【課題】駆動電流の増大を図る。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板１０と、前記半導体基板上のソース／ドレイン領域に形成された第１半導体層１１と、前記第１半導体層上に形成された第１部分１２ａと、前記ソース／ドレイン領域の間に位置するチャネル領域に線状に形成された第２部分１２ｂと、を有する第２半導体層１２と、前記第２半導体層の前記第２部分の周囲に絶縁膜１７を介して形成されたゲート電極１８と、を具備し、前記第２半導体層の前記第２部分の膜厚は、前記第２半導体層の前記第１部分の膜厚より小さい。 （もっと読む）

フィンタイプデバイスシステム及び方法が開示される。特定の実施形態において、表面を有する基板内にトランジスタのゲートを形成する段階と、前記基板内に、第１ＢＯＸ層面において前記ゲートに隣接する埋込酸化物（ＢＯＸ）層を形成する段階と、を含むトランジスタの製造方法が開示される。本方法はまた、レイズドソース−ドレインチャネル（フィン）を形成する段階であって、前記フィンの少なくとも一部が前記基板の表面から延長し、前記フィンが、前記ＢＯＸ層の第２ＢＯＸ層面に隣接する第１フィン面を有する段階を含む。
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【課題】 本発明は、非破壊かつ簡便に、所望の電気特性を得るために最適なキャリア濃
度にドーピングできるドーピング装置、並びにドーピング方法、それを用いる薄膜トラン
ジスタの作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 本発明では、接触角を用いて、半導体素子の電気特性（トランジスタにお
けるしきい値電圧など）を正確かつ精密にモニタし、ドーピング方法を制御することによ
って、特性を制御する。また、本発明により、ｉｎ−ｓｉｔｕで特性をモニタすることを
よって、情報を時々刻々取得し、時間遅延なくフィードバックできる。 （もっと読む）

【課題】本発明では、高速化及び高集積化が可能な半導体素子、及びそれが高集積された
半導体装置、並びにこれらの作製方法を提供する。
【解決手段】 本発明は、基板の厚さ方向に積層されたソース領域、チャネル形成領域、
及びドレイン領域と、絶縁膜を介して前記チャネル形成領域と重畳するゲート電極とを有
し、前記チャネル形成領域は、極細炭素繊維で形成されている半導体装置である。本発明
の半導体装置は、極細炭素繊維をチャネル形成領域に有し、かつ基板表面に対して縦方向
に積層されている半導体素子を有するため、高集積化が可能である。 （もっと読む）

【課題】電気回路中にて静電気放電保護を確実化しながら小型化を実現する。
【解決手段】電気回路において静電気放電保護素子として使用するためのゲート制御されたフィン型抵抗素子は、第１端子領域、第２端子領域、および、第１端子領域と第２端子領域との間に形成されたチャネル領域を有するフィン構造体を備えている。さらに、フィン型抵抗素子は、チャネル領域の上面の一部上に少なくとも形成されたゲート領域を備えている。ゲート領域は、ゲート制御部に電気的に結合されており、ゲート制御部は、ゲート領域に印加される電気的な電位を制御することにより、電気回路が第１動作状態である間は、ゲート制御されたフィン型抵抗素子の電気抵抗を高くし、静電気放電現象の開始によって特徴付けられている第２動作状態では、電気抵抗をより低くする。 （もっと読む）

