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Fターム[5F110EE45]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | ゲート (57,237) | 製法 (12,530) | 堆積 (11,688) | CVD (2,010)

Fターム[5F110EE45]に分類される特許

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【課題】簡便な工程で、有機半導体層の移動度を低下させることなくパターニングした有機半導体素子を得ることができる有機半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】ソース電極1およびドレイン電極2を覆うように有機半導体層3を形成する有機半導体層形成工程と、上記有機半導体層上の少なくとも上記ソース電極1および上記ドレイン電極2間のチャネル領域C上に、第一誘電体層4を形成する第一誘電体層形成工程と、上記第一誘電体層を覆うように上記有機半導体層上に、第二誘電体層5を形成する第二誘電体層形成工程と、を有し、第二誘電体層5は、第一誘電体層4の周囲で有機半導体層3と接触する接触部を有し、接触部Xにおける有機半導体層3および第二誘電体層5の界面に、有機半導体層と第二誘電体層とが混ざり合った混合層6を形成することを特徴とする有機半導体素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】簡易な工程で製造歩留まりを向上させることが可能なデバイスの製造方法および表示装置の製造方法等を提供する。
【解決手段】基板11上にデバイス(TFT層12)を形成する工程は、薄膜を形成する工程(工程S11)と、薄膜上にフォトレジスト膜を形成する工程(工程S12)と、露光マスクM1を用いてフォトレジスト膜に対して露光を行う露光工程(工程S13)と、露光がなされたフォトレジスト膜をエッチングする工程(工程S15)とを含んでいる。露光工程では、フォトレジスト膜に対する露光を複数回連続して行う(工程S131,S132)。これにより、製造工程の増加を抑えつつ、異物の混入等に起因した薄膜パターンにおけるエッチング不良を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】有機半導体層のパターン精度が良好であり、トランジスタ特性に優れた有機半導体素子を容易に製造することが可能な製造方法を提供すること。
【解決手段】液晶性有機半導体材料を配向させる配向層1上にソース電極2およびドレイン電極3を形成する電極形成工程と、ソースおよびドレイン電極を覆うように配向層1上に、液晶性有機半導体材料を有する有機半導体層4を形成する工程と、基板5と上記基板上にパターン状に形成された親液部6および撥液部7を有する有機半導体層転写基板8を用い、撥液部がソースおよびドレイン電極間のチャネル領域C上に配置されるように、有機半導体層4上に積層して、親液部6上に、その液晶相温度で熱転写する工程と、液晶相温度よりも低い温度で、配向層1から剥離することにより、親液部6上に熱転写された有機半導体層4を配向層1から除去する工程と、を有することを特徴とする有機半導体素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】低温成膜可能な酸化物で半導体膜を形成した逆スタガ型薄膜トランジスタであって、半導体膜上に形成した保護膜の紫外線等に対する耐光性と耐環境安定性を向上させてなる薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上にパターン形成されたゲート電極2と、ゲート電極2を覆うゲート絶縁膜3と、ゲート絶縁膜3上にパターン形成された酸化物半導体膜4と、酸化物半導体膜4上にパターン形成されたソース電極6S及びドレイン電極6Dと、ソース電極6S及びドレイン電極6D間に露出する酸化物半導体膜4を少なくとも覆う保護膜7とを有するボトムゲートトップコンタクト構造の薄膜トランジスタ10であって、保護膜7を、酸化物半導体材料で形成する。このとき、酸化物半導体膜4及び保護膜7が、InMZnO(MはGa,Al,Feのうち少なくとも1種)を含むアモルファス酸化物である酸化物半導体材料からなることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】折り曲げ耐性が向上したコプレナ型の酸化物半導体を提供し、また、コンタクトホールを精巧に形成するコプレナ型の酸化物半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁性を有する基板と、前記基板上に配置され、チャネル領域及び電極接続領域を有する酸化物半導体層と、前記酸化物半導体層上に配置され、コンタクトホールを有するゲート絶縁層と、前記ゲート絶縁層上に配置されたソース電極、ドレイン電極、及びゲート電極と、を有するコプレナ型の酸化物半導体素子であって、前記ゲート絶縁層は、架橋ポリマーで形成されていることを特徴とするコプレナ型の酸化物半導体素子とその製造方法。 (もっと読む)


