低減することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】 絶縁基板と、前記絶縁基板上に形成されたゲート電極及び第１信号配線と、前記ゲート電極及び前記第１信号配線を覆う第１絶縁膜と、前記ゲート電極の直上の位置を含む前記第１絶縁膜上に形成された酸化物半導体層と、前記酸化物半導体層の一部を覆うとともにその領域を挟んだ両側で前記酸化物半導体層を露出し、且つ、前記第１信号配線の直上の位置を含む前記第１絶縁膜上に形成された第２絶縁膜と、前記第２絶縁膜から露出した前記酸化物半導体層にそれぞれ電気的に接続されたソース電極及びドレイン電極と、前記第２絶縁膜上に形成されるとともに前記第１信号配線と交差する第２信号配線と、を備えたことを特徴とする半導体装置。 （もっと読む）

【課題】高電圧に対する高い耐久性と信頼性を有する酸化物半導体薄膜トランジスタを提供することが可能な、新規かつ改良された酸化物半導体薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】酸化物半導体薄膜トランジスタは、基板の上部に形成されて第１面積を有するゲート電極、ゲート電極をカバーするためにゲート電極の上部に形成されるゲート絶縁膜、ゲート絶縁膜の上部に形成されて第１面積より狭い第２面積を有する活性層、活性層のソース領域にコンタクトし、活性層の上部に形成されるソース電極、活性層のドレーン領域にコンタクトし、活性層の上部に形成されるドレーン電極及び活性層、ソース電極及びドレーン電極をカバーする保護膜を含む。従って、酸化物半導体薄膜トランジスタは高電圧に対する高耐久性及び信頼性を有することができる。 （もっと読む）

【課題】所期の特性が得られ高品位な表示を得ることができる薄膜トランジスターの製造方法、及び電気光学装置を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスターとしてのＴＦＴ素子の製造方法は、第１基板１２上に半導体膜３８を形成する工程と、半導体膜３８上にゲート絶縁膜５３を形成する工程と、ゲート絶縁膜５３上にゲート電極３５ａを形成する工程と、ゲート絶縁膜５３及びゲート電極３５ａを覆って、半導体膜３８に注入する不純物７２の量を調整するための、ゲート絶縁膜５３とエッチングの選択比が異なる調整膜７３を形成する工程と、調整膜７３を介して半導体膜３８に不純物７２を注入する工程と、半導体膜３８にアニール処理を施す工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】応答特性を改善することによって異常値の出力を低減した光電変換装置を提供する。
【解決手段】フォトダイオードとカレントミラー回路を含む光電変換装置において、フォトダイオードに対して並列にダイオード接続されたトランジスタが設けられる。該トランジスタは、カレントミラー回路のゲート容量の蓄積電荷を急速に排出するためのリークパスとして作用し、光電変換装置の応答速度を改善するとともに異常値の出力を低減する。 （もっと読む）

【目的】ＳＯＮ構造上に素子を形成する場合や繰り返しのエピタキシャル成長で素子を形成する場合に正確な位置あわせをすることができる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】シリコンウェハ１のダイシングライン４などの無効領域の内部にＳＯＮ構造１１のアライメントマーク９を形成し、このアライメントマーク９を赤色レーザ（透過型レーザ）の反射光１６の変化で認識することで、図示しないＳＯＮ構造２３上に素子を形成する場合や繰り返しのエピタキシャル成長で素子を形成する場合に正確な位置合わせをすることができる。 （もっと読む）

【課題】電気特性及び信頼性の高い薄膜トランジスタを有する半導体装置を提案することを課題とする。
【解決手段】基板上に形成されたゲート電極と、ゲート電極上に形成された酸素過剰のＳｉＯ_Ｘ膜と、ＳｉＯ_Ｘ膜上に形成された酸化物半導体膜と、を有する半導体装置。 （もっと読む）

【課題】薄く、軽量であり且つ破壊が生じにくい液晶表示装置を、作製工程を大幅に削減して低コストで作製する方法を提供する。
【解決手段】剥離層を介して基板上に素子領域を形成する際に、半導体層のエッチングと、画素電極とドレイン電極を接続するためのコンタクトホールの形成を、同一のフォトリソグラフィ工程及びエッチング工程で行う。更に素子領域を基板から剥離してじん性の高い第１の支持体に移し替え、第１の支持体及びじん性の高い第２の支持体で液晶素子を挟持することで、薄く、軽量であり且つ破壊が生じにくい液晶表示装置を、作製工程を大幅に削減して低コストで作製できる。 （もっと読む）

【課題】作製工程を大幅に削減し、低コストで生産性の良い液晶表示装置を提供する。消費電力が少なく、信頼性の高い液晶表示装置を提供する。
【解決手段】ゲート配線上の一部を含む半導体層のエッチングと、画素電極とドレイン電極を接続するためのコンタクトホールの形成を、同一のフォトリソグラフィ工程及びエッチング工程で行うことで、フォトリソグラフィ工程を削減する。これにより露出したゲート配線の一部を絶縁層で覆い、これに液晶層の間隔を維持するスペーサを兼ねさせる。フォトリソグラフィ工程を削減することにより、低コストで生産性の良い液晶表示装置を提供することができる。また、半導体層に酸化物半導体を用いることで、消費電力が低減され、信頼性の高い液晶表示装置を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】アンテナスイッチのコスト削減を図る観点から、特に、アンテナスイッチをシリコン基板上に形成された電界効果トランジスタから構成する場合であっても、アンテナスイッチで発生する高調波歪みをできるだけ低減できる技術を提供する。
【解決手段】ＲＸスルートランジスタ群ＴＨ（ＲＸ）は、互いに直列に接続されたＭＩＳＦＥＴＱ１〜Ｑ５において、それぞれのＭＩＳＦＥＴのボディ領域と、隣接するＭＩＳＦＥＴのソース領域あるいはドレイン領域とを、それぞれ、ダイオード（整流素子）を介して接続する。そして、特に、ｎチャネル型ＭＩＳＦＥＴの場合、ＭＩＳＦＥＴのボディ領域から隣接するＭＩＳＦＥＴのソース領域あるいはドレイン領域へ向う向きが順方向となるようにダイオードを接続する。 （もっと読む）