【課題】半導体層の界面に生じるダングリングボンドをフッ素で終端することで、界面準位を低減することができ、また、低熱履歴のプロセスでも活性領域のみへ効率よくフッ素を導入することができる半導体基板を提供する。
【解決手段】フッ素拡散防止膜６と該フッ素拡散防止膜６上に形成されたフッ素を含有するシリコン酸化膜７からなる絶縁層９と、前記絶縁層９上に形成された半導体層８と、を含み、前記半導体層８とフッ素を含有する前記シリコン酸化膜７とが接触していることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】画素ＴＦＴを作製する工程数を削減して製造コストの低減および歩留まりの向上を実現し、信頼性と生産性を向上させる技術を提供することを課題とする。
【解決手段】画素領域に形成する画素ＴＦＴをチャネルエッチ型の逆スタガ型ＴＦＴで基板上に形成し、ソース領域及びドレイン領域のパターニングと画素電極のパターニングを同じフォトマスクで行う。また、ソース配線を画素電極と同じ材料である導電膜で覆い、基板全体を外部の静電気等から保護する構造とする。このような構成とすることで、製造工程において製造装置と絶縁体基板との摩擦による静電気の発生を防止することができる。特に、製造工程で行われる液晶配向処理のラビング時に発生する静電気からＴＦＴ等を保護することができる。 （もっと読む）

【課題】ゲート・オール・アラウンドトランジスタの複数のチャネルそれぞれに流れる電流を均一にし、ゲート・オール・アラウンドトランジスタの信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体基板と、半導体基板上に一定の間隔をおいて形成された第１の半導体層上に第２の半導体層を形成した積層構造が複数積み重なったソース・ドレイン領域と、第２の半導体層の同一レイヤ間をそれぞれ接続するようにワイア状に形成された複数のチャネル領域と、前記複数のチャネル領域をそれぞれ包み込むようにゲート絶縁膜を介して形成されたゲート電極とを具備し、チャネル領域のチャネル幅は、半導体基板から離れるほど狭く形成され、第２の半導体層及びチャネル領域の膜厚は、半導体基板から離れるほど広く形成される。 （もっと読む）

【課題】生産性及び性能が向上したＴＦＴ基板及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明にかかるＴＦＴ基板は、厚膜部及び厚膜部よりも膜厚が薄い薄膜部を有するゲート電極２と、厚膜部上及び薄膜部上に形成された半導体能動膜７と、半導体能動膜の内側であって、厚膜部より外側の薄膜部に対応する半導体能動膜７上に形成されたオーミックコンタクト膜８と、ソース電極９及びドレイン電極１０を構成し、オーミックコンタクト膜８の内側に形成された電極膜３０とを備えるものである。 （もっと読む）

ＩＩＩ族窒化物トランジスタ・デバイスを形成する方法は、ＩＩＩ族窒化物半導体層上に保護層を形成するステップと、ＩＩＩ族窒化物半導体の一部を露出するように保護層を貫通するビアホールを形成するステップと、保護層上にマスキングゲートを形成するステップとを含む。マスキングゲートは、ビアホールの幅より大きい幅を有する上部を含み、ビアホールの中に延びる下部を有する。この方法はさらに、マスキングゲートを注入マスクとして用いて、ＩＩＩ族窒化物層内にソース／ドレイン領域を注入するステップを含む。 （もっと読む）

【課題】オン抵抗、出力容量を低減した半導体装置を提供する。
【解決手段】絶縁層２の上に互いに接して設けられた、第２導電型の第１の半導体層３４、前記第１の半導体層よりも不純物濃度の低い第２導電型の第２の半導体層３３、第１導電型の第３の半導体層３１、前記第３の半導体層よりも不純物濃度の高い第１導電型の第４の半導体層３２、前記第４の半導体層の表面に設けられた第２導電型の第５の半導体層３５と、前記第２の半導体層と前記第３の半導体層との境界の上に設けられたトレンチ溝５１と、前記トレンチ溝内及び前記トレンチ溝外の前記第２，第３，第４の半導体層の上に絶縁膜４２を介して設けられた制御電極２３と、前記第１の半導体層の上に設けられた第１の主電極２１と、前記第４，第５の半導体層の上に前記制御電極と離隔して設けられた第２の主電極２２と、を備える半導体装置。 （もっと読む）

