説明

Fターム[5F110NN78]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | その他の構成要素 (47,691) | 特性が異なる複数のTFTを有するもの (894)

Fターム[5F110NN78]に分類される特許

121 - 140 / 894


【課題】電気特性の変動が生じにくく、且つ電気特性の良好な半導体装置、およびその作製方法を提供することである。
【解決手段】基板上に下地絶縁膜を形成し、下地絶縁膜上に第1の酸化物半導体膜を形成し、第1の酸化物半導体膜を形成した後、第1の加熱処理を行って第2の酸化物半導体膜を形成した後、選択的にエッチングして、第3の酸化物半導体膜を形成し、第1の絶縁膜および第3の酸化物半導体膜上に絶縁膜を形成し、第3の酸化物半導体膜の表面が露出するように絶縁膜の表面を研磨して、少なくとも第3の酸化物半導体膜の側面に接するサイドウォール絶縁膜を形成した後、サイドウォール絶縁膜および第3の酸化物半導体膜上にソース電極およびドレイン電極を形成し、ゲート絶縁膜およびゲート電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】トランジスタの数を少なくした構成の記憶素子を用いた一時記憶回路を提供する。
【解決手段】一時記憶回路は複数の記憶素子を有し、複数の記憶素子それぞれは、第1のトランジスタと、第2のトランジスタとを有し、第1のトランジスタはチャネルが酸化物半導体層に形成され、ゲートに入力される制御信号によってオン状態を選択された第1のトランジスタを介して、データに対応する信号電位を第2のトランジスタのゲートに入力し、ゲートに入力される制御信号によって第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、第2のトランジスタのゲートに当該信号電位を保持し、第2のトランジスタのソース及びドレインの一方を第1の電位としたとき、第2のトランジスタのソースとドレイン間の状態を検出することによってデータを読み出す。 (もっと読む)


【課題】正確にメインセルに流れる電流を検出することができると共に、電流検出の直線性を向上させられ、高い電圧が用いられる場合でもその影響を受け難い半導体装置を提供する。
【解決手段】センスセルの両側にメインセルを配置し、センスセルのエミッタがメインセルのエミッタに挟まれた構造にする。これにより、センスセルのエミッタに流れる電流密度とセンスセルのエミッタに流れる電流密度とを近づけることができ、ミラー比がメインセルとセンスセルそれぞれのエミッタの長手方向における長さの比に近くなる。また、センスセルのエミッタに流れる電流密度とセンスセルのエミッタに流れる電流密度とを近づけられるため、スイッチング時や大電流が流れる時に流れる単位面積当たりの電流量がメインセル側と比較してセンスセル側において大きくなることを抑制できる。このため、電流の偏りを抑制することができ、破壊耐量を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】簡素でかつ占有面積の小さな駆動回路を提供すること。
【解決手段】本発明のシフトレジスタ回路は、複数のレジスタ回路を有している。各レジスタ回路は、クロックドインバータ回路およびインバータ回路を有している。クロックドインバータ回路の出力信号がインバータ回路の入力信号となるよう両者が直列に接続されている。さらに、レジスタ回路は、インバータ回路の出力信号が伝達される信号線を有している。該信号線には接続されている素子が多く寄生容量が大きいため高負荷である。本発明のシフトレジスタ回路は、信号線の寄生容量が大きいために高負荷であることを用いている。 (もっと読む)


【課題】電源電圧の供給が停止した後もデータ保持可能な記憶素子を提供する。消費電力の低減可能な信号処理回路を提供する。
【解決手段】クロック信号に同期してデータを保持する記憶素子において、酸化物半導体層にチャネルが形成されるトランジスタ及び容量素子を用いることより、電源電圧の供給が停止した間もデータ保持ができる。ここで、電源電圧の供給を停止する前に、クロック信号のレベルを一定に保った状態で当該トランジスタをオフ状態とすることにより、データを正確に容量素子に保持させることができる。また、このような記憶素子を、CPU、メモリ、及び周辺制御装置のそれぞれに用いることによって、CPUを用いたシステム全体で、電源電圧の供給停止を可能とし、当該システム全体の消費電力を削減することができる。 (もっと読む)


【課題】新たな構造の半導体装置、及びその駆動方法を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体を用いた書き込み用トランジスタ、該トランジスタと異なる半導体材料を用いた読み出し用のpチャネル型トランジスタ及び容量素子を含む不揮発性のメモリセルを有する半導体装置を提供する。メモリセルへの書き込みは、書き込み用トランジスタをオン状態として、書き込み用トランジスタのソース電極と、容量素子の電極の一方と、読み出し用トランジスタのゲート電極とが電気的に接続されたノードに電位を供給した後、書き込み用トランジスタをオフ状態として、ノードに所定量の電荷を保持させることで行う。また、保持期間において、メモリセルを選択状態とし、且つ、読み出し用トランジスタのソース電極およびドレイン電極を同電位とすることで、ノードに蓄積された電荷を保持する。 (もっと読む)