【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな駆動方法を提供する。また、新たな駆動方法により、メモリ素子への書き込み電位のばらつきを低減し、信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体装置の駆動方法において、書き込み電位を段階的に上昇させて、同時に読み出し電流を確認し、読み出し電流の結果を書き込み電位に利用して書き込みを行う。つまり、正しい電位で書き込みが行われたか確認しながら書き込みを行うことで、信頼性の高い書き込みを行うことが可能である。 （もっと読む）

【課題】デュアルゲート型トランジスタのゲートと、ソースまたはドレインの間の寄生容量を低減する。
【解決手段】第１の導電層を覆って設けられた第１の絶縁層と、第１の絶縁層上に設けられた第１の半導体層と、第１の半導体層上に、第１の半導体層を露出させて離間して設けられた第２の半導体層と、第２の半導体層上に設けられた不純物半導体層と、不純物半導体層上に、少なくとも一部が接するように設けられた第２の導電層と、第２の導電層上に設けられた第２の絶縁層と、第１の半導体層、第２の半導体層、不純物半導体層、第２の導電層、及び第２の絶縁層を覆って設けられた第３の絶縁層と、少なくとも、第３の絶縁層上に設けられた第３の導電層と、を有し、第３の導電層は、第１の半導体層の第２の半導体層と重畳していない部分と重畳し、且つ第２の導電層の一部とも重畳している構造とする。 （もっと読む）

【課題】レジストの広がりを容易に制御して、寄生容量の増加を抑制する。
【解決手段】ゲート電極１１ａａ上に、ゲート絶縁膜１２、第１半導体膜１３、第２半導体膜１４及び金属膜を成膜し、金属膜上にレジストを形成する工程と、レジストから露出する金属膜、及びレジストの薄膜部の下層に配置する金属膜の上層部をエッチングしてソースドレイン形成層１５ａを形成する工程と、レジストＲｂｂから露出するソースドレイン形成層１５ａ及び第２半導体膜１４の温度差に基づいてリフロー処理を行いレジストＲｂｃに変形する工程と、レジストＲｂｃを用いて第１半導体層１３ａ及び第２半導体層形成層１４ａを形成する工程と、レジストＲｂｃを除去した後に、ソース電極及びドレイン電極を形成し、両電極から露出する第２半導体層形成層１４ａをエッチングして第２半導体層１４ｂを形成する工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】電界効果トランジスタにおけるソースの高キャリア濃度化をプロセス面での負荷を抑えつつ実現する。
【解決手段】ゲート絶縁膜３０は、３−５族化合物半導体のチャネル層２０の第１面のゲート領域に形成される。ソースコンタクト層３４およびドレインコンタクト層３８は、チャネル層２０の第１面にゲート領域を挟むように位置するドレイン領域およびソース領域それぞれに形成される。裏面絶縁膜５０は、チャネル層２０の第１面と反対側の第２面側に形成される。ソース下面電極５２は、裏面絶縁膜５０のチャネル層２０と反対の面側に、ソースコンタクト層３４と対向する領域に形成される。 （もっと読む）

【課題】有機薄膜トランジスタ及びこれを備えた平板表示装置を提供する。
【解決手段】基板の一面上に形成されるソース／ドレイン電極及び有機半導体層と、ソース／ドレイン電極及び有機半導体層と絶縁されるゲート電極と、ソース／ドレイン電極と前記ゲート電極との間に一層以上のゲート絶縁層と、を備え、ソース／ドレイン電極と前記ゲート電極との交差領域のうち少なくとも一部でのゲート絶縁層の厚さは、有機半導体層のチャンネル領域とゲート電極との交差領域のうち少なくとも一部でのゲート絶縁層の厚さ以上とした。 （もっと読む）

【課題】容易なプロセスにより単結晶半導体層を形成したＳＯＩ構造のＭＩＳＦＥＴの提供
【解決手段】半導体基板１上に、第１の絶縁膜２を介して、一部に空孔４を有する第２の絶縁膜３が設けられ、空孔４上及び第２の絶縁膜３の一部上に島状に絶縁分離された半導体層６が設けられ、半導体層６上にゲート酸化膜１２を介して、空孔４直上に空孔４の幅以下のゲート電極１３が設けられ、半導体層６には、ゲート電極１３に自己整合して低濃度のソースドレイン領域（９，１０）が、ゲート電極１３の側壁に設けられたサイドウォール１４に自己整合して高濃度のソースドレイン領域（８，１１）がそれぞれ設けられ、ゲート電極１３（配線図示せず）及び高濃度のソースドレイン領域（８，１１）にはバリアメタル１７を有する導電プラグ１８を介してバリアメタル２０を有する配線２１が接続されているＭＩＳＦＥＴ。 （もっと読む）