【課題】トランジスタ・チャネルのより効果的な電気伝導を提供する。
【解決手段】電子デバイスは、結晶構造を規定し、ある長さおよび厚さｔ_Ｃを有する導電チャネルと、チャネルの表面と接している厚さｔ_Ｇの誘電体膜とを包含する。さらに、この膜は、結晶構造に対するチャネル長さの配列方向に依存し圧縮力もしくは引張力によって、電荷担体（電子または正孔）のチャネル長さ沿いの電気的移動度が増大するように、圧縮力または引張力のいずれかをチャネルの被接触面に作用させる材料を含む。異なるトランジスタにおいて正孔および電子両方の移動度が増大したチップと、かかるトランジスタまたはチップを作製する方法とに対する実施形態が提示される。 （もっと読む）

【目的】裏面工程追加などの複雑な製造プロセスを一切伴わず、レベルシフタ素子である高耐圧ＮＭＯＳＦＥＴの高耐圧化が安価で実現できるほか、安定した高電位配線、低いオン電圧による低電圧駆動かつ高速応答性の実現を可能とする高耐圧半導体装置および高電圧集積回路装置を提供することにある。
【構成】支持基板１００上に埋め込み酸化膜２００を介して半導体層１０１が形成され、半導体層１０１上に高電位側第２段トランジスタ３０２とそれを囲むように低電位側第１段トランジスタ３０１を形成し、第２段トランジスタのドレイン電極１０７１と第１段トランジスタ３０１のソース電極１０７２を接続する。第２段トランジスタ３０２のドレイン電極１１４はドレインパッド１１９と接続される。 （もっと読む）

【課題】横型ＩＧＢＴの占有面積を増大させることなく高耐圧化することができる半導体装置の構造およびその製造方法を提供する。
【解決手段】活性層３は、表面から埋め込み酸化膜２までの厚さが周囲の領域の厚さよりも薄い、コレクタ形成部１１を備える。当該コレクタ形成部１１に、表面から埋め込み酸化膜２に達するＮ型バッファ領域４と、Ｎ型バッファ領域４の表面部に形成されたＰ型コレクタ領域５とが形成される。また、活性層３は、Ｎ型バッファ領域４から離間して形成されたＰ型ベース領域６と、Ｐ型ベース領域６の表面部に形成されたＮ型エミッタ領域７を備える。Ｎ型バッファ領域４とＰ型ベース領域６との間の活性層３には、Ｎ型ベース領域１２が設けられ、Ｎ型ベース領域１２の表面上からＰ型ベース領域６の表面上に延在するゲート絶縁膜１４を介してゲート電極９が設けられる。 （もっと読む）

【課題】 マルチゲート型ＦＥＴの置換ゲート構造体及びマルチゲート型ＦＥＴの置換ゲート構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】 ＭＵＧＦＥＴ及びＭＵＧＦＥＴを製造する方法が示される。ＭＵＧＦＥＴを製造する方法は、複数の活性領域の周りに一時的スペーサ・ゲート（図３の１６）を形成することと、複数の活性領域の間を含む、一時的スペーサ・ゲートの上に誘電体材料（１８ａ及び空間２０内）を堆積させることとを含む。この方法は、誘電体材料（空間２０内）の部分をエッチングして一時的スペーサ・ゲート（１６）を露出させることと、一時的スペーサ・ゲートを除去して、活性領域と誘電体材料の残りの部分（１８ａ）との間に空間を残すこととをさらに含む。この方法はさらに、活性領域と誘電体材料の残りの部分（１８ａ）との間の空間（２２）及び誘電体材料の残りの部分の上方をゲート材料で充填することを含む。 （もっと読む）