【課題】誤書込みを防止することが可能な記憶装置を提供する。
【解決手段】複数のメモリセルが直列に接続されたNANDセルユニットと、NANDセルユニットの一方の端子に接続する第1の選択トランジスタと、NANDセルユニットの他方の端子に接続する第2の選択トランジスタと、第1の選択トランジスタと接続するソース線と、該ソース線と交差し、且つ第2の選択トランジスタと接続するビット線とを有し、第1の選択トランジスタ及び第2の選択トランジスタは、チャネル領域が酸化物半導体層で形成されたトランジスタである。 (もっと読む)


【課題】さらなるDRAMの大記憶容量化を図る。
【解決手段】半導体記憶装置が、単結晶半導体材料を含む基板の一部を有する駆動回路と、当該駆動回路上に設けられる多層配線層と、当該多層配線層上に設けられるメモリセルアレイ層とを有する。すなわち、当該半導体記憶装置においては、駆動回路と、メモリセルアレイとが重畳して設けられる。したがって、単結晶半導体材料を含む基板に駆動回路及びメモリセルアレイを同一平面に設ける場合と比較して、当該半導体記憶装置の集積度を高めることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】データの保持時間が所定の長さに満たないメモリセルを検出するための検証動作を、短時間にて正確に行うことができる記憶装置の提供。
【解決手段】各メモリセルに、第1容量素子と、第2容量素子と、上記第1容量素子及び第2容量素子における電荷の供給、保持、放出を制御するためのスイッチング素子として機能するトランジスタと、を少なくとも有する。また、第1容量素子の容量値が、第2容量素子の容量値の1000倍以上、好ましくは10000倍以上となるようにする。そして、通常動作の時に、第1容量素子及び第2容量素子を用いて電荷の保持を行う。また、データの保持時間が所定の長さに満たないメモリセルを検出するための検証動作を行う時に、第2容量素子を用いて電荷の保持を行う。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いるトランジスタにおいて、電気特性の良好なトランジスタ及びその作製方法を提供する。
【解決手段】基板上に第1の酸化絶縁膜を形成し、該第1の酸化絶縁膜上に第1の酸化物半導体膜を形成した後、加熱処理を行い、第1の酸化物半導体膜に含まれる水素を脱離させつつ、第1の酸化絶縁膜に含まれる酸素の一部を第1の酸化物半導体膜に拡散させ、水素濃度及び酸素欠陥を低減させた第2の酸化物半導体膜を形成する。次に、第2の酸化物半導体膜を選択的にエッチングして、第3の酸化物半導体膜を形成した後、第2の酸化絶縁膜を形成して、当該第2の酸化絶縁膜を選択的にエッチングして、第3の酸化物半導体膜の端部を覆う保護膜を形成する。この後、第3の酸化物半導体膜及び保護膜上に一対の電極、ゲート絶縁膜、及びゲート電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】薄膜の応力を用いて、トランジスタのしきい値電圧を変化させる。
【解決手段】第1のチャネル形成領域を有する第1の半導体層と、第2のチャネル形成領域を有する第2の半導体層に対して、それらの上に形成された薄膜の応力を用いて、トランジスタのしきい値電圧を異ならせることができる。これらを電気的に接続することで、E/D MOS回路を提供できる。 (もっと読む)


【課題】薄膜の応力を用いてしきい値電圧を制御する。
【解決手段】第1の半導体層に設けられた第1のゲート電極と、第2の半導体層に設けられた第2のゲート電極と、第1の半導体層と第2の半導体層に接して設けられた第1の絶縁層と、第1の絶縁層が設けられた第1の半導体層の一方の面の反対側に設けられた第2の絶縁層と、第1の絶縁層が設けられた第2の半導体層の一方の面の反対側に設けられた第2の絶縁層及び第3の絶縁層と、を有し、第1の半導体層には第2の絶縁層により応力が加わり、第2の半導体層には第2の絶縁層と第3の絶縁層により応力が加わることで、第1の半導体層及び第2の半導体層に加わる応力が異なる。 (もっと読む)


【課題】集積回路の動作速度の向上に有利な技術を提供する。
【解決手段】n型トランジスタおよびp型トランジスタがシリコンの(551)面に形成された半導体装置において、前記n型トランジスタの拡散領域に接触するシリサイド層の厚さが前記p型トランジスタの拡散領域に接触するシリサイド層の厚さよりも薄い。 (もっと読む)