【課題】有機半導体層の移動度を低下させることなく、容易に有機半導体層をパターニングした有機半導体素子を得ることができる有機半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】液晶性有機半導体材料を配向させる配向層1上にソース電極2およびドレイン電極3を形成するソース電極およびドレイン電極形成工程と、上記ソース電極および上記ドレイン電極を覆うように上記配向層上に、液晶性有機半導体材料を有する有機半導体層4を形成する有機半導体層形成工程と、上記有機半導体層上の少なくとも上記ソース電極および上記ドレイン電極間のチャネル領域C上に、誘電体層5を形成する誘電体層形成工程と、上記誘電体層が形成された上記有機半導体層を上記液晶性有機半導体材料の液晶相温度でアニール処理するアニール処理工程と、を有することを特徴とする有機半導体素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】電源電圧の供給が停止した後もデータ保持可能な記憶回路の提供、消費電力の低減可能な信号処理回路を提供する。
【解決手段】記憶回路は、トランジスタと、容量素子と、第1の演算回路と、第2の演算回路と、第3の演算回路と、スイッチと、を有し、第1の演算回路の出力端子は、第2の演算回路の入力端子と電気的に接続され、第2の演算回路の入力端子は、スイッチを介して第3の演算回路の出力端子と電気的に接続され、第2の演算回路の出力端子は、第1の演算回路の入力端子と電気的に接続され、第1の演算回路の入力端子は、トランジスタのソース及びドレインの一方と電気的に接続され、トランジスタのソース及びドレインの他方は、容量素子の一対の電極のうちの一方、及び第3の演算回路の入力端子と電気的に接続され、トランジスタのチャネルは酸化物半導体層に形成される。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体膜における水及び水素の含有量を少なくし、且つ下地膜から前記酸化物半導体膜に酸素欠損を低減するための十分な酸素を供給する。
【解決手段】積層下地膜を形成し、第1の加熱処理を行い、前記積層下地膜上に接して酸化物半導体膜を形成し、第2の加熱処理を行う。前記積層下地膜では、第1の下地膜と第2の下地膜がこの順に積層されており、前記第1の下地膜は、加熱により酸素を放出する絶縁性の酸化物膜であり、前記第2の下地膜は、絶縁性の金属酸化物膜であり、前記第2の下地膜における酸素の拡散係数は、前記第1の下地膜における酸素の拡散係数よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】金属酸化物中の酸素欠損を低減し、電気的特性の安定した半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】ゲート電極と、ゲート電極上に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に設けられた第1の金属酸化物膜と、第1の金属酸化物膜に接して設けられたソース電極及びドレイン電極と、ソース電極及びドレイン電極上に設けられたパッシベーション膜と、を有し、パッシベーション膜は、第1の絶縁膜と、第2の金属酸化物膜と、第2の絶縁膜とが順に積層された半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】大掛かりな製造装置を必要とすることなく、簡素、簡易な方法にて薄膜素子能動部を製造することができる薄膜素子の製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜素子の製造方法は、支持基板20上に樹脂材料から成る第1基材21を塗布法にて形成した後、第1基材21上に、熱によって又はエネルギー線の照射によって硬化する樹脂から成る第2基材22を形成し、次いで、第2基材上に薄膜素子能動部30を形成し、その後、支持基板20を第1基材21から剥離する各工程を備えており、第1基材21を構成する樹脂材料のガラス転移温度は180゜C以上である。 (もっと読む)


【課題】NAND型不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】ビット線と、ソース線と、複数の不揮発性メモリが直列に接続されたNAND型セルと、選択トランジスタと、を有し、不揮発性メモリは、第1の絶縁膜を介した半導体上の電荷蓄積層と、第2の絶縁膜を介した電荷蓄積層上の制御ゲートと、を有し、NAND型セルの一方の端子は、選択トランジスタを介して、ビット線に接続され、NAND型セルの他方の端子は、ソース線に接続されたNAND型不揮発性メモリであって、第1の絶縁膜は、半導体に酸素雰囲気で高密度プラズマ処理を行った後、窒素雰囲気で高密度プラズマ処理を行うことで形成されるNAND型不揮発性メモリ。 (もっと読む)


【課題】10nm程度の溝を有する微細構造物を安価で簡便かつ高精度に作製可能な微細構造物の製造方法、該微細構造物の製造方法により製造される微細構造物、及び該微細構造物を有する電界効果型半導体素子を提供すること。
【解決手段】本発明の微細構造物の製造方法は、トップダウン形成法により、基板上に少なくとも2つの凸状の形状からなる第1の構造体を形成する第1の構造体形成工程と、ボトムアップ形成法により、前記第1の構造体が形成された基板上に形成材料を堆積させ、隣接する前記第1の構造体の中間位置に凹状の溝を有する第2の構造体を形成する第2の構造体形成工程と、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】SOI構造のDRAMの提供
【解決手段】
半導体基板1上に第1の絶縁膜2が設けられ、第1の絶縁膜2上に第2の絶縁膜3が選択的に設けられ、第2の絶縁膜3上より、第2の絶縁膜3が設けられていない領域上に延在して選択的に半導体層(6、7、8)が設けられ、半導体層の一部7の全周囲にゲート絶縁膜14を介し、第1の絶縁膜2上に包囲構造のゲート電極15が選択的に設けられ、ゲート電極15に自己整合し、直下に空孔を有する半導体層の一部8及び残りの半導体層の一部6にソースドレイン領域(10、11、12、13)が設けられた構造のMIS電界効果トランジスタと、ソース領域11上に電荷蓄積電極17が設けられ、電荷蓄積電極17の側面及び上部にはキャパシタ絶縁膜19を介してセルプレート電極(対向電極)20が設けられた構造のスタック型キャパシタとにより構成されたDRAM。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い、酸化物半導体を有する半導体装置。
【解決手段】酸化物半導体層は、ソース電極と重なる第1の領域と、ドレイン電極と重なる第2の領域と、ソース電極及びドレイン電極と重ならない第3の領域と、を有し、記第3の領域における酸化物半導体層の膜厚は、第1の領域及び第2の領域における酸化物半導体層の膜厚よりも小さく、第3の領域における酸化物半導体層の一端部は、第1のテーパを有し、記第3の領域における酸化物半導体層の他端部は、第2のテーパを有し、ソース電極の端部は、第3のテーパを有し、ドレイン電極の端部は、第4のテーパを有し、第1のテーパと、第3のテーパとは連続した形状を有し、第2のテーパと、第4のテーパとは連続した形状を有する半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】Cu合金層と半導体層との間に通常設けられるバリアメタル層を省略しても優れた低接触抵抗を発揮し得、さらに半導体層との密着性に優れており、且つ電気抵抗率が低減された配線構造を提供すること。
【解決手段】本発明の配線構造は、基板の上に、基板側から順に、半導体層と、Cu合金層とを備えた配線構造であって、前記Cu合金層は、基板側から順に、合金成分としてMnと、X(Xは、Ag、Au、C、W、Ca、Mg、Al、SnおよびNiよりなる群から選択される少なくとも一種)を含有する第一層と、純Cu、またはCuを主成分とするCu合金であって前記第一層よりも電気抵抗率の低いCu合金からなる第二層、とを含む積層構造である。 (もっと読む)


【課題】SOI構造のDRAMの提供
【解決手段】
半導体基板1上に複数層の絶縁膜(2、3、4、5)が選択的に設けられ、絶縁膜5上より、絶縁膜5が設けられていない領域上に延在して選択的に半導体層(8、9、10)が設けられ、半導体層の一部9の全周囲にゲート絶縁膜16を介し、絶縁膜4上に包囲構造のゲート電極17が設けられ、ゲート電極に自己整合し、直下に空孔7を有する半導体層の一部10にドレイン領域(14、15)が、半導体層の一部8にソース領域(12、13)が設けられた構造のMIS電界効果トランジスタと、ソース領域12の側面に一部を接し、絶縁膜(3、5)中にトレンチが設けられ、トレンチの側面に電荷蓄積電極19が設けられ、電荷蓄積電極の側面及び上部にキャパシタ絶縁膜20を介してセルプレート電極21が設けられた構造のトレンチ型キャパシタと、により構成されたDRAM。 (もっと読む)


【課題】包囲型ゲート電極及び空孔付きの歪みSOI構造のMISFETの提供
【解決手段】
半導体基板1上に第1の絶縁膜2が設けられ、第1の絶縁膜2上に第2の絶縁膜3が選択的に設けられ、第2の絶縁膜3上に選択的に一対の第1の半導体層6が設けられ、第1の半導体層6にそれぞれ1側面を接し、空孔5上に一対の第2の半導体層8が設けられ、第2の半導体層8間に2側面を接し、残りの周囲にゲート絶縁膜14を介してゲート電極15に包囲された、歪み構造の第3の半導体層7が設けられ、第1及び第2の半導体層(6、8)には概略ソースドレイン領域(10、11、12、13)が設けられ、第3の半導体層7には概略チャネル領域が設けられ、ソースドレイン領域(10、13)及び包囲型ゲート電極15には配線体(19、20、22、23)が接続されているMISFET。 (もっと読む)


【課題】結晶性の高い微結晶半導体膜の作製方法を提供することを課題とする。また、電気特性が良好な半導体装置を、生産性高く作製する方法を提供する。
【解決手段】第1の条件により、高い結晶性の混相粒を低い粒密度で有する種結晶を絶縁膜上に形成した後、種結晶上に、第2の条件により混相粒を成長させて混相粒の隙間を埋めるように第1の微結晶半導体膜を形成し、第1の微結晶半導体膜上に、第1の微結晶半導体膜に含まれる混相粒の隙間を広げず、且つ結晶性の高い微結晶半導体膜を成膜する第3の条件で第2の微結晶半導体膜を形成し、第2の微結晶半導体膜上に、第2の微結晶半導体膜に含まれる混相粒の隙間を埋めつつ、結晶成長を促す第4の条件で、第3の微結晶半導体膜を積層形成する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、高信頼性化する。
【解決手段】酸化物半導体層を含むトランジスタの作製工程において、酸化シリコン膜上に、酸化物半導体が結晶状態における化学量論的組成比に対し、酸素の含有量が過剰な領域が含まれている非晶質酸化物半導体層を形成し、該非晶質酸化物半導体層上に酸化アルミニウム膜を形成した後、加熱処理を行い該非晶質酸化物半導体層の少なくとも一部を結晶化させて、表面に概略垂直なc軸を有している結晶を含む酸化物半導体層を形成する。 (もっと読む)


【課題】フィン型電界効果トランジスタはその動作原理から、低消費電力化を図るためには、動作時のバルク領域は完全空乏化される必要があった。結果として、プロセスばらつきがバルク領域のばらつきを生み、消費電力にばらつきを与えるという問題が生じていた。
【解決手段】本発明のフィン型電界効果トランジスタは、ゲート絶縁膜を介してチャネル領域に電界を印加するためのゲート電極を備えるフィン型電界効果トランジスタにおいて、バルク領域に所定の電位を印加するためのバルク電極を、ゲート電極と別に備えられている。このような構造にすることで、フィンの幅を空乏層程度に保つことを必要せず、基板電位を変化させることでデバイスの特性を変化させる、基板バイアス効果によって消費電力を削減することが可能となる。 (もっと読む)


221 - 240 / 2,010