【課題】導電型に応じて容易に構成を変えることが可能なＦｉｎトランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、基板と、基板上に設けられた凸状の半導体からなるトランジスタ活性領域１０４と、トランジスタ活性領域１０４の一部の側面上及び上面上に設けられたゲート絶縁膜１０５ａと、ゲート絶縁膜１０５ａを間に挟んでトランジスタ活性領域１０４の側面及び上面の一部上に設けられたゲート電極３５０とを備えている。ゲート電極３５０のうち、トランジスタ活性領域１０４の側面上に設けられた部分の構成とトランジスタ活性領域１０４の上面上に設けられた部分の構成とは互いに異なっている。 （もっと読む）

【課題】インパクトイオン化現象によって発生した電子・正孔を効率よく吸収することが可能で正常な動作特性と高い信頼性を実現する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置２０は、基板２１に対して順次積層されたバッファ層２２、下地化合物半導体層２３ｆ（下地化合物半導体層２３）、インパクトイオン制御層２４、下地化合物半導体層２３ｓ（下地化合物半導体層２３）、チャネル画定化合物半導体層２６ｆ（チャネル画定化合物半導体層２６）、チャネル画定化合物半導体層２６ｓ（チャネル画定化合物半導体層２６）、ＡｌＧａＮ（窒化アルミニウムガリウム）層２８、ＧａＮ（窒化ガリウム）層２９を備えている。インパクトイオン制御層２４は、下地化合物半導体層２３の積層範囲（積層範囲の厚さＴｓｔ）内に積層されてインパクトイオン化現象の発生位置を制御する。 （もっと読む）

【課題】低いコンタクト抵抗を有し、かつ、オン抵抗の増大を回避できて高いチャネル移動度を維持できるノーマリオフ動作の電界効果型トランジスタを提供する。
【解決手段】この電界効果型トランジスタは、ＡｌＧａＮ障壁層６の薄層部６ａは、第２のＧａＮ層４のＶ欠陥１３およびＶ欠陥１３に連なる第３のＧａＮ層５の非成長領域Ｇ１上に形成されているので、エッチングを行うことなく平坦部６ｂよりも薄くできる。よって、エッチングダメージがチャネル移動度を低下させることがなく、オン抵抗の増大を回避できる。 （もっと読む）

【課題】三次元半導体であるSGTのリーク電流の増加による消費電力の増大を解決し、SGTの低消費電力を実現する半導体装置を提供すること。
【解決手段】第一導電型の第一シリコン柱と、その側面を囲む第一の絶縁体とその絶縁体を囲むゲートがあり、第一シリコン柱の下部に第二シリコン柱、上部に第三シリコン柱が備わり、第二シリコン柱の第一シリコン柱との接触面を除く面に形成された第二導電型の高濃度不純物領域と、第二シリコン柱に形成された第二導電型の高濃度不純物領域に囲まれた第一導電型不純物領域と、第三シリコン柱の第一シリコン柱との接触面を除く面に形成された第二導電型の高濃度不純物領域と、第三シリコン柱に形成された第二導電型の高濃度不純物領域に囲まれた第一導電型不純物領域から構成されており、第二シリコン柱と第三シリコン柱の第一導電型不純物領域が第二シリコン柱と第三シリコン柱の底部から伸びる空乏層領域より大きい。 （もっと読む）

【課題】比抵抗が低いながらも接触特性が良い接触部を含み、優れた接触特性を有する接触部を含む薄膜トランジスタ表示板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁基板と、ゲート線と、ゲート絶縁層と、半導体層と、データ線と、前記データ線と分離されているドレーン電極と、前記半導体層を覆っていて前記ドレーン電極を露出する第１接触孔、前記ゲート線の一部を露出する第２接触孔、前記データ線の一部を露出する第３接触孔を有する保護膜と、前記第１接触孔を通じて前記ドレーン電極と連結される画素電極と、前記第２接触孔を通じて前記ゲート線と連結されているゲート接触補助部材と、前記第３接触孔を通じて前記データ線に連結されるデータ接触補助部材とを含み、前記データ接触補助部材は凹凸を有することを特徴とする薄膜トランジスタ表示板を提供する。 （もっと読む）