【課題】高速動作可能な半導体装置を提供する。また、信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】トランジスタの半導体層に結晶性を有する酸化物半導体を用い、該半導体層にチャネル形成領域とソース領域とドレイン領域を形成する。ソース領域及びドレイン領域の形成は、チャネル保護層をマスクとして半導体層に希ガスまたは水素のうち、一種類または複数種類の元素をイオンドーピング法またはイオンインプランテーション法により行う。 (もっと読む)


【課題】液晶装置等の電気光学装置において、サンプリング用トランジスターの高速化とプッシュダウン現象の抑制を両立させ、高品位な表示を行う。
【解決手段】電気光学装置は、データ線(6)に画像信号線(60)から供給される画像信号をサンプリングするサンプリング用トランジスター(71)を備える。サンプリング用トランジスターのゲート絶縁膜(73)は、ゲート電極(71G)の第1ソースドレイン領域(74S)側の縁部(71Ges)に重なる部分及びゲート電極の第2ソースドレイン領域(74D)側の縁部(71Ged)に重なる部分の各々の膜厚が、ゲート電極の中央部(71Gc)に重なる部分の膜厚よりも厚くなるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】トランジスタのスイッチング速度を高速化した半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、絶縁層の一部上に形成された半導体層10と、半導体層10の側面10aに形成され、第1のゲート絶縁膜21、第1のゲート電極22、並びにソース及びドレインとなる2つの第1の不純物層23,24を有する第1のトランジスタ20と、半導体層10の側面10bに形成され、第2のゲート絶縁膜31、第2のゲート電極32、並びにソース及びドレインとなる2つの第2の不純物層33,34を有する第2のトランジスタ30とを具備する。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置を提供する。
【解決手段】支持基板上に絶縁層を形成し、当該絶縁層上に高純度化された酸化物半導体と、SOI(Silicon On Insulator)基板である単結晶シリコンを用いて半導体装置を構成する。高純度化された酸化物半導体を用いて構成したトランジスタは、リーク電流が極めて小さいため、長期間にわたって情報を保持することが可能である。また、SOI基板を用いることにより、絶縁層上に形成された薄い単結晶シリコンの特長を生かすことで、トランジスタを完全空乏型とすることができるため、高集積、高速駆動、低消費電力など付加価値の高い半導体集積回路が実現できる。 (もっと読む)


【課題】動作性能および信頼性の高いEL表示装置を提供する。
【解決手段】第1のチャネル形成領域と、第1のソース領域及び第1のドレイン領域と、ゲート絶縁膜と、第1のゲート電極とを備えた第1のTFTと、第2のチャネル形成領域と、第2のソース領域及び第2のドレイン領域と、ゲート絶縁膜と、第2のゲート電極とを備えた第2のTFTと、第1のTFT及び第2のTFT上に設けられた第1の絶縁膜と、第1のソース領域及び第1のドレイン領域の一方と接続されたソース配線と、第1のソース領域及び第1のドレイン領域の他方と接続し、且つ第2のゲート電極に接続された第1のドレイン配線と、第1の絶縁膜上に設けられ、第2のソース領域及び第2のドレイン領域の一方に接続された第2のドレイン配線と、第1の絶縁膜上に設けられ、第2のソース領域及び第2のドレイン領域の他方に接続された電流供給線と、を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の高集積化を図り、単位面積あたりの記憶容量を増加させる。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板に設けられた第1のトランジスタと、第1のトランジスタ上に設けられた第2のトランジスタとを有する。また、第2のトランジスタの半導体層は、半導体層の上側で配線と接し、下側で第1のトランジスタのゲート電極と接する。このような構造とすることにより、配線及び第1のトランジスタのゲート電極を、第2のトランジスタのソース電極及びドレイン電極として機能させることができる。これにより、半導体装置の占有面積を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】トランジスタのしきい値電圧を最適な値に保持可能な半導体回路を提供すること。またトランジスタのしきい値電圧を制御可能な半導体回路、及びその駆動方法を提供すること。また上記半導体回路を適用した記憶装置、表示装置、及び電子機器を提供すること。
【解決手段】被制御トランジスタのバックゲートに接続されるノードに、ダイオードと第1の容量素子を設け、トランジスタのしきい値電圧が最適になるように所望の電圧を印加可能で且つその電圧を保持することができる構成とし、さらにダイオードに並列に接続された第2の容量素子を設け、当該ノードの電圧を一時的に変化させられる構成とすればよい。 (もっと読む)


121 - 140 / 894