【課題】長期にわたって安定した動作が可能な化合物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】化合物半導体装置の一態様には、基板１と、基板１上方に形成された電子走行層３及び電子供給層５と、電子供給層５上方に形成されたゲート電極１１ｇ、ソース電極１１ｓ及びドレイン電極１１ｄａと、電子供給層５とゲート電極１１ｇとの間に形成された第１のｐ型半導体層７ａと、ソース電極１１ｓと電子供給層５との間に形成されたｐ型半導体層７と、が設けられている。第２のｐ型半導体層７上のソース電極１１ｓには、第１の金属膜１１ｓａと、第１の金属膜１１ｓａにゲート電極１１ｇ側で接し、第１の金属膜１１ｓａよりも抵抗が大きい第２の金属膜１１ｓｂと、が設けられている。 （もっと読む）

【課題】チャネル長Ｌが短く微細化が可能な、酸化物半導体を用いたトップゲート型の半
導体素子を提供することを課題とする。また、該半導体素子の作製方法を提供することを
課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に酸化物半導体層と、酸化物半導体層上にソース電極層及びドレ
イン電極層と、酸化物半導体層、前記ソース電極層、及び前記ドレイン電極層上にゲート
絶縁層と、ゲート絶縁層上にゲート電極層とを有し、ソース電極層及びドレイン電極層は
側壁を有し、側壁は前記酸化物半導体層の上面と接する半導体素子である。 （もっと読む）

【課題】ｐ型のＧａＮ系半導体装置を提供する。
【解決手段】第１導電型のキャリアガスが発生した第１チャネル層１０６と、第１チャネル層１０６上に、第１チャネル層１０６よりバンドギャップが大きいＧａＮ系半導体で形成されたバリア層１１０と、バリア層１１０上に、バリア層１１０よりバンドギャップが小さいＧａＮ系半導体で形成され、第２導電型のキャリアガスが発生した第２チャネル層１１２と、第２チャネル層１１２にオーミック接続する第１ソース電極１１８と、第２チャネル層にオーミック接続する第１ドレイン電極１２０と、第１ソース電極１１８及び第１ドレイン電極１２０の間に形成された第１ゲート電極１２２と、を備え、第２導電型のキャリアガスのキャリア濃度が、第１ゲート電極１２２の下の領域で、第１ソース電極１１８及び第１ドレイン電極１２０の間の他の領域より低く、かつ、第１ゲート電極１２２により制御されるＧａＮ系半導体装置。 （もっと読む）

【課題】高耐圧及び高電流の動作が可能な半導体素子及びその製造方法を提案する。
【解決手段】内部に２次元電子ガス（２ＤＥＧ）チャンネルを形成する窒化物半導体層３０と、窒化物半導体層３０にオーミック接合されたドレイン電極５０と、ドレイン電極５０の方向に突出した多数のパターン化された突起６１を備え、内部に窒化物半導体層３０にオーミック接合されるオーミックパターン６５を含むソース電極６０と、ドレイン電極５０とソース電極６０との間の窒化物半導体層３０上に、且つ、パターン化された突起６１を含んでソース電極６０上の少なくとも一部に亘って形成された誘電層４０と、一部が、誘電層４０を間に置いてソース電極６０のパターン化された突起６１部分及びドレイン方向のエッジ部分の上部に形成されたゲート電極７０と、を含んでなる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ボディ浮遊効果を抑制することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板１と、シリコン基板１上に形成された埋め込み絶縁層２と、埋め込み絶縁層２上に形成された半導体層３とを備えるＳＯＩ構造の半導体装置であって、半導体層３は、第１導電型のボディ領域４、第２導電型のソース領域５及び第２導電型のドレイン領域６を有し、ソース領域５とドレイン領域６との間のボディ領域４上にゲート酸化膜７を介してゲート電極８が形成され、ソース領域５は、第２導電型のエクステンション層５２と、エクステンション層５２と側面で接するシリサイド層５１を備え、シリサイド層５１とボディ領域４との境界部分に生じる空乏層の領域に結晶欠陥領域１２が形成されている。 （もっと読む）

【課題】高速スイッチング動作を行う場合でも、アバランシェブレークダウンを抑制でき、スイッチング損失低減や素子破壊を抑制することが可能な構成とする。
【解決手段】横型ＦＷＤ７などの横型素子において、ＳＲＦＰ２１の全抵抗Ｒの抵抗値を９０ｋΩ〜９０ＭΩ、好ましくは２７０ｋΩ〜２７ＭΩ、より好ましくは９００ｋΩ〜９ＭΩとすることにより、２ｎｄピーク時のアノード電流Ｉ_Aなどの電流が大きくなることを抑制できる。これにより、高速スイッチング動作を行う場合でもアバランシェブレークダウンを抑制でき、横型ＦＷＤ７のスイッチング損失低減や素子破壊を抑制することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】ゲート電極から染み出した金属がドレイン電極に到達することを抑制して、ドレイン−ゲート間の絶縁破壊を抑制する窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲート電極５の直下に位置するＡｌＧａＮ層２２と、このＡｌＧａＮ層２２の直上に位置する絶縁膜３０との間の界面Ｓに、ゲート電極５とドレイン電極１との間に位置するように、溝５０を設けている。ゲート電極５から界面Ｓを伝ってドレイン電極１側へ染み出した金属を、溝５０によって、堰き止めることができる。 （もっと読む）

【課題】薄膜トランジスタにおいて生じるリーク電流を抑えつつ、表示装置の生産性を向上させることを目的とする。
【解決手段】基板３０１と、基板３０１に形成されている複数の薄膜トランジスタＴＦＴと、を有する表示装置であって、薄膜トランジスタＴＦＴは、ゲート電極３０３と、ゲート電極３０３の上側に配置される微結晶半導体層３０５と、微結晶半導体層３０５上に配置される非晶質半導体層３０６と、を有し、非晶質半導体層３０６の水素濃度が、１２ａｔｏｍ％以下である、ことを特徴とする表示装置。 （もっと読む）

【課題】オン電圧の低減と、破壊耐量確保、高速スイッチングを同時に実現できる横型ＩＧＢＴを提供する。
【解決手段】ｎ型バリア層１５を形成することでエミッタ側のキャリア濃度を高くしてオン電圧の低減を図りつつ、ｎ型バリア層１５を隣り合うエミッタ間に形成しないようにすることで、ターンオフ時間の改善を図る。また、このような構造により、スイッチング時の破壊耐量の向上も図ることも可能となる。したがって、オン電圧の低減と、破壊耐量確保、高速スイッチングを同時に実現できる横型ＩＧＢＴとすることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 ミリ波以上の周波数において、安定して、高い利得および動作周波数が得られる電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】 基板１１上の動作層１３の上に、ソース電極１４、ドレイン電極１５、ゲート電極１８、絶縁膜１７が形成され、
ゲート電極１８は、ソース電極１４とドレイン電極１５の間に配置され、
絶縁膜１７は、ゲート電極１８とドレイン電極１５の間に配置され、
フィールドプレート電極１９は、絶縁膜１７上に形成され、かつ、ソース電極１４と電気的に接続され、
ゲート電極１８上部は、ソース電極１４側およびドレイン電極１５側に突出し、
フィールドプレート電極１９下端は、ゲート電極１８下端よりも下方に配置され、
フィールドプレート電極１９上端は、ゲート電極１９上部においてドレイン電極１５側に最も突出した部分よりも下方に配置されている電界効果トランジスタ。 （もっと読む）

【課題】高い電流駆動力と高いカットオフ特性を備えたトランジスタを提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係るトランジスタは、ゲート電極１２下にゲート絶縁膜を介して形成され、ソース側端部１０Ｓを含む半導体領域１０ａとドレイン側端部１０Ｄを含む導体領域１０ｂとを有し、ソース側端部１０Ｓにおけるチャネル幅方向の幅Ｌａがドレイン側端部１０Ｄにおけるチャネル幅方向の幅Ｌｂよりも小さいグラフェン膜１０と、グラフェン膜１０のソース側端部１０Ｓに接続され、ショットキーバリア接合を形成するソース電極と、グラフェン膜１０のドレイン側端部１０Ｄに接続され、オーミック接合を形成するドレイン電極と、を有する。 （もっと読む）

【課題】高い電流駆動力と高いカットオフ特性を備えたトランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係るトランジスタ１００は、導体領域１０ａと表面に原子が結合した半導体領域１０ｂとを有し、チャネルとして機能するグラフェン膜１０と、グラフェン膜１０上にゲート絶縁膜１１を介して形成されたゲート電極１２と、を有し、導体領域１０ａと半導体領域１０ｂが形成するショットキー接合のトンネル電流をスイッチング動作に用いる。 （もっと読む）

【課題】フローティングボディＤＲＡＭセルにおいて表面積が縮小された改良型メモリセルを提供する。
【解決手段】ソースＳと、ドレインＤと、ソースＳとドレインＤ間のフローティングボディＦＢとを有するＦＥＴトランジスタと、ＦＥＴトランジスタのフローティングボディへの電荷の注入を制御可能なインジェクタであって、エミッタ１５と、ベースと、ＦＥＴトランジスタのフローティングボディＦＢによって形成されたコレクタとを有するバイポーラトランジスタからなるインジェクタとを備え、バイポーラトランジスタのエミッタ１５が、ＦＥＴトランジスタのソース２２がバイポーラトランジスタのベースとして働くように配置される。複数のメモリセルを備えるメモリアレイ、及びこのようなメモリセルを制御する方法にも適用される。 （もっと読む）

【課題】チャネル長Ｌが短く微細化が可能な、酸化物半導体を用いたトップゲート型の半導体素子を提供することを課題とする。また、該半導体素子の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に酸化物半導体層と、酸化物半導体層上にソース電極層及びドレイン電極層と、酸化物半導体層、前記ソース電極層、及び前記ドレイン電極層上にゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上にゲート電極層とを有し、ソース電極層及びドレイン電極層は側壁を有し、側壁は前記酸化物半導体層の上面と接する半導体素子である。 （もっと読む）

【課題】微結晶シリコンをチャネル領域として用い、良好にリーク電流を抑制することが可能なトランジスタを備えるトランジスタ基板及びトランジスタ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】トランジスタ基板におけるトランジスタ１００は、基板１１と、ゲート電極１１２と、ゲート絶縁膜１１３と、半導体層（チャネル領域）１１４と、ドレイン領域１１６、ソース領域１１７と、ドレイン電極１１８と、ソース電極１１９と、を備える。ドレイン領域１１６と半導体層１１４が接触する箇所及びソース領域１１７と半導体層１１４が接触する箇所のうち少なくとも一方は、ゲート電極１１２と比較し、薄膜トランジスタ１００のチャネル長方向に外側に位置するように形成されている。このようにストッパ膜１１５を形成することにより、電界の急激な変化を抑制することができ、良好にリーク電流を抑制することができる。 （もっと読む）

【課題】逆阻止能力を有し、低オン抵抗で高速スイッチング特性を有する素子を提供すること。
【解決手段】シリコン基板１０１と、シリコン基板１０１上に形成されたバッファ層１０２，１０３と、バッファ層１０２、１０３上に形成された窒化ガリウム半導体層１０４と、シリコン基板１０１の裏面からシリコン基板１０１ならびにバッファ層１０２、１０３を貫通して窒化ガリウム半導体層１０４に達する深さで形成されたトレンチ溝１１２と、このトレンチ溝１１２の中に形成された金属膜１１３と、を備え、金属膜１１３と窒化ガリウム半導体層１０４とがショットキー接合を形成する逆耐圧を有する窒化ガリウム半導体装置とする。 （もっと読む）

【課題】低抵抗・高耐圧で電流コラプス現象の影響の小さいＧａＮ系電界効果トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】ＧａＮ系電界効果トランジスタ１００は、基板１０１と、基板の上に形成されたｐ型ＧａＮ系半導体材料からなるチャネル層１０４と、チャネル層上に形成され、チャネル層よりもバンドギャップエネルギーが大きいＧａＮ系半導体材料からなる電子供給層１０６と、電子供給層の一部が除去されて表出したチャネル層１０４の表面に形成されたゲート絶縁膜１１１と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極１１２と、ゲート電極を挟んで形成されたソース電極１０９及びドレイン電極１１０と、電子供給層１０６上に形成されたゲート絶縁膜１１１とは別の絶縁膜であって、電流コラプス低減効果のある第２の絶縁膜１１３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】
オン抵抗の低減を図った横型ＭＯＳトランジスタを提供する。
【解決手段】
第１導電型の半導体層と、半導体層の第１領域に深さ方向に形成される第１酸化膜と、半導体層の第１領域とは離間した第２領域に深さ方向に形成される第２酸化膜と、半導体層内で第１酸化膜に隣接する領域に深さ方向に形成されるゲート電極と、半導体層内で第２酸化膜に隣接する領域に形成される制御電極と、半導体層の第１酸化膜と第２酸化膜で挟まれる領域の表面部のうちの第１酸化膜の近傍の領域に形成される第２導電型領域と、第２導電型領域の表面部のうちの第１酸化膜の近傍の領域に形成される第１導電型領域と、第１導電型領域及び第２導電型領域の上に形成されるソース電極と、半導体層の第１酸化膜と第２酸化膜で挟まれる領域の表面部のうちの第２酸化膜の近傍の領域に形成される第１導電型領域と、第１導電型領域の上に形成されるドレイン電極とを含む。 （もっと読む）

【課題】ショットキー障壁の高さおよび幅を容易に制御でき、短チャネル効果を効果的に抑制できる半導体装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板１と接してショットキー接合を形成するソース領域１０,ドレイン領域１１と、上記シリコン基板１とソース領域１０との境界が露出する部分およびシリコン基板１とドレイン領域１１との境界が露出する部分を被覆するように設けられた絶縁層を備える。上記絶縁層は、シリコン基板１とソース領域１０との境界およびシリコン基板１とドレイン領域１１との境界を跨ぐように、シリコン基板１とソース領域１０に接すると共にシリコン基板１とドレイン領域１１に接する固定電荷を含む領域８を有する。上記固定電荷は、熱平衡状態において荷電している。 （もっと読む）

【課題】 バイポーラで動作する横型半導体装置において、オン電圧を低くする技術を提供する。
【解決手段】 半導体装置１０は、半導体層５４の表面に設けられている第１主電極２０と第２主電極２を備えている。半導体層５４は、第１主電極２０に接触しているｎ型の第１半導体領域２４と、第２主電極２に接触しているｐ型の第２半導体領域５８と、第１半導体領域２４と第２半導体領域５８の間に設けられているｎ型の第３半導体領域１２を有している。第３半導体領域１２は、第１半導体領域２４と第２半導体領域５８を結ぶ第１方向に沿って伸びている第１層８と第２層４０を有している。第１層８と第２層４０は、第１方向に直交する第２方向に並んでいる。第１層８は、不純物濃度が第１方向に均一である。第２層４０は、第１層８よりも不純物濃度が濃く、不純物濃度が第１半導体領域２４側から第２半導体領域５８側に向けて増加している。 （もっと